一种USBKEY跨区测试方法技术

一种ＵＳＢＫＥＹ跨区测试方法。本方法利用一个可变的２进制文件，通过改变２进制文件的大小来影响它后面的原有数据结构在ＥＥＰｒｏｍ中的位置从而达到测试分区ＥＥＰｒｏｍ的目的。本发明专利技术的目的在于：充分利用测试程序继承性，不破坏原有测试方案，大量节省测试程序开发周期。

【技术实现步骤摘要】

本方法是一种充分利用测试程序继承性，不破坏原有测试方案，大量节省测试程序开发周期的方法，主要涉及到嵌入式系统测试领域。
技术介绍
USBKey在结构上是由能完成读写功能的集成电路(CPU)、基于设备的带有加密保护的专用存贮器(EEPROM)等其它部件组成，它集数据加解密和数据存储两大功能于一身，并具有存储量大、数据保密性好、抗干扰能力强、存储可靠、读卡设备简单、操作速度快、脱机工作能力强等优点，并且提供了一个统一的方法来实现个人电脑和网络计算机应用的安全保护，是目前较为理想的信息安全硬件产品。USBKey产品能很方便的提供驻留在EEPROM里面的数字签名程序，并且通过COS(CardOperating System)进行控制。目前的USBKey产品有很多平台移植的项目，也就是在原有嵌入式软件功能不变的情况下对EEProm的容量进行扩大，其中有一种情况是由两块单独的EEProm组合而成用户空间。这种情况下，由于两块单独的EEProm的衔接处，嵌入式软件处理非常复杂，相对应的测试程序会更加复杂，开发周期会很长。
技术实现思路
由于USB产品嵌入式软件的功能没有变化，所以如果针对EEProm衔接处，处于不同的文件结构的时候单独设计测试方案，工作量会异常的大，这时就需要一种简单易行，测试点覆盖全面的测试方案。而原有的针对EEProm不分块的COS的测试方案是经过长时间设计，严格按照NPD流程执行，通过很多专家的评审，所测试产品已经经过市场检验，所以我们认为这个测试方案对COS功能方面的测试点是很全面的，这时所设计的通过改变原有测试程序在EEProm中的位置来达到这种测试需求的测试方案就应运而生了。这种测试方案有以下几点好处：1、测试点覆盖全面；2、测试方案和测试代码开发周期短；3、支持任何大小的EEProm分区测试；-->附图说明1.图1是原有测试的数据结构全部在高32K的情况。2.图2是原有测试的数据结构骑在分界点A的情况。具体实施方式1.在原有测试数据结构的最顶端加入一个可变的2进制文件；如图1的2进制文件‘0100’2.通过改变这个2进制文件‘0100’的大小来影响EEProm中的分界点A处原有数据结构中间需要测试的位置；3.比如说现在需要测试ADF的文件名跨区的情况，那么首先需要改变可变2进制文件的大小使A点处于原有数据结构ADF的文件名的中间，然后执行原有的测试脚本；4.下一步需要测试主控密钥跨区的情况，那么首先再次改变可变2进制文件的大小使A点处于原有数据结构主控密钥的中间，然后执行原有的测试脚本；5.依此类推继续测试直到测试完成。实施本专利技术可以充分利用测试程序继承性，在不破坏原有测试方案的基础商缩短测试程序开发周期。以上公开的仅为本专利技术的几个具体实施例，但本专利技术的保护范围并不局限于此，任何本领域的技术人员能思之的变化都应落在本专利技术的保护范围内。-->本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种ＵＳＢＫＥＹ跨区测试方法，其特征在于：通过更改原有数据结构在ＥＥＰｒｏｍ中的位置使原有测试程序不需要经过更改就能达到测试分区ＥＥＰｒｏｍ的目的。

【技术特征摘要】
1：一种USBKEY跨区测试方法，其特征在于：通过更改原有数据结构在EEProm中的位置使原有测试程序不需要经过更改就能达到测试分区EEProm的目的...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨晓阳，
申请(专利权)人：北京中电华大电子设计有限责任公司，
类型：发明
国别省市：11[中国|北京]