一种检测电源的方法、装置和电子设备制造方法及图纸

技术编号:28783730 阅读:34 留言:0更新日期:2021-06-09 11:17
本申请提供的一种检测电源的方法,包括:基于检测到电子设备连接目标电源,检测所述目标电源为电子设备提供的供电参数;基于所述供电参数分析得到所述目标电源的目标特征参数;所述目标电源至少包括两种电源,第一电源的目标特征参数的值与第二电源的目标特征参数的值不同,所述第一电源与第二电源的输出功率不同。本方案中,基于对于系统工作过程中的用电参数分析得到电源的目标特征参数,进而基于该目标特征参数的值区分该电源具体为哪个电源,即确定为系统提供电能的电源,实现了检测确定为电子设备提供电源的种类目的。为电子设备提供电源的种类目的。为电子设备提供电源的种类目的。

【技术实现步骤摘要】
一种检测电源的方法、装置和电子设备


[0001]本申请涉及电子设备领域,更具体的说,是涉及一种检测电源的方法、装置和电子设备。

技术介绍

[0002]目前,电子设备的电源在开发时是针对某一功率的电源,但是,随着技术的发展,电子设备的电源提高了,为其供电的电源也能提供较高的功率,当其与现有的较低功率的供电电源相连接,该较低的供电电源无法为电子设备的系统提供足够的功率,导致电子设备系统关闭。
[0003]因此,亟需一种检测供电电源的方法,以确定电子设备连接的电源是哪种。

技术实现思路

[0004]有鉴于此,本申请提供了一种检测电源的方法,解决现有技术中无法确定电子设备连接的电源能够提供的功耗,导致电子设备可能系统关闭的问题。
[0005]为实现上述目的,本申请提供如下技术方案:
[0006]一种检测电源的方法,包括:
[0007]基于检测到电子设备连接目标电源,检测所述目标电源为电子设备提供的供电参数;
[0008]基于所述供电参数分析得到所述目标电源的目标特征参数;
[0009]所述目标电源至少包括两种电源,第一电源的目标特征参数的值与第二电源的目标特征参数的值不同,所述第一电源与第二电源的输出功率不同。
[0010]可选的,上述的方法,检测到电子设备连接目标电源之后,检测所述目标电源为电子设备提供的供电参数之前,还包括:
[0011]检测所述目标电源的识别电压值;
[0012]基于所述识别电压值小于预设电压阈值,确定与所述识别电压值对应的电源为目标电源;
[0013]基于所述识别电压值不小于预设电压阈值,执行检测所述目标电源为电子设备提供的供电参数步骤。
[0014]可选的,上述的方法,检测所述目标电源为电子设备供电的供电参数,包括:
[0015]按照预设的第一获取条件,至少两次获取为电子设备供电的供电参数,每组所述供电参数包括系统功率和电压值,任意两次获取的系统功率不同。
[0016]可选的,上述的方法,所述基于所述供电参数分析得到所述目标电源的目标特征参数,包括:
[0017]基于至少两组所述供电参数,分析得到目标电源为电子设备供电的至少两个电流值;
[0018]依据至少两组所述电流值和电压值,绘制第一斜率曲线,所述第一斜率曲线表征
所述目标电源跟随电流变化的电压变化情况;
[0019]将所述第一斜率曲线与预设斜率曲线比对,得到第一比对结果;
[0020]基于所述第一比对结果表征所述第一斜率曲线与第一电源的预设斜率曲线匹配,确定所述目标电源是第一电源;
[0021]基于所述第一比对结果表征所述第一斜率曲线与第二电源的预设斜率曲线匹配,确定所述目标电源是第二电源。
[0022]可选的,上述的方法,所述将所述第一斜率曲线与预设斜率曲线比对,得到第一比对结果之后,还包括:
[0023]基于所述系统功率满足预设功率条件,且与所述系统功率对应的电压值大于预设电压阈值,按照预设的第二获取条件,至少两次获取为电子设备供电的供电参数;
[0024]分析所述供电参数,得到分析结果。
[0025]可选的,上述的方法,所述按照预设的第二获取条件,至少两次获取为电子设备供电的供电参数,包括:
[0026]基于所述系统功率小于预设功率阈值,按照预设的第二获取条件,至少两次获取为电子设备供电的供电参数,每组所述供电参数包括系统功率和电压值,任意两次获取的系统功率不同。
[0027]可选的,上述的方法,所述分析所述供电参数,得到第二分析结果,包括:
[0028]分析所述系统功率和电压值,绘制所述系统功率和电压值的第二斜率曲线,所述第二斜率曲线表征所述目标电源跟随电流变化的电压变化情况;
[0029]将所述第二斜率曲线与预设斜率曲线比对,得到第二比对结果;
[0030]基于所述第二比对结果表征所述第二斜率曲线与第一电源的预设斜率曲线基于匹配,确定所述目标电源是第一电源;
[0031]基于所述第二比对结果表征所述第二斜率曲线与第二电源的预设斜率曲线匹配,确定所述目标电源是第二电源。
[0032]一种检测电源的装置,包括:
[0033]检测模块,用于基于检测到电子设备连接目标电源,检测所述目标电源为电子设备提供的供电参数;
[0034]分析模块,用于基于所述供电参数分析得到所述目标电源的目标特征参数;
[0035]所述目标电源至少包括两种电源,第一电源的目标特征参数的值与第二电源的目标特征参数的值不同,所述第一电源与第二电源的输出功率不同。
[0036]可选的,上述的装置,还包括:
[0037]识别模块,用于检测所述目标电源的识别电压值;基于所述识别电压值小于预设电压阈值,确定与所述识别电压值对应的电源为目标电源;
[0038]基于所述识别电压值大于预设电压阈值,触发检测模块。
[0039]一种电子设备,包括:
[0040]电源接口,用于与电源相连,接收电源提供的电能;
[0041]处理器,用于基于检测到电子设备连接目标电源,检测所述目标电源为电子设备提供的供电参数;基于所述供电参数分析得到所述目标电源的目标特征参数;所述目标电源至少包括两种电源,第一电源的目标特征参数的值与第二电源的目标特征参数的值不
同,所述第一电源与第二电源的输出功率不同。
[0042]经由上述的技术方案可知,与现有技术相比,本申请提供了一种检测电源的方法,包括:基于检测到电子设备连接目标电源,检测所述目标电源为电子设备提供的供电参数;基于所述供电参数分析得到所述目标电源的目标特征参数;所述目标电源至少包括两种电源,第一电源的目标特征参数的值与第二电源的目标特征参数的值不同,所述第一电源与第二电源的输出功率不同。本方案中,基于对于系统工作过程中的用电参数分析得到电源的目标特征参数,进而基于该目标特征参数的值区分该电源具体为哪个电源,即确定为系统提供电能的电源,实现了检测确定为电子设备提供电源的种类目的。
附图说明
[0043]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据提供的附图获得其他的附图。
[0044]图1是本申请提供的一种检测电源的方法实施例1的流程图;
[0045]图2是本申请提供的一种检测电源的方法实施例2的流程图;
[0046]图3是本申请提供的一种检测电源的方法实施例3的流程图;
[0047]图4是本申请提供的一种检测电源的方法实施例4的流程图;
[0048]图5是本申请提供的一种检测电源的方法实施例4中230W和300W电源的斜率曲线示意图;
[0049]图6是本申请提供的一种检测电源的方法实施例5的流程图;本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检测电源的方法,包括:基于检测到电子设备连接目标电源,检测所述目标电源为电子设备提供的供电参数;基于所述供电参数分析得到所述目标电源的目标特征参数;所述目标电源至少包括两种电源,第一电源的目标特征参数的值与第二电源的目标特征参数的值不同,所述第一电源与第二电源的输出功率不同。2.根据权利要求1所述的方法,检测到电子设备连接目标电源之后,检测所述目标电源为电子设备提供的供电参数之前,还包括:检测所述目标电源的识别电压值;基于所述识别电压值小于预设电压阈值,确定与所述识别电压值对应的电源为目标电源;基于所述识别电压值不小于预设电压阈值,执行检测所述目标电源为电子设备提供的供电参数步骤。3.根据权利要求1所述的方法,检测所述目标电源为电子设备供电的供电参数,包括:按照预设的第一获取条件,至少两次获取为电子设备供电的供电参数,每组所述供电参数包括系统功率和电压值,任意两次获取的系统功率不同。4.根据权利要求3所述的方法,所述基于所述供电参数分析得到所述目标电源的目标特征参数,包括:基于至少两组所述供电参数,分析得到目标电源为电子设备供电的至少两个电流值;依据至少两组所述电流值和电压值,绘制第一斜率曲线,所述第一斜率曲线表征所述目标电源跟随电流变化的电压变化情况;将所述第一斜率曲线与预设斜率曲线比对,得到第一比对结果;基于所述第一比对结果表征所述第一斜率曲线与第一电源的预设斜率曲线匹配,确定所述目标电源是第一电源;基于所述第一比对结果表征所述第一斜率曲线与第二电源的预设斜率曲线匹配,确定所述目标电源是第二电源。5.根据权利要求4所述的方法,所述将所述第一斜率曲线与预设斜率曲线比对,得到第一比对结果之后,还包括:基于所述系统功率满足预设功率条件,且与所述系统功率对应的电压值大于预设电压阈值,按照预设的第二获取条件,至少两次获取为电子设备供电的供电参数;分析所述供电参数,得到分析结果。6...

【专利技术属性】
技术研发人员:肖启华
申请(专利权)人:联想北京有限公司
类型:发明
国别省市:

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