本发明专利技术涉及一种计算机键盘批量化测试装置及测试方法，包括底部机架、限位夹持机构、电动滑块、竖直机架、桁架以及往复测试机构，本发明专利技术可以解决计算机键盘在使用时长测试过程中存在以下难题：a传统的计算机键盘测试过程中，在对计算机键盘进行测试过程中需要不同夹具进行夹持，工艺较为复杂且生产成本较高，且传统测试过程中只能对单一计算机键盘进行处理，测试速度较慢，从而导致测试效率较低，b由于在实际使用过程中，人们对于键盘的敲击力度不同，但是在传统的计算机键盘测试过程中，测试装置对计算机敲击力度始终保持一致，导致对计算机键盘使用时长测试有误差，影响计算机键盘出厂的合格率。
【技术实现步骤摘要】
一种计算机键盘批量化测试装置及测试方法
本专利技术涉及计算机键盘领域，特别涉及一种计算机键盘批量化测试装置及测试方法。
技术介绍
计算机俗称电脑，是现代一种用于高速计算的电子计算机器，可以进行数值计算，又可以进行逻辑计算，还具有存储记忆功能。是能够按照程序运行，自动、高速处理海量数据的现代化智能电子设备，计算机通常是由显示屏、主机、键盘以及鼠标等组成，在实际使用过程中，由于键盘和鼠标使用强度较大，故需要对键盘和鼠标进行测试，便于将生产过程中不合格的键盘与鼠标进行筛分处理，以达到最佳使用目的。目前，计算机键盘在使用时长测试过程中存在以下难题：a传统的计算机键盘测试过程中，由于计算机键盘的尺寸大小不一，在对计算机键盘进行测试过程中需要不同夹具进行夹持，传统夹持过程中频繁更换夹具，工艺较为复杂且生产成本较高，且传统测试过程中只能对单一计算机键盘进行处理，测试速度较慢，从而导致测试效率较低，b由于在实际使用过程中，人们对于键盘的敲击力度不同，但是在传统的计算机键盘测试过程中，测试装置对计算机敲击力度始终保持一致，测试效果较为单一，不具有代表性，进而导致对计算机键盘使用时长测试有误差，影响计算机键盘出厂的合格率。
技术实现思路
(一)要解决的技术问题本专利技术提供了一种计算机键盘批量化测试装置及测试方法，可以解决计算机键盘在使用时长测试过程中存在以下难题：a传统的计算机键盘测试过程中，由于计算机键盘的尺寸大小不一，在对计算机键盘进行测试过程中需要不同夹具进行夹持，传统夹持过程中频繁更换夹具，工艺较为复杂且生产成本较高，且传统测试过程中只能对单一计算机键盘进行处理，测试速度较慢，从而导致测试效率较低，b由于在实际使用过程中，人们对于键盘的敲击力度不同，但是在传统的计算机键盘测试过程中，测试装置对计算机敲击力度始终保持一致，测试效果较为单一，不具有代表性，进而导致对计算机键盘使用时长测试有误差，影响计算机键盘出厂的合格率。(二)技术方案1.为了实现上述目的，本专利技术采用以下技术方案：一种计算机键盘批量化测试装置,包括底部机架、限位夹持机构、电动滑块、竖直机架、桁架以及往复测试机构,所述的底部机架上端面安装有限位夹持机构，底部机架上端面位于限位夹持机构的左右两侧滑动安装有电动滑块，电动滑块上端面安装有竖直机架，竖直机架上端面安装有桁架，桁架下端面中间位置安装有往复测试机构。所述的限位夹持机构包括夹持工作台、双向螺杆、移动机架、锁紧杆、夹持机架、放置台、夹持支链、限位支链、复位弹簧杆以及夹持板，其中所述的夹持工作台安装在底部机架上端面，夹持工作台内部前后对称开设有两组一号滑槽，一号滑槽内部上端面左右对称开设有二号滑槽，移动机架穿过二号滑槽滑动设置在一号滑槽内部，移动机架与夹持工作台上分别开设有限位孔与限位通孔，锁紧杆穿过限位通孔卡接在限位孔内部，移动机架位于一号滑槽的部分开设有螺纹通孔，螺纹通孔内部转动安装有双向螺杆，移动机架上端面安装有夹持机架，底部机架上端面位于夹持机架之间的位置安装有放置台，放置台上端面自前往后均匀设置有限位支链，夹持机架之间相对面开设有放置凹槽，且放置凹槽内部下端面与放置台上端面位于同一水平面上，放置凹槽上端面左右对称设置有两组复位弹簧杆，复位弹簧杆前后对称安装在放置凹槽上端面，复位弹簧杆下端面安装有夹持板，夹持机架内部位于放置凹槽的上方开设有三号滑槽，夹持支链安装在三号滑槽内部。所述的往复测试机构包括升降气缸、升降板、升降弹簧杆、测试工作台、转动电机、转轴、凸轮组、移动架、锁紧块以及测试板，其中所述的升降气缸通过气缸座安装在桁架下端面，升降气缸驱动轴下端面通过法兰盘安装有升降板，升降板下端面左右对称安装有升降弹簧杆，升降弹簧杆下端面安装有测试工作台，升降板下端面通过电机座安装有转动电机，转轴一端通过轴套安转在转动电机输出轴上，转轴另一端通过轴承安装在升降板上，转轴上安装有凸轮组，移动架左右对称滑动设置在测试工作台上，且移动架上端面抵靠在凸轮组端面上，测试工作台上端面自左向右均匀设置有锁紧孔，移动架上开设有锁紧通孔，锁紧块穿过锁紧通孔设置在锁紧孔内，测试板卡接在测试工作台下端面。优选的，所述的夹持支链包括调节板、锁紧连块以及连接板，其中所述的调节板滑动设置在三号滑槽内部，调节板上端面自左向右均匀设置有锁紧凹槽，三号滑槽上端面开设有锁紧连槽，锁紧连块穿过锁紧连槽设置在锁紧凹槽内部，三号滑槽与放置凹槽之间开设有四号滑槽，连接板滑动设置在四号滑槽内部，连接板一端固定安装在夹持板上端面，连接板另一端抵靠在调节板上，其中调节板与连接板接触的部分设置为倾斜结构优选的，所述的限位支链包括隔板、限位弹簧杆以及限位块，其中所述的隔板前后对称安装在放置台上端面，隔板相对面上左右对称安装有限位弹簧杆，限位弹簧杆上安装有限位块，限位块相对面之间上端开设有斜面结构。优选的，所述的凸轮组由转动凸轮构成，且转动凸轮自中间向左右两侧的轴长依次减小，且转动凸轮与移动架接触的侧面上设置有凹凸不平的弧形结构。优选的，所述的测试板包括连板以及振动爪，所述的连板上端面左右对称设置有蘑菇型凸起，测试工作台下端面左右对称开设有蘑菇型凹槽，连板通过蘑菇型凸起与蘑菇型凹槽相互配合卡接在测试工作台下端面，振动爪自左向右均匀安装在连板下端面。优选的，所述的放置凹槽内部下端面与侧壁上设置有橡胶垫。优选的，采用上述的计算机键盘批量化测试装置对计算机键盘的使用时长进行测试时，包括以下步骤：第一步：键盘放置：通过人工或者现有设备将计算机键盘放置在限位夹持机构内部进行限位夹持处理；第二步：装置调节：根据计算机键盘放置的相对位置，通过调节将往复测试机构移动到工作位置；第三步：测试处理：启动往复测试机构，通过与限位夹持机构相互配合对计算机键盘进行使用时长测试处理；第四步：收集码放：测试结束后，将合格与不合格的计算机键盘进行分类收集码垛，测试结束。(三)有益效果1.本专利技术提供了一种计算机键盘批量化测试装置及测试方法，可以解决计算机键盘在使用时长测试过程中存在以下难题：a传统的计算机键盘测试过程中，由于计算机键盘的尺寸大小不一，在对计算机键盘进行测试过程中需要不同夹具进行夹持，传统夹持过程中频繁更换夹具，工艺较为复杂且生产成本较高，且传统测试过程中只能对单一计算机键盘进行处理，测试速度较慢，从而导致测试效率较低，b由于在实际使用过程中，人们对于键盘的敲击力度不同，但是在传统的计算机键盘测试过程中，测试装置对计算机敲击力度始终保持一致，测试效果较为单一，不具有代表性，进而导致对计算机键盘使用时长测试有误差，影响计算机键盘出厂的合格率。2.本专利技术设计的限位夹持机构中，双向螺杆通过移动架可以对夹持机架进行调距处理可以对不同长度的计算机键盘进行左右方向上的限位夹持处理，夹持板通过与复位弹簧杆相互配合可以对不同厚度的计算机键盘进行竖直方向上的限位夹处理，夹持支链的使用可以使得计算机键盘在竖直方向上夹持限位更加稳定，限位支链中通过限位块与限位弹簧杆相互配合可以对计算本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种计算机键盘批量化测试装置，包括底部机架(1)、限位夹持机构(2)、电动滑块(3)、竖直机架(4)、桁架(5)以及往复测试机构(6),其特征在于：所述的底部机架(1)上端面安装有限位夹持机构(2)，底部机架(1)上端面位于限位夹持机构(2)的左右两侧滑动安装有电动滑块(3)，电动滑块(3)上端面安装有竖直机架(4)，竖直机架(4)上端面安装有桁架(5)，桁架(5)下端面中间位置安装有往复测试机构(6)；其中：/n所述的限位夹持机构(2)包括夹持工作台(21)、双向螺杆(22)、移动机架(23)、锁紧杆(24)、夹持机架(25)、放置台(26)、夹持支链(27)、限位支链(28)、复位弹簧杆(29)以及夹持板(210)，其中所述的夹持工作台(21)安装在底部机架(1)上端面，夹持工作台(21)内部前后对称开设有两组一号滑槽，一号滑槽内部上端面左右对称开设有二号滑槽，移动机架(23)穿过二号滑槽滑动设置在一号滑槽内部，移动机架(23)与夹持工作台(21)上分别开设有限位孔与限位通孔，锁紧杆(24)穿过限位通孔卡接在限位孔内部，移动机架(23)位于一号滑槽的部分开设有螺纹通孔，螺纹通孔内部转动安装有双向螺杆(22)，移动机架(23)上端面安装有夹持机架(25)，底部机架(1)上端面位于夹持机架(25)之间的位置安装有放置台(26)，放置台(26)上端面自前往后均匀设置有限位支链(28)，夹持机架(25)之间相对面开设有放置凹槽，且放置凹槽内部下端面与放置台(26)上端面位于同一水平面上，放置凹槽上端面左右对称设置有两组复位弹簧杆(29)，复位弹簧杆(29)前后对称安装在放置凹槽上端面，复位弹簧杆(29)下端面安装有夹持板(210)，夹持机架(25)内部位于放置凹槽的上方开设有三号滑槽，夹持支链(27)安装在三号滑槽内部；/n所述的往复测试机构(6)包括升降气缸(61)、升降板(62)、升降弹簧杆(63)、测试工作台(64)、转动电机(65)、转轴(66)、凸轮组(67)、移动架(68)、锁紧块(69)以及测试板(610)，其中所述的升降气缸(61)通过气缸座安装在桁架(5)下端面，升降气缸(61)驱动轴下端面通过法兰盘安装有升降板(62)，升降板(62)下端面左右对称安装有升降弹簧杆(63)，升降弹簧杆(63)下端面安装有测试工作台(64)，升降板(62)下端面通过电机座安装有转动电机(65)，转轴(66)一端通过轴套安转在转动电机(65)输出轴上，转轴(66)另一端通过轴承安装在升降板(62)上，转轴(66)上安装有凸轮组(67)，移动架(68)左右对称滑动设置在测试工作台(64)上，且移动架(68)上端面抵靠在凸轮组(67)端面上，测试工作台(64)上端面自左向右均匀设置有锁紧孔，移动架(68)上开设有锁紧通孔，锁紧块(69)穿过锁紧通孔设置在锁紧孔内，测试板(610)卡接在测试工作台(64)下端面。/n...
【技术特征摘要】
1.一种计算机键盘批量化测试装置，包括底部机架(1)、限位夹持机构(2)、电动滑块(3)、竖直机架(4)、桁架(5)以及往复测试机构(6),其特征在于：所述的底部机架(1)上端面安装有限位夹持机构(2)，底部机架(1)上端面位于限位夹持机构(2)的左右两侧滑动安装有电动滑块(3)，电动滑块(3)上端面安装有竖直机架(4)，竖直机架(4)上端面安装有桁架(5)，桁架(5)下端面中间位置安装有往复测试机构(6)；其中：
所述的限位夹持机构(2)包括夹持工作台(21)、双向螺杆(22)、移动机架(23)、锁紧杆(24)、夹持机架(25)、放置台(26)、夹持支链(27)、限位支链(28)、复位弹簧杆(29)以及夹持板(210)，其中所述的夹持工作台(21)安装在底部机架(1)上端面，夹持工作台(21)内部前后对称开设有两组一号滑槽，一号滑槽内部上端面左右对称开设有二号滑槽，移动机架(23)穿过二号滑槽滑动设置在一号滑槽内部，移动机架(23)与夹持工作台(21)上分别开设有限位孔与限位通孔，锁紧杆(24)穿过限位通孔卡接在限位孔内部，移动机架(23)位于一号滑槽的部分开设有螺纹通孔，螺纹通孔内部转动安装有双向螺杆(22)，移动机架(23)上端面安装有夹持机架(25)，底部机架(1)上端面位于夹持机架(25)之间的位置安装有放置台(26)，放置台(26)上端面自前往后均匀设置有限位支链(28)，夹持机架(25)之间相对面开设有放置凹槽，且放置凹槽内部下端面与放置台(26)上端面位于同一水平面上，放置凹槽上端面左右对称设置有两组复位弹簧杆(29)，复位弹簧杆(29)前后对称安装在放置凹槽上端面，复位弹簧杆(29)下端面安装有夹持板(210)，夹持机架(25)内部位于放置凹槽的上方开设有三号滑槽，夹持支链(27)安装在三号滑槽内部；
所述的往复测试机构(6)包括升降气缸(61)、升降板(62)、升降弹簧杆(63)、测试工作台(64)、转动电机(65)、转轴(66)、凸轮组(67)、移动架(68)、锁紧块(69)以及测试板(610)，其中所述的升降气缸(61)通过气缸座安装在桁架(5)下端面，升降气缸(61)驱动轴下端面通过法兰盘安装有升降板(62)，升降板(62)下端面左右对称安装有升降弹簧杆(63)，升降弹簧杆(63)下端面安装有测试工作台(64)，升降板(62)下端面通过电机座安装有转动电机(65)，转轴(66)一端通过轴套安转在转动电机(65)输出轴上，转轴(66)另一端通过轴承安装在升降板(62)上，转轴(66)上安装有凸轮组(67)，移动架(68)左右对称滑动设置在测试工作台(64)上，且移动架(68)上端面抵靠在凸轮组(67)端面上，测试工作台(64)上端面自左向右均匀设置有锁紧孔，移动架(68)上开设有锁紧通孔，锁紧块(69)穿过锁紧通孔设置在锁紧孔内，测试板(610)卡接在测试工作台(6...
【专利技术属性】
技术研发人员：周智刚，张建臣，胡凯，
申请(专利权)人：德州学院，
类型：发明
国别省市：山东;37
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