本发明专利技术涉及核电站检测技术领域,特别涉及一种用于核电站的孔壁缺陷检测方法,涉及核电厂机械。用于核电站的孔壁缺陷检测方法包括:在被检孔的孔壁设置有多个检测试片,且多个检测试片沿被检孔的周向排布;而后将绕有通电电缆的检测柱插入被检孔内,使得通电电缆的环绕轴线方向与被检孔的轴线方向基本平行;通电电缆通电后产生磁场,检测试片上的磁粉在磁场中改变分布状态。本发明专利技术提供的用于核电站的孔壁缺陷检测方法操作方便,只需将绕有通电电缆的检测柱放入被检孔内即可,不仅实现对被检孔周向缺陷的检测,而且承受被检孔结构或者形成被检孔的结构的形状影响较低,从而提高适用性。
【技术实现步骤摘要】
用于核电站的孔壁缺陷检测方法
本专利技术涉及核电站检测
,特别是涉及用于核电站的孔壁缺陷检测方法。
技术介绍
在核电厂构件中会有部分带有销钉孔的、结构呈长方形特殊复杂异型的部件,需要对该部件上销钉孔的孔壁进行缺陷检测。该部件大多采用铁磁性材料制成,主要用于核反应堆内结构及顶部拉伸三脚架上。在实际使用时,在该部件的销钉孔内通常会插入销钉,用于承受较大的载荷,故而极易因受力而出现失效的问题。因此,对于销钉孔的孔壁的缺陷检测尤为重要,然而虽然现有技术中有利用交流磁轭的方法进行可达表面的磁粉检测,但是在遇到特殊部位时需要多次检测,而且面对销钉孔周向缺陷时不易检测,甚至不能实现周向缺陷检测。
技术实现思路
基于此,有必要针对现有技术中异型结构孔壁检测不仅操作不便,而且操作困难,适用性较低的技术问题,提供一种用于核电站的孔壁缺陷检测方法。一种用于核电站的孔壁缺陷检测方法,包括:在被检孔的孔壁设置有多个检测试片,且多个所述检测试片沿所述被检孔的周向排布;而后将绕有通电电缆的检测柱插入所述被检孔内,使得所述通电电缆的环绕轴线方向与所述被检孔的轴线方向基本平行;所述通电电缆通电后产生磁场,观察所述检测试片上的磁粉在所述磁场中的分布状态。在其中一个实施例中,根据所述被检孔沿自身轴线方向的尺寸确定所述通电电缆相对所述检测柱的环绕圈的数量。在其中一个实施例中,根据所述通电电缆产生磁场对所述检测试片上磁粉的分布影响以及所述环绕圈的数量,调节通入所述通电电缆的电流值。在其中一个实施例中,在进行所述通电电缆相对所述检测柱的环绕时,使得任意相邻的两个所述环绕圈之间的螺距在3mm-5mm之内。在其中一个实施例中,当所述检测柱置于所述被检孔时,所述检测柱的轴线与所述被检孔的轴线之间具有偏移距离。在其中一个实施例中,以所述检测柱相对所述被检孔的最近点为第一间距,以所述检测柱相对所述被检孔的最远点为第二间距,第一间距在23mm-27mm之内,第二间距在33mm-37mm之内。在其中一个实施例中,多个所述检测试片沿所述被检孔的周向呈螺旋形依次拼接设置。在其中一个实施例中,多个所述检测试片粘接于所述被检孔的孔壁。在其中一个实施例中,当所述通电电缆相对所述检测柱环绕之后,在绕有所述通电电缆的所述检测柱外侧包裹至少一层防护层。在其中一个实施例中,所述防护层采用绝缘和绝热材料。在其中一个实施例中,所述检测柱具有沿自身轴向贯穿的通孔;所述通电电缆相对所述检测柱环绕后,将所述通电电缆的环绕端从所述通孔穿过,以用于连接电源。本专利技术的有益效果:本专利技术提供的一种用于核电站的孔壁缺陷检测方法包括:在被检孔的孔壁设置有多个检测试片,且多个检测试片沿被检孔的周向排布;而后将绕有通电电缆的检测柱置于被检孔内,使得通电电缆的环绕轴线方向与被检孔的轴线方向基本平行;同时对通电电缆通电后产生磁场,磁场能够作用于检测试片上的磁粉,使得磁粉随磁场改变分布状态。其中,多个检测试片沿被检孔的周向排布,使得在被检孔沿自身周向的方向上尽可能的存在有检测试片,以便于插入被检孔的检测柱在通电电缆通电的情况下,产生磁场与检测试片上磁粉互相作用,使得每个检测试片上的磁粉能够在磁场的作用下改变分布形态,从而实现周向缺陷的检测。而且也正是因为通电电缆相对检测柱的环绕轴线方向与被检孔的轴线方向基本平行,基于右手螺旋定则,得出通电电缆通电后的形成的磁场为沿被检孔的轴线方向的环形磁场。当被检孔的孔壁存在凹坑、凹槽等缺陷时,该环形磁场能够与上述缺陷沿被检孔轴线方向两侧的侧壁垂直,进而使得检测试片上位于该缺陷出的磁粉分布出现变化,相应的获知缺陷的位置。也就是说,正是因为行程的环形磁场是沿被检孔的轴线方向分布,故而能够实现被检孔的周向的缺陷检测。该用于核电站的孔壁缺陷检测方法操作方便,只需将绕有通电电缆的检测柱放入被检孔内即可,不仅实现对被检孔周向缺陷的检测,而且承受被检孔结构或者形成被检孔的结构的形状影响较低,从而提高适用性。附图说明图1为本专利技术实施例提供的用于核电站的孔壁缺陷检测方法进行检测的被检测构件的俯视图;图2为本专利技术实施例提供的用于核电站的孔壁缺陷检测方法进行检测的被检测构件的剖视图;图3为本专利技术实施例提供的用于核电站的孔壁缺陷检测方法中检具的局部示意图;图4为本专利技术实施例提供的用于核电站的孔壁缺陷检测方法的流程图。附图标记:10-构件;11-被检孔;20-检测柱;30-通电电缆;40-防护层;100-检具。具体实施方式为使本专利技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂,下面结合附图对本专利技术的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本专利技术。但是本专利技术能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施,本领域技术人员可以在不违背本专利技术内涵的情况下做类似改进,因此本专利技术不受下面公开的具体实施例的限制。在本专利技术的描述中,需要理解的是,术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本专利技术和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本专利技术的限制。此外,术语“第一”、“第二”仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本专利技术的描述中,“多个”的含义是至少两个,例如两个,三个等,除非另有明确具体的限定。在本专利技术中,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或成一体;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系,除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言,可以根据具体情况理解上述术语在本专利技术中的具体含义。在本专利技术中,除非另有明确的规定和限定,第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触,或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且,第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方,或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方,或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。需要说明的是,当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件,它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件,它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种用于核电站的孔壁缺陷检测方法,其特征在于,包括:/n在被检孔(11)的孔壁设置有多个检测试片,且多个所述检测试片沿所述被检孔(11)的周向排布;而后将绕有通电电缆(30)的检测柱(20)插入所述被检孔(11)内,使得所述通电电缆(30)的环绕轴线方向与所述被检孔(11)的轴线方向基本平行;所述通电电缆(30)通电后产生磁场,观察所述检测试片上的磁粉在所述磁场中的分布状态。/n
【技术特征摘要】
1.一种用于核电站的孔壁缺陷检测方法,其特征在于,包括:
在被检孔(11)的孔壁设置有多个检测试片,且多个所述检测试片沿所述被检孔(11)的周向排布;而后将绕有通电电缆(30)的检测柱(20)插入所述被检孔(11)内,使得所述通电电缆(30)的环绕轴线方向与所述被检孔(11)的轴线方向基本平行;所述通电电缆(30)通电后产生磁场,观察所述检测试片上的磁粉在所述磁场中的分布状态。
2.根据权利要求1所述的用于核电站的孔壁缺陷检测方法,其特征在于,根据所述被检孔(11)沿自身轴线方向的尺寸确定所述通电电缆(30)相对所述检测柱(20)的环绕圈的数量。
3.根据权利要求2所述的用于核电站的孔壁缺陷检测方法,其特征在于,根据所述通电电缆(30)产生磁场对所述检测试片上磁粉的分布影响以及所述环绕圈的数量,调节通入所述通电电缆(30)的电流值。
4.根据权利要求2所述的用于核电站的孔壁缺陷检测方法,其特征在于,在进行所述通电电缆(30)相对所述检测柱(20)的环绕时,使得任意相邻的两个所述环绕圈之间的螺距在3mm-5mm之内。
5.根据权利要求1所述的用于核电站的孔壁缺陷检测方法,其特征在于,当所述检测柱(20)置于所述被检孔(1...
【专利技术属性】
技术研发人员:李守彬,孔晨光,张钱松,孙洪国,
申请(专利权)人:广东核电合营有限公司,岭澳核电有限公司,岭东核电有限公司,大亚湾核电运营管理有限责任公司,中国广核集团有限公司,中国广核电力股份有限公司,
类型:发明
国别省市:广东;44
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