激光打标的中心测量方法、装置、设备及存储介质制造方法及图纸

本发明专利技术涉及激光打标领域，公开了一种激光打标的中心测量方法、装置、设备及存储介质。该方法包括：获取第一矩形打标物的第一横坐标和第一纵坐标，以及根据第一横坐标和第一纵坐标，计算出第一矩形打标物对应的第一中心坐标；接收第一打标指令，根据第一中心坐标，调动激光射线进行激光打标处理，使激光射线停留在第一中心坐标处；获取第二矩形打标物的第二横坐标和第二纵坐标，以及根据第二横坐标和第二纵坐标，计算出第二矩形打标物对应的第二中心坐标；基于第二中心坐标与第一中心坐标的差值，调动激光射线移动至第二中心坐标处；接收第二打标指令，根据第二中心坐标，调动激光射线进行激光打标处理，使激光射线停留在第二中心坐标处。心坐标处。心坐标处。

【技术实现步骤摘要】
激光打标的中心测量方法、装置、设备及存储介质


[0001]本专利技术涉及激光打标领域，尤其涉及一种激光打标的中心测量方法、装置、设备及存储介质。

技术介绍

[0002]在激光打标
中，最常见的打标物品是矩形物品，而较少见到不规则、圆形、菱形、椭圆等需要打标物品。但是，打标核心的一个最开始就是需要找到打标物的对称中心，基于对称中心现有的打标技术才能将需要打标图形打印在需要打印的物品的中心位置。这样保证打标图案能几何对称的呈现在整个打标物品的正中心，符合日常美学的审美要求。
[0003]针对当前的美学中的对称中心的打印要求，每次更换不同矩形则会导致要重新寻找对称中心，对当前的激光打标技术来说，并不存在一种自动寻找矩形堆成中心的技术，每次都需要更换矩形后人工去寻找打印中心，再调试激光打印机进行打印，这对只几个打印物品的情况影响不大。但是，一旦遇到大量且不断变换矩形大小和形状情况下，打印效率将会受到极大影响，使得时间大大延长，需要能一种快速找到矩形打标中心并移动激光路线至打标中心的技术。

技术实现思路

[0004]本专利技术的主要目的在于解决矩形打标物品的对称中心快速寻找并移动激光打印光路至对称中心的技术问题。
[0005]本专利技术第一方面提供了一种激光打标的中心测量方法，第一矩形打标物和第二矩形打标物的相邻两边所在直线重合，其特征在于，包括步骤：
[0006]获取第一矩形打标物的第一横坐标和第一纵坐标，以及根据所述第一横坐标和所述第一纵坐标，计算出所述第一矩形打标物对应的第一中心坐标；
[0007]接收第一打标指令，根据所述第一中心坐标，调动激光射线进行激光打标处理，完成所述第一打标指令，并使所述激光射线停留在所述第一中心坐标处；
[0008]获取第二矩形打标物的第二横坐标和第二纵坐标，以及根据所述第二横坐标和所述第二纵坐标，计算出所述第二矩形打标物对应的第二中心坐标；
[0009]基于所述第二中心坐标与所述第一中心坐标的差值，调动所述激光射线移动至所述第二中心坐标处；
[0010]接收第二打标指令，根据所述第二中心坐标，调动激光射线进行激光打标处理，完成所述第二打标指令，并使所述激光射线停留在所述第二中心坐标处。
[0011]可选的，在本专利技术第一方面的第一种实现方式中，所述基于所述第二中心坐标与所述第一中心坐标的差值，调动所述激光射线移动至所述第二中心坐标处包括：
[0012]将所述第二中心坐标的横坐标与所述第一中心坐标的横坐标进行相减，得到第一差值，以及将所述第二中心坐标的纵坐标与所述第二中心坐标的纵坐标进行相减，得到第
二差值；
[0013]根据所述第一差值和所述第二差值，对所述激光射线进行移动处理，使得所述激光射线移动至所述第二中心坐标处。
[0014]可选的，在本专利技术第一方面的第二种实现方式中，所述获取第一矩形打标物的第一横坐标和第一纵坐标，以及根据所述第一横坐标和所述第一纵坐标，计算出所述第一矩形打标物对应的第一中心坐标包括：
[0015]基于第一矩形打标物和第二矩形打标物的相邻两边建立直角坐标系；
[0016]获取预置横坐标压力传感器的数据，分析得到第一矩形打标物的第一横坐标，并获取预置纵坐标压力传感器的数据，分析得到第一矩形打标物的第一纵坐标；
[0017]对所述第一横坐标进行取半处理，得到第一取半横坐标，将所述第一取半横坐标确定为第一中心坐标的横坐标，以及对所述第一纵坐标进行取半处理，得到第一取半纵坐标，将所述第一取半纵坐标确定为第一中心坐标的纵坐标。
[0018]可选的，在本专利技术第一方面的第三种实现方式中，所述获取第二矩形打标物的第二横坐标和第二纵坐标，以及根据所述第二横坐标和所述第二纵坐标，计算出所述第二矩形打标物对应的第二中心坐标包括：
[0019]基于第一矩形打标物和第二矩形打标物的相邻两边建立直角坐标系；
[0020]获取所述横坐标压力传感器的数据，分析得到第二矩形打标物的第二横坐标，并获取所述纵坐标压力传感器的数据，分析得到第二矩形打标物的第二纵坐标；
[0021]对所述第二横坐标进行取半处理，得到取第二取半横坐标，将所述第二取半横坐标确定为第二中心坐标的横坐标，以及对所述第二纵坐标进行取半处理，得到第二取半纵坐标，将所述第二取半纵坐标确定为第二中心坐标的纵坐标。
[0022]本专利技术第二方面提供了一种激光打标的中心测量装置，所述激光打标的中心测量装置包括：
[0023]第一获取模块，用于获取第一矩形打标物的第一横坐标和第一纵坐标，以及根据所述第一横坐标和所述第一纵坐标，计算出所述第一矩形打标物对应的第一中心坐标；
[0024]第一打标模块，用于接收第一打标指令，根据所述第一中心坐标，调动激光射线进行激光打标处理，完成所述第一打标指令，并使所述激光射线停留在所述第一中心坐标处；
[0025]第二获取模块，用于获取第二矩形打标物的第二横坐标和第二纵坐标，以及根据所述第二横坐标和所述第二纵坐标，计算出所述第二矩形打标物对应的第二中心坐标；
[0026]调动模块，用于基于所述第二中心坐标与所述第一中心坐标的差值，调动所述激光射线移动至所述第二中心坐标处；
[0027]第二打标模块，用于接收第二打标指令，根据所述第二中心坐标，调动激光射线进行激光打标处理，完成所述第二打标指令，并使所述激光射线停留在所述第二中心坐标处。
[0028]可选的，在本专利技术第二方面的第一种实现方式中，所述调动模块具体包括：
[0029]相减单元，用于将所述第二中心坐标的横坐标与所述第一中心坐标的横坐标进行相减，得到第一差值，以及将所述第二中心坐标的纵坐标与所述第二中心坐标的纵坐标进行相减，得到第二差值；
[0030]移动单元，用于根据所述第一差值和所述第二差值，对所述激光射线进行移动处理，使得所述激光射线移动至所述第二中心坐标处。
[0031]可选的，在本专利技术装置第二方面的第二种实现方式中，所述第一获取模块具体包括：
[0032]第一坐标建立单元，用于基于第一矩形打标物和第二矩形打标物的相邻两边建立直角坐标系；
[0033]第一坐标获取单元，用于获取预置横坐标压力传感器的数据，分析得到第一矩形打标物的第一横坐标，并获取预置纵坐标压力传感器的数据，分析得到第一矩形打标物的第一纵坐标；
[0034]第一坐标取半单元，用于对所述第一横坐标进行取半处理，得到第一取半横坐标，将所述第一取半横坐标确定为第一中心坐标的横坐标，以及对所述第一纵坐标进行取半处理，得到第一取半纵坐标，将所述第一取半纵坐标确定为第一中心坐标的纵坐标。
[0035]可选的，在本专利技术装置第二方面的第三种实现方式中，所述第二获取模块具体包括：
[0036]第二坐标建立单元，用于基于第一矩形打标物和第二矩形打标物的相邻两边建立直角坐标系；
[0037]第二坐标获取单元，用于获取所述横坐标压力传感器的数据，分析得到第二矩本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种激光打标的中心测量方法，第一矩形打标物和第二矩形打标物的相邻两边所在直线重合，其特征在于，包括步骤：获取第一矩形打标物的第一横坐标和第一纵坐标，以及根据所述第一横坐标和所述第一纵坐标，计算出所述第一矩形打标物对应的第一中心坐标；接收第一打标指令，根据所述第一中心坐标，调动激光射线进行激光打标处理，完成所述第一打标指令，并使所述激光射线停留在所述第一中心坐标处；获取第二矩形打标物的第二横坐标和第二纵坐标，以及根据所述第二横坐标和所述第二纵坐标，计算出所述第二矩形打标物对应的第二中心坐标；基于所述第二中心坐标与所述第一中心坐标的差值，调动所述激光射线移动至所述第二中心坐标处；接收第二打标指令，根据所述第二中心坐标，调动激光射线进行激光打标处理，完成所述第二打标指令，并使所述激光射线停留在所述第二中心坐标处。2.根据权利要求1所述的激光打标的中心测量方法，其特征在于，所述基于所述第二中心坐标与所述第一中心坐标的差值，调动所述激光射线移动至所述第二中心坐标处包括：将所述第二中心坐标的横坐标与所述第一中心坐标的横坐标进行相减，得到第一差值，以及将所述第二中心坐标的纵坐标与所述第二中心坐标的纵坐标进行相减，得到第二差值；根据所述第一差值和所述第二差值，对所述激光射线进行移动处理，使得所述激光射线移动至所述第二中心坐标处。3.根据权利要求1所述的激光打标的中心测量方法，其特征在于，所述获取第一矩形打标物的第一横坐标和第一纵坐标，以及根据所述第一横坐标和所述第一纵坐标，计算出所述第一矩形打标物对应的第一中心坐标包括：基于第一矩形打标物和第二矩形打标物的相邻两边建立直角坐标系；获取预置横坐标压力传感器的数据，分析得到第一矩形打标物的第一横坐标，并获取预置纵坐标压力传感器的数据，分析得到第一矩形打标物的第一纵坐标；对所述第一横坐标进行取半处理，得到第一取半横坐标，将所述第一取半横坐标确定为第一中心坐标的横坐标，以及对所述第一纵坐标进行取半处理，得到第一取半纵坐标，将所述第一取半纵坐标确定为第一中心坐标的纵坐标。4.根据权利要求3所述的激光打标的中心测量方法，其特征在于，所述获取第二矩形打标物的第二横坐标和第二纵坐标，以及根据所述第二横坐标和所述第二纵坐标，计算出所述第二矩形打标物对应的第二中心坐标包括：基于第一矩形打标物和第二矩形打标物的相邻两边建立直角坐标系；获取所述横坐标压力传感器的数据，分析得到第二矩形打标物的第二横坐标，并获取所述纵坐标压力传感器的数据，分析得到第二矩形打标物的第二纵坐标；对所述第二横坐标进行取半处理，得到取第二取半横坐标，将所述第二取半横坐标确定为第二中心坐标的横坐标，以及对所述第二纵坐标进行取半处理，得到第二取半纵坐标，将所述第二取半纵坐标确定为第二中心坐标的纵坐标。5.一种激光打标的中心测量装置，其特征在于，所述激光打标的中心测量装置包括：第一获取模块，用于获取第一矩形打标物的第一横坐标和第一纵坐标，以及根据所述
第一横坐标和所述第一纵坐标，计算出所述第一矩形打标物对应的第一中心坐标；第一打标模...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵本和，马清梅，黄敏，庄丽涓，张真，
申请(专利权)人：深圳晶森激光科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：