【技术实现步骤摘要】
低浓度硅烷/C2+氯基SiC-CVD外延尾气FTrPSA提氢与循环再利用方法
本专利技术涉及第三代半导体材料碳化硅(SiC)氯基外延生长过程中的制程氢气(H2)的提取纯化制备及外延尾气中回收H2再利用的半导体材料与半导体制程环保领域,更具体的说是涉及一种含低浓度硅烷/C2+(碳二及碳二以上的轻烃类碳氢化合物组分)氯基SiC-CVD(碳化硅化学气相沉积)外延尾气FTrPSA(全温程变压吸附)提氢与循环再利用方法。
技术介绍
碳化硅(SiC)作为第三代半导体材料,因其具有宽禁带、耐高温与高压、高频大功率,及耐辐射等优异特性,已广泛应用于IT及电子消费品、汽车、光伏光电、核反应堆,以及系统工作条件苛刻的航空航天与军事等领域的功率开关、变频变压、UPS等电力电子元器件,其中,外延是SiC材料得以广泛应用的关键生产步骤。SiC外延制程有高温升华(PVT)、化学气相沉积(CVD)、液相生长外延(LPE)、分子束外延生长(MBE)、电子回旋共振等离子化学气相沉积(ECR-MPCVD)等,而工业上普遍采用的是具有外延生长温度低、生产批量大、外延薄膜均匀性好,以及操作易控制特点的CVD制程,其中,按参与反应的硅(Si)源和碳(C)源(称为“反应前驱物”)不同而又可分为常规(无氯)、氯基(含氯)及同时含C/Si/Cl源的有机硅化合物的SiC-CVD外延制程,进而,不同的外延制程所产生的尾气组成也不尽相同,处理方法随之也不同。基于轻烃类与硅烷反应的氯基SiC-CVD外延制程是,以烷烃如甲烷(CH4)或丙烷(C3H8 ...
【技术保护点】
1.低浓度硅烷/C2+氯基SiC-CVD外延尾气FTrPSA提氢与循环再利用方法,其特征在于,包括如下步骤:/n(1)预处理,将原料气先后脱除尘埃、颗粒、油雾以及高氯硅烷、高氯烷烃及高烃类杂质组分,形成的净化原料气进入下一个工序—压缩冷凝;/n(2)压缩冷凝,来自预处理工序的净化原料气,先压缩至0.6~1.0MPa后经冷热交换再进入冷凝器,从中流出的不凝气体1进入下一工序—中温变压吸附浓缩;从冷凝器流出的冷凝液,进入后续的中浅冷精馏工序;/n(3)中温变压吸附浓缩,来自压缩冷凝工序的不凝气体经冷热交换至30~80℃后进入由4个以上的多个吸附塔组成的中温变压吸附浓缩工序,吸附温度为30~80℃、吸附压力为0.6~1.0MPa,解吸采用抽真空,从处于吸附状态的吸附塔顶部流出非吸附相的富氢气体,直接进入下一个工序—吸附净化,从处于解吸抽真空状态的吸附塔底部流出的吸附相解吸气,作为浓缩气体,经过冷热交换后返回与净化原料气混合后再进入压缩冷凝工序,进一步回收有效组分H
【技术特征摘要】 【专利技术属性】
1.低浓度硅烷/C2+氯基SiC-CVD外延尾气FTrPSA提氢与循环再利用方法,其特征在于,包括如下步骤:
(1)预处理,将原料气先后脱除尘埃、颗粒、油雾以及高氯硅烷、高氯烷烃及高烃类杂质组分,形成的净化原料气进入下一个工序—压缩冷凝;
(2)压缩冷凝,来自预处理工序的净化原料气,先压缩至0.6~1.0MPa后经冷热交换再进入冷凝器,从中流出的不凝气体1进入下一工序—中温变压吸附浓缩;从冷凝器流出的冷凝液,进入后续的中浅冷精馏工序;
(3)中温变压吸附浓缩,来自压缩冷凝工序的不凝气体经冷热交换至30~80℃后进入由4个以上的多个吸附塔组成的中温变压吸附浓缩工序,吸附温度为30~80℃、吸附压力为0.6~1.0MPa,解吸采用抽真空,从处于吸附状态的吸附塔顶部流出非吸附相的富氢气体,直接进入下一个工序—吸附净化,从处于解吸抽真空状态的吸附塔底部流出的吸附相解吸气,作为浓缩气体,经过冷热交换后返回与净化原料气混合后再进入压缩冷凝工序,进一步回收有效组分H2及HCl;
(4)吸附净化,来自中温变压吸附浓缩工序的富氢气体,经过精密过滤、冷热交换至5~20℃后进入由2个以上吸附塔组成的吸附净化工序,在操作温度5~20℃,操作压力小于1.0MPa下进行吸附,进一步净化脱除其中SiHmCln及C2+,形成净化富氢气体,进入下一工序,即变压吸附提氢工序;
(5)变压吸附提氢,来自吸附净化工序的净化富氢气体,经过加压至1.0~3.0MPa及冷热交换后进入至少由4塔组成的多塔变压吸附提纯氢气工序,吸附塔的操作压力为1.0~3.0MPa,操作温度为20~40℃,至少一个吸附塔处于吸附步骤,其余吸附塔处于解吸再生步骤,所形成的非吸附相气体为超高纯氢气,其纯度为99.999~99.9999%(v/v),进入下一工序,即氢气纯化工序;
(6)氢气纯化,来自变压吸附提氢工序的超高纯氢气,或经过中间产品储罐后,或直接经过热交换,在50~500℃的温度下,直接或通过减压阀减压至氯基SiC-CVD外延制程用氢所需的压力,进入由金属吸气剂、钯膜、或钯膜-金属吸气剂耦合的氢气纯化工序,在操作温度为50~500℃、操作压力为常压或SiC-CVD制程中使用氢气所需的压力条件下进行纯化,脱除痕量杂质,得到最终的电子级氢气产品,氢气纯度大于等于7~8N级,由此得到的电子级氢气产品的收率大于75~85%;
(7)中浅冷精馏,来自压缩/冷凝工序的冷凝液或经冷热交换与加压进入由两段精馏塔组成的操作温度为-35~10℃、操作压力为0.6~2.0MPa的中浅冷精馏工序,从精馏塔-1塔顶流出的不凝气体2经冷热交换返回至中温变压吸附工序,进一步回收H2,由此H2产品的收率大于86%,从精馏塔-1塔底流出的液体,进入到精馏塔-2,从精馏塔-2塔顶流出富HCl流体,进入下一个工序—HCl精制,精馏塔-2塔底流出富集SiHmCln及C2+组分的重组份混合液,或进一步分离回收后作为氯基的SiHmCln反应物返回制程中循环使用,或外输进行处理;
(8)HCl精制,来自中浅冷精馏工序的富HCl流体进入操作压力为0.3~1.0MPa、操作温度为60~120℃的精馏塔,从精馏塔顶部流出纯度大于99.99%的HCl产品气。
2.如权利要求1所述的低浓度硅烷/C2+氯基SiC-CVD外延尾气FTrPSA提氢与循环再利用方法,其特征在于,所述原料气是基于以硅烷为“硅”源、以甲烷(CH4)或碳二及碳二以上轻烃类(C2+)为碳(C)源,以氯化氢(HCl)为氯基,并以惰性氢气(H2)为载气的化学气相沉积制备基于碳化硅(SiC)氯基外延生长常规制程中所产生的尾气,其主要由H2、HCl、CH4、SiHmCln、C2+、一氧化碳(CO)、二氧化碳(CO2)、水(H2O)、二氧化硅(SiO2)和碳(C)微细颗粒组成,其中,SiHmCln及C2+体积浓度均小于1~3%,压力为常压或低压,温度为常温。
技术研发人员:钟雨明,钟娅玲,汪兰海,陈运,陈勇,唐金财,蔡跃明,蒋强,
申请(专利权)人:四川天采科技有限责任公司,
类型:发明
国别省市:四川;51
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。