一种闪存干扰性测试仪制造技术

技术编号:28700318 阅读:21 留言:0更新日期:2021-06-05 20:49
本实用新型专利技术公开了一种闪存干扰性测试仪,包括防护壳、干扰性测试主机、支撑架和测试盒,所述防护壳内腔安装有干扰性测试主机,所述干扰性测试主机底部表面固定连接有支撑架,所述防护壳顶部表面固定连接有测试盒,所述测试盒内腔底部表面固定安装有底座,且底座具体设置有若干组,所述底座顶部表面镶嵌连接有闪存接口。本实用新型专利技术通过测试盒、金属屏蔽网和盒盖,可有效的屏蔽外界其它的电磁干扰,提高了电压测试的准确性,通过照明灯和指示灯,可便于工作人员快速的找的出现问题的闪存设备,通过控制主板和温度传感器,可监测干扰性测试主机工作温度,并且又能通过散热风扇和散热窗对其进行散热温。行散热温。行散热温。

【技术实现步骤摘要】
一种闪存干扰性测试仪


[0001]本技术涉及一种测试仪,特别涉及一种闪存干扰性测试仪。

技术介绍

[0002]闪存是一种电子式可清除程序化只读存储器的形式,允许在操作中被多次擦或写的存储器。这种科技主要用于一般性数据存储,以及在计算机与其他数字产品间交换传输数据,如储存卡与U盘。
[0003]传统的闪存干扰性测试仪在测试时,不能够对多组闪存设备进行测试,同时闪存设备在测试在受到外界电磁干扰时,又会影响测试结果,并且传统的闪存干扰性测试仪自身的散热性能不足,长时间使用又会降低测试准确性。为此,我们提出一种闪存干扰性测试仪。

技术实现思路

[0004]本技术的主要目的在于提供一种闪存干扰性测试仪,通过测试盒、金属屏蔽网和盒盖,可有效的屏蔽外界其它的电磁干扰,提高了电压测试的准确性,通过照明灯和指示灯,可便于工作人员快速的找的出现问题的闪存设备,通过控制主板和温度传感器,可监测干扰性测试主机工作温度,并且又能通过散热风扇和散热窗对其进行散热,可以有效解决
技术介绍
中的问题。
[0005]为实现上述目的,本技术采取的技术方案为:
[0006]一种闪存干扰性测试仪,包括防护壳、干扰性测试主机、支撑架和测试盒,所述防护壳内腔安装有干扰性测试主机,所述干扰性测试主机底部表面固定连接有支撑架,所述防护壳顶部表面固定连接有测试盒,所述测试盒内腔底部表面固定安装有底座,且底座具体设置有若干组,所述底座顶部表面镶嵌连接有闪存接口,且闪存接口具体设置有若干组,所述测试盒内壁表面固定连接有金属屏蔽网,所述金属屏蔽网一侧表面固定连接有照明灯,所述底座一侧安装有指示灯,所述支撑架底部表面固定连接有固定架,所述固定架表面安装有散热风扇,所述固定架一侧安装有控制主板,所述固定架另一侧安装有温度传感器,所述防护壳底部表面开设有散热窗。
[0007]进一步地,所述闪存接口表面插接有闪存设备,所述测试盒顶部一侧表面铰链来接有盒盖,且盒盖内壁表面也固定连接有金属屏蔽网。
[0008]进一步地,所述防护壳外壁一侧表面固定连接有开关,所述开关底部一侧安装有数据端口。
[0009]进一步地,所述防护壳底部表面两侧均固定连接有防滑座。
[0010]进一步地,所述干扰性测试主机、照明灯和控制主板均通过导线与开关电性相连,所述干扰性测试主机通过导线分别与闪存接口和数据端口电性相连,所述控制主板通过导线分别与散热风扇和温度传感器电性相连。
[0011]与现有技术相比,本技术具有如下有益效果:
[0012]1、通过防护壳,可有效的为闪存干扰性测试设备提供坚实的保护壳,通过干扰性测试主机,可有效的根据需求改变输送至闪存接口处VPASS的电压值,从而能够通过调整VPASS电压来测试闪存设备写入干扰能力,由于测试盒内部设置有多组闪存接口,从而能够多组进行测定,提高了测试的效率,并且通过测试盒、金属屏蔽网和盒盖,可有效的屏蔽外界其它的电磁干扰,提高了电压测试的准确性。
[0013]2、当检测出闪存设备干扰性有问题时,干扰性测试主机又会控制指示灯亮起,以便于工作人员挑出问题设备,同时照明灯,又能便于工作人员准确的将闪存设备插入或拔出闪存接口处,通过固定架,既能为散热风扇提供安装空间,又能对支撑架底部进行加固,当干扰性测试主机对闪存设备测试时自身工作温度过高时,通过温度传感器,可有效的监测到,并且温度传感器又能将监测结果发生至控制主板处,如果监测到的温度超过控制主板预设温度时。
[0014]3、通过控制主板又会控制散热风扇运行,使得散热风扇将防护壳内的热量从散热窗排出,进而能降低干扰性测试主机的工作温度,保证设备能够正常的运行,又能提高设备使用的寿命,通过开关,可有效的控制各个设备的开启或关闭,通过数据端口,可有效的将干扰性测试主机测试数据导出,以便于后期的查阅,通过防滑座,可有效提高防护壳整体的稳定性,防止设备滑动。
附图说明
[0015]图1为本技术实施例的一种闪存干扰性测试仪的整体结构示意图;
[0016]图2为本技术实施例的一种闪存干扰性测试仪的测试盒内部结构示意图。
[0017]图中:1、防护壳;2、干扰性测试主机;201、支撑架;3、测试盒;301、底座;302、闪存接口;303、闪存设备;304、金属屏蔽网;305、照明灯;306、盒盖;307、指示灯;4、固定架;401、散热风扇;402、控制主板;403、温度传感器;404、散热窗;5、开关;6、数据端口;7、防滑座。
具体实施方式
[0018]为使本技术实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解,下面结合具体实施方式,进一步阐述本技术。
[0019]如图1

2所示,一种闪存干扰性测试仪,包括防护壳1、干扰性测试主机2、支撑架201和测试盒3,所述防护壳1内腔安装有干扰性测试主机2,所述干扰性测试主机2底部表面固定连接有支撑架201,所述防护壳1顶部表面固定连接有测试盒3,所述测试盒3内腔底部表面固定安装有底座301,且底座301具体设置有若干组,所述底座301顶部表面镶嵌连接有闪存接口302,且闪存接口302具体设置有若干组,所述测试盒3内壁表面固定连接有金属屏蔽网304,所述金属屏蔽网304一侧表面固定连接有照明灯305,所述底座301一侧安装有指示灯307,所述支撑架201底部表面固定连接有固定架4,所述固定架4表面安装有散热风扇401,所述固定架4一侧安装有控制主板402,所述固定架4另一侧安装有温度传感器403,所述防护壳1底部表面开设有散热窗404。
[0020]本实施例中(如图1

2所示),通过测试盒3、金属屏蔽网304和盒盖306,可有效的屏蔽外界其它的电磁干扰,提高了电压测试的准确性,通过照明灯305和指示灯307,可便于工作人员快速的找的出现问题的闪存设备303,通过控制主板402和温度传感器403,可监测干
扰性测试主机2工作温度,并且又能通过散热风扇401和散热窗404对其进行散热。
[0021]其中,所述闪存接口302表面插接有闪存设备303,所述测试盒3顶部一侧表面铰链来接有盒盖306,且盒盖306内壁表面也固定连接有金属屏蔽网304。
[0022]本实施例中(如图1

2所示),通过盒盖306,可有效与测试盒3形成一个整体,从而抵抗外接干扰。
[0023]其中,所述防护壳1外壁一侧表面固定连接有开关5,所述开关5底部一侧安装有数据端口6。
[0024]本实施例中(如图1所示),通过开关5,可有效的控制各个设备的开启或关闭,通过数据端口6,可有效的将干扰性测试主机2测试数据导出,以便于后期的查阅。
[0025]其中,所述防护壳1底部表面两侧均固定连接有防滑座7。
[0026]本实施例中(如图1所示),通过防滑座7,可有效提高防护壳1整体的稳定性,防止设备滑动。
[0027]其中,所述干扰性测试主本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种闪存干扰性测试仪,包括防护壳(1)、干扰性测试主机(2)、支撑架(201)和测试盒(3),所述防护壳(1)内腔安装有干扰性测试主机(2),所述干扰性测试主机(2)底部表面固定连接有支撑架(201),所述防护壳(1)顶部表面固定连接有测试盒(3),其特征在于:所述测试盒(3)内腔底部表面固定安装有底座(301),且底座(301)具体设置有若干组,所述底座(301)顶部表面镶嵌连接有闪存接口(302),且闪存接口(302)具体设置有若干组,所述测试盒(3)内壁表面固定连接有金属屏蔽网(304),所述金属屏蔽网(304)一侧表面固定连接有照明灯305,所述底座(301)一侧安装有指示灯(307),所述支撑架(201)底部表面固定连接有固定架(4),所述固定架(4)表面安装有散热风扇(401),所述固定架(4)一侧安装有控制主板(402),所述固定架(4)另一侧安装有温度传感器(403),所述防护壳(1)底部表面开设有散...

【专利技术属性】
技术研发人员:沈欢
申请(专利权)人:东莞市力邦检测服务有限公司
类型:新型
国别省市:

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