压力传感器检漏测试控制电路及装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种压力传感器检漏测试控制电路及装置，涉及传感器技术领域。本发明专利技术技术方案通过设置相互连接的继电器驱动电路和电磁阀驱动电路构成压力传感器检漏测试控制电路，电磁阀驱动电路与检漏测试工装连接。继电器驱动电路，用于生成继电器驱动信号，并将继电器驱动信号传输至电磁阀驱动电路；电磁阀驱动电路，用于接收继电器驱动信号，以驱动检漏测试工装中的电磁阀执行测试动作。本发明专利技术中，操作人员仅需要对继电器驱动信号进行设置即可控制检漏测试工装进行测试，避免了人工操作测试动作，提高压力传感器检漏测试的效率。同时，自动化控制还避免了人工因素的影响，消除人工误差，提高了准确性。提高了准确性。提高了准确性。

【技术实现步骤摘要】
压力传感器检漏测试控制电路及装置


[0001]本专利技术涉及传感器
，尤其涉及一种压力传感器检漏测试控制电路及装置。

技术介绍

[0002]压力传感器在生产完成后，通常还需要进行测试，保证压力传感器能够正常使用。测试主要包含检漏测试等，以检测压力传感器的密封性是否符合规定。由于测试所涉及的步骤较多，目前，压力传感器的检漏测试大多由人工操作完成，这无疑对测试的效率及准确性造成一定影响。因此，如何提高压力传感器检漏测试的效率及准确性，是亟待解决的技术问题。
[0003]上述内容仅用于辅助理解本专利技术的技术方案，并不代表承认上述内容是现有技术。

技术实现思路

[0004]本专利技术的主要目的在于提出一种压力传感器检漏测试控制电路及装置，旨在解决现有技术中压力传感器检漏测试的效率低及准确性不高的技术问题。
[0005]为实现上述目的，本专利技术提出一种压力传感器检漏测试控制电路，压力传感器检漏测试控制电路包括相互连接的继电器驱动电路和电磁阀驱动电路，电磁阀驱动电路与检漏测试工装连接；
[0006]继电器驱动电路，用于生成继电器驱动信号，并将继电器驱动信号传输至电磁阀驱动电路；
[0007]电磁阀驱动电路，用于接收继电器驱动信号，以驱动检漏测试工装中的电磁阀执行测试动作。
[0008]可选的，继电器驱动电路包括微处理器、多个继电器接线端和多个驱动继电器线圈，多个继电器接线端连接第一预设电源，微处理器与各继电器接线端连接，各驱动继电器线圈分别与对应的继电器接线端连接；
[0009]继电器接线端，用于接收微处理器发出的控制信号，以控制驱动继电器线圈的上电或掉电。
[0010]可选的，电磁阀驱动电路包括多个驱动继电器触点，多个驱动继电器触点与多个驱动继电器线圈一一对应，检漏测试工装中的电磁阀包括间驱电磁阀；
[0011]各驱动继电器触点的第一端与第二预设电源连接，各驱动继电器触点的第二端与间驱电磁阀连接。
[0012]可选的，压力传感器检漏测试控制电路还包括检测电路，检测电路包括磁感应开关线圈和第一检测继电器线圈，磁感应开关线圈对应的磁体设置于检漏测试工装中的动作机构对应的极限位置；
[0013]磁感应开关线圈的第一端与第三预设电源连接，磁感应开关线圈的第二端与第一
检测继电器线圈的第一端连接，第一检测继电器线圈的第二端与第三预设电源连接。
[0014]可选的，检测电路还包括光栅和第二检测继电器线圈，光栅的输入端与第三预设电源连接，光栅的输出端与第二检测继电器线圈的第一端连接，第二检测继电器线圈的第二端与第三预设电源连接。
[0015]可选的，电磁阀驱动电路还包括直驱接线端、第一检测继电器触点和第二检测继电器触点，第一检测继电器触点与第一检测继电器线圈对应，第二检测继电器触点与第二检测继电器线圈对应，第一检测继电器触点为常开触点，第二检测继电器触点为常闭触点，检漏测试工装中的电磁阀包括直驱电磁阀；
[0016]直驱接线端与微处理器连接，直驱接线端的第一端分别与第一检测继电器触点的第一端及第二检测继电器触点的第一端连接，直驱接线端的第二端与直驱电磁阀的第一端连接，直驱电磁阀的第二端分别与第一检测继电器触点的第二端及第二检测继电器触点的第二端连接。
[0017]可选的，检测电路还包括检测传感器和第三检测继电器线圈，检测传感器的输入端与第三预设电源连接，检测传感器的输出端与第三检测继电器线圈的第一端连接，第三检测继电器线圈的第二端与第三预设电源连接。
[0018]可选的，电磁阀驱动电路还包括反馈接线端、第一检测继电器触点和第三检测继电器触点，第一检测继电器触点与第一检测继电器线圈对应，第三检测继电器触点与第三检测继电器线圈对应；反馈接线端分别与微处理器、第一检测继电器触点和第三检测继电器触点连接。
[0019]可选的，压力传感器检漏测试控制电路还包括采集电路，采集电路包括多个压力表和USB集线器，USB集线器分别与继电器驱动电路和计算单元连接，各压力表的输出端与USB集线器的各USB端口连接。
[0020]为实现上述目的，本专利技术还提出一种压力传感器检漏测试控制装置，压力传感器检漏测试控制装置包括如上文所述的压力传感器检漏测试控制电路。
[0021]本专利技术技术方案通过设置相互连接的继电器驱动电路和电磁阀驱动电路构成压力传感器检漏测试控制电路，电磁阀驱动电路与检漏测试工装连接。继电器驱动电路，用于生成继电器驱动信号，并将继电器驱动信号传输至电磁阀驱动电路；电磁阀驱动电路，用于接收继电器驱动信号，以驱动检漏测试工装中的电磁阀执行测试动作。本专利技术通过继电器对检漏测试工装进行驱动，其中，继电器由继电器驱动电路控制。操作人员仅需要对继电器驱动信号进行设置即可控制检漏测试工装进行测试，避免了人工操作测试动作，提高压力传感器检漏测试的效率。同时，自动化控制还避免了人工因素的影响，消除人工误差，提高了准确性。
附图说明
[0022]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
[0023]图1为本专利技术压力传感器检漏测试控制电路的模块示意图；
[0024]图2为本专利技术压力传感器检漏测试控制电路的结构示意图；
[0025]图3为本专利技术压力传感器检漏测试控制电路一实施例的进气路径结构示意图；
[0026]图4为本专利技术压力传感器检漏测试控制电路一实施例的检测电路结构示意图；
[0027]图5为本专利技术压力传感器检漏测试控制电路一实施例的电磁阀驱动电路结构示意图。
[0028]本专利技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。
[0029]附图标号说明：
[0030]标号名称标号名称100继电器驱动电路U微处理器1001继电器接线端KA1～KA6第一至第六继电器200电磁阀驱动电路VCC1～VCC3第一至第三预设电源2001直驱接线端SNC磁感应开关2002反馈接线端KG光栅300间驱电磁阀KY检测传感器400直驱电磁阀
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具体实施方式
[0031]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0032]需要说明，本专利技术实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后
……
)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。
[0033]另外，在本专利技术中涉及“第一”本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种压力传感器检漏测试控制电路，其特征在于，所述压力传感器检漏测试控制电路包括相互连接的继电器驱动电路和电磁阀驱动电路，所述电磁阀驱动电路与检漏测试工装连接；所述继电器驱动电路，用于生成继电器驱动信号，并将所述继电器驱动信号传输至所述电磁阀驱动电路；所述电磁阀驱动电路，用于接收所述继电器驱动信号，以驱动所述检漏测试工装中的电磁阀执行测试动作。2.如权利要求1所述的压力传感器检漏测试控制电路，其特征在于，所述继电器驱动电路包括微处理器、多个继电器接线端和多个驱动继电器线圈，所述多个继电器接线端连接第一预设电源，所述微处理器与各继电器接线端连接，各驱动继电器线圈分别与对应的继电器接线端连接；所述继电器接线端，用于接收所述微处理器发出的控制信号，以控制所述驱动继电器线圈的上电或掉电。3.如权利要求2所述的压力传感器检漏测试控制电路，其特征在于，所述电磁阀驱动电路包括多个驱动继电器触点，所述多个驱动继电器触点与所述多个驱动继电器线圈一一对应，所述检漏测试工装中的电磁阀包括间驱电磁阀；各驱动继电器触点的第一端与第二预设电源连接，各驱动继电器触点的第二端与所述间驱电磁阀连接。4.如权利要求2所述的压力传感器检漏测试控制电路，其特征在于，所述压力传感器检漏测试控制电路还包括检测电路，所述检测电路包括磁感应开关线圈和第一检测继电器线圈，所述磁感应开关线圈对应的磁体设置于所述检漏测试工装中的动作机构对应的极限位置；所述磁感应开关线圈的第一端与第三预设电源连接，所述磁感应开关线圈的第二端与所述第一检测继电器线圈的第一端连接，所述第一检测继电器线圈的第二端与所述第三预设电源连接。5.如权利要求4所述的压力传感器检漏测试控制电路，其特征在于，所述检测电路还包括光栅和第二检测继电器线圈，所述光栅的输入端与所述第三预设电源连接，所述光栅的输出端与所述第二检测继电器线圈的第一端连接，所述第二检测继电器线圈的第二端与所述第三预设电源连接。6.如权利要求5所述的压力传感器检漏测试控...

【专利技术属性】
技术研发人员：王小平，曹万，唐文，向忠明，
申请(专利权)人：武汉飞恩微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：