公法线千分尺制造技术

本说明书提供了一种公法线千分尺，包括尺架和设置在尺架上的测砧，测砧具有一个正面和背面，其中，正面设有测量内齿公法线的测量面，背面设有测量外齿公法线的测量面。通过在测砧上增大测量面来避免工件与尺架间的干涉，使得能千分尺能测量齿轮齿间槽宽和齿厚公法线的功能性。功能性。功能性。

【技术实现步骤摘要】
公法线千分尺


[0001]本申请涉及测量仪器的
，尤其涉及一种公法线千分尺。

技术介绍

[0002]公法线千分尺用于测量齿轮公法线长度，是一种通用的齿轮测量工具。现有的公法线千分尺在工件的槽间距比较小时,工件和尺架读数套筒发生干涉,导致千分尺无法获取测量的精准读数。

技术实现思路

[0003]本申请目的在于提供一种公法线千分尺，可以通过测砧两个相背设置的测量面解决齿轮齿宽、齿厚的公法线测量问题。
[0004]本申请提供了一种公法线千分尺，包括尺架和设置在尺架上的测砧，测砧具有一个正面和背面，其中，正面设有测量内齿公法线的测量面，背面设有测量外齿公法线的测量面。
[0005]作为优选，所述测砧包括固定在所述尺架一端的固定测砧和活动设置在所述尺架另一端的活动测砧。
[0006]作为优选，所述测砧与所述尺架螺纹连接。
[0007]进一步的，所述测砧包括可相互替换的第一测砧和第二测砧，第二测砧的测量面面积大于第一测砧的测量面面积。
[0008]作为优选，所述测砧呈圆盘状，圆盘的两个盘面上设有测量面。
[0009]作为优选，所述测砧呈圆盘状，且测砧的直径为25.4mm。
[0010]作为优选，所述测砧设有向被测量工件延伸的测量头，测量头设有相背离的两个测量面。
[0011]本技术的有益效果：通过在测砧上增大测量面来避免工件与尺架间的干涉，使得能千分尺能测量齿轮齿槽宽和齿厚的公法线。
附图说明
[0012]为了更清楚地说明本说明书实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本说明书中记载的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0013]图1示出了现有设计中公法线千分尺的结构示意图；
[0014]图2为本申请实施例中公法线千分尺的结构示意图。
[0015]以上附图的附图标号为：
[0016]1、固定测砧；2、活动测砧；3、螺杆；4、支架；
[0017]10、固定测砧；20、活动测砧；30、螺杆；40、支架；50、微分筒；60、旋钮。
具体实施方式
[0018]为了使本
的人员更好地理解本说明书中的技术方案，下面将结合本说明书实施例中的附图，对本说明书实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本说明书一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本说明书中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本说明书保护的范围。
[0019]如图1所示，一种现有设计中的公法线千分尺，包括尺架4和设置在尺架4上的大致圆盘状的测砧，测砧包括固定在尺架一端的固定测砧1和活动设置尺架4另一端与螺杆3随动的活动测砧2。具体的，见图1中，测砧具有一个测量面(固定测砧1与活动测砧2的相对面为测量面)，与测量面相背离的一面无法进行测量，同时，由于测砧的直径固定，无法改变，需要准备多种尺寸规格的测砧才能满足对不同尺寸齿轮的齿槽宽和齿厚公法线测量。
[0020]基于上述现有千分尺中的问题，本申请提供一种如图2所示的公法线千分尺，它同样包括有尺架40和设置在尺架40上的两个测砧，还包括设置在尺架40上与一个测砧固定的螺杆30，与螺杆连接的旋钮60，以及与旋钮60配合测量的微分筒50。其中，测砧具有两个测量面，一个测量面设置在测砧的正面，另一个测量面设置在背面。
[0021]具体地，如图2所示，测砧包括固定在尺架40一端的固定测砧10和活动设置在尺架40另一端的活动测砧20。在测量齿轮工件时，相对设置的测量面可以对齿轮的被测量面形成夹持，而相背离的测量面则抵靠在齿轮的被测量面，然后调节旋钮60带动螺杆30旋转，使得两个测量面的距离根据工件的被测量面进行调整，然后根据微分筒50得出测量数值。
[0022]作为优选，测砧与尺架螺纹连接，以实现测砧的更换。
[0023]进一步的，基于上述测砧与尺架的可拆卸地连接方式，测砧包括可相互替换的不同测量面规格的第一测砧和第二测砧，第二测砧的测量面面积大于第一测砧的测量面面积。通过更换不同测量面面积的测砧，可以实现对不同槽深工件进行测量，可以减少由于齿轮齿槽、齿厚与千分尺测量面测量范围的不匹配导致的测量干涉情况。
[0024]作为优选，如图2所示，固定测砧10和活动测砧20都呈圆盘状，在圆盘的两个盘面上分别设有测量面，其中，圆盘的直径在25.4mm，大致为现有设计中测砧直径的一倍，在增大测量范围的情况下可以避免工件与千分尺整体之间产生干涉。
[0025]当然，除了上述圆盘状的测砧以外，还可以是其他形状的，如矩形，只要满足测砧设有向被测量工件延伸的测量头，测量头设有相背离的两个测量面。
[0026]虽然通过实施例描绘了本申请，本领域普通技术人员知道，本申请有许多变形和变化而不脱离本申请的精神，希望所附的实施方式包括这些变形和变化而不脱离本申请。
本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种公法线千分尺，包括尺架和设置在尺架上的测砧，测砧具有一个正面和背面，其中，正面为测量面，其特征在于，背面设有测量面；所述测砧包括可相互替换的第一测砧和第二测砧，第二测砧的测量面面积大于第一测砧的测量面面积；所述测砧呈圆盘状，圆盘的两个盘面上设有测量面，所述测砧的直径为25.4mm。2.根据权利要求1所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员：鲍志文，
申请(专利权)人：施泰力工具苏州有限公司，
类型：新型
国别省市：