一种提高中频采样信号稳定性的方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种提高中频采样信号稳定性的方法和装置，其中方法包括：根据系统采样参数计算信号整数采样点位置；计算离散频谱中频点位置为所述信号整数采样点位置时对应的信号频点与数字采样中心频点的误差作为中频采样频点误差；根据中频采样频点误差对信号源射频频率进行修正后输出。本发明专利技术发明专利技术可用于目标电磁散射特性测量系统、有源定标系统工作稳定性的验证，通过对信号源输出信号频点的调整，消除信号采集系统中频采样频点非信号最大值点带来的误差，提高系统工作稳定性的测试精度。

【技术实现步骤摘要】
一种提高中频采样信号稳定性的方法和装置
本专利技术涉及计算机
，尤其涉及提高中频采样信号稳定性的方法、装置和计算机可读介质。
技术介绍
目标电磁散射特性测量系统、有源定标系统等雷达系统工作稳定性是系统重要性能指标，系统接收信号稳定性可通过以下方法验证：信号源设置系统工作频点发射信号，通过射频电缆可直接接入系统，系统通过采集输入信号，并对采集信号分析处理得到系统动态中频采样信号，验证系统稳定性。由于系统中频采样为数字信号采样，信号采样点为离散点，信号中心频点位置存在不是整数的情况，此时系统采集信号频点将存在一定偏差，造成未取到信号最大值，并带来一定波动。因此，针对以上不足，需要提供一种提高中频采样信号稳定性的方法和装置。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题在于现有系统采集信号频点存在一定偏差的缺陷，提供一种提高中频采样信号稳定性的方法、装置和计算机可读介质，通过调整输入信号频点，在不改变系统采样率的条件下，使信号中心频点位置为整数，消除系统采样频点与发射信号频点之间的误差。为了解决上述技术问题，本专利技术提供了一种提高中频采样信号稳定性的方法，包括：根据系统采样参数计算信号整数采样点位置；计算离散频谱中频点位置为所述信号整数采样点位置时对应的信号频点与数字采样中心频点的误差作为中频采样频点误差；根据中频采样频点误差对信号源射频频率进行修正后输出。在一种可能的实现方式中，所述根据系统采样参数计算信号整数采样点位置，包括通过以下公式计算：>其中，P为信号整数采样点位置，f0为数字采样中心频点，Fs为系统采样率，N为采样点数，(*)表示对数值进行四舍五入取整数。在一种可能的实现方式中，所述计算离散频谱中频点位置为所述信号整数采样点位置时对应的信号频点与数字采样中心频点的误差作为中频采样频点误差，包括通过以下公式计算：其中，E为中频采样频点误差，P为信号整数采样点位置，f0为数字采样中心频点，Fs为系统采样率，N为采样点数。在一种可能的实现方式中，所述根据中频采样频点误差对信号源射频频率进行修正后输出，包括通过以下公式计算：ft＝ft0±E其中，ft0为修正前的信号源射频频率，ft为修正后的信号源射频频率，E为中频采样频点误差。本专利技术还提供了一种提高中频采样信号稳定性的装置，包括：整数采样点位置计算模块，用于根据系统采样参数计算信号整数采样点位置；中频采样频点误差计算模块，用于计算离散频谱中频点位置为所述信号整数采样点位置时对应的信号频点与数字采样中心频点的误差作为中频采样频点误差；频率修正模块，用于根据中频采样频点误差对信号源射频频率进行修正后输出。在一种可能的实现方式中，所述整数采样点位置计算模块用于通过以下公式计算信号整数采样点位置：其中，P为信号整数采样点位置，f0为数字采样中心频点，Fs为系统采样率，N为采样点数，(*)表示对数值进行四舍五入取整数。在一种可能的实现方式中，所述中频采样频点误差计算模块用于通过以下公式计算中频采样频点误差：其中，E为中频采样频点误差，P为信号整数采样点位置，f0为数字采样中心频点，Fs为系统采样率，N为采样点数。在一种可能的实现方式中，所述频率修正模块用于通过以下公式计算修正后的信号源射频频率：ft＝ft0±E其中，ft0为修正前的信号源射频频率，ft为修正后的信号源射频频率，E为中频采样频点误差。本专利技术还提供了一种提高中频采样信号稳定性的装置，包括：至少一个存储器和至少一个处理器；所述至少一个存储器，用于存储机器可读程序；所述至少一个处理器，用于调用所述机器可读程序，执行如上述所述的方法。本专利技术还提供了一种计算机可读介质，所述计算机可读介质上存储有计算机指令，所述计算机指令在被处理器执行时，使所述处理器执行如上述所述的方法。实施本专利技术的提高中频采样信号稳定性的方法和装置，具有以下有益效果：本专利技术通过对信号源输出频率进行修正，可消除信号中心频点位置非整数点带来的误差，提高系统采集信号稳定性。附图说明图1是本专利技术一个实施例提供的提高中频采样信号稳定性的方法的流程图；图2是本专利技术一个实施例提供的提高中频采样信号稳定性的装置所在设备的示意图；图3是本专利技术一个实施例提供的提高中频采样信号稳定性的装置的示意图；图4是本专利技术信号源输出频率修正前动态中频采样信号；图5是本专利技术信号源输出频率修正后动态中频采样信号。具体实施方式为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。图1示出根据一个实施例的提高中频采样信号稳定性的方法的流程图。可以理解，该方法可以通过任何具有计算、处理能力的装置、设备、平台、设备集群来执行。参见图1，该方法包括：步骤101：根据系统采样参数计算信号整数采样点位置。在步骤101中，根据系统采样参数计算信号整数采样点位置，包括通过以下公式计算：其中，P为信号整数采样点位置，f0为数字采样中心频点，Fs为系统采样率，N为采样点数，(*)表示对里面数值进行四舍五入取整数。步骤102：计算中频采样频点误差。在步骤102中，依据步骤S101计算的信号整数采样点P，计算离散频谱中频点位置为P时对应的信号频点与数字采样中心频点的误差作为中频采样频点误差。具体地，通过以下公式进行计算：其中，E为中频采样频点误差，P为信号整数采样点位置，f0为数字采样中心频点，Fs为系统采样率，N为采样点数。步骤103：根据中频采样频点误差对信号源射频频率进行修正后输出。在步骤103中，信号源射频频率需要依据步骤S102计算的中频采样频点误差E进行修正。具体地，可以通过以下公式进行计算：ft＝ft0±E其中，ft0为修正前的信号源射频频率，ft为修正后的信号源射频频率，E为中频采样频点误差。上述公式中±由系统变频关系决定，具体地，该步骤中可以先通过上述公式±分别计算出两个频率值，再分别使用这两个频率值进行测试，处理接收到的信号的频谱，如果采样点的主瓣是对称的就认为该频率为正确频率。由此，上述流程完成了信号源实际射频频率的设置，实现了中频采样信号稳定性提升。本申请的方法可用于目标电磁散射特性测量系统、有源定标系统工作稳定性的验证，基于信号源、信号采集系统、信号处理软件实现，通过微调信号源输出信号频点，使信号采集系统采样频点位置正好为信号最大值处，消除信号采集系统中频采样频点非信号最大值点带来的误差，提高系统工作稳定性的测试精度本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种提高中频采样信号稳定性的方法，其特征在于，包括：/n根据系统采样参数计算信号整数采样点位置；/n计算离散频谱中频点位置为所述信号整数采样点位置时对应的信号频点与数字采样中心频点的误差作为中频采样频点误差；/n根据中频采样频点误差对信号源射频频率进行修正后输出。/n

【技术特征摘要】
1.一种提高中频采样信号稳定性的方法，其特征在于，包括：
根据系统采样参数计算信号整数采样点位置；
计算离散频谱中频点位置为所述信号整数采样点位置时对应的信号频点与数字采样中心频点的误差作为中频采样频点误差；
根据中频采样频点误差对信号源射频频率进行修正后输出。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据系统采样参数计算信号整数采样点位置，包括通过以下公式计算：



其中，P为信号整数采样点位置，f0为数字采样中心频点，Fs为系统采样率，N为采样点数，(*)表示对数值进行四舍五入取整数。


3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述计算离散频谱中频点位置为所述信号整数采样点位置时对应的信号频点与数字采样中心频点的误差作为中频采样频点误差，包括通过以下公式计算：



其中，E为中频采样频点误差，P为信号整数采样点位置，f0为数字采样中心频点，Fs为系统采样率，N为采样点数。


4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据中频采样频点误差对信号源射频频率进行修正后输出，包括通过以下公式计算：
ft＝ft0±E
其中，ft0为修正前的信号源射频频率，ft为修正后的信号源射频频率，E为中频采样频点误差。


5.一种提高中频采样信号稳定性的装置，其特征在于，包括：
整数采样点位置计算模块，用于根据系统采样参数计算信号整数采样点位置；
中频采样频点误差计算模块，用于计算离散频谱中频点位置为所述信...

【专利技术属性】
技术研发人员：张达凯，刘胤凯，李熙民，苗苗，冯孝斌，沈小玲，张云，冯雨，王晓，邵景星，李万珅，
申请(专利权)人：北京环境特性研究所，
类型：发明
国别省市：北京;11