老化测试电路及老化测试平台制造技术

本实用新型专利技术公开了一种老化测试电路及老化测试平台，所述电路包括待测一体板、电子负载、LED负载及控制模块，待测一体板的直流电源输出端与电子负载连接，待测一体板的背光输出端与LED负载连接，控制模块分别与电子负载和LED负载连接；待测一体板，用于通过电子负载进行电源输出老化检测，以及通过LED负载进行背光输出老化检测；控制模块，用于向电子负载发送模式调整信号，以调整电子负载的负载模式；控制模块，还用于向LED负载发送LED调整信号，以调整LED负载的带载参数。本实用新型专利技术能够通过电子负载和LED负载对待测一体板进行综合老化测试，降低老化测试的操作步骤，提升检测效率。

【技术实现步骤摘要】
老化测试电路及老化测试平台
本技术涉及电路电子领域，尤其涉及老化测试电路及老化测试平台。
技术介绍
目前，包含电源负载和背光负载的一体板在进行老化测试时，通常会出现测试平台无合适的灯条负载而无法进行背光老化测试的问题，还容易因测试接口的定义不一致而导致测试时需要手动跳线来测试一体板。而对于不同规格的一体板，还需要为每个规格的被测一体板选用合适的灯条负载，以在测试每一款一体板时，将选择的符合参数的灯条与一体板对接测试，测试前操作十分繁琐，测试效率较低。
技术实现思路
本技术的主要目的在于提供一种老化测试电路及老化测试平台，旨在解决一体板老化测试时匹配合适的负载较为繁琐的问题。为了实现上述目的，本技术提供一种老化测试电路，包括待测一体板、电子负载、LED负载及控制模块，所述待测一体板的直流电源输出端与所述电子负载连接，所述待测一体板的背光输出端与所述LED负载连接，所述控制模块分别与所述电子负载和所述LED负载连接；所述待测一体板，用于通过所述电子负载进行电源输出老化检测，以及通过所述LED负载进行背光输出老化检测；所述控制模块，用于向所述电子负载发送模式调整信号，以调整所述电子负载的负载模式；所述控制模块，还用于向所述LED负载发送LED调整信号，以调整所述LED负载的带载参数。可选地，所述控制模块与上位机连接，所述控制模块还用于根据上位机发送的老化设置参数对所述电子负载或所述LED负载进行调整。可选地，所述控制模块包括主单片机、从单片机和光电隔离电路，所述主单片机与上位机连接，所述从单片机与所述电子负载或所述LED负载连接，所述主单片机通过所述光电隔离电路与所述从单片机连接。可选地，所述控制模块还包括电压检测电路，所述电压检测电路的检测端与所述待测一体板的背光输出端连接；所述控制模块，用于在检测到所述待测一体板输出的背光电压高于开启电压时，控制所述LED负载进行带载。可选地，所述控制模块还包括电流检测电路，所述电流检测电路的检测端与所述待测一体板的背光输出端连接；所述控制模块，还用于根据所述电压检测电路检测到的输出电压和电流检测电路检测到的输出电流发送至上位机以向用户进行显示。可选地，所述控制模块还包括负载模式切换电路，所述负载模式切换电路的输入端与所述从单片机连接，所述负载模式切换电路的输出端与所述电子负载连接。可选地，所述老化测试电路还包括与所述待测一体板连接的信号触发板，所述信号触发板通过RS485通讯接口与上位机连接；所述信号触发板，用于根据上位机发送的通讯指令向所述待测一体板发送相应的背光控制信号，以使所述待测一体板根据所述背光控制信号在进行背光输出老化检测时调整背光。可选地，所述LED负载为灯珠负载；所述控制模块，用于向所述灯珠负载发送LED调整信号，以调整所述灯珠负载每个通道接入的灯珠数量以及每个通道之间的连接关系。可选地，所述控制模块还包括负载供电模块，所述负载供电模块的输出端分别与所述电子负载和所述LED负载连接；所述负载供电模块，用于为所述电子负载和所述LED负载供电。此外，为实现上述目的，本技术还提供一种老化测试平台，所述老化测试平台包括与市电连接的老化测试电路，所述老化测试电路被配置为如上所述的老化测试电路。本技术通过设置电子负载、LED负载和控制模块，能够通过电子负载对待测一体板的直流输出进行老化检测，并通过LED负载对待测一体板的背光输出进行老化检测。控制模块可以通过调整电子负载或LED负载的设置参数以匹配待测一体板，从而便于对各种不同规格类型的待测一体板进行老化检测，降低老化测试的操作步骤，提升检测效率。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。图1为本技术老化测试电路一实施例的模块示意图。本技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。附图标号说明：标号名称标号名称10待测一体板44电压检测电路20电子负载45电流检测电路30LED负载46负载模式切换电路40控制模块47负载供电模块41主单片机50上位机42从单片机60信号触发板43光电隔离电路具体实施方式应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本技术，并不用于限定本技术。下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。需要说明，本技术实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。另外，在本技术中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本技术要求的保护范围之内。本技术提供一种老化测试电路，应用于老化测试平台中，该老化测试平台可以对各种不同规格类型的一体板进行老化测试。参见图1，在一实施例中，老化测试电路包括待测一体板10、电子负载20、LED负载30及控制模块40，待测一体板10的直流电源输出端与电子负载20连接，待测一体板10的背光输出端与LED负载30连接，控制模块40分别与电子负载20和LED负载30连接。待测一体板10通常包含有电源负载和背光负载，在对待测一体板10的直流输出进行老化检测时，可以通过电子负载20进行老化检测。电子负载20可以设置不同的负载模式，例如CC(恒流模式)、CV(恒压模式)、CR(恒阻模式)、CP(恒定功率模式)和LED模式等，以模拟各种不同的负载。但电子负载20中的LED模式主要通过C本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种老化测试电路，其特征在于，包括待测一体板、电子负载、LED负载及控制模块，所述待测一体板的直流电源输出端与所述电子负载连接，所述待测一体板的背光输出端与所述LED负载连接，所述控制模块分别与所述电子负载和所述LED负载连接；/n所述待测一体板，用于通过所述电子负载进行电源输出老化检测，以及通过所述LED负载进行背光输出老化检测；/n所述控制模块，用于向所述电子负载发送模式调整信号，以调整所述电子负载的负载模式；/n所述控制模块，还用于向所述LED负载发送LED调整信号，以调整所述LED负载的带载参数。/n

【技术特征摘要】
1.一种老化测试电路，其特征在于，包括待测一体板、电子负载、LED负载及控制模块，所述待测一体板的直流电源输出端与所述电子负载连接，所述待测一体板的背光输出端与所述LED负载连接，所述控制模块分别与所述电子负载和所述LED负载连接；
所述待测一体板，用于通过所述电子负载进行电源输出老化检测，以及通过所述LED负载进行背光输出老化检测；
所述控制模块，用于向所述电子负载发送模式调整信号，以调整所述电子负载的负载模式；
所述控制模块，还用于向所述LED负载发送LED调整信号，以调整所述LED负载的带载参数。


2.如权利要求1所述的老化测试电路，其特征在于，所述控制模块与上位机连接，所述控制模块还用于根据上位机发送的老化设置参数对所述电子负载或所述LED负载进行调整。


3.如权利要求2所述的老化测试电路，其特征在于，所述控制模块包括主单片机、从单片机和光电隔离电路，所述主单片机与上位机连接，所述从单片机与所述电子负载或所述LED负载连接，所述主单片机通过所述光电隔离电路与所述从单片机连接。


4.如权利要求2所述的老化测试电路，其特征在于，所述控制模块还包括电压检测电路，所述电压检测电路的检测端与所述待测一体板的背光输出端连接；
所述控制模块，用于在检测到所述待测一体板输出的背光电压高于开启电压时，控制所述LED负载进行带载。


5.如权利要求4所述的老化测试电路，其特征在于，所述控制模块还包括电流检测电路，所述电流检测电路的检测端与...

【专利技术属性】
技术研发人员：高峰，杨楷，
申请(专利权)人：深圳创维RGB电子有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44