本发明专利技术公开了一种缩小滤筒，滤膜称重过期中质量偏差的控制方法，包括以下步骤：S1、采样准备：根据采样平面的基本情况确定采样方法、时间，根据要采集样品的数量准备采样头、采样盖、采样嘴、采样管、滤膜袋、滤膜保存盒、打号机、X光看片机、滤膜、滤筒、恒温恒湿箱、天平、镊子、温度计、湿度计；S2、校准：检查并调整天平至水平位置。本产品通过对现有滤筒，滤膜称重过期中控制方法的改进，增加数据数量，三次称重后取平均值较一次称重数据可信度高，尽可能避免偶然因素的干扰，通过对恒温恒箱设备的密封和减震，降低受外界环境干扰的程度，同时多次实现数据取平均值可有效降低人为的计算误差，减小人为因素的影响。减小人为因素的影响。减小人为因素的影响。
【技术实现步骤摘要】
一种缩小滤筒，滤膜称重过期中质量偏差的控制方法及其制备方法
[0001]本专利技术涉及滤膜滤筒称重控制方法
，尤其涉及一种缩小滤筒，滤膜称重过期中质量偏差的控制方法及其制备方法。
技术介绍
[0002]目前，空气中颗粒物浓度的测定方法多采用手动监测法，手动监测法又称为重量法，对于重量法来说，其原理最为直接和直观，能够较为准确的反映出颗粒物的浓度。
[0003]滤膜称重过程为：
①
将用X光看片机检查过，无针孔等缺陷的空滤膜放在恒温恒湿箱中平衡24h,平衡温度取15
‑
30℃中任一点，记录下此平衡温度及湿度；在此平衡条件下称量滤膜，得出滤膜空膜重量；
②
将采集完样品后的尘膜，在恒温恒湿箱中，按空滤膜平衡条件相同的温度、湿度平衡24h后，称重，得出尘膜重；
③
尘膜重减空膜重，得出尘重。
[0004]但现有方法存在以下几点问题：数据偶然性大；受外界环境干扰性大；人为误差难以避免，所以需要进行改进。
技术实现思路
[0005]本专利技术的目的是为了解决现有技术中存在的数据偶然性大；受外界环境干扰性大；人为误差难以避免的不足，而提出的一种缩小滤筒，滤膜称重过期中质量偏差的控制方法及其制备方法。
[0006]为了实现上述目的，本专利技术采用了如下技术方案：
[0007]一种缩小滤筒，滤膜称重过期中质量偏差的控制方法，包括以下步骤：
[0008]S1、采样准备：根据采样平面的基本情况确定采样方法、时间，根据要采集样品的数量准备采样头、采样盖、采样嘴、采样管、滤膜袋、滤膜保存盒、打号机、X光看片机、滤膜、滤筒、恒温恒湿箱、天平、镊子、温度计、湿度计；
[0009]S2、校准：检查并调整天平至水平位置，打开天平开关，天平则自动进行灵敏度及零点调节，待稳定标志显示后，可进行正式称量；
[0010]S3、取样：每张滤膜均需用X光看片机进行检查，不得有针孔等缺陷，在检查过后的滤膜的对角上利用打号机进行打标编号，滤膜袋上打上相同的编号备用；
[0011]滤筒上进行编号，将已称重的滤筒装入采样管内，依次放入滤膜、采样头、采样嘴及采样盖，组装好采样器；
[0012]在指定的采样位置进行三次采样并记录采样位置在采样管上进行编号；
[0013]取样完毕后，打开采样头，轻轻敲打用镊子取下滤膜，此时滤膜变为尘膜，取样面朝内对折放入事先准备好的相同编号的滤膜袋中，并集中放入滤膜保存盒中，封存好并放入恒温恒湿箱内；
[0014]S4、称重：将用X光看片机检查过，无针孔等缺陷的空滤膜放在恒温恒湿箱中平衡24h,平衡温度取15
‑
30℃中任一点，利用温度计和湿度计记录下此平衡温度及湿度，在此平
衡条件下用天平称量滤膜，得出滤膜空膜重量，进行三次得出三次平均值；
[0015]将采集完样品后的尘膜，在恒温恒湿箱中，按空滤膜平衡条件相同的温度、湿度平衡24h后，称重，得出尘膜重，进行三次，得出三次平均值；
[0016]S5、计算：用尘膜重三次平均值减空膜重三次平均值，得出尘重。
[0017]优选地，所述滤膜袋表面印有编号、采样日期、采样地点、采样人项栏目。
[0018]优选地，所述采样嘴采用聚四氟乙烯材料。
[0019]优选地，所述滤筒的直径为25mm。
[0020]优选地，所述滤膜安装在滤筒一侧，所述滤膜采用超细玻璃纤维滤膜。
[0021]优选地，所述温度计的测量测量范围为：(
‑
30
‑
50℃),所述温度计的测量测量精度：
±
5℃；所述湿度计测量范围为(10％
‑
100％)RH，所述温度计的测量测量精度：
±
5％RH。
[0022]优选地，所述恒温恒湿箱由箱体、箱门、操控板组成，所述箱门转动连接在箱体上，所述操控板设置在箱门的一侧，所述操控板固定连接在箱体上，所述箱门上转动连接有加固机构，所述箱体的下端四角共同安装有减震机构，所述箱门的四周共同贴敷有密封条。
[0023]优选地，所述加固机构包括分别转动连接在箱门上的三个转动盘，三个转动盘上均固定连接有固定杆，所述箱体上固定连接有三个固定槽，三个固定槽的一端均为贯通设置，三个固定杆和三个固定槽相对应。
[0024]优选地，所述减震机构包括分别安装在箱体下端四角的四个阻尼杆，四个阻尼杆的两端均固定连接有固定板，位于同一阻尼杆上的两个固定板之间共同固定连接有弹簧，四个弹簧分别套接在四个阻尼杆上，位于上端的四个固定板共同固定连接在箱体的下端四角，位于下端的四个固定板上共同固定连接有移动机构。
[0025]优选地，所述移动机构包括分别固定连接在位于下端的四个固定板上的四个安装架，四个安装架内均安装有转轮。
[0026]本专利技术的有益效果是：
[0027]1、通过采样盖、采样管、采样嘴、采样头构成采样器外壳，保证采样容器的密封性，通过滤筒和滤膜自动过滤捕集颗粒物，便于样品的采集，利用打号机对滤膜、滤筒、滤膜袋进行编号，确保数据的正确性，样品采集完毕后通过滤膜袋及滤膜保存盒的双重保护，防止污染样品，确保样品纯净，保证实验数据的可靠性；
[0028]2、通过X光看片机对滤膜进行筛选，防止有缺陷的滤膜参与到实验数据中，影响最终结果，通过镊子对滤膜进行拿取，避免人工误碰造成滤膜污染，通过温度计和湿度计确保称重过程中多组实验数据处在相同的客观环境下获取，避免较大误差；
[0029]3、恒温恒湿箱和天平是称重的必要工具箱，通过安装密封条和固定机构，在对箱门进行锁紧时，保证箱体内部的气密性，通过在箱体的底部的减震机构，移动方便并且有效的减缓箱体的晃动，从而延长箱体的使用寿命；
[0030]本产品通过对现有滤筒，滤膜称重过期中控制方法的改进，增加数据数量，三次称重后取平均值较一次称重数据可信度高，尽可能避免偶然因素的干扰，通过对恒温恒箱设备的密封和减震，降低受外界环境干扰的程度，同时多次实现数据取平均值可有效降低人为的计算误差，减小人为因素的影响。
附图说明
[0031]图1为本专利技术恒温恒湿箱正视图；
[0032]图2为本专利技术用恒温恒湿箱固定槽结构图；
[0033]图3为本专利技术用恒温恒湿箱减震机构结构图；
[0034]图4为本专利技术流程图。
[0035]图中：1箱体、2密封条、3箱门、4固定槽、5固定板、6弹簧、7阻尼杆、8转轮、9安装架、10固定杆、11转动盘、12操控板。
具体实施方式
[0036]下面结合附图和实施例对本专利技术进行进一步的阐述，应该说明的是，下述说明仅是为了解释本专利技术，并不对其内容进行限定。
[0037]参照图4，一种缩小滤筒，滤膜称重过期中质量偏差的控制方法，包括以下步骤：
[0038]S1、采样准备：根据采样平面的基本情况确定采样方法、时间，采用重量法进行称量，方便快捷本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种缩小滤筒，滤膜称重过期中质量偏差的控制方法的制备方法，其特征在于，包括以下步骤：S1、采样准备：根据采样平面的基本情况确定采样方法、时间，根据要采集样品的数量准备采样头、采样盖、采样嘴、采样管、滤膜袋、滤膜保存盒、打号机、X光看片机、滤膜、滤筒、恒温恒湿箱、天平、镊子、温度计、湿度计；S2、校准：检查并调整天平至水平位置，打开天平开关，天平则自动进行灵敏度及零点调节，待稳定标志显示后，可进行正式称量；S3、取样：每张滤膜均需用X光看片机进行检查，不得有针孔等缺陷，在检查过后的滤膜的对角上利用打号机进行打标编号，滤膜袋上打上相同的编号备用；滤筒上进行编号，将已称重的滤筒装入采样管内，依次放入滤膜、采样头、采样嘴及采样盖，组装好采样器；在指定的采样位置进行三次采样并记录采样位置在采样管上进行编号；取样完毕后，打开采样头，轻轻敲打用镊子取下滤膜，此时滤膜变为尘膜，取样面朝内对折放入事先准备好的相同编号的滤膜袋中，并集中放入滤膜保存盒中，封存好并放入恒温恒湿箱内；S4、称重：将用X光看片机检查过，无针孔等缺陷的空滤膜放在恒温恒湿箱中平衡24h,平衡温度取15
‑
30℃中任一点，利用温度计和湿度计记录下此平衡温度及湿度，在此平衡条件下用天平称量滤膜，得出滤膜空膜重量，进行三次得出三次平均值；将采集完样品后的尘膜，在恒温恒湿箱中，按空滤膜平衡条件相同的温度、湿度平衡24h后，称重，得出尘膜重，进行三次，得出三次平均值；S5、计算：用尘膜重三次平均值减空膜重三次平均值，得出尘重。2.根据权利要求1所述的一种缩小滤筒，滤膜称重过期中质量偏差的控制方法，其特征在于：所述滤膜袋表面印有编号、采样日期、采样地点、采样人项栏目。3.根据权利要求1所述的一种缩小滤筒，滤膜称重过期中质量偏差的控制方法，其特征在于：所述采样嘴采用聚四氟乙烯材料。4.根据权利要求1所述的一种缩小滤筒，滤膜称重过期中质量偏差的控制方法，其特征在于：所述滤筒的直径为25mm。5.根据权利要求1所述的一种缩小滤筒，滤膜称重过期中质量偏差的控制方法，其特征在于：所述滤膜安装在滤筒一侧，所述滤膜采用超细玻璃...
【专利技术属性】
技术研发人员：孔彦，
申请(专利权)人：山东合创环保科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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