一种快闪记忆体测试设备制造技术

本实用新型专利技术涉及测试设备技术领域，具体涉及一种快闪记忆体测试设备。包括：测试箱、带有测试槽的测试盒、滑板、下压板、下压装置，所述测试箱顶部设有多个容纳槽，所述容纳槽内的测试箱上均布有多个测试盒，所述测试箱两侧设有滑轨，滑板设置在测试箱上方且与滑轨滑动连接，所述滑板上固定安装有下压装置，下压装置的下压端固定安装有用以按压测试盒的限位件下压板。本实用新型专利技术通过下压装置下压下压板将限位结构打开，使得能够同时打开多个测试盒，将快闪记忆体依次放入测试盒内，能够有效的加快安装效率，本实用新型专利技术通过采用手动按压和按压气缸按压两种按压方式进行测试盒的按压，能够适应不同场景下的按压模式。够适应不同场景下的按压模式。够适应不同场景下的按压模式。

【技术实现步骤摘要】
一种快闪记忆体测试设备


[0001]本技术涉及测试设备
，具体涉及一种快闪记忆体测试设备。

技术介绍

[0002]快闪记忆体的英文名称是"Flash Memory"，一般简称为"Flash"，它属于内存器件的一种。闪存则是一种不挥发性内存，在没有电流供应的条件下也能够长久地保持数据，其存储特性相当于硬盘，这项特性正是闪存得以成为各类便携型数字设备的存储介质的基础。对于快闪记忆体的测试，通常会采用专用的测试箱进行测试，一般是通过操作人员将测试盒限位装置按压到位再放入快闪记忆体，松开限位装置，限位装置卡住快闪记忆体，使得快闪记忆体与测试和的引脚紧密接触，依次在所有测试盒内放入快闪记忆体，完成快闪记忆体的安放，再启动测试箱对所有快闪记忆体进行测试，操作人员每次按压限位装置只能完成一次快闪记忆体的安装，效率非常低，如何能够加快安装效率是目前急需解决的问题。

技术实现思路

[0003]本技术的目的是克服现有技术的不足和缺陷，提供一种便于快速安装快闪记忆体的快闪记忆体测试设备。
[0004]本技术的目的是通过以下技术方案来实现的：
[0005]一种快闪记忆体测试设备，包括：测试箱、带有测试槽的测试盒、滑板、下压板、下压装置，所述测试箱顶部设有多个容纳槽，所述容纳槽内的测试箱上均布有多个测试盒，所述测试箱两侧设有滑轨，滑板设置在测试箱上方且与滑轨滑动连接，所述滑板上固定安装有下压装置，下压装置的下压端固定安装有用以按压测试盒的限位件下压板。
[0006]具体的，所述滑板上设有压孔，所述下压板穿过压孔与测试盒接触。
[0007]具体的，所述下压装置包括：下压座，手压杆、下压杆，所述手压杆与下压座通过转轴转动连接，所述下压座内固定安装有导块，所述导块上设有导孔，所述下压杆穿过导孔，所述下压杆设置在转轴一侧的手压杆正下方，所述导块上的下压杆上套设有压缩弹簧，所述下压杆上固定设有限位块，压缩弹簧一端抵住导块，另一端抵住限位块，所述下压杆下端与下压板固定连接。
[0008]具体的，所述手压杆分为手握端和按压端，所述下压杆设置在按压端的手压杆正下方，所述手压杆按压端上方的下压座上设有按压气缸，按压气缸竖直朝下设置。
[0009]具体的，所述测试盒的测试槽两侧的测试盒上设有按压槽，两侧的按压槽呈“八”字型设置，按压槽内设有按压杆，按压杆部分伸出按压槽，所述按压杆底部设有按压弹簧，所述下压板与按压杆接触，所述测试槽底部设有检测引脚。
[0010]具体的，测试箱内设有检测器，检测器与检测引脚电性连接。
[0011]具体的，所述测试箱上设有检修门，所述检修门上设有散热风扇。
[0012]具体的，所述下压板上设有用以安放快闪记忆体的放置孔，所述放置孔的大小与测试槽大小相同。
[0013]本技术相比现有技术包括以下优点及有益效果：
[0014](1)本技术通过下压装置下压下压板将限位结构打开，使得能够同时打开多个测试盒，将快闪记忆体依次放入测试盒内，能够有效的加快安装效率，本技术通过采用手动按压和按压气缸按压两种按压方式进行测试盒的按压，能够适应不同场景下的按压模式。
[0015](2)本技术通过在测试箱上放置多列测试盒，在测试盒内放入快闪记忆体即能够进行测试，当某列测试盒体正在测试时操作人员能够安排进行其他测试盒的快闪记忆体安放，或者对其他已完成检测的测试盒进行取出，避免操作人员出现等待时间，提升了操作人员的工作效率。
附图说明
[0016]图1为本技术的结构示意图。
[0017]图2为本技术下压装置的结构示意图。
[0018]图3为本技术测试盒打开状态的剖视图。
[0019]图4为本技术测试盒关闭状态的剖视图。
具体实施方式
[0020]下面结合实施例及附图对本技术作进一步详细的描述，但本技术的实施方式不限于此。
[0021]在本技术的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“设置有”、“连接”等，应做广义理解，例如“连接”，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本技术中的具体含义。
[0022]本技术的XXXX1、XXX2、
……
XXXn部件均为通用标准件或本领域技术人员知晓的部件，其结构和原理都为本技术人员均可通过技术手册得知或通过常规实验方法获知。
[0023]在本技术的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“上”、“下”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本技术和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本技术的限制。此外，术语“第一”、“第二”、仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。其中，术语“第一位置”和“第二位置”为两个不同的位置。
[0024]如图1至图4所示，一种快闪记忆体测试设备，包括：测试箱1、带有测试槽的测试盒2、滑板3、下压板4、下压装置5，所述测试箱1顶部设有多个容纳槽，所述容纳槽内的测试箱1上均布有多个测试盒2，优选的，每个测试盒2旁边的测试箱1上还设有测试灯，测试灯能够展示多种颜色，用以展示对应的测试盒2内的状态，例如至少有三种颜色，分别代表检测中、检测合格和检测不合格三个状态，所述测试箱1两侧设有滑轨，滑板3设置在测试箱1上方且与滑轨滑动连接，所述滑板3上固定安装有下压装置5，下压装置5的下压端固定安装有用以按压测试盒2限位件的下压板4。所述滑板3上设有压孔，所述下压板4穿过压孔与测试盒2接
触。所述下压板4上设有用以安放快闪记忆体的放置孔41，所述放置孔41的大小与测试槽大小相同。由于快闪记忆体安放在测试盒2内时需要快闪记忆体的引脚与测试盒2内的引脚逐一对应，且要两者贴合进行电连接才能进行测试，由于测试盒2的引脚为凸起的接触片，快闪记忆体有可能会存在仅有一个或几个引脚与测试盒2接触，而其他的引脚悬空，导致无法测试，因此测试盒2需要有一个限位结构，保证每次快闪记忆体都下压到位，通过滑板3在滑轨上滑动，使得下压板4能够按压测试箱1内所有的测试盒2，下压板4按压测试盒2使得测试盒2呈打开状态，下压板4不与测试盒2接触时测试盒2呈关闭状态，在打开状态时能够进行快闪记忆体的安装和取出，测试盒2关闭状态能够将快闪记忆体限制到位，保证快闪记忆体的引脚完全与测试盒2内的引脚接触。所述下压装置5包括：下压座51、手压杆52和下压杆53，所述手压杆52与下压座51通过转轴转动连接，所述下压座51内固定安装有导块54，所述导块54上设有导孔，所述下压杆53穿过导孔，所述下压杆53设置在转轴一侧的手压杆52正下方，所述导块本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种快闪记忆体测试设备，其特征在于，包括：测试箱、带有测试槽的测试盒、滑板、下压板、下压装置，所述测试箱顶部设有多个容纳槽，所述容纳槽内的测试箱上均布有多个测试盒，所述测试箱两侧设有滑轨，滑板设置在测试箱上方且与滑轨滑动连接，所述滑板上固定安装有下压装置，下压装置的下压端固定安装有用以按压测试盒的限位件下压板。2.根据权利要求1所述的一种快闪记忆体测试设备，其特征在于，所述滑板上设有压孔，所述下压板穿过压孔与测试盒接触。3.根据权利要求1所述的一种快闪记忆体测试设备，其特征在于，所述下压装置包括：下压座，手压杆、下压杆，所述手压杆与下压座通过转轴转动连接，所述下压座内固定安装有导块，所述导块上设有导孔，所述下压杆穿过导孔，所述下压杆设置在转轴一侧的手压杆正下方，所述导块上的下压杆上套设有压缩弹簧，所述下压杆上固定设有限位块，压缩弹簧一端抵住导块，另一端抵住限位块，所述下压杆下端与下压板固定连接。4....

【专利技术属性】
技术研发人员：郭寂波，
申请(专利权)人：深圳市芯探科技有限公司，
类型：新型
国别省市：