四官能长链支化的乙烯类聚合物制造技术

本发明专利技术公开了乙烯类聚合物，其包含在限定的聚合反应条件下使乙烯单体、至少一种二烯或多烯共聚单体以及可选的至少一种C3至C

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】四官能长链支化的乙烯类聚合物
[0001]相关申请的交叉引用
[0002]本申请要求于2018年9月28日提交的美国临时专利申请号62/738,633的优先权，其全部公开内容通过引用并入本文。


[0003]本公开内容的实施方案总体上涉及具有长链分支的聚合物组合物以及合成所述聚合物组合物的方法。

技术介绍

[0004]烯烃类聚合物，诸如聚乙烯和聚丙烯，是经由各种催化剂系统生产的。对在烯烃类聚合物的聚合方法中使用的此类催化剂系统的选择是有助于此类烯烃类聚合物的特性和性质的重要因素。
[0005]聚乙烯和聚丙烯被制造用于各种制品。聚乙烯和聚丙烯聚合方法可能在许多方面上有所不同，以产生各种具有不同物理性质的所得聚乙烯树脂，所述不同物理性质使各种树脂适用于不同的应用。聚烯烃中短链分支的量影响该聚烯烃的物理性质。支化对聚乙烯性质的影响取决于分支的长度和量。短分支主要影响机械性质和热性质。随着短链支化频率的增加，聚合物形成片状晶体的能力降低，并且机械性质和热性质降低。少量的长链支化可显著改变聚合物的加工性质。
[0006]为了形成长链支化，将聚合物链的乙烯基或末端双键合并到新的聚合物链中。乙烯基封端的聚合物的再合并以及二烯共聚单体的引入是将聚合物链上的乙烯基合并到第二聚合物链中的两种机制。另外，长链支化是经由自由基诱导的。在所有三种机制中都很难控制支化的量。当使用自由基或二烯引发长链支化时，支化可能会过多，从而引起胶凝和反应器结垢。再合并机制不会产生太多的支化，并且支化只能在产生聚合物链之后发生，从而进一步限制了可能发生的支化的量。

技术实现思路

[0007]本公开内容的实施方案涉及乙烯类聚合物，其包含在限定的聚合反应条件下使乙烯单体、至少一种二烯或多烯共聚单体以及可选的至少一种C3至C
14
共聚单体聚合的反应产物。所述乙烯类聚合物具有大于1.20的M
w
/M
w0
。M
w
是按照从通过折射率色谱法获取的所述乙烯类聚合物的凝胶渗透色谱曲线确定的所述乙烯类聚合物的重均分子量，并且M
w0
是通过凝胶渗透色谱法比较的乙烯类聚合物的初始重均分子量。所述比较的乙烯类聚合物是使乙烯单体和所述乙烯类聚合物中如有存在的所有C3至C
14
共聚单体在没有所述至少一种多烯共聚单体的情况下在所述限定的聚合反应条件下聚合的反应产物；以及由MWD面积度量量化的分子量尾部A
尾部
，并且按照使用三重检测器通过凝胶渗透色谱法确定的，A
尾部
小于或等于0.04。
[0008]在各种实施方案中，所述乙烯类聚合物包含在190℃下小于或等于4秒/弧度的弹
性系数m，其中，m为[((tan(δ
0.1
)
‑
tan(δ
100
))*1000)/(0.1
‑
100))]，其中，tan(δ
0.1
)是0.1弧度/秒的相位角的正切，并且tan(δ
100
)是100弧度/秒的相位角的正切。
附图说明
[0009]图1是每1000个碳的支化次甲基的数量增加时聚合物分子量的图示。
[0010]图2是预测的分子量分布(MWD)曲线与支化水平的相关性的图形模型。
[0011]图3是预测的相对峰分子量与支化水平的相关性的图形模型。
[0012]图4是预测的分子量分布(MWD)曲线与三官能二烯支化水平的相关性的图示。
[0013]图5是预测的分子量(MW)相对峰与三官能二烯支化水平的相关性。
[0014]图6是常规二烯支化(实线)和“梯状支化”(虚线)的支化对峰分子量(M
p
)与每个聚合物分子的分支的模型预测效果的图示。
[0015]图7是常规二烯支化(实线)和“梯状支化”(虚线)的支化对重均分子量(M
w
)与每个聚合物分子的分支的模型预测效果的图示。
[0016]图8是常规二烯支化(实线)(与B
c
)和“梯状支化的”聚合物(虚线)(与R
c
)的M
p
的支化对峰重均分子量(M
p
)与每个线性链段的分支的模型预测效果的图示。
[0017]图9是常规二烯支化(与B
c
)(实线)和“梯状支化的”聚合物(虚线)(与R
c
)的支化对峰重均分子量(M
w
)与每个线性链段的分支的模型预测效果的图示。
[0018]图10是用于计算形状度量G(79/29)和G(96/08)的MWD斜率的图示，其中，S(X)是MWD高度X％处的斜率。G(A/B)＝(S(A)
‑
S(B))/S(A)。
[0019]图11是针对常规支化和“梯状支化”进行比较的模型预测的随支化水平(如通过相对峰MW(M
p
/M
po
)所示)变化的分子量分布(MWD)形状度量G(79/29)的图示。
[0020]图12是针对常规支化和“梯状支化”进行比较的模型预测的随支化水平(如通过相对重均MW(M
w
/M
wo
)所示)变化的MWD形状度量G(79/29)的图示。
[0021]图13是针对常规支化和“梯状支化”进行比较的模型预测的随支化水平(如通过相对峰MW(M
p
/M
po
)所示)变化的MWD形状度量G(98/08)的图示。
[0022]图14是针对常规支化和“梯状支化”进行比较的模型预测的随支化水平(如通过相对重均MW(M
w
/M
wo
)所示)变化的MWD形状度量G(98/08)的图示。
[0023]图15是MWD曲线的图示，例示了如何使用最大斜率点定义高MWD尾部面积度量。
[0024]图16是针对常规支化和“梯状支化”进行比较的模型预测的随支化水平(如通过相对重均分子量(M
p
/M
po
)所示)变化的MWD面积度量A
高
。
[0025]图17是针对常规支化和“梯状支化”进行比较的模型预测的随支化水平(如通过相对峰分子量(M
w
/M
wo
)所示)变化的MWD面积度量A
高
。
[0026]图18是针对常规支化和“梯状支化”进行比较的模型预测的随支化水平(如通过相对峰分子量(M
p
/M
po
)所示)变化的MWD面积度量A
尾部
。
[0027]图19是针对常规支化和“梯状支化”进行比较的模型预测的随支化水平(如通过相对重均分子量(M
w
/M
wo
)所示)变化的MWD面积度量A
尾部
。
...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种乙烯类聚合物，其包含在限定的聚合反应条件下使乙烯单体、至少一种二烯或多烯共聚单体以及可选的至少一种C3至C
14
共聚单体聚合的反应产物，所述乙烯类聚合物具有：大于1.20的M
w
/M
w0
，其中，M
w
是按照从通过折射率色谱法获取的所述乙烯类聚合物的凝胶渗透色谱曲线确定的所述乙烯类聚合物的重均分子量，并且M
w0
是通过凝胶渗透色谱法比较的乙烯类聚合物的初始重均分子量，所述比较的乙烯类聚合物是使乙烯单体和所述乙烯类聚合物中如有存在的所有C3至C
14
共聚单体在没有所述至少一种多烯共聚单体的情况下在所述限定的聚合反应条件下聚合的反应产物；以及由MWD面积度量量化的分子量尾部A
尾部
，并且按照使用三重检测器通过凝胶渗透色谱法确定的，A
尾部
小于或等于0.04。2.一种乙烯类聚合物，其包含：在190℃下小于或等于4秒/弧度的弹性系数m，其中，m为[((tan(δ
0.1
)
‑
tan(δ
100
))*1000)/(0.1
‑
100))]，其中，tan(δ
0.1
)是0.1弧度/秒的相位角的正切，并且tan(δ
100
)是100弧度/秒的相位角的正切。3.如权利要求2所述的乙烯类聚合物，其中，由MWD面积度量量化分子量尾部A
尾部
，并且按照使用三重检测器通过凝胶渗透色谱法确定的，A
尾部
小于或等于0.04。4.如任一前述权利要求所述的乙烯类聚合物，其中，所述乙烯类聚合物具有大于1.20的M
p
/M
p0
，其中，M
p
是按照从折射率凝胶渗透色谱法确定的所述乙烯类聚合物的峰分子量，并且M
p0
是在没有多烯共聚单体的情况下所述乙烯类聚合物的初始峰分子量。5.如任一前述权利要求所述的乙烯类聚合物，其中，在190℃下熔体粘度比(V
0.1
/V
100
)为至少10，其中，V
0.1
是所述乙烯类聚合物在190℃下在0.1弧度/秒的剪切速率下的粘度，并且V
100
是所述乙烯类聚合物在190℃下在100弧度/秒的剪切速率下的粘度。6.如任一前述权利要求所述的乙烯类聚合物，其中，在190℃下熔体粘度比(V
0.1
/V
100
)为至少25，其中，V
0.1
是所述乙烯类聚合物在190℃下在0.1弧度/秒的剪切速率下的粘度，并且V
100
是所述乙烯类聚合物在190℃下在100弧度/秒的剪切速率下的粘度。7.如任一前述权利要求所述的乙烯类聚合物，其中，在190℃下弹性系数m小于或等于1秒/弧度，其中，m为[((tan(δ
0.1
)
‑
tan(δ
100
))*1000)/(0.1
‑
100))]，其中，tan(δ
0.1<...

【专利技术属性】
技术研发人员：R，
申请(专利权)人：陶氏环球技术有限责任公司，
类型：发明
国别省市：