多功能检测装置制造方法及图纸

本申请公开一种检测装置，包括多个功能开关模块、驱动模块、测试接口与微控制单元。多个功能开关模块的每一个包括有多个开关；驱动模块驱动所述多个功能开关模块中的所述多个开关的开启或关闭；测试接口用于在测试时设置待测试产品；微控制单元，存储有多个测试程序，在测试时自所述多个测试程序中选择相应于所述待测试产品的其中一个测试程序，所述微控制单元输出相应于所述选擇的测试程序的测试控制信号与/或功能信号，所述测试控制信号通过所述驱动模块控制所述多个开关模块中的所述多个开关的开启或关闭以形成信号通道，所述功能信号通过所述信号通道以对所述待测试产品执行相应于所述选擇的测试程序的功能。

【技术实现步骤摘要】
多功能检测装置
本申请涉及检测领域，尤其涉及一种多功能检测装置。
技术介绍
现有技术通过使用微控制单元(MicrocontrollerUnit；MCU)来测试产品的功能模块。例如，测试具有多个LED模组的产品时，需要从微控制单元输出相应数量的控制讯号，以点亮产品的LED模组进行测试。产品与微控制单元之间则需要通过多个连接线连接。传统的测试仪器开发，需要手动焊接多根电子导线，以将微控制单元的信号接入到待测端口，产品信号插入到端口后与MCU信号进行逻辑通讯，完成功能测试。传统的测试治具一般使用手动方式配组硬件，费时费力。而由于产品功能日益强大，所需要的测试信号越来越多，所以仪器内部接线越来越繁琐。此外，针对每一种产品都需要开发测试治具，导致项目开发周期长、硬件异常难定位、MCU接脚资源紧张等缺点，因此传统的测试治具仍有改善空间。
技术实现思路
为了解决上述技术问题，本申请是通过公开一种包括多个功能开关模块、驱动模块、测试接口与微控制单元的多功能检测装置来实现，以解决传统测试治具的问题。本申请公开一种多功能检测装置，包括多个功能开关模块、驱动模块、测试接口与微控制单元。多个功能开关模块并联连接，多个功能开关模块的每一个包括有多个开关；驱动模块驱动所述多个功能开关模块中的所述多个开关的开启或关闭；测试接口用于在测试时设置待测试产品；微控制单元，存储有多个测试程序，在测试时自所述多个测试程序中选择相应于所述待测试产品的其中一个测试程序，所述微控制单元输出相应于所述选擇的测试程序的测试控制信号与/或功能信号，所述测试控制信号通过所述驱动模块控制所述多个开关模块中的所述多个开关的开启或关闭以形成信号通道，所述功能信号通过所述信号通道以对所述待测试产品执行相应于所述选擇的测试程序的功能。本申请公开的测试装置采用的多个功能开关模块来解决微控制单元输出入端口资源不足的问题。此外，只需要确定待测试产品所需要的信号，然后选定相应的测试程序以驱动功能开关模块，使之自动切换线路，微控制单元输出的测试信号就导通到待测端口，产品插入到测试端口后就可以与微控制单元的信号进行逻辑通讯，完成功能测试，并且解决接线繁琐等问题。附图说明此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：图1是本申请的多功能检测装置的一实施方式的示意图；图2是本申请的多功能检测装置中的功能开关模块的一实施方式的示意图；图3是本申请的多功能检测装置的实施方式的示意图；及图4是本申请的多功能检测装置的实施方式的示意图。具体实施方式以下将配合相关附图来说明本专利技术的实施例。在这些附图中，相同的标号表示相同或类似的组件或方法流程。必须了解的是，使用在本说明书中的“包含”、“包括”等词，是用于表示存在特定的技术特征、数值、方法步骤、作业处理、组件和/或组件，但并不排除可加上更多的技术特征、数值、方法步骤、作业处理、组件、组件，或以上的任意组合。必须了解的是，当组件描述为“连接”或“耦接”至另一组件时，可以是直接连结、或耦接至其他组件，可能出现中间组件。相反地，当组件描述为“直接连接”或“直接耦接”至另一组件时，其中不存在任何中间组件。另外，除非说明书中特别指明，否则任何单数格的用语都同时包含复数格的涵义。本申请公开一种多功能检测装置，通过功能开关模块的配置，解决了现有技术的检测装置的配线复杂的问题，也解决了微控制器端口资源不足的问题。图1是本申请公开的多功能检测装置的一实施方式的示意图。如图1所示，检测装置100包括微控制单元110(或称单片机)、驱动模块120与功能开关模块131、132、133、134、135。驱动模块120与微控制单元110电性连接，微控制单元110通过驱动模块120控制功能开关模块131、132、133、134、135中的开关，亦即驱动模块120回应微控制单元110输出的测试控制信号以控制功能开关模块131、132、133、134、135中的开关的开启关闭，通过开关的开启关闭以形成信号通道，功能信号通过所述信号通道以对待测试产品执行特定功能，亦即将功能信号传送到待测试产品以进行测试或驱动，或者取得待测试产品的状态。对于多个功能开关模块，每一功能开关模块都彼此并联连接，亦即功能开关模块131、132、133、134、135是以并联方式连接。每一功能开关模块131、132、133、134、135都包括有多个开关，如图2所示，功能开关模块131包括有开关1311、1312、1313、1314、1315、1316。功能开关模块132包括有开关1321、1322、1323、1324、13125、1326。为了简化图式，图2仅绘示两个功能开关模块。功能开关模块131、132、133、134、135中的开关数量都相同。这边的开关数量仅为示例说明，并非用已限定实际的数量。功能开关模块中的开关的数量依据待测试的产品决定。实际上可先配置足够数量的开关，以因应不同待测试的产品。更具体说，当功能开关模块131、132、133、134、135的开关关闭时，这些关闭的开关是并联连接。并联连接是为了避免某一模组失能时导致整个测试设备无法运作。此外，功能开关模块中的开关实际上也是并联连接，同样为了简化图示起见，图2所示的功能开关模块之间以单一连接线表示。在具体的实施方式中，微控制单元110通过驱动模块120控制功能开关模块131、132、133、134、135的开关，开关可选用晶体管。检测装置100还包括有测试接口140，与所述多个功能开关模块并联连接，用于在测试时设置待测试产品。测试接口包括有多个测试引脚，测试引脚的数量与开关模块的开关相同。测试接口与最后一个功能开关模块135并联连接，亦即测试接口140的多个测试引脚与功能开关模块135中的开关电性连接。微控制单元110存储有多个测试程序，每一测试程序对应于一种待测试产品。在测试时自所述多个测试程序中选择相应于所述待测试产品的其中一个测试程序，所述微控制单元110输出相应于所述选擇的测试程序的测试控制信号与/或功能信号，所述测试控制信号通过所述驱动模块120控制所述多个开关模块中的所述多个开关的开启或关闭以形成信号通道，所述功能信号通过所述信号通道以对所述待测试产品执行相应于所述选擇的测试程序的功能。具体而言，进行测试时，选定相应于待测试产品的测试程序，微控制单元110执行被选定的测试程序，由微控制单元110输出测试控制信号与/或功能信号，测试控制信号用以控制功能开关模块131、132、133、134、135中的开关的开启或关闭，功能信号则通过功能开关模块131、132、133、134、135对待测试产品进行测试或者读取测试产品的状态。更具体来说，每一功能开关模块可以对应一特定功能。在一个具体的实施例中，检测装置可以配置五个开关模块，这五个开关模块可以分别具有不同的功能，可以区分成驱动功本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种多功能检测装置，其特征在于，包括：/n多个功能开关模块，所述多个功能开关模块并联连接，所述多个功能开关模块的每一个包括有多个开关；/n驱动模块，驱动所述多个功能开关模块中的所述多个开关的开启或关闭；/n测试接口，与所述多个功能开关模块并联连接，用于在测试时设置待测试产品；/n微控制单元，存储有多个测试程序，在测试时自所述多个测试程序中选择相应于所述待测试产品的其中一个测试程序，所述微控制单元输出相应于所述选擇的测试程序的测试控制信号与/或功能信号，所述测试控制信号通过所述驱动模块控制所述多个开关模块中的所述多个开关的开启或关闭以形成信号通道，所述功能信号通过所述信号通道以对所述待测试产品执行相应于所述选擇的测试程序的功能。/n

【技术特征摘要】
1.一种多功能检测装置，其特征在于，包括：
多个功能开关模块，所述多个功能开关模块并联连接，所述多个功能开关模块的每一个包括有多个开关；
驱动模块，驱动所述多个功能开关模块中的所述多个开关的开启或关闭；
测试接口，与所述多个功能开关模块并联连接，用于在测试时设置待测试产品；
微控制单元，存储有多个测试程序，在测试时自所述多个测试程序中选择相应于所述待测试产品的其中一个测试程序，所述微控制单元输出相应于所述选擇的测试程序的测试控制信号与/或功能信号，所述测试控制信号通过所述驱动模块控制所述多个开关模块中的所述多个开关的开启或关闭以形成信号通道，所述功能信号通过所述信号通道以对所述待测试产品执行相应于所述选擇的测试程序的功能。


2.如权利要求1所述的多功能检测装置，其特征在于，所述功能开关模块是驱动功能模块、装态读取功能模块或通信功能模块。


3.如权利...

【专利技术属性】
技术研发人员：王士龙，王建，徐海，
申请(专利权)人：东莞讯滔电子有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44