LED显示面板的快速测试电路及其测试系统技术方案

本发明专利技术涉及显示设备技术领域，具体涉及一种LED显示面板的快速测试电路及其系统，其与显示面板相连接，包括：一个以上的测试组件，测试组件由奇数行引线联接点和偶数行引线联接点组成，奇数行引线联接点与显示面板中的扫描线传输区或数据线传输区中两根以上奇数行引线相接，偶数行引线联接点与显示面板中的扫描线传输区或数据线传输区中两根以上偶数行引线相接；且同一个所述测试组件中的奇数行引线联接点和偶数行引线联接点同时与测量仪表相连接；在本发明专利技术的系统中用户可通过测量仪表与电路中的测试组件进行相接，即可实现对电路进行检测，其降低了测试时的接线复杂度，便于生产操作，能对显示面板进行快速灵活的检测。

【技术实现步骤摘要】
LED显示面板的快速测试电路及其测试系统
本专利技术涉及显示设备
，具体涉及一种LED显示面板的快速测试电路以及一种LED显示面板的快速系统。
技术介绍
微型发光二极管（MicroLED），即发光二极管微缩化和矩阵化技术,其具有良好的稳定性，寿命，以及运行温度上的优势，同时也承继了LED低功耗、色彩饱和度、反应速度快、对比度强等优点,其具有极大的应用前景。并且，由微型发光二极管制作成MicroLED显示器是显示设备未来的主流发展方向；在现今MicroLED显示器生产过程中，MicroLED显示器中的显示面板进行切割之前，为了检测其中的扫描线传输区及数据线传输区是否存在短路会进行电测实验。在电测实验时，会直接给显示面板的扫描线传输区及数据线传输区灌入电压进行测试，在测试完之后断电，直接对显示面板进行切割，切割完成后进行封装，最终组成显示模组产品。在现有技术的LED显示面板的测试电路中，其显示面板中的扫描线传输区及数据线传输区每行走线均需要与电源的一个输出引脚一一相连接，其接线数量较多，且接线过程较为麻烦，不利于生产操作，无法对显示面板进行快速灵活的检测。
技术实现思路
为克服上述缺陷，本专利技术的目的即在于提供一种能对LED显示面板进行快速灵活检测的快速测试电路以及应用该电路的系统。本专利技术的目的是通过以下技术方案来实现的：本专利技术是一种LED显示面板的快速测试电路，所述快速测试电路与显示面板相连接，其包括：一个以上的测试组件，所述测试组件由奇数行引线联接点和偶数行引线联接点组成，所述奇数行引线联接点与所述显示面板中的扫描线传输区或数据线传输区中两根以上奇数行引线相接，所述偶数行引线联接点与所述显示面板中的扫描线传输区或数据线传输区中两根以上偶数行引线相接；且同一个所述测试组件中的所述奇数行引线联接点和所述偶数行引线联接点同时与测量仪表相连接。在本专利技术中，所述测试组件的数量为三个，每个所述扫描线传输区或所述数据线传输区均与一个所述测试组件相连接。在本专利技术中，在一个所述测试组件中，所述奇数行引线联接点和所述偶数行引线联接点的数量各为一个。在本专利技术中，所述测试组件安装于所述显示面板的背板上。在本专利技术中，每个所述扫描线传输区或所述数据线传输区中的所有奇数行引线均连接于与其对应的测试组件的所述奇数行引线联接点上，每个所述扫描线传输区或所述数据线传输区中的所有偶数行引线均连接于与其对应的测试组件的所述偶数行引线联接点上。本专利技术是一种LED显示面板的快速测试系统，其包括：测量仪表、显示面板以及如上所述的快速测试电路，所述测量仪表的两根引线分别与一个所述测试组件中的奇数行引线联接点和偶数行引线联接点相连接。在本专利技术中，所述显示面板包括：两个扫描线传输区和一个数据线传输区。在本专利技术中，所述测量仪表的数量为三个，每个所述测量仪表均通过一个所述测试组件与一个所述扫描线传输区和一个所述数据线传输区相连接。在本专利技术中，所述显示面板还包括：显示区，所述显示区中布置有μm级的LED。在本专利技术中，所述测量仪表为万用表。本专利技术设有与显示面板的奇数、偶数行引线分别相连接的测试组件；用户可通过测量仪表与电路中的测试组件进行相接，即可实现对显示面板中是否出现短路进行检测，其降低了测试时的接线复杂度，便于生产操作，能对显示面板进行快速灵活的检测。附图说明为了易于说明，本专利技术由下述的较佳实施例及附图作详细描述。图1为现有测试电路的的连接关系示意图；图2为本专利技术测试电路的的连接关系示意图。具体实施方式为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本专利技术进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。在本专利技术的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本专利技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本专利技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个所述特征。在本专利技术的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。在本专利技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接。可以是机械连接，也可以是电连接。可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。在现有的技术中，其测试电路的结构如图1所示，在该测试电路的电路结构中，其需要将LED显示面板中的两个扫描线传输区和数据线传输区上的所有引线直接与电源正极上的引脚相对接；故其电源正极上的接线数量较多，且较为繁琐，无法实现对LED显示面板的快速检测。实施例1下面以一个实施例对本专利技术的一种LED显示面板的快速测试电路进行具体描述，请参阅图2，其包括：一个以上的测试组件，所述测试组件由奇数行引线联接点S1和偶数行引线联接点S2组成，所述奇数行引线联接点S1与所述显示面板中的扫描线传输区或数据线传输区中两根以上奇数行引线相接，所述偶数行引线联接点S2与所述显示面板中的扫描线传输区或数据线传输区中两根以上偶数行引线相接；且同一个所述测试组件中的所述奇数行引线联接点S1和所述偶数行引线联接点S2同时与测量仪表200相连接。作为一种优选地实施方式，测试组件的数量为三个，具体地，三个测试组件中的每个所述测试组件均由奇数行引线联接点S1和偶数行引线联接点S2组成，其分别为第一测试组件、第二测试组件、第三测试组件；其中第一测试组件中的奇数行引线联接点S1与所述显示面板中的数据线传输区中所有奇数行引线相接，其偶数行引线联接点S2与所述显示面板中的数据线传输区中的所有偶数行引线相接；第二测试组件中的奇数行引线联接点S1与所述显示面板中的第一扫描线传输区102中所有奇数行引线相接，其偶数行引线联接点S2与第一扫描线传输区102中的所有偶数行引线相接；第三测试组件中的奇数行引线联接点S1与所述显示面板中的第二扫描线传输区104中所有奇数行引线相接，其偶数行引线联接点S2与第二扫描线传输区104中的所有偶数行引线相接；且同一个测试组件中的奇数行引线联接点S1和偶数行引线联接点S2同时与测量仪表200相连接。可选地，奇数行引线联接点S1和偶数行引线联接点S2可以是一个金属焊点。优选地，所述测试本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种LED显示面板的快速测试电路，其特征在于，所述快速测试电路与显示面板相连接，其包括：一个以上的测试组件，所述测试组件由奇数行引线联接点和偶数行引线联接点组成，所述奇数行引线联接点与所述显示面板中的扫描线传输区或数据线传输区中两根以上奇数行引线相接，所述偶数行引线联接点与所述显示面板中的扫描线传输区或数据线传输区中两根以上偶数行引线相接；且同一个所述测试组件中的所述奇数行引线联接点和所述偶数行引线联接点同时与测量仪表相连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种LED显示面板的快速测试电路，其特征在于，所述快速测试电路与显示面板相连接，其包括：一个以上的测试组件，所述测试组件由奇数行引线联接点和偶数行引线联接点组成，所述奇数行引线联接点与所述显示面板中的扫描线传输区或数据线传输区中两根以上奇数行引线相接，所述偶数行引线联接点与所述显示面板中的扫描线传输区或数据线传输区中两根以上偶数行引线相接；且同一个所述测试组件中的所述奇数行引线联接点和所述偶数行引线联接点同时与测量仪表相连接。


2.根据权利要求1所述的LED显示面板的快速测试电路，其特征在于，所述测试组件的数量为三个，每个所述扫描线传输区或所述数据线传输区均与一个所述测试组件相连接。


3.根据权利要求2所述的LED显示面板的快速测试电路，其特征在于，在一个所述测试组件中，所述奇数行引线联接点和所述偶数行引线联接点的数量各为一个。


4.根据权利要求3所述的LED显示面板的快速测试电路，其特征在于，所述测试组件安装于所述显示面板的背板上。


5.根据权利要求3所述的LED显示面板的快速测试电路，其特征在于，每个所述扫描线传输区或所述数据...

【专利技术属性】
技术研发人员：王英琪，颜家煌，袁山富，林建宏，魏其源，
申请(专利权)人：重庆康佳光电技术研究院有限公司，
类型：发明
国别省市：重庆;50