芯片测试结果BIN项分类系统及其分类方法技术方案

本发明专利技术公开一种芯片测试结果BIN项分类系统及其分类方法，分类系统包括进料区、分料区及出料区。进料区设有第一读码器，第一读码器读取进料盘上的标识码，标识码记录有进料盘中各芯片的BIN项信息及坐标。分料区设有多个料槽及机械手臂，机械手臂拿取进料盘中的芯片放至料槽，然后将相同BIN项排列到一起，于相同BIN项达到预设数目时拿取该BIN项芯片并运动至出料区的接料区域。出料区设有台车机构及分盘机构，分盘机构承载多个出料盘，每一出料盘用于容置一种BIN项芯片，处理器根据达到预设数目的BIN项驱使分盘机构、台车机构取出对应的料盘，台车机构承载该出料盘运动至接料区域接收芯片。本发明专利技术实现了将进料盘中的多种BIN项芯片分成单一BIN项输出。

【技术实现步骤摘要】
芯片测试结果BIN项分类系统及其分类方法
本专利技术涉及芯片测试
，尤其涉及一种芯片测试结果BIN项分类系统及其分类方法。
技术介绍
由于芯片结构精细、制造工艺复杂、流程繁琐，不可避免地会在生产过程中留下潜在的缺陷，使制造完成的芯片不能达到标准要求，随时可能因为各种原因而出现故障。因此，厂商在芯片的生产制造过程中，通常会对芯片进行测试，以确保芯片质量，避免不良品混在良品中流入下一工序。现阶段，通常是通过测试机对芯片进行自动化测试，依据测试结果将芯片简单划分为良品、次良品及不良品。然而，一次测试过程中测试机需要对芯片进行多个项目测试(包括电学参数测量和功能测试等多个测试项目)，并在芯片测试完成后通过数字信号传输将分BIN结果反馈到Handler，而Handler识别分BIN结果后将各个BIN项对应的芯片分到每个指定区域。虽然测试机输出的BIN项定义了包含多个芯片测试项目的测试结果，但由于Handler硬件限制，其只能根据主类别进行分盘(例如简单分为良品、次良品及不良品等置于不同的料盘)，无法实现单次将所有测试项目结果一次性分出，若需要了解每个芯片的各个项目测试结果或者对芯片进行细分析，只能进行多次测试分类，造成工序的增加。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种芯片测试结果BIN项分类系统及分类方法，以实现一次性将进料盘中的多种BIN项分类成单一BIN项输出。为实现上述目的，本专利技术提供了一种芯片测试结果BIN项分类系统，用于将进料盘中的多种BIN项分类成单一BIN项输出，其特征在于，该BIN项分类系统包括进料区、分料区以及出料区。所述进料区承载有进料盘以及设有第一读码器，所述第一读码器用于读取进料盘上的标识码并反馈至处理器，所述标识码记录有该进料盘中各芯片的BIN项信息以及对应的坐标。所述分料区设有用于放置芯片的多个料槽以及机械手臂，所述机械手臂拿取进料盘中的芯片放至所述料槽，所述处理器依据所述标识码及预设分料规则控制所述机械手臂将相同BIN项排列到一起，于排列到一起的相同BIN项达到预设数目时控制所述机械手臂拿取该BIN项芯片并运动至所述出料区的接料区域。所述出料区设有可作直线往复运动的台车机构以及分盘机构，所述分盘机构承载上下堆垛在一起的多个出料盘，每一出料盘用于容置一种BIN项芯片，所述处理器存储有所述多个出料盘对应的BIN项及各个出料盘的位置，所述处理器根据达到所述预设数目的BIN项驱使所述分盘机构、台车机构取出对应的一出料盘，并通过所述台车机构承载该出料盘运动至所述接料区域以接收所述机械手臂放下的芯片。较佳地，所述分盘机构包括升降驱动机构、设于所述升降驱动机构的输出端的托盘以及固定夹具，于排列到一起的相同BIN项达到预设数目后，所述台车机构运动至所述分盘机构的所在位置附近，所述处理器根据达到所述预设数目的BIN项控制所述升降驱动机构带动所述托盘承载所述多个出料盘移动以使所述固定夹具可固定住待取出料盘之上的出料盘，于所述固定夹具固定住该待取出料盘之上的出料盘后，所述升降驱动机构带动所述托盘承载该待取出料盘及待取出料盘之下的出料盘下降预设距离，所述台车机构夹紧该待取出料盘，所述升降驱动机构再次带动所述托盘承载待取出料盘之下的出料盘下降，所述台车机构带动该待取出料盘移动至所述接料区域。较佳地，每一出料盘上贴设有代表其对应BIN项的标签，所述出料区设有第二读码器，所述第二读码器设于所述接料区域与所述分盘机构之间，所述台车机构带动待取出料盘移动至所述第二读码器的读码位置，所述第二读码器读取其上的标签反馈至所述处理器，所述处理器于比对出该标签对应的BIN项与达到所述预设数目的BIN项一致后控制所述台车机构承载该待取出料盘移动至所述接料区域。较佳地，所述出料区包括有两排并排设置的台车机构，每排包括两所述台车机构，每排台车机构的运动方向的前后两侧分别设有一所述分盘机构。较佳地，所述分料区设有若干并排设置的直线驱动机构，每一所述直线驱动机构上设有若干梭车，每一所述梭车设有若干所述料槽，所述直线驱动机构用于带动所述若干梭车同步作直线移动以使相应的梭车运动至所述机械手臂的放料位置。较佳地，所述机械手臂包括进料手臂、分料手臂及出料手臂，所述进料手臂用于拿取所述进料盘中的芯片并放至所述料槽，所述分料手臂用于依据所述处理器的指令将相同BIN项排列到一起，所述出料手臂在排列到一起的相同BIN项达到预设数目时拿取该BIN项芯片并运动至所述出料区的接料区域，且所述进料手臂、出料手臂还在空闲状态时协同所述分料手臂将相同BIN项排列到一起。具体地，所述分料区设有三条悬臂，三条所述悬臂上分别设有一条直线延伸的滑轨，所述滑轨的延伸方向与所述梭车的运动方向垂直，所述进料手臂、分料手臂及出料手臂分别对应滑设在一所述滑轨上。较佳地，所述进料区设有升降驱动器和送盘结构，所述升降驱动器的输出端之上承载有上下堆垛在一起的多个进料盘，所述升降驱动器用于带动所述多个进料盘升降，所述送盘结构包括直线驱动结构和设于所述直线驱动结构上的固定件，所述固定件于所述升降驱动器带动进料盘运动至预设位置时给位于最底部的一进料盘施力，所述直线驱动结构带动所述固定件使该位于最底部的进料盘移动至所述机械手臂的取料位置。为实现上述目的，本专利技术提供了前述芯片测试结果BIN项分类系统的分类方法，该分类方法包括执行进料程序、执行分料程序及执行出料程序。在进料程序，所述第一读码器读取进料盘上的标识码并反馈至所述处理器。在分料程序，所述处理器由所述标识码获得当前进料盘中各芯片的BIN项信息以及对应的坐标；通过所述机械手臂拿取进料盘中的芯片放至所述料槽；所述处理器根据预设分料规则控制所述机械手臂将相同BIN项排列到一起；于排列到一起的相同BIN项达到预设数目时，所述处理器控制所述机械手臂拿取该BIN项芯片运动至所述接料区域。在出料程序，所述分盘机构、台车机构配合取出与达到所述预设数目的BIN项对应的一出料盘；通过所述台车机构承载该出料盘运动至所述接料区域接收芯片。较佳地，在分料程序中，以每行料槽的第一列作为基准BIN项，将其它不同BIN项挑出此行，将其它料槽内相同的BIN项放置在该基准BIN项的所在行且与该基准BIN项相邻的料槽中。与现有技术相比，本专利技术在进料区读取标识码获得进料盘中各芯片的BIN项信息以及对应的坐标，在分料区通过程式计算将各个BIN项芯片进行规律排列，分拣相同BIN项的芯片排列在一起，不同BIN项的芯片放置在其它空余料槽，出料区设置多个BIN项出料盘，当排列到一起的相同BIN项达到预设数目后，通过分盘机构、台车机构协同取出与达到预设数目的相同BIN项对应的一出料盘来接收该达到预设数目的相同BIN项芯片，如此循环完成分BIN。本专利技术实现了将进料盘中的多种BIN项芯片分成单一BIN项输出，解决了目前多项目测试不能单次分离所有BIN项的问题，便于对后续异常芯片进行分析改善以提升产品良率，同时减少了工艺步骤，提高了效率。附图说明图1为本专利技术芯片测试结果BIN项分类系统一实施例的结构示本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种芯片测试结果BIN项分类系统，用于将进料盘中的多种BIN项分类成单一BIN项输出，其特征在于，该BIN项分类系统包括进料区、分料区以及出料区，/n所述进料区承载有进料盘以及设有第一读码器，所述第一读码器用于读取进料盘上的标识码并反馈至处理器，所述标识码记录有该进料盘中各芯片的BIN项信息以及对应的坐标；/n所述分料区设有用于放置芯片的多个料槽以及机械手臂，所述机械手臂拿取进料盘中的芯片放至所述料槽，所述处理器依据所述标识码及预设分料规则控制所述机械手臂将相同BIN项排列到一起，于排列到一起的相同BIN项达到预设数目时控制所述机械手臂拿取该BIN项芯片并运动至所述出料区的接料区域；/n所述出料区设有可作直线往复运动的台车机构以及分盘机构，所述分盘机构承载上下堆垛在一起的多个出料盘，每一出料盘用于容置一种BIN项芯片，所述处理器存储有所述多个出料盘对应的BIN项及各个出料盘的位置，所述处理器根据达到所述预设数目的BIN项驱使所述分盘机构、台车机构取出对应的一出料盘，并通过所述台车机构承载该出料盘运动至所述接料区域以接收所述机械手臂放下的芯片。/n

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试结果BIN项分类系统，用于将进料盘中的多种BIN项分类成单一BIN项输出，其特征在于，该BIN项分类系统包括进料区、分料区以及出料区，
所述进料区承载有进料盘以及设有第一读码器，所述第一读码器用于读取进料盘上的标识码并反馈至处理器，所述标识码记录有该进料盘中各芯片的BIN项信息以及对应的坐标；
所述分料区设有用于放置芯片的多个料槽以及机械手臂，所述机械手臂拿取进料盘中的芯片放至所述料槽，所述处理器依据所述标识码及预设分料规则控制所述机械手臂将相同BIN项排列到一起，于排列到一起的相同BIN项达到预设数目时控制所述机械手臂拿取该BIN项芯片并运动至所述出料区的接料区域；
所述出料区设有可作直线往复运动的台车机构以及分盘机构，所述分盘机构承载上下堆垛在一起的多个出料盘，每一出料盘用于容置一种BIN项芯片，所述处理器存储有所述多个出料盘对应的BIN项及各个出料盘的位置，所述处理器根据达到所述预设数目的BIN项驱使所述分盘机构、台车机构取出对应的一出料盘，并通过所述台车机构承载该出料盘运动至所述接料区域以接收所述机械手臂放下的芯片。


2.如权利要求1所述的BIN项分类系统，其特征在于，所述分盘机构包括升降驱动机构、设于所述升降驱动机构的输出端的托盘以及固定夹具，于排列到一起的相同BIN项达到预设数目后，所述台车机构运动至所述分盘机构的所在位置附近，所述处理器根据达到所述预设数目的BIN项控制所述升降驱动机构带动所述托盘承载所述多个出料盘移动以使所述固定夹具可固定住待取出料盘之上的出料盘，于所述固定夹具固定住该待取出料盘之上的出料盘后，所述升降驱动机构带动所述托盘承载该待取出料盘及待取出料盘之下的出料盘下降预设距离，所述台车机构夹紧该待取出料盘，所述升降驱动机构再次带动所述托盘承载待取出料盘之下的出料盘下降，所述台车机构带动该待取出料盘移动至所述接料区域。


3.如权利要求1所述的BIN项分类系统，其特征在于，每一出料盘上贴设有代表其对应BIN项的标签，所述出料区设有第二读码器，所述第二读码器设于所述接料区域与所述分盘机构之间，所述台车机构带动待取出料盘移动至所述第二读码器的读码位置，所述第二读码器读取其上的标签反馈至所述处理器，所述处理器于比对出该标签对应的BIN项与达到所述预设数目的BIN项一致后控制所述台车机构承载该待取出料盘移动至所述接料区域。


4.如权利要求1所述的BIN项分类系统，其特征在于，所述出料区包括有两排并排设置的台车机构，每排包括两所述台车机构，每排台车机构的运动方向的前后两侧分别设有一所述分盘机构。


5.如权利要...

【专利技术属性】
技术研发人员：肖思文，郑朝生，郑挺，肖小波，容承昌，袁俊，卢旭坤，辜诗涛，张亦锋，
申请(专利权)人：广东利扬芯片测试股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44