本实用新型专利技术公开了一种芯片测试治具,包括壳体,所述壳体的内腔设置有底板,所述底板的顶部固定安装有治具本体,所述壳体的顶部铰接有盖门,所述盖门的顶部固定安装有矩形箱,所述矩形箱的内腔固定安装有横板,所述横板顶部的右侧固定安装有风机。本实用新型专利技术通过壳体、底板、治具本体、盖门、矩形箱、横板、风机、电热箱、加热丝、输气管、除湿箱、L形管、竖管和风扇的设置,使芯片测试治具,达到了除湿的目的,同时解决了现有的芯片测试治具没有对其除水分的装置,芯片测试治具由许多精密零件构成,放置太久容易因为潮湿而发生损坏,一旦损坏不仅需要维修,也会影响芯片测试的问题。
【技术实现步骤摘要】
芯片测试治具
本技术涉及芯片
,具体涉及一种芯片测试治具。
技术介绍
芯片是在电子学中是一种将电路,小型化的方式,并时常制造在半导体晶圆表面上。现有的芯片测试治具没有对其除水分的装置,芯片测试治具由许多精密零件构成,放置太久容易因为潮湿而发生损坏,一旦损坏不仅需要维修,也会影响芯片的测试,为此,我们提出为芯片测试治具来解决这个问题。
技术实现思路
本技术的目的在于提供芯片测试治具,具备除湿的优点,解决了现有的芯片测试治具没有对其除水分的装置,芯片测试治具由许多精密零件构成,放置太久容易因为潮湿而发生损坏,一旦损坏不仅需要维修,也会影响芯片测试的问题。为实现上述目的,本技术提供如下技术方案:芯片测试治具,包括壳体,所述壳体的内腔设置有底板,所述底板的顶部固定安装有治具本体,所述壳体的顶部铰接有盖门,所述盖门的顶部固定安装有矩形箱,所述矩形箱的内腔固定安装有横板,所述横板顶部的右侧固定安装有风机,所述风机的排风端连通有电热箱,所述电热箱的底部与横板的顶部固定安装,所述电热箱的内腔固定安装有加热丝,所述电热箱左侧的顶部连通有输气管,所述输气管的左侧连通有除湿箱,所输除湿箱的内腔放置有活性炭,所述除湿箱的底部与横板的顶部固定安装,所述除湿箱的左侧连通有L形管,所述横板的顶部且位于除湿箱的左侧开设有排气口,所述矩形箱底部的两侧均连通有竖管,所述盖门的内腔设置有风扇。优选的,所述盖门内腔的顶部固定安装有防护壳,所述风扇的顶部与防护壳内腔的顶部固定安装,所述竖管的底部贯穿盖门并延伸至内部与防护壳的顶部连通。优选的,的两侧均贴合有橡胶垫,所述橡胶垫的外侧与壳体的内壁固定安装。优选的,所述底板底部的四角处均设置有弹簧,所述弹簧的上下两侧均固定安装有支板,上端所述支板的顶部与底板的底部固定安装,下端所述支板的底部与壳体内腔的底部固定安装,下端所述支板的顶部且位于弹簧的内侧固定安装有软管。优选的,所述壳体的底部开设有槽口,槽口的内侧嵌设有排风网。优选的,所述矩形箱右侧的顶部固定安装有过滤罩,所述风机的抽风端贯穿矩形箱并延伸至外部与过滤罩的左侧连通。优选的,所述矩形箱正面的两侧均铰接有箱门,所述箱门的正面固定安装有把手,所述盖门的正面固定安装有拉手。与现有技术相比,本技术的有益效果如下:1、本技术通过壳体、底板、治具本体、盖门、矩形箱、横板、风机、电热箱、加热丝、输气管、除湿箱、L形管、竖管和风扇的设置,使芯片测试治具,达到了除湿的目的,同时解决了现有的芯片测试治具没有对其除水分的装置,芯片测试治具由许多精密零件构成,放置太久容易因为潮湿而发生损坏,一旦损坏不仅需要维修,也会影响芯片测试的问题。2、本技术通过防护壳对风扇进行保护,同时防止风扇转动时因意外伤害到使用者,通过橡胶垫对治具本体进行保护,减小其发生碰撞时产生的震力,通过支板对弹簧进行支撑,通过弹簧和软管减小该装置发生碰撞时产生的震力,从而达到保护治具本体的优点。本技术通过排风网将壳体内的气体排出,使壳体内的空气流通,通过过滤罩将空气中的杂质灰尘过滤筛留,从而保证治具本体的干净,箱门方便打开矩形箱,把手方便打开箱门,拉手方便打开盖门。附图说明图1为本技术结构示意图;图2为本技术结构立体示意图;图3为本技术结构正视图;图4为本技术防护壳局部仰视图。具体实施方式下面结合附图和实施例,对本技术的具体实施方式作进一步描述。以下实施例仅用于更加清楚地说明本技术的技术方案,而不能以此来限制本技术的保护范围。请参阅图1-4,芯片测试治具,包括壳体1,壳体1的内腔设置有底板2,底板2的顶部固定安装有治具本体3,壳体1的顶部铰接有盖门4,盖门4的顶部固定安装有矩形箱5,矩形箱5的内腔固定安装有横板6,横板6顶部的右侧固定安装有风机7,风机7的排风端连通有电热箱8,电热箱8的底部与横板6的顶部固定安装,电热箱8的内腔固定安装有加热丝9,电热箱8左侧的顶部连通有输气管10,输气管10的左侧连通有除湿箱11,所输除湿箱11的内腔放置有活性炭,除湿箱11的底部与横板6的顶部固定安装,除湿箱11的左侧连通有L形管12,横板6的顶部且位于除湿箱11的左侧开设有排气口,矩形箱5底部的两侧均连通有竖管13,盖门4的内腔设置有风扇14,通过壳体1、底板2、治具本体3、盖门4、矩形箱5、横板6、风机7、电热箱8、加热丝9、输气管10、除湿箱11、L形管12、竖管13和风扇14的设置,使芯片测试治具,达到了除湿的目的,同时解决了现有的芯片测试治具没有对其除水分的装置,芯片测试治具由许多精密零件构成,放置太久容易因为潮湿而发生损坏,一旦损坏不仅需要维修,也会影响芯片测试的问题。本实施例中,具体的,盖门4内腔的顶部固定安装有防护壳15,风扇14的顶部与防护壳15内腔的顶部固定安装,竖管13的底部贯穿盖门4并延伸至内部与防护壳15的顶部连通,通过防护壳15对风扇14进行保护,同时防止风扇14转动时因意外伤害到使用者。本实施例中,具体的,治具本体3的两侧均贴合有橡胶垫16,橡胶垫16的外侧与壳体1的内壁固定安装,通过橡胶垫16对治具本体3进行保护,减小其发生碰撞时产生的震力。本实施例中,具体的,底板2底部的四角处均设置有弹簧17,弹簧17的上下两侧均固定安装有支板18,上端支板18的顶部与底板2的底部固定安装,下端支板18的底部与壳体1内腔的底部固定安装,下端支板18的顶部且位于弹簧17的内侧固定安装有软管19,通过支板18对弹簧17进行支撑,通过弹簧17和软管19减小该装置发生碰撞时产生的震力,从而达到保护治具本体3的优点。本实施例中,具体的,壳体1的底部开设有槽口,槽口的内侧嵌设有排风网20,通过排风网20将壳体1内的气体排出,使壳体1内的空气流通。本实施例中,具体的,矩形箱5右侧的顶部固定安装有过滤罩21,风机7的抽风端贯穿矩形箱5并延伸至外部与过滤罩21的左侧连通,通过过滤罩21将空气中的杂质灰尘过滤筛留,从而保证治具本体3的干净。本实施例中,具体的,矩形箱5正面的两侧均铰接有箱门22,箱门22的正面固定安装有把手,盖门4的正面固定安装有拉手,箱门22方便打开矩形箱5,把手方便打开箱门22,拉手方便打开盖门4。工作原理:使用时,首先通过外控制器打开风机7、电热箱8和风扇14的开关,通过风机7将过滤后的空气输送至电热箱8内,通过过滤罩21能够将空气中的灰尘杂质过滤筛留,防止风机7因灰尘杂质堆积而造成堵塞,同时防止灰尘沾染治具本体3,进入电热箱8的空气,会随着加热丝9产生的热量而变热,经过加热后的空气顺着输气管10进入除湿箱11,并与活性炭进行接触,通过接触将空气中的水分吸收,经过除湿后的空气顺着L形管12和排气口进入矩形箱5内腔的底部,并顺着竖管13进入防护壳15内,这时风扇14将热风输送至壳体1内,与治具本体3进行接触,通过接触将治具本体3内本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.芯片测试治具,包括壳体,其特征在于:所述壳体的内腔设置有底板,所述底板的顶部固定安装有治具本体,所述壳体的顶部铰接有盖门,所述盖门的顶部固定安装有矩形箱,所述矩形箱的内腔固定安装有横板,所述横板顶部的右侧固定安装有风机,所述风机的排风端连通有电热箱,所述电热箱的底部与横板的顶部固定安装,所述电热箱的内腔固定安装有加热丝,所述电热箱左侧的顶部连通有输气管,所述输气管的左侧连通有除湿箱,所输除湿箱的内腔放置有活性炭,所述除湿箱的底部与横板的顶部固定安装,所述除湿箱的左侧连通有L形管,所述横板的顶部且位于除湿箱的左侧开设有排气口,所述矩形箱底部的两侧均连通有竖管,所述盖门的内腔设置有风扇。/n
【技术特征摘要】
1.芯片测试治具,包括壳体,其特征在于:所述壳体的内腔设置有底板,所述底板的顶部固定安装有治具本体,所述壳体的顶部铰接有盖门,所述盖门的顶部固定安装有矩形箱,所述矩形箱的内腔固定安装有横板,所述横板顶部的右侧固定安装有风机,所述风机的排风端连通有电热箱,所述电热箱的底部与横板的顶部固定安装,所述电热箱的内腔固定安装有加热丝,所述电热箱左侧的顶部连通有输气管,所述输气管的左侧连通有除湿箱,所输除湿箱的内腔放置有活性炭,所述除湿箱的底部与横板的顶部固定安装,所述除湿箱的左侧连通有L形管,所述横板的顶部且位于除湿箱的左侧开设有排气口,所述矩形箱底部的两侧均连通有竖管,所述盖门的内腔设置有风扇。
2.根据权利要求1所述的芯片测试治具,其特征在于:所述盖门内腔的顶部固定安装有防护壳,所述风扇的顶部与防护壳内腔的顶部固定安装,所述竖管的底部贯穿盖门并延伸至内部与防护壳的顶部连通。
3.根据权利要求2...
【专利技术属性】
技术研发人员:顾明华,
申请(专利权)人:苏州市大华精密机械有限公司,
类型:新型
国别省市:江苏;32
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