一种用于局部放电弱光探测的抗干扰方法及设备技术

本申请提供一种用于局部放电弱光探测的抗干扰方法及设备，同步获取局部放电信号和可见光信号，所述局部放电信号含有可见光信号；将所述局部放电信号和所述可见光信号叠加，得到去干扰后局部放电信号；通过光电隔离依次获得所述去干扰后局部放电信号；确定当前去干扰后局部放电信号与前一个去干扰后局部放电信号的差值；当所述差值小于等于预设最大偏差值，判定所述当前去干扰后局部放电信号为放电信号；确定所述放电信号的幅值；当所述幅值达到预设采集阈值，所述放电信号为有效信号。消除检测环境中日常光对局部放电光信号的干扰，以及信号传输过程中电磁信号的干扰，提高设备现场带电巡检质量，缩短设备事故发现消缺的周期。期。期。

【技术实现步骤摘要】
一种用于局部放电弱光探测的抗干扰方法及设备


[0001]本申请涉及电力设备运行状态检测领域，尤其涉及一种用于局部放电弱光探测的抗干扰方法及设备。

技术介绍

[0002]电力设备由于在生产、运输、装配及运行中不可避免形成诸如导体尖端或划伤、悬浮电位或绝缘子表面异常等绝缘缺陷，在电场作用下引起局部放电，甚至在过电压作用下造成绝缘击穿。通过检测局部放电信号实现对电力设备绝缘隐患的有效监测。
[0003]基于对发生局部放电时产生的各种电、光、声、热等现象的研究，局部放电检测技术中也相应出现了电检测法和光测法、声测法、红外热测法等非电量检测方法。其中，弱光探测技术的原理是将光电探测器接收的来自放电源的光脉冲信号转为电信号,再放大处理。光电探测器是一种利用半导体材料的光电导效应制成的探测器件，而所谓的光电导效应是指由辐射引起的，使得被照射材料电导率改变的这样一种物理现象，而电导率的改变也是因为导体内载流子的密度变化所引起的。实际应用中光电探测器把辐射能量转換成电流或电压，并从外部电路测量这些电流电压值。通过测量这些输出响应，反过来，可以测定相应的入射光强度或辐射强度。
[0004]然而，光测法是一种非电量测量方法，本身具有一定的抗干扰能力，但是其将光信号转换成电信号后传输的过程中受到电磁干扰的影响，耦合到噪声信号，由于局部放电光学检测需要严格避光测量，从而避免环境中可见光对检测结果的影响，然而现场测量中难以保证完全密封不透光，导致检测结果易受可见光噪声的影响。

技术实现思路

[0005]本申请提供了一种用于局部放电弱光探测的抗干扰方法及设备，以解决将光信号转换成电信号后传输的过程中受到电磁干扰的影响，耦合到噪声信号，由于局部放电光学检测需要严格避光测量，从而避免环境中可见光对检测结果的影响，然而现场测量中难以保证完全密封不透光，导致检测结果易受可见光噪声的影响技术问题。
[0006]为了达到上述目的，本申请实施例采用以下技术方案：
[0007]第一方面，提供一种用于局部放电弱光探测的抗干扰设备，所述抗干扰设备包括双通道同步采集模块、光电隔离模块和滤波模块；
[0008]所述弱光探测器具有双通道同步采集器，用于同步获取局部放电信号和可见光信号，将所述局部放电信号和所述可见光信号叠加，得到去干扰后局部放电信号；
[0009]所述光电隔离模块，用于依次获得所述去干扰后局部放电信号；
[0010]所述滤波模块，用于通过预设最大偏差值和预设采集阈值判断信号是否有效。
[0011]进一步地，所述光电隔离模块包括光电子器件和光纤；
[0012]所述光电子器件包括发射端和接收端，所述发射端和所述接收端通过所述光纤连接。
[0013]进一步地，所述滤波模块，用于确定当前去干扰后局部放电信号与前一个去干扰后局部放电信号的差值；
[0014]当所述差值小于等于预设最大偏差值，判定所述当前去干扰后局部放电信号为放电信号；
[0015]当所述差值大于预设最大偏差值，判定所述当前去干扰后局部放电信号为干扰信号，删除所述干扰信号。
[0016]进一步地，所述滤波模块，还用于确定所述放电信号的幅值；
[0017]当所述幅值达到预设采集阈值，所述放电信号为有效信号；
[0018]当所述幅值未达到预设采集阈值，所述放电信号为无效信号，滤除所述无效信号。
[0019]本申请提供一种用于局部放电弱光探测的抗干扰设备，所述抗干扰设备包括双通道同步采集模块、光电隔离模块和滤波模块；所述双通道同步采集模块，用于同步获取局部放电信号和可见光信号，将所述局部放电信号和所述可见光信号叠加，得到去干扰后局部放电信号；所述光电隔离模块，用于依次获得所述去干扰后局部放电信号；所述滤波模块，用于通过预设最大偏差值和预设采集阈值判断信号是否有效。消除检测环境中日常光对局部放电光信号的干扰，以及信号传输过程中电磁信号的干扰，提高设备现场带电巡检质量，缩短设备事故发现消缺的周期。
[0020]第二方面，提供一种用于局部放电弱光探测的抗干扰方法，所述抗干扰方法包括：
[0021]同步获取局部放电信号和可见光信号，所述局部放电信号含有可见光信号；
[0022]将所述局部放电信号和所述可见光信号叠加，得到去干扰后局部放电信号；
[0023]通过光电隔离依次获得所述去干扰后局部放电信号；
[0024]确定当前去干扰后局部放电信号与前一个去干扰后局部放电信号的差值；
[0025]当所述差值小于等于预设最大偏差值，判定所述当前去干扰后局部放电信号为放电信号；
[0026]确定所述放电信号的幅值；
[0027]当所述幅值达到预设采集阈值，所述放电信号为有效信号。
[0028]进一步地，将所述可见光信号的极性反转；将极性反转后的所述可见光信号与所述局部放电信号叠加；
[0029]得到去干扰后局部放电信号，所述去干扰后局部放电信号滤除可见光信号。
[0030]进一步地，当所述差值大于预设最大偏差值，判定所述当前去干扰后局部放电信号为干扰信号；删除所述干扰信号。
[0031]进一步地，当所述幅值未达到预设采集阈值，所述放电信号为无效信号；滤除所述无效信号。
[0032]本申请提供一种用于局部放电弱光探测的抗干扰方法，同步获取局部放电信号和可见光信号，所述局部放电信号含有可见光信号；将所述局部放电信号和所述可见光信号叠加，得到去干扰后局部放电信号；通过光电隔离依次获得所述去干扰后局部放电信号；确定当前去干扰后局部放电信号与前一个去干扰后局部放电信号的差值；当所述差值小于等于预设最大偏差值，判定所述当前去干扰后局部放电信号为放电信号；确定所述放电信号的幅值；当所述幅值达到预设采集阈值，所述放电信号为有效信号。消除检测环境中日常光对局部放电光信号的干扰，以及信号传输过程中电磁信号的干扰，提高设备现场带电巡检
质量，缩短设备事故发现消缺的周期。
附图说明
[0033]为了更清楚地说明本申请实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0034]图1为本申请实施例一种用于局部放电弱光探测的抗干扰设备的示意图；
[0035]图2为本申请实施例一种用于局部放电弱光探测的抗干扰设备的弱光探测器示意图；
[0036]图3为本申请实施例一种用于局部放电弱光探测的抗干扰设备中光电隔离模块的示意图；
[0037]图4为本申请实施例一种用于局部放电弱光探测的抗干扰方法的流程图；
[0038]图5为本申请实施例一种用于局部放电弱光探测的抗干扰方法的滤除可见光示意图；
[0039]其中：10
‑
光电子器件；11
‑
发射端；12
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于局部放电弱光探测的抗干扰设备，其特征在于，所述抗干扰设备包括弱光探测器、光电隔离模块和滤波模块；所述弱光探测器具有双通道同步采集器，用于同步获取局部放电信号和可见光信号，将所述局部放电信号和所述可见光信号叠加，得到去干扰后局部放电信号；所述光电隔离模块，用于依次获得所述去干扰后局部放电信号；所述滤波模块，用于通过预设最大偏差值和预设采集阈值判断信号是否有效。2.根据权利要求1所述的一种用于局部放电弱光探测的抗干扰设备，其特征在于，所述光电隔离模块包括光电子器件和光纤；所述光电子器件包括发射端和接收端，所述发射端和所述接收端通过所述光纤连接。3.根据权利要求1所述的一种用于局部放电弱光探测的抗干扰设备，其特征在于，所述滤波模块，用于确定当前去干扰后局部放电信号与前一个去干扰后局部放电信号的差值；当所述差值小于等于预设最大偏差值，判定所述当前去干扰后局部放电信号为放电信号；当所述差值大于预设最大偏差值，判定所述当前去干扰后局部放电信号为干扰信号，删除所述干扰信号。4.根据权利要求1所述的一种用于局部放电弱光探测的抗干扰设备，其特征在于，所述滤波模块，还用于确定所述放电信号的幅值；当所述幅值达到预设采集阈值，所述放电信号为有效信号；当所述幅值未达到预设采集阈值，所述放...

【专利技术属性】
技术研发人员：彭兆裕，岳丹，周仿荣，孙董军，朱龙昌，张云，邱鹏锋，赵加能，王浩州，
申请(专利权)人：云南电网有限责任公司电力科学研究院，
类型：发明
国别省市：