一种能够测试出差分串行电路单端故障的功能测试方法,其特征在于包括如下步骤:a、通过接口电路分别接入信号;b、分别测试、判断被测差分电路相应的单端输出信号,当两端的信号均正常时,被测差分电路功能正常,否则不正常。本发明专利技术测试时每次仅测试一对差分信号的一端,然后通过分别判断所测的两端信号确定被测电路正常与否,从而避免了常规的测试方法带来的漏测问题,能够可靠测试出差分信号单端出现的短路、断线等故障,较好地满足功能测试的要求,保证产品的质量。并且测试电路简单,器件成本低,占用的PCB体积小。(*该技术在2021年保护过期,可自由使用*)
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及差分串口电路的功能测试技术,具体是一种。差分串口的电路形式一般如附图说明图1所示。对它的功能测试方式,一般会设计另外一个测试电路与之对接,测试电路的CPU会采用约定的串口通讯协议与被测测试电路进行通讯,如果通讯正常,则认为被测电路功能正常;反之,则认为被测电路故障。所采用的测试电路的形式一般是与被测电路相近,甚至完全相同,即用接收电路来与被测串口电路中的发送部分相接,用发送电路来与被测串口电路的接收相接。如图1所示,如果被测电路是“发送电路”,功能测试时的测试电路将采用接收电路,将接收电路中的“RXD+”、“RXD-”分别接到被测电路的“TXD+”、“TXD-”上。使用上述常规的测试电路,无法测试出一对差分信号的单端出现的短路、断线等故障。假设在图一中,U1的Pin2出现对地短路,测试电路采用的是图1中的接收电路。那么,在测试电路的收端,尽管差分接收出现了单端故障,但由于这一对差分线的相对电平关系没有改变,U2仍会产生变换出正常的TTL信号“RXD”,不会影响通讯,出现故障产品漏检,使故障品流入下一生产工序。本专利技术提出的,其特征在于包括如下步骤a、通过接口电路分别接入信号;b、分别测试、判断被测差分电路相应的单端输出信号,当两端的信号均正常时,被测差分电路功能正常,否则不正常。本专利技术测试时每次仅测试一对差分信号的一端,然后通过分别判断所测的两端信号确定被测电路正常与否,从而避免了常规的测试方法带来的漏测问题,能够可靠测试出差分信号单端出现的短路、断线等故障,较好地满足功能测试的要求,保证产品的质量。并且测试电路简单,器件成本低,占用的PCB体积小。图3为本专利技术的差分发送电路的测试电路;图4为本专利技术的差分发送电路的另一种测试电路;图5为本专利技术的差分接收电路的另一种测试电路。其中电阻R9及R10的作用是使RXD+在高阻态输出时为固定电平。当被测电路中有可选部分(图2的被测电路中,虚线框内的电路)时,应相应改变上、下拉电阻R9、R10的阻值,使RXD+的固定电平为2.5V左右。对于RXD-也需作类似的处理。当被测电路为差分发送电路时,采用的测试电路如图3所示。图3中将被测差分发送电路的一对被测差分信号(TXD+、TXD-)通过接口电路(U3)转换成两路独立的TTL信号(TEST1、TEST2);然后分别测试、判断两路TTL信号,当两路TTL信号均正常时,被测差分信号(TXD+、TXD-)正常,否则被测差分信号不正常。图2、3所示测试电路可以测试出差分信号单端出现的短路、断线等故障,电路中的接口芯片(U3~U5)为26C31、26C32,属RS422接口规范;也可以选用RS485接口芯片,如74172、74173、74185等。图3电容C1的作用是滤除干扰,使信号转换更稳定。电阻R7、R8将电平嵌位在2.5V。另外,可在测试电路中,在常规电路的基础上,增加一级继电器,测试时用继电器分别将差分信号中的一端接通来进行。如图4、5所示,将继电器的控制端分别置高、置低进行两次通讯测试,当且仅当两次测试均正常时,判断测试通过,被测电路功能正常。权利要求1.一种,其特征在于包括如下步骤a、通过接口电路分别接入信号;b、分别测试、判断被测差分电路相应的单端输出信号,当两端的信号均正常时,被测差分电路功能正常,否则不正常。2.根据权利要求1所述,其特征在于当测试差分接收电路时,在步骤a中差分发送电路的发送信号(TEST)分别经两个接口电路交替转换成两路TTL信号,作为一对差分信号输入被测差分接收电路。3.根据权利要求1所述,其特征在于当测试差分发送电路时,在步骤a中被测差分发送电路的一对被测差分信号(TXD+、TXD-)通过接口电路转换成两路独立的TTL信号(TEST1、TEST2)。4.根据权利要求1或2或3所述,其特征在于所述的接口电路采用26C31、或26C32、或74172、或74173、或74185芯片。全文摘要一种,其特征在于包括如下步骤a、通过接口电路分别接入信号;b、分别测试、判断被测差分电路相应的单端输出信号,当两端的信号均正常时,被测差分电路功能正常,否则不正常。本专利技术测试时每次仅测试一对差分信号的一端,然后通过分别判断所测的两端信号确定被测电路正常与否,从而避免了常规的测试方法带来的漏测问题,能够可靠测试出差分信号单端出现的短路、断线等故障,较好地满足功能测试的要求,保证产品的质量。并且测试电路简单,器件成本低,占用的PCB体积小。文档编号G01R31/02GK1415971SQ01140538公开日2003年5月7日 申请日期2001年11月3日 优先权日2001年11月3日专利技术者段海峰 申请人:华为技术有限公司本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种能够测试出差分串行电路单端故障的功能测试方法,其特征在于包括如下步骤:a、通过接口电路分别接入信号;b、分别测试、判断被测差分电路相应的单端输出信号,当两端的信号均正常时,被测差分电路功能正常,否则不正常。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:段海峰,
申请(专利权)人:华为技术有限公司,
类型:发明
国别省市:94[中国|深圳]
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