本实用新型专利技术提供了一种高阻抗电压测量装置，包括电压跟随电路、温度漂移产生电路和差分放大电路，所述差分放大电路包括仪表放大器，所述电压跟随电路包括第一运算放大器，所述温度漂移产生电路包括第三运算放大器，仪表放大器的正输入端与第一运算放大器的输出端相连，仪表放大器的负输入端与第三运算放大器的输出端相连，所述电压跟随器用于测量高阻抗电压信号，所述差分放大电路用于滤除高阻抗电压信号的温度漂移并将其进行放大；采用等电位原则，降低测试电路中的电流，以减小待测高阻抗信号的等效内阻上的压降，同时在放大电路中采用差分输入方式，减小运算放大器温度漂移带来的误差，提高测试精度。
【技术实现步骤摘要】
一种高阻抗电压测量装置
本技术属于高阻抗电压测量
，具体涉及一种高阻抗电压测量装置。
技术介绍
本部分的陈述仅仅是提供了与本技术相关的
技术介绍
信息，不必然构成在先技术。阻抗是电力系统中的一个重要的电气参数，现代工业中很多领域都需要进行元件或系统阻抗参数特性的测量和分析。电力传输系统中，需要对不同介质输电线路的阻抗进行测量，以掌握其电气特性。在其他领域，如传感器、生物医学、电路分析等，阻抗测量都具有重要地位。生物电阻抗、腐蚀监测传感阻抗、建筑材料如混凝土阻抗等的测量，都属于高阻抗测量的范畴，阻抗高达108欧姆级别。在实际测量中，由于传统的高阻抗的测量装置体积大，不方便携带，测量不准确易受环境的影响，难以满足精确性与小型化的要求。而且在高阻抗电压测试中，由于电源等效内阻压降过大，以及测试电路受温度影响较为严重，使测量误差较大，严重影响了高阻抗电压测量结果的准确性。
技术实现思路
本技术为了解决高阻抗电压测试中，电源等效内阻压降过大，同时测试电路受温度影响较为严重，导致测量误差较大的问题，提出了一种高阻抗电压测量装置，包括电压跟随电路、温度漂移产生电路和放大电路，电压跟随电路实时测量高阻抗电压信号，将电压跟随电路的输出电压与温度漂移电路的输出电压分别接入放大电路，以滤除测量信号的温度漂移并将其进行放大。根据一些实施例，本技术采用如下技术方案：一种高阻抗电压测量装置，包括电压跟随电路、温度漂移产生电路和差分放大电路，所述差分放大电路包括仪表放大器，所述电压跟随电路包括第一运算放大器，所述温度漂移产生电路包括第三运算放大器，仪表放大器的正输入端与第一运算放大器的输出端相连，仪表放大器的负输入端与第三运算放大器的输出端相连，所述电压跟随器用于测量高阻抗电压信号，所述差分放大电路用于滤除高阻抗电压信号的温度漂移并将其进行放大。优选的，第一运算放大器的正输入端与输入信号Vin相连，第一运算放大器的负输入端与所述第一运算放大器的输出端相连。优选的，所述电压跟随电路还包括第二运算放大器，第二运算放大器的正输入端与所述第一运算放大器的输出端相连，第二运算放大器的负输入端与第二运算放大器的输出端相连。优选的，所述第一运算放大器的正输入端还与第一电容的一端相连，第一电容的另一端接地；所述第一运算放大器的正输入端还与第一电阻的一端相连，第一电阻的另一端与第二电阻的一端相连，第二电阻的另一端接地。优选的，所述第二运算放大器的输出端还与第二电容的一端相连，第二电容的一端与所述第二电阻的一端相连，第二电容的另一端接地。优选的，第三运算放大器的正输入端分别与第三电阻的一端、第三电容的一端、第四电阻的一端相连，第三电阻的另一端、第三电容的另一端接地；第四电阻的另一端与第五电阻的一端相连，第五电阻的另一端接地。优选的，第三运算放大器的负输入端与所述第三运算放大器的输出端相连。优选的，所述温度漂移产生电路还包括第四运算放大器，第四运算放大器的正输入端与所述第三运算放大器的输出端相连，第四运算放大器的负输入端与第四运算放大器的输出端相连。优选的，所述第四运算放大器的输出端还与第四电容的一端相连，所述第四电容的一端与第五电阻的一端相连，第四电容的另一端接地。优选的，所述差分放大电路还包括第六电阻，所述仪表放大器为AD620，第六电阻的一端与AD620的1引脚相连，第六电阻的另一端与AD620的8引脚相连。与现有技术相比，本技术的有益效果为：本技术在电压测试过程中，采用等电位原则，使采样电阻两端的电位差尽量减小，这样可以使电路中的电流大大减小，以达到减小待测电源等效内阻上的压降的目的，大大提高了测试精度。同时在放大电路中采用差分输入的方式，也在很大程度上减小了测量误差。本技术提高了高阻抗电压测试的准确性。附图说明构成本技术的一部分的说明书附图用来提供对本技术的进一步理解，本技术的示意性实施例及其说明用于解释本技术，并不构成对本技术的不当限定。图1是本技术的结构图；图2是本技术的电路图；图3是本技术中AD620的概述图；其中，A1-第一运算放大器，A2-第二运算放大器，A3-第三运算放大器，A4-第四运算放大器，AD620-仪表放大器，C1-第一电容，C2-第二电容，C3-第三电容，C4-第四电容，R1-第一电阻，R2-第二电阻，R3-第三电阻，R4-第四电阻，R5-第五电阻，R6-第六电阻。具体实施方式：下面结合附图与实施例对本技术作进一步说明。应该指出，以下详细说明都是例示性的，旨在对本技术提供进一步的说明。除非另有指明，本文使用的所有技术和科学术语具有与本技术所属
的普通技术人员通常理解的相同含义。如图1、2所示，本技术所述的一种高阻抗电压测量装置，包括电压跟随电路、温度漂移产生电路和差分放大电路，所述差分放大电路包括仪表放大器，所述电压跟随电路包括第一运算放大器A1，所述温度漂移产生电路包括第三运算放大器A3，仪表放大器的正输入端与第一运算放大器A1的输出端相连，仪表放大器的负输入端与第三运算放大器A3的输出端相连，所述电压跟随器用于测量高阻抗电压信号，所述差分放大电路用于滤除高阻抗电压信号的温度漂移并将其进行放大。第一运算放大器A1的正输入端与输入信号Vin相连，第一运算放大器A1的负输入端与所述第一运算放大器A1的输出端相连。所述电压跟随电路还包括第二运算放大器A2，第二运算放大器A2的正输入端与所述第一运算放大器A1的输出端相连，第二运算放大器A2的负输入端与第二运算放大器A2的输出端相连。所述第一运算放大器A1的正输入端还与第一电容C1的一端相连，第一电容C1的另一端接地；所述第一运算放大器A1的正输入端还与第一电阻R1的一端相连，第一电阻R1的另一端与第二电阻R2的一端相连，第二电阻R2的另一端接地。所述第二运算放大器A2的输出端还与第二电容C2的一端相连，第二电容C2的一端与所述第二电阻R2的一端相连，第二电容C2的另一端接地。第三运算放大器A3的正输入端分别与第三电阻R3的一端、第三电容C3的一端、第四电阻R4的一端相连，第三电阻R3的另一端、第三电容C3的另一端接地；第四电阻R4的另一端与第五电阻R5的一端相连，第五电阻R5的另一端接地。第三运算放大器A3的负输入端与所述第三运算放大器A3的输出端相连。所述温度漂移产生电路还包括第四运算放大器A4，第四运算放大器A4的正输入端与所述第三运算放大器A3的输出端相连，第四运算放大器A4的负输入端与第四运算放大器A4的输出端相连。所述第四运算放大器A4的输出端还与第四电容C4的一端相连，所述第四电容C4的一端与第五电阻R5的一端相连，第四电容C4的另一端接地。所述差分放大电路还包括第六电阻R6，所述仪表放大器为AD620，如图3所示，第六电阻R6的一端与AD620的1引脚相连，本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种高阻抗电压测量装置，其特征在于，包括电压跟随电路、温度漂移产生电路和差分放大电路，所述差分放大电路包括仪表放大器，所述电压跟随电路包括第一运算放大器，所述温度漂移产生电路包括第三运算放大器，仪表放大器的正输入端与第一运算放大器的输出端相连，仪表放大器的负输入端与第三运算放大器的输出端相连，所述电压跟随器用于测量高阻抗电压信号，所述差分放大电路用于滤除高阻抗电压信号的温度漂移并将其进行放大。/n
【技术特征摘要】
1.一种高阻抗电压测量装置，其特征在于，包括电压跟随电路、温度漂移产生电路和差分放大电路，所述差分放大电路包括仪表放大器，所述电压跟随电路包括第一运算放大器，所述温度漂移产生电路包括第三运算放大器，仪表放大器的正输入端与第一运算放大器的输出端相连，仪表放大器的负输入端与第三运算放大器的输出端相连，所述电压跟随器用于测量高阻抗电压信号，所述差分放大电路用于滤除高阻抗电压信号的温度漂移并将其进行放大。
2.根据权利要求1所述的一种高阻抗电压测量装置，其特征在于，第一运算放大器的正输入端与输入信号Vin相连，第一运算放大器的负输入端与所述第一运算放大器的输出端相连。
3.根据权利要求2所述的一种高阻抗电压测量装置，其特征在于，所述电压跟随电路还包括第二运算放大器，第二运算放大器的正输入端与所述第一运算放大器的输出端相连，第二运算放大器的负输入端与第二运算放大器的输出端相连。
4.根据权利要求3所述的一种高阻抗电压测量装置，其特征在于，所述第一运算放大器的正输入端还与第一电容的一端相连，第一电容的另一端接地；所述第一运算放大器的正输入端还与第一电阻的一端相连，第一电阻的另一端与第二电阻的一端相连，第二电阻的另一端接地。
5.根据权利要求4所述的一种高阻抗电压测量装置，其特征在于，所...
【专利技术属性】
技术研发人员：李思聪，李光肖，王琳，孙文胜，刘莹，高鹏，杨先蒲，曹扬，苏延通，吴东，王悦，杨峰，杨啸天，潘文庆，王禹，
申请(专利权)人：国网山东省电力公司济宁供电公司，国家电网有限公司，
类型：新型
国别省市：山东;37
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。