基于仿真确定腔内超声成像设备参数的方法及装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种基于仿真确定腔内超声成像设备参数的方法及装置，涉及成像领域，通过识别待成像物体的尺寸；根据尺寸和预设的孔径参数模板，获取换能器阵列的最佳孔径模式，预设的孔径参数模板包括有多个预设的孔径模式，每个预设的孔径模式是基于仿真模块针对不同尺寸的待成像物体确定的最佳孔径模式；接收所需的成像分辨率；根据成像分辨率和预设的频率参数模板，获取换能器阵列的最佳频率模式；根据最佳孔径模式和最佳频率模式调节换能器阵列的参数，可以直接迅速准确的调整超声成像设备参数，极大地缩短加工

【技术实现步骤摘要】
基于仿真确定腔内超声成像设备参数的方法及装置


[0001]本专利技术涉及成像技术，尤其涉及一种基于仿真确定腔内超声成像设备参数的方法及装置。

技术介绍

[0002]在超声成像的诸多领域中，对待成像物体的三维实时成声成像具有重要的意义。对待成像物体快速与精准的成像有利于对待成像物体的精准分析，针对待成像物体制定有效的实施方案。
[0003]目前，为保证超声成像的结果与过程图像清晰、视野完全且成本低廉可控，需要合理的确定超声成像设备的参数，例如换能器阵列的孔径尺寸、阵元间距、阵元大小和工作频率参数。但由于超声设备的制作周期较长从而导致试错成本很高，且效率低下，因此如何迅速准确的确定超声成像设备参数，成为了亟需解决的问题。

技术实现思路

[0004]本专利技术实施例提供一种基于仿真确定腔内超声成像设备参数的方法及装置，可以迅速准确的确定超声成像设备参数。
[0005]本专利技术实施例的第一方面，提供一种基于仿真确定腔内超声成像设备参数的方法，超声成像设备包括换能器阵列，包括：
[0006]识别待成像物体的尺寸；
[0007]根据所述尺寸和预设的孔径参数模板，获取换能器阵列的最佳孔径模式，其中，所述预设的孔径参数模板包括有多个预设的孔径模式，每个所述预设的孔径模式是基于仿真模块针对不同尺寸的待成像物体确定的最佳孔径模式；
[0008]接收所需的成像分辨率；
[0009]根据所述成像分辨率和预设的频率参数模板，获取换能器阵列的最佳频率模式，其中，所述预设的频率参数模板包括有多个预设的频率模式，每个所述预设的频率模式是基于仿真模块针对不同成像分辨率确定的最佳频率模式；
[0010]根据所述最佳孔径模式和所述最佳频率模式调节换能器阵列的参数。
[0011]可选地，在第一方面的一种可能实现方式中，所述最佳孔径模式内的参数包括换能器阵列的阵元数量、阵元宽度和阵元间距。
[0012]可选地，在第一方面的一种可能实现方式中，所述根据所述尺寸和预设的孔径参数模板，获取换能器阵列的最佳孔径模式，包括：
[0013]根据预设的第一映射表和待成像物体的尺寸确定多个预设的孔径模式中的一个最佳孔径模式，所述预设的第一映射表内包括待成像物体的尺寸范围与最佳孔径模式的一一对应关系；
[0014]将所述最佳孔径模式作为超声成像设备的最佳孔径模式。
[0015]可选地，在第一方面的一种可能实现方式中，所述根据预设的第一映射表和待成
像物体的尺寸确定多个预设的孔径模式中的一个最佳孔径模式，包括：
[0016]根据待成像物体的所述尺寸确定对应所述预设的第一映射表内的尺寸范围；
[0017]根据所述尺寸范围确定所述预设的第一映射表内的一个最佳孔径模式。
[0018]可选地，在第一方面的一种可能实现方式中，所述最佳频率模式内的参数包括换能器阵列的阵元工作频率。
[0019]可选地，在第一方面的一种可能实现方式中，所述根据所述成像分辨率和预设的频率参数模板，获取换能器阵列的最佳频率模式，包括：
[0020]根据预设的第二映射表和所述成像分辨率确定多个预设的频率模式中的一个最佳频率模式，所述预设的第二映射表内包括成像分辨率范围与最佳频率模式的一一对应关系；
[0021]将所述最佳频率模式作为超声成像设备的最佳频率模式。
[0022]可选地，在第一方面的一种可能实现方式中，所述根据预设的第二映射表和所述成像分辨率确定多个预设的频率模式中的一个最佳频率模式，包括：
[0023]根据所述成像分辨率确定对应所述预设的第二映射表内的成像分辨率范围；
[0024]根据所述成像分辨率范围确定所述预设的第二映射表内的一个最佳频率模式。
[0025]可选地，在第一方面的一种可能实现方式中，所述阵元数量范围为2
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256个，所述阵元宽度范围为10
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1000微米，所述阵元间距范围为2
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100微米，所述阵元工作频率范围为1
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20MHz。
[0026]本专利技术实施例的第二方面，提供一种基于仿真确定腔内超声成像设备参数的装置，超声成像设备包括换能器阵列，包括：
[0027]识别模块，用于识别待成像物体的尺寸；
[0028]孔径模块，用于根据所述尺寸和预设的孔径参数模板，获取换能器阵列的最佳孔径模式，其中，所述预设的孔径参数模板包括有多个预设的孔径模式，每个所述预设的孔径模式是基于仿真模块针对不同尺寸的待成像物体确定的最佳孔径模式；
[0029]分辨率模块，用于接收所需的成像分辨率；
[0030]频率模块，用于根据所述成像分辨率和预设的频率参数模板，获取换能器阵列的最佳频率模式，其中，所述预设的频率参数模板包括有多个预设的频率模式，每个所述预设的频率模式是基于仿真模块针对不同成像分辨率确定的最佳频率模式；
[0031]调节模块，用于根据所述最佳孔径模式和所述最佳频率模式调节换能器阵列的参数。
[0032]本专利技术实施例的第三方面，提供一种基于仿真确定腔内超声成像设备参数的设备，包括：存储器、处理器以及计算机程序，所述计算机程序存储在所述存储器中，所述处理器运行所述计算机程序执行本专利技术第一方面及第一方面各种可能涉及的所述方法。
[0033]本专利技术实施例的第四方面，提供一种可读存储介质，所述可读存储介质中存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时用于实现本专利技术第一方面及第一方面各种可能涉及的所述方法。
[0034]本专利技术提供的一种基于仿真确定腔内超声成像设备参数的方法及装置，通过待成像物体的尺寸和所需的成像分辨率，来确定预设好的对应的参数模式，这些参数模式里面的参数是基于仿真模块确定的，使得参数准确无误，且本方案根据确定的参数模式，可以直
接迅速准确的调整超声成像设备参数，极大地缩短加工
‑
试错
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再设计的循环流程。
附图说明
[0035]图1是本专利技术实施例提供的一种基于仿真确定腔内超声成像设备参数的流程示意图；
[0036]图2是本专利技术实施例提供的一种基于仿真确定腔内超声成像设备参数的装置；
[0037]图3是本专利技术实施例提供的一种基于仿真确定腔内超声成像设备参数的设备的硬件结构示意图。
具体实施方式
[0038]为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0039]本专利技术的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”、“第三”“第四”等(如果存在)是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于仿真确定腔内超声成像设备参数的方法，超声成像设备包括换能器阵列，其特征在于，包括：识别待成像物体的尺寸；根据所述尺寸和预设的孔径参数模板，获取换能器阵列的最佳孔径模式，其中，所述预设的孔径参数模板包括有多个预设的孔径模式，每个所述预设的孔径模式是基于仿真模块针对不同尺寸的待成像物体确定的最佳孔径模式；接收所需的成像分辨率；根据所述成像分辨率和预设的频率参数模板，获取换能器阵列的最佳频率模式，其中，所述预设的频率参数模板包括有多个预设的频率模式，每个所述预设的频率模式是基于仿真模块针对不同成像分辨率确定的最佳频率模式；根据所述最佳孔径模式和所述最佳频率模式调节换能器阵列的参数。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述最佳孔径模式内的参数包括换能器阵列的阵元数量、阵元宽度和阵元间距。3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述根据所述尺寸和预设的孔径参数模板，获取换能器阵列的最佳孔径模式，包括：根据预设的第一映射表和待成像物体的尺寸确定多个预设的孔径模式中的一个最佳孔径模式，所述预设的第一映射表内包括待成像物体的尺寸范围与最佳孔径模式的一一对应关系；将所述最佳孔径模式作为超声成像设备的最佳孔径模式。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述根据预设的第一映射表和待成像物体的尺寸确定多个预设的孔径模式中的一个最佳孔径模式，包括：根据待成像物体的所述尺寸确定对应所述预设的第一映射表内的尺寸范围；根据所述尺寸范围确定所述预设的第一映射表内的一个最佳孔径模式。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述最佳频率模式内的参数包括换能器阵列的阵元工作频率。6.根据权利要求1或5所述的方法，其特征在于，所述根据所述成像分辨率和预设的频率参数模板，获取换能器阵列的最佳频率模式，包括：根据预设的第二映射表和所述成像分辨率确定多个预设的频率模式中的一个...

【专利技术属性】
技术研发人员：张冬宇，章东，王静，申雨晨，
申请(专利权)人：江苏霆升科技有限公司，
类型：发明
国别省市：