记忆设备识别时间的统计方法、模组及存储介质技术

本发明专利技术涉及一种记忆设备识别时间的统计方法、模组及存储介质，所述方法包括：确定目标设备中记忆设备的插槽对应的第一寄存器；确定所述目标设备中存储所述记忆设备相关信息的第二寄存器，其中，所述第二寄存器的数量包括多个；基于所述第一寄存器以及所述第二寄存器，统计所述记忆设备的识别时间，并输出所述识别时间。如此可以自动统计记忆设备的识别时间，代替人工计时的方式，使得数据避免出现偏差，数据更加准确。

【技术实现步骤摘要】
记忆设备识别时间的统计方法、模组及存储介质
本专利技术涉及存储
，尤其涉及一种记忆设备识别时间的统计方法、模组及存储介质。
技术介绍
目前，对设备(例如，模组)进行记忆设备(例如，Trans-flashCard存储，TF卡)热插拔识别时间测试时，由于设备识别记忆设备花费的时间较短，且设备识别记忆设备成功之后，没有明显现象(例如，未存在相关提示来告知设备识别记忆设备成功)，故只能采用人工计时的方式统计设备识别记忆设备花费的时间(简称记忆设备识别时间)。如此采用人工计时的方式统计记忆设备识别时间，会存在偏差，数据不准确。
技术实现思路
为了解决上述采用人工计时的方式统计记忆设备识别时间，会存在偏差，数据不准确的技术问题，本专利技术提供了一种记忆设备识别时间的统计方法、模组、电子设备及存储介质。第一方面，本专利技术提供了一种记忆设备识别时间的统计方法，所述方法包括：确定目标设备中记忆设备的插槽对应的第一寄存器；确定所述目标设备中存储所述记忆设备相关信息的第二寄存器，其中，所述第二寄存器的数量包括多个；基于所述第一寄存器以及所述第二寄存器，统计所述记忆设备的识别时间，并输出所述识别时间。在一个可选的实施方式中，所述基于所述第一寄存器以及所述第二寄存器，统计所述记忆设备的识别时间，包括：轮询检测所述第一寄存器中存储的信息是否发生变化；在所述信息发生变化的情况下，确定所述记忆设备插入所述插槽，并利用计时器开始计时；轮询检测所述第二寄存器中是否存储所述相关信息；在所述第二寄存器中存储所述相关信息的情况下，确定所述目标设备识别所述记忆设备成功，并利用所述计时器结束计时；确定所述计时器统计的时间为所述记忆设备的识别时间。在一个可选的实施方式中，在所述插槽产生高低电平变化的情况下，所述信息发生变化。在一个可选的实施方式中，所述相关信息至少包括下述之一：记忆设备内容、记忆设备类型、记忆设备格式、记忆设备容量；所述方法还包括：输出所述记忆设备识别时间统计。在一个可选的实施方式中，所述基于所述第一寄存器以及所述第二寄存器，统计所述记忆设备的识别时间，包括：确定所述目标设备中预先设置的识别时间统计模式，其中，所述识别时间统计模式包括识别时间精确统计模式以及识别时间普通统计模式；在所述识别时间统计模式为所述识别时间普通统计模式的情况下，基于所述第一寄存器以及所述第二寄存器，统计所述记忆设备的识别时间。在一个可选的实施方式中，所述方法还包括：在所述识别时间统计模式为所述识别时间精确统计模式的情况下，基于所述插槽以及所述第二寄存器，统计所述记忆设备的识别时间。在一个可选的实施方式中，所述基于所述插槽以及所述第二寄存器，统计所述记忆设备的识别时间，包括：轮询检测所述插槽是否产生高低电平变化；在所述插槽产生高低电平变化的情况下，确定所述记忆设备插入所述插槽，并利用计时器开始计时；轮询检测所述第二寄存器中是否存储所述相关信息；在所述第二寄存器中存储所述相关信息的情况下，确定所述目标设备识别所述记忆设备成功，并利用所述计时器结束计时；确定所述计时器统计的时间为所述记忆设备的识别时间。在一个可选的实施方式中，所述识别时间统计模式具体可以通过以下方式预先设置：确定所述记忆设备的记忆设备容量，并基于所述记忆设备容量预先设置所述目标设备中的识别时间统计模式。在一个可选的实施方式中，所述基于所述记忆设备容量预先设置所述目标设备中的识别时间统计模式，包括：判断所述记忆设备容量是否超过预设容量阈值；在所述记忆设备容量超过所述预设容量阈值的情况下，预先设置所述目标设备中的识别时间统计模式为识别时间普通统计模式；在所述记忆设备容量未超过所述预设容量阈值的情况下，预先设置所述目标设备中的识别时间统计模式为识别时间精确统计模式。第二方面，本专利技术提供了一种记忆设备识别时间的统计模组，所述模组包括：第一确定模块，用于确定目标设备中记忆设备的插槽对应的第一寄存器；第二确定模块，用于确定所述目标设备中存储所述记忆设备相关信息的第二寄存器，其中，所述第二寄存器的数量包括多个；时间统计模块，用于基于所述第一寄存器以及所述第二寄存器，统计所述记忆设备的识别时间，并输出所述识别时间。在一个可选的实施方式中，所述时间统计模块具体用于：轮询检测所述第一寄存器中存储的信息是否发生变化；在所述信息发生变化的情况下，确定所述记忆设备插入所述插槽，并利用计时器开始计时；轮询检测所述第二寄存器中是否存储所述相关信息；在所述第二寄存器中存储所述相关信息的情况下，确定所述目标设备识别所述记忆设备成功，并利用所述计时器结束计时；确定所述计时器统计的时间为所述记忆设备的识别时间。在一个可选的实施方式中，在所述插槽产生高低电平变化的情况下，所述信息发生变化。在一个可选的实施方式中，所述相关信息至少包括下述之一：记忆设备内容、记忆设备类型、记忆设备格式、记忆设备容量；所述模组还包括：信息输出模块，用于输出所述相关信息。在一个可选的实施方式中，所述时间统计模块具体用于：确定所述目标设备中预先设置的识别时间统计模式，其中，所述识别时间统计模式包括识别时间精确统计模式以及识别时间普通统计模式；在所述识别时间统计模式为所述识别时间普通统计模式的情况下，基于所述第一寄存器以及所述第二寄存器，统计所述记忆设备的识别时间。在一个可选的实施方式中，所述时间统计模块还用于：在所述识别时间统计模式为所述识别时间精确统计模式的情况下，基于所述插槽以及所述第二寄存器，统计所述记忆设备的识别时间。在一个可选的实施方式中，所述时间统计模块还具体用于：轮询检测所述插槽是否产生高低电平变化；在所述插槽产生高低电平变化的情况下，确定所述记忆设备插入所述插槽，并利用计时器开始计时；轮询检测所述第二寄存器中是否存储所述相关信息；在所述第二寄存器中存储所述相关信息的情况下，确定所述目标设备识别所述记忆设备成功，并利用所述计时器结束计时；确定所述计时器统计的时间为所述记忆设备的识别时间。在一个可选的实施方式中，所述模组还包括：模式设置模块，用于确定所述记忆设备的记忆设备容量，并基于所述记忆设备容量预先设置所述目标设备中的识别时间统计模式。在一个可选的实施方式中，所述模式设置模块具体用于：判断所述记忆设备容量是否超过预设容量阈值；在所述记忆设备容量超过所述预设容量阈值的情况下，预先设置所述目标设备中的识别时间统计模式为识别时间普通统计模式；在所述记忆设备容量未超过所述预设容量阈值的情况下，预先设置所述目标设备中的识别时间统计模式为识别时间精确统计模式。第三方面，本专利技术提供了一种电子设备，包括处理器、通信本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种记忆设备识别时间的统计方法，其特征在于，所述方法包括：/n确定目标设备中记忆设备的插槽对应的第一寄存器；/n确定所述目标设备中存储所述记忆设备相关信息的第二寄存器，其中，所述第二寄存器的数量包括多个；/n基于所述第一寄存器以及所述第二寄存器，统计所述记忆设备的识别时间，并输出所述识别时间。/n

【技术特征摘要】
1.一种记忆设备识别时间的统计方法，其特征在于，所述方法包括：
确定目标设备中记忆设备的插槽对应的第一寄存器；
确定所述目标设备中存储所述记忆设备相关信息的第二寄存器，其中，所述第二寄存器的数量包括多个；
基于所述第一寄存器以及所述第二寄存器，统计所述记忆设备的识别时间，并输出所述识别时间。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一寄存器以及所述第二寄存器，统计所述记忆设备的识别时间，包括：
轮询检测所述第一寄存器中存储的信息是否发生变化；
在所述信息发生变化的情况下，确定所述记忆设备插入所述插槽，并利用计时器开始计时；
轮询检测所述第二寄存器中是否存储所述相关信息；
在所述第二寄存器中存储所述相关信息的情况下，确定所述目标设备识别所述记忆设备成功，并利用所述计时器结束计时；
确定所述计时器统计的时间为所述记忆设备的识别时间。


3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，在所述插槽产生高低电平变化的情况下，所述信息发生变化。


4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法，其特征在于，所述相关信息至少包括下述之一：记忆设备内容、记忆设备类型、记忆设备格式、记忆设备容量；
所述方法还包括：输出所述相关信息。


5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述第一寄存器以及所述第二寄存器，统计所述记忆设备的识别时间，包括：
确定所述目标设备中预先设置的识别时间统计模式，其中，所述识别时间统计模式包括识别时间精确统计模式以及识别时间普通统计模式；
在所述识别时间统计模式为所述识别时间普通统计模式的情况下，基于所述第一寄存器以及所述第二寄存器，统计所述记忆设备的识别时间。


6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
在所述识别时间统计模式为所述识别时间精确统计模式的情况下，基于所述插槽以及所述第二寄存器，统计所述记忆设备的识别时间。


7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述基于所述插槽以及所述第二寄存器，统计所述记忆设备的识别时间，包括：<...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘慧莹，
申请(专利权)人：深圳市广和通无线股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44