一种电子设备及输入设备制造技术

本申请公开了一种电子设备及输入设备，电子设备包括：显示组件；检测组件，与所述显示组件对应设置，所述检测组件用于获得对应于所述显示组件的目标电流，所述目标电流为所述检测组件在被输入设备输出的满足第一条件的目标光线照射后产生的；控制组件，用于依据所述目标电流，获得所述目标光线照射在所述检测组件上的目标位置。上的目标位置。上的目标位置。

【技术实现步骤摘要】
一种电子设备及输入设备


[0001]本申请涉及输入输出
，尤其涉及一种电子设备及输入设备。

技术介绍

[0002]随着技术的发展，电子笔等输入设备的应用越来越广泛。例如，使用电子笔在数位屏或者数位板上进行输入，由此在数位屏或数位板对应的显示屏上输出相应的绘画。
[0003]目前电子笔的实现中，有电容式或者电磁式等多种不同的实现结构，而针对不同实现结构的电子笔需要配套使用相应结构的显示屏。以电容式电子笔为例，需要显示屏上装配触控装置，才能在显示屏上实现输入。
[0004]可见，目前的电子笔必须配套特殊的显示屏才能实现输入。

技术实现思路

[0005]有鉴于此，本申请提供一种电子设备及输入设备，如下：
[0006]一种电子设备，包括：
[0007]显示组件；
[0008]检测组件，与所述显示组件对应设置，所述检测组件用于获得对应于所述显示组件的目标电流，所述目标电流为所述检测组件在被输入设备输出的满足第一条件的目标光线照射后产生的；
[0009]控制组件，用于依据所述目标电流，获得所述目标光线照射在所述检测组件上的目标位置。
[0010]上述电子设备，优选的，所述显示组件包括显示元件阵列，所述检测组件至少包括第一电流检测元件阵列；
[0011]其中，所述第一电流检测元件用于获得对应于所述显示元件阵列的第一目标电流集合，所述第一目标电流集合中的目标电流为所述第一电流检测元件被所述目标光线照射后产生的；
[0012]所述控制组件用于根据所述第一目标电流集合，获得所述目标光线照射在所述检测组件上的目标位置。
[0013]上述电子设备，优选的，所述控制组件具体用于：判断所述第一目标电流集合中的目标电流是否大于或等于电流阈值，以获得所述目标光线照射在所述第一电流检测元件阵列上的目标位置，所述目标位置对应的第一电流检测元件所获得到的目标电流大于或等于所述电流阈值。
[0014]上述电子设备，优选的，所述显示组件包括显示元件阵列，所述检测组件至少包括第一电流检测元件阵列和第二电流检测元件阵列，所述第二电流检测元件的阵列密度小于所述第一电流检测元件的阵列密度；
[0015]其中，所述第一电流检测元件用于获得对应于所述显示元件阵列的第一目标电流集合，所述第一目标电流集合中的目标电流为所述第一电流检测元件被所述目标光线照射
后产生的；所述第二电流检测元件用于获得对应于所述显示元件阵列的第二目标电流集合，所述第二目标电流集合中的目标电流为所述第二电流检测元件被所述目标光线照射后产生的；
[0016]所述控制组件用于根据所述第一目标电流集合和所述第二目标电流集合，获得所述目标光线照射在所述检测组件上的目标位置。
[0017]上述电子设备，优选的，所述控制组件具体用于：
[0018]判断所述第二目标电流集合中的目标电流是否大于或等于电流阈值，以获得所述目标光线照射在所述第二电流检测元件上的目标位置，所述目标位置对应的第二电流检测元件所获得到的目标电流大于或等于所述电流阈值；
[0019]其中，在所述第二电流检测元件的阵列密度小于密度阈值的情况下，所述控制组件还用于：获得所述第一电流检测元件阵列中与所述目标位置对应的目标电流检测元件，根据所述第一目标电流集合中所述目标电流检测元件对应的目标电流，获得所述目标光线照射在所述目标电流检测元件上的目标位置。
[0020]上述电子设备，优选的，所述电流检测元件为薄膜晶体管，所述薄膜晶体管被所述目标光线照射后产生所述目标电流。
[0021]上述电子设备，优选的，所述电流检测元件还用于控制对应的显示元件的颜色显示。
[0022]上述电子设备，优选的，所述电流检测元件阵列中的电流检测元件通过信号线连接到所述控制组件；其中：
[0023]所述信号线用于所述电流检测元件阵列向所述控制组件传输所述目标电流集合，所述信号线还用于所述电流检测元件阵列控制对应显示元件的颜色显示。
[0024]一种输入设备，包括：
[0025]本体；
[0026]光线输出组件，设置在所述本体内，且所述光线输出组件通过所述本体上的开口将满足第一条件的目标光线照射到电子设备，其中，所述电子设备包括：
[0027]显示组件；
[0028]检测组件，与所述显示组件对应设置，所述检测组件用于获得对应于所述显示组件的目标电流，所述目标电流为所述检测组件在被输入设备输出的满足第一条件的目标光线照射后产生的；
[0029]控制组件，用于依据所述目标电流，获得所述目标光线照射在所述检测组件上的目标位置。
[0030]上述输入设备，优选的，所述光线输出组件输出的目标光线为波长处于预设波长范围的电磁波。
附图说明
[0031]为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0032]图1为本申请实施例一提供的一种电子设备的结构示意图；
[0033]图2为本申请实施例一中显示组件的示例图；
[0034]图3
‑
图8分别为本申请实施例一中检测组件的示例图；
[0035]图9为本申请实施例一中显示组件进行内容输出的示例图；
[0036]图10为本申请实施例二提供的一种输入设备的结构示意图；
[0037]图11
‑
图12分别为本申请实施例二提供的一种输入设备的另一结构示意图。
具体实施方式
[0038]下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0039]参考图1，为本申请实施例一提供的一种电子设备的结构示意图，该电子设备可以为能够进行输入和输出的显示设备，如显示屏或显示器等。本实施例中的技术方案主要用于实现在显示设备上的输入。
[0040]具体的，本实施例中的电子设备可以包含如下结构：
[0041]显示组件1，显示组件1上具有显示区域，显示组件1通过其内的显示元件阵列形成该显示区域，如图2中所示。
[0042]检测组件2，与显示组件1对应设置，如图2中所示，检测组件2的检测区域与显示组件1的显示区域相对应。具体的，检测组件2用于获得对应于显示组件1的目标电流，而目标电流为检测组件2在被输入设备输出的满足第一条件的目标光线照射后产生的。
[0043]其中，第一条件为：波长处于预设波长范围的条件，也就是说，输入设备所输出的目标光线为波长处于预设波长范围的电磁波，如红外线等。
[0044]如图3中所示，本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电子设备，包括：显示组件；检测组件，与所述显示组件对应设置，所述检测组件用于获得对应于所述显示组件的目标电流，所述目标电流为所述检测组件在被输入设备输出的满足第一条件的目标光线照射后产生的；控制组件，用于依据所述目标电流，获得所述目标光线照射在所述检测组件上的目标位置。2.根据权利要求1所述电子设备，所述显示组件包括显示元件阵列，所述检测组件至少包括第一电流检测元件阵列；其中，所述第一电流检测元件用于获得对应于所述显示元件阵列的第一目标电流集合，所述第一目标电流集合中的目标电流为所述第一电流检测元件被所述目标光线照射后产生的；所述控制组件用于根据所述第一目标电流集合，获得所述目标光线照射在所述检测组件上的目标位置。3.根据权利要求2所述的电子设备，所述控制组件具体用于：判断所述第一目标电流集合中的目标电流是否大于或等于电流阈值，以获得所述目标光线照射在所述第一电流检测元件阵列上的目标位置，所述目标位置对应的第一电流检测元件所获得到的目标电流大于或等于所述电流阈值。4.根据权利要求1所述的电子设备，所述显示组件包括显示元件阵列，所述检测组件至少包括第一电流检测元件阵列和第二电流检测元件阵列，所述第二电流检测元件的阵列密度小于所述第一电流检测元件的阵列密度；其中，所述第一电流检测元件用于获得对应于所述显示元件阵列的第一目标电流集合，所述第一目标电流集合中的目标电流为所述第一电流检测元件被所述目标光线照射后产生的；所述第二电流检测元件用于获得对应于所述显示元件阵列的第二目标电流集合，所述第二目标电流集合中的目标电流为所述第二电流检测元件被所述目标光线照射后产生的；所述控制组件用于根据所述第一目标电流集合和所述第二目标电流集合，获得所述目标光线照射在所述检测组件上的目标位置。5....

【专利技术属性】
技术研发人员：苏跃峰，唐宝军，李正芳，
申请(专利权)人：联想北京有限公司，
类型：发明
国别省市：