检测系统技术方案

本发明专利技术为一种检测系统，包括一灯源装置环设于一检测装置，以照明检测装置，其中灯源装置包括有一灯座内设有至少一基板，基板上排列设有复数排发光元件，灯座上更设有一扩散板，以覆盖基板以及复数排发光元件。一控制装置连接检测装置以及基板，以控制检测装置以及所有发光元件发光，或控制复数排发光元件间隔发光，令复数排发光元件发射的光源呈现条纹状光源。本发明专利技术可提供全方位的光源，且光源可以条纹状的方式呈现，能避免待测物过度反光，可提升的检测的准确率。升的检测的准确率。升的检测的准确率。

【技术实现步骤摘要】
检测系统


[0001]本专利技术有关一种检测技术，特别是指一种可提供良好照明的检测系统。

技术介绍

[0002]过去传统制造商在检验出厂的产品是否具有缺陷时，仅能以人工的方式，逐一挑选检查产品，但这样的检验方式不但耗时，更耗费许多人力。随着科技日新月异，科技不断的进步，目前已开始发展出利用光学进行产品检验的技术，该技术透过摄影机拍摄产品的影像后，利用后端仪器或管理者对影像直接进行检测，能有效减少检验的时间。
[0003]一般在利用影像检测待测物的装置结构包括有一检视座，检视座的上方设有固定式的发光装置以及摄影机。检测时管理者将待测物放置在检视座上，并操作发光装置照明待测物后，操作摄影机拍摄待测物的影像，以产生检测影像提供给管理者判断待测物的情况。其缺点在于，发光装置仅设置在一固定位置，使光源的照射面较不完整，且摄影机以及检视座皆采固定式，在检测待测物时，无法任意转动摄影机或待测物，使得检测时容易出现检测死角，检测效果不佳。
[0004]再者，若待测物的表面为高反射的金属表面时，在一般发光装置的光线在照射下，待测物的表面即使具有不正常的凹陷，也会反射回高亮度的光线，造成管理者无法观察到表面不正常的凹陷，因而遗漏掉产品的缺陷。

技术实现思路

[0005]本专利技术的主要目的在于提供一种检测系统，其可在待测物周围环设光源，以提供全方位的光源，且光源以条纹状呈现，能避免光线不当地被待测物反射，可提升检测的准确率。
[0006]本专利技术的另一目的在于提供一种检测系统，可有效检测待测物的各种角度，避免出现死角。
[0007]为达上述的目的，本专利技术提供一种检测系统包括，一检测装置以及一灯源装置连接一控制装置，其中灯源装置环设检测装置，以照明检测装置。灯源装置的结构包括一灯座，灯座内设有至少一基板，且基板上排列设有复数排发光元件，以及一扩散板设置在灯座上，以覆盖基板及复数排发光元件；控制装置则用以控制检测装置作动，以及所有发光元件发光，或者控制复数排发光元件间隔发光，令复数排发光元件发射的光源呈现条纹状光源。
[0008]其中灯源装置为半圆形灯源装置，以环绕于检测装置。
[0009]检测系统更包括一侧光源装置，相对设置于灯源装置另一端，且连接控制装置，以接收控制装置的控制发光。
[0010]其中检测装置更包括一移动装置连接控制装置，移动装置可供夹持一待测物，并根据控制装置的控制转动待测物；一摄影装置连接控制装置，且接收控制装置的控制拍摄不同角度的待测物的至少一检测影像，并将检测影像传递至控制装置；一照明装置设置于摄影装置的镜头一侧，且连接控制装置，并接收控制装置的控制以提供光源。
[0011]其中检测装置更包括一固定架以供设置一待测物；一移动装置连接控制装置，移动装置可供夹持一摄影装置，并根据控制装置的控制，移动摄影装置沿着待测物边缘，以拍摄至少一检测影像，摄影装置亦连接控制装置，令摄影装置可将检测影像传递至控制装置；一照明装置设置于摄影装置的镜头一侧，且连接控制装置，并接收控制装置的控制以提供光源。
附图说明
[0012]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0013]图1为本专利技术的立体图。
[0014]图2为本专利技术的系统方块图。
[0015]图3为本专利技术的灯源装置透视图。
[0016]图4A为本专利技术的灯源装置所有发光元件发光示意图。
[0017]图4B为本专利技术的灯源装置所有发光元件发光照射至待测物的检测影像示意图。
[0018]图5A为本专利技术的灯源装置间隔排发光元件发光示意图。
[0019]图5B为本专利技术的灯源装置间隔排发光元件发光照射至待测物的检测影像示意图。
[0020]图6为本专利技术的另一实施例立体图。
[0021]图7为本专利技术的另一实施例系统方块图。
[0022]符号说明：1、检测系统；10、检测装置；12、移动装置；122、投光器；14、摄影装置；142、照明装置；20、灯源装置；21、架体；22、灯座；24、基板；26、发光元件；28、扩散板；29、侧光源装置；30、控制装置；40、待测物；2、检测系统；50、检测装置；52、固定架；54、移动装置；56、摄影装置；562、照明装置。
具体实施方式
[0023]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0024]为使本专利技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本专利技术作进一步详细的说明。
[0025]本专利技术提供一种检测系统，其可提供全方位的光源，且光源能以条纹状的方式呈现，可避免待测物过度反光，以提升检测的准确率，且能检测待测物的各种角度，避免出现检测死角。
[0026]请参照图1至图3，以详细说明本专利技术的检测系统1结构如何达到上述的功效，检测系统1包括一检测装置10、一灯源装置20、一侧光源装置29以及一控制装置30，控制装置30可为计算机装置，电性连接并控制检测装置10、灯源装置20以及侧光源装置29。检测装置10为提供拍摄待测物影像的设备，检测装置10所拍摄的影像可提供给控制装置30，以进行待
测物的检测。灯源装置20安装在一架体21上，灯源装置20可提供环绕等距光源，较佳的灯源装置20可为半圆形灯源装置环设检测装置10，进而达到无死角照明检测装置10中待测物的目的，以提供光源进行检测。侧光源装置29则设置在架体21上，且相对灯源装置20的另一端，用以辅助灯源装置20提供额外的光源。
[0027]请配合参照图3，灯源装置20包括有一灯座22，灯座22内设有至少一基板24可为电路板，且基板24上排列设有复数排发光元件26，发光元件26可为发光二极管，如白光发光二极管，灯座22上更设有一扩散板28，以覆盖基板24以及复数排发光元件26；灯座22内的基板24电性连接控制装置30，令控制装置30可控制基板24上所有发光元件26发光，或者仅控制复数排发光元件26间隔发光，令复数排发光元件26发射的光源呈现条纹状光源，进而降低亮度。
[0028]接着请参照图1以及图2，以说明检测装置10的结构，检测装置10包括有一移动装置12以及一摄影装置14，移动装置12及摄影装置14皆电性连接控制装置30，并接收控制装置30的控制，本实施例的移动装置12为机器手臂可供夹持一待测物40，控制装置30可控制移动装置12移动并转动待测物40的角度；移动装置12上更设有一投光器122，其电性连接并接收控制装置30的控制开关，投光器122开启后可对准待本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种检测系统，其特征在于，包括：一检测装置；一灯源装置，环设该检测装置，以照明该检测装置，该灯源装置包括：一灯座，该灯座内设有至少一基板，该基板上排列设有复数排发光元件；一扩散板，设置于该灯座上，以覆盖该基板以及该发光元件；以及一控制装置，连接该检测装置以及该基板，以控制该检测装置以及所有该发光元件发光，或该控制装置用于控制复数排该发光元件间隔发光，令该发光元件发射的光源呈现条纹状光源。2.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，该灯源装置为半圆形灯源装置，以环绕于该检测装置。3.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，该发光元件为发光二极管。4.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，更包括一侧光源装置，相对设置于该灯源装置另一端，且连接该控制装置，以接收该控制装置的控制发光。5.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，该基板为电路板。6.根据权利要求1所述的检测系统，其特征在于，该检测装置更包括：一移动装置，连接该控制装置，该移动装置用于夹持一待测物，并根据该控制装置的控制转动该待测物；及一摄影装置，连接该控制装置，接收该控制...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐荣祥，
申请(专利权)人：骏曦股份有限公司，
类型：发明
国别省市：