一种Micro-LED的测试系统及方法技术方案

本发明专利技术实施例公开了一种Micro‑LED的测试系统及方法。该测试系统包括：FPGA芯片，用于生成控制信号；信号转接电路，用于接收FPGA芯片发送的控制信号；电源转换电路，用于接收FPGA芯片传输的电源电压，并将电源电源转换为低压模拟电压和低压数字电压；待测试Micro‑LED显示模块，包括Micro‑LED显示阵列和Micro‑LED驱动芯片，Micro‑LED驱动芯片用于根据信号转接电路发送的控制信号、电源转换电路发送的低压模拟电压和低压数字电压驱动Micro‑LED显示阵列点亮，以对Micro‑LED显示阵列进行测试。本发明专利技术实施例实现了准确的对待测试Micro‑LED显示模块进行测试。

【技术实现步骤摘要】
一种Micro-LED的测试系统及方法
本专利技术涉及LED
，尤其涉及一种Micro-LED的测试系统及方法。
技术介绍
Micro-LED是新一代显示技术，比现有的OLED技术亮度更高、发光效率更好、但功耗更低。由于其晶片尺寸小于50纳米，被广泛应用于小尺寸的电子设备中。但在现有的Micro-LED显示模块的开发过程中，无法很好的对Micro-LED的显示阵列进行测试，当Micro-LED的显示阵列存在问题，而整个Micro-LED显示模块已经组装完成时，此时将会大大增加开发人员的工作量，因此如何对Micro-LED显示模块进行测试成为亟待解决的问题。
技术实现思路
基于此，有必要针对上述问题，提出了一种Micro-LED的测试系统及方法。第一方面，本专利技术实施例提供一种Micro-LED的测试系统，所述系统包括：FPGA芯片，用于生成控制信号，所述FPGA芯片包括电源接口，所述FPGA芯片通过所述电源接口接收电源电压；信号转接电路，与所述FPGA芯片连接，所述信号转接电路用于接收所述FPGA芯片发送的控制信号；电源转换电路，与所述FPGA芯片连接，所述电源转换电路用于用于接收所述FPGA芯片传输的电源电压，并将所述电源电源转换为低压模拟电压和低压数字电压；待测试Micro-LED显示模块，包括Micro-LED显示阵列和Micro-LED驱动芯片，所述Micro-LED显示阵列与Micro-LED驱动芯片连接，所述Micro-LED驱动芯片分别与所述信号转接电路和电源转换电路连接，所述Micro-LED驱动芯片用于根据所述信号转接电路发送的控制信号、所述电源转换电路发送的低压模拟电压和低压数字电压驱动所述Micro-LED显示阵列点亮，以对所述Micro-LED显示阵列进行测试。第二方面，本专利技术实施例提供一种Micro-LED的测试方法，所述方法包括：当测试所述Micro-LED显示阵列是否存在坏点时，控制所述FPGA芯片生成第一控制信号、第二控制信号和/或第三控制信号，所述第一控制信号用于控制所述Micro-LED显示阵列进入自动行扫描工作模式，所述第二控制信号用于控制所述Micro-LED显示阵列进入自动列扫描工作模式，所述第三控制信号用于控制所述Micro-LED显示阵列进入全屏渐亮工作模式；获取所述Micro-LED显示阵列根据所述第一控制信号、第二控制信号和/或第三控制信号进行点亮的点亮状态；根据所述点亮状态判断所述Micro-LED显示阵列是否存在坏点。本专利技术实施例通过信号转接电路和电源转换电路单独设置，Micro-LED驱动芯片用于根据所述信号转接电路发送的控制信号、所述电源转换电路发送的低压模拟电压和低压数字电压驱动所述Micro-LED显示阵列点亮，以对所述Micro-LED显示阵列进行测试，方便找出信号和电源的问题，解决了没有对待测试Micro-LED显示模块进行测试导致大大增加开发人员的工作量的问题，获得了准确的对待测试Micro-LED显示模块进行测试的有益效果。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。其中：图1为一个实施例中Micro-LED的测试系统的结构框图；图2为一个实施例中Micro-LED的测试方法的流程图；图3为一个实施例中Micro-LED的测试方法的流程图；图4为一个实施例中Micro-LED的测试方法的流程图；图5为一个实施例中Micro-LED的测试方法中步骤S340之后的流程图；图6为一个实施例中Micro-LED的测试方法中步骤S430之后的流程图；图7为一个实施例中Micro-LED的测试方法的流程图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。如图1所示，在一个实施例中，提供了一种Micro-LED的测试系统，该Micro-LED的测试系统具体包括FPGA芯片100、信号转接电路210、电源转换电路220和待测试Micro-LED显示模块300。具体的，FPGA芯片100用于生成控制信号，FPGA芯片100包括电源接口，FPGA芯片100通过电源接口接收电源电压；信号转接电路210与FPGA芯片100连接，信号转接电路210用于接收FPGA芯片100发送的控制信号；电源转换电路220与FPGA芯片100连接，电源转换电路220用于用于接收FPGA芯片100传输的电源电压，并将电源电源转换为低压模拟电压和低压数字电压；待测试Micro-LED显示模块300包括Micro-LED显示阵列320和Micro-LED驱动芯片310，Micro-LED显示阵列320与Micro-LED驱动芯片310连接，Micro-LED驱动芯片310分别与信号转接电路210和电源转换电路220连接，Micro-LED驱动芯片310用于根据信号转接电路210发送的控制信号、电源转换电路220发送的低压模拟电压和低压数字电压驱动Micro-LED显示阵列320点亮，以对Micro-LED显示阵列320进行测试。本实施例中，FPGA芯片100为现场可编程逻辑门阵列(FieldProgrammableGateArray)，具体可以为FPGA开发板，具体的，通过功能仿真、综合优化、综合后仿真、实现和布局布线、布线后仿真、以及芯片编程与调试等步骤在FPGA开发板的最小系统上生成所需的数字电路，该数字电路上电后就可以生成控制信号。电源接口具体可以为Mini-USB接口，外部电源通过Mini-USB接口给FPGA开发板提供5V的电源电压，信号转接电路210和电源转换电路220分别与FPGA芯片100连接，其中，信号转接电路210用于接收FPGA芯片100发送的控制信号，电源转换电路220用于用于接收FPGA芯片100传输的电源电压，并将电源电源转换为低压模拟电压和低压数字电压，由此可以实现分别测试信号和电压，当确定电压正常时，对信号进行变更和测试，当信号正常时，对电压进行变更和测试，由此可以更方便的找出电路中存在的问题。其中低压模拟电压和低压数字电压采用隔离处理，因此在电源转换电路220内部也可以避免频率干扰，低压模拟电压可以为3.3V，用于确定Micro-LED显示阵列320在一帧内的点亮时间和亮度，低压数字电压也可以为3.3V，作为Micro-LED显示阵列320的点亮基准电压。然后信号转接电路210将控制信号，电压转换电路将低压模拟电压和低本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种Micro-LED的测试系统，其特征在于，所述系统包括：/nFPGA芯片，用于生成控制信号，所述FPGA芯片包括电源接口，所述FPGA芯片通过所述电源接口接收电源电压；/n信号转接电路，与所述FPGA芯片连接，所述信号转接电路用于接收所述FPGA芯片发送的控制信号；/n电源转换电路，与所述FPGA芯片连接，所述电源转换电路用于用于接收所述FPGA芯片传输的电源电压，并将所述电源电源转换为低压模拟电压和低压数字电压；/n待测试Micro-LED显示模块，包括Micro-LED显示阵列和Micro-LED驱动芯片，所述Micro-LED显示阵列与Micro-LED驱动芯片连接，所述Micro-LED驱动芯片分别与所述信号转接电路和电源转换电路连接，所述Micro-LED驱动芯片用于根据所述信号转接电路发送的控制信号、所述电源转换电路发送的低压模拟电压和低压数字电压驱动所述Micro-LED显示阵列点亮，以对所述Micro-LED显示阵列进行测试。/n

【技术特征摘要】
20210112 CN 20211003832631.一种Micro-LED的测试系统，其特征在于，所述系统包括：
FPGA芯片，用于生成控制信号，所述FPGA芯片包括电源接口，所述FPGA芯片通过所述电源接口接收电源电压；
信号转接电路，与所述FPGA芯片连接，所述信号转接电路用于接收所述FPGA芯片发送的控制信号；
电源转换电路，与所述FPGA芯片连接，所述电源转换电路用于用于接收所述FPGA芯片传输的电源电压，并将所述电源电源转换为低压模拟电压和低压数字电压；
待测试Micro-LED显示模块，包括Micro-LED显示阵列和Micro-LED驱动芯片，所述Micro-LED显示阵列与Micro-LED驱动芯片连接，所述Micro-LED驱动芯片分别与所述信号转接电路和电源转换电路连接，所述Micro-LED驱动芯片用于根据所述信号转接电路发送的控制信号、所述电源转换电路发送的低压模拟电压和低压数字电压驱动所述Micro-LED显示阵列点亮，以对所述Micro-LED显示阵列进行测试。


2.一种Micro-LED的测试方法，其特征在于，用于测试如权利要求1所述的系统，所述方法包括：
当测试所述Micro-LED显示阵列是否存在坏点时，控制所述FPGA芯片生成第一控制信号、第二控制信号和/或第三控制信号，所述第一控制信号用于控制所述Micro-LED显示阵列进入自动行扫描工作模式，所述第二控制信号用于控制所述Micro-LED显示阵列进入自动列扫描工作模式，所述第三控制信号用于控制所述Micro-LED显示阵列进入全屏渐亮工作模式；
获取所述Micro-LED显示阵列根据所述第一控制信号、第二控制信号和/或第三控制信号进行点亮的点亮状态；
根据所述点亮状态判断所述Micro-LED显示阵列是否存在坏点。


3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据所述点亮状态判断所述Micro-LED显示阵列是否存在坏点之后包括：
当所述Micro-LED显示阵列不存在坏点时发出第一信号，所述第一信号用于提示用户所述Micro-LED显示阵列不存在坏点，以使用户将所述信号转接电路和电源转换电路集成在预设PCB电路板上。


4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
当测试所述Micro-LED显示阵列的行列扫描电路是否正常时，将第一预设探针设置在所述Micro-LED驱动芯片的任意一点上；
控制所述FPGA芯片生成第一控制信号和第二控制信号，所述第一控制信号用于控制所述Micro-LED显示阵列进入自动行扫描工作模式，所述第二...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘召军，叶嘉豪，吕志坚，盘福波，劳兴超，
申请(专利权)人：深圳市思坦科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44