一种测量结合齿圈锁齿面对称度的新型检具制造技术

技术编号:28530866 阅读:18 留言:0更新日期:2021-05-20 00:19
本实用新型专利技术涉及一种测量结合齿圈锁齿面对称度的新型检具,包括测量结合齿圈锁齿面对称度的新型检具,包括:支撑机构,用于支撑并固定待检测的齿圈;测量机构,用于测量所述齿圈的对称度;定位机构,用于定位所述支撑机构上的所述齿圈;驱动机构,在所述驱动机构的作用下所述支撑机构可向靠近和远离所述测量机构的方向往复移动,且所述测量机构可向远离和靠近所述支撑机构的方向转动。本实用新型专利技术通过驱动机构推支撑机构退出测量位置,便于放置和取下工件,且通过驱动机构抬起测量机构,操作方便,测量时只需要反向转动手柄即可,操作简单,且更换下一个零件后,不需要重新调整触头的位置,操作步骤少,操作方法简单,测量效率高。测量效率高。测量效率高。

【技术实现步骤摘要】
一种测量结合齿圈锁齿面对称度的新型检具


[0001]本技术涉及一种检测装置,特别是一种测量结合齿圈锁齿面对称度的新型检具。

技术介绍

[0002]目前,测量结合齿圈锁齿面对称度常用的方法是:布置两个测点,采用两块千分表进行测量,通过观察两块千分表的示值差计算出对称度误差。上述结合齿圈锁齿面对称度的测量方法操作性差,需要操作这观察并记录两千分表的数值并计算出示值查,人工劳动力大。且取放工件不便,且测量后取下零件时,千分表也需要移开,更换下一个零件后,需要触头重新对准测量面,导致每次更换零件时都需要重新调整千分表的位置,操作麻烦,工作效率低。

技术实现思路

[0003]本技术的目的在于提供一种操作方便的测量结合齿圈锁齿面对称度的新型检具。
[0004]为实现上述目的,本技术提供一种测量结合齿圈锁齿面对称度的新型检具,包括:支撑机构,用于支撑并固定待检测的齿圈;测量机构,用于测量所述齿圈的对称度;定位机构,用于定位所述支撑机构上的所述齿圈;驱动机构,在所述驱动机构的作用下,所述支撑机构可向靠近和远离所述测量机构的方向往复移动,且所述测量机构可向远离和靠近所述支撑机构的方向转动;以及机架,用于支撑所述支撑机构、测量机构、定位机构和驱动机构。
[0005]进一步地,所述的支撑机构包括定位台,用于放置所述齿圈;定位柱,与所述定位台同轴设置,固定于所述定位台的上方,用于定位所述齿圈内孔;以及滑动组件,位于所述定位台的下方,用于支撑所述定位台;在所述驱动机构的作用下,在所述滑动组件的带动下,所述定位台及定位柱向远离或靠近所述测量机构的方向移动。
[0006]进一步地,所述的滑动组件包括滑动座以及固定座;其中,所述固定座固定于所述机架上,顶面上设有滑轨,所述滑动座位于所述定位台的下方,并滑动连接在所述固定座上,其底面上设有与所述滑轨适配的滑块,所述滑轨和所述滑块形成滑动副。
[0007]进一步地,所述的定位台为圆盘状,该定位台的至少一侧面为平面,进行测量工作时,所述平面位于靠近所述测量机构的一侧。
[0008]进一步地,所述的测量机构包括测量组件;固定架,固定设置在所述机架上;转动架,靠近所述支撑机构的一端安装有所述测量组件,远离所述支撑机构的一端可转动地安装在所述固定架上;连接杆,呈L形,其上端横杆安装于所述转动架上;以及转动圆轮,所述转动圆轮设置在所述连接杆的竖杆底端,在所述驱动机构的作用下,带动所述转动架绕与所述固定架连接的连接轴转动;其中,所述测量组件包括:四个传感器,四个传感器分为两组,两组传感器以所述定位机构的中心线为轴线对称分布,测量时,所述传感器的触头与被
测齿圈的锁齿面接触;和电子柱气电测微仪,位于所述机架外侧;
[0009]其中,四个所述传感器均与所述电子柱气电测微仪的处理器电连接。
[0010]进一步地,所述的驱动机构包括安装架,固定在所述机架上;转轴,可转动地设置在安装架上;手柄,与所述转轴的一端连接,位于所述安装架的外侧;和转轮,安装在所述转轴远离所述手柄的一端,位于所述安装架内侧,所述转轮的其中一侧设为平面。
[0011]进一步地,所述的支撑机构包括支撑台,所述支撑台上设有挡块,所述挡块位于所述转轮的一侧。
[0012]进一步地,单齿定位块,固定在所述定位台具有平面的一侧的侧面上;以及齿形定位块,位于所述测量机构和所述支撑机构之间,具有与所述单齿定位块适配的齿形槽。
[0013]本技术具有以下技术效果:
[0014]本技术通过驱动机构推支撑机构退出测量位置,便于放置和取下工件,且通过驱动机构抬起测量机构,操作方便,测量时只需要反向转动手柄即可,操作简单,且更换下一个零件后,不需要重新调整触头的位置,操作步骤少,操作方法简单,测量效率高。并且本技术采用四个测点,降低测量准确度,并且通过传感器与电子柱气电测微仪连接,通过电子柱气电测微仪的处理器自动计算出误差结果,不用人工记录千分表的数值并进行计算,达到了快速测量的效果,并且减少操作人员工作量,节省劳动力。
附图说明
[0015]构成本说明书的一部分、用于进一步理解本技术的附图示出了本技术的优选实施例,并与说明书一起用来说明本技术的原理。图中:
[0016]图1是根据本技术一个优选实施例的测量结合齿圈锁齿面对称度的新型检具的示意性主视图;
[0017]图2是根据本技术一个优选实施例的测量结合齿圈锁齿面对称度的新型检具的省略电子测微仪的示意性立体图;
[0018]图3是根据本技术一个优选实施例的测量结合齿圈锁齿面对称度的新型检具的省略电子测微仪的示意性侧视图之一;
[0019]图4是根据本技术一个优选实施例的测量结合齿圈锁齿面对称度的新型检具的省略电子测微仪的示意性侧视图之二。
具体实施方式
[0020]以下结合附图对本技术的实施方式进行详细说明,但是本技术可以由权利要求限定和覆盖的多种不同方式实施。
[0021]下面参照附图1、2、3和4详细介绍本技术的一个优选实施例的一种测量结合齿圈锁齿面对称度的新型检具,包括机架100,设置在机架100上的支撑机构200、测量机构400、定位机构500和驱动机构300,支撑机构200用于支撑并固定待检测的齿圈;测量机构400用于测量齿圈的对称度;定位机构500用于定位支撑机构200上的齿圈;在驱动机构300的作用下,支撑机构200可向靠近和远离测量机构400的方向往复移动,且测量机构400可向远离和靠近支撑机构300的方向转动。
[0022]在本实施例中,支撑机构200包括定位台202、定位柱201和滑动组件203,定位台
202用于放置所述齿圈;定位柱201与定位台202同轴设置,固定于定位台202的上方,用于定位齿圈内孔;滑动组件203位于定位台202的下方,用于支撑定位台202;在驱动机构300的作用下,在滑动组件201的带动下,定位台202及定位柱201向远离或靠近所述测量机构的方向移动。
[0023]本实施例的滑动组件优选结构如下:滑动组件203包括:滑动座2032以及
[0024]固定座2031;其中,固定座2031固定于机架100上,固定座2031顶面上设有滑轨(图中未显示),滑动座2032位于定位台202的下方,并滑动连接在固定座2031上,其底面上设有与滑轨适配的滑块,滑轨和滑块形成滑动副。在驱动机构300的驱动下以及操作人员的推动下,滑块沿着滑轨直线往复移动。在滑动块2032上开设有长条形限位孔,在固定座2031上设有限位柱,限位柱设置于限位孔内,如此设计便于滑动块复位。
[0025]在本实施例中,定位台202为圆盘状,该定位台202的至少一侧面为平面,进行测量工作时,平面位于靠近测量机构400的一侧。本实施例的定位台202具有两个平面2021,平面2021相对设置。
[0026]在本实施例中,在定位台202和滑动座2031之间还设置有支撑台本文档来自技高网
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【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测量结合齿圈锁齿面对称度的新型检具,其特征在于,包括:支撑机构,用于支撑并固定待检测的齿圈;测量机构,用于测量所述齿圈的对称度;定位机构,用于定位所述支撑机构上的所述齿圈;驱动机构,在所述驱动机构的作用下,所述支撑机构可向靠近和远离所述测量机构的方向往复移动,且所述测量机构可向远离和靠近所述支撑机构的方向转动;以及机架,用于支撑所述支撑机构、测量机构、定位机构和驱动机构。2.根据权利要求1所述的测量结合齿圈锁齿面对称度的新型检具,其特征在于,所述的支撑机构包括:定位台,用于放置所述齿圈;定位柱,与所述定位台同轴设置,固定于所述定位台的上方,用于定位所述齿圈内孔;以及滑动组件,位于所述定位台的下方,用于支撑所述定位台;在所述驱动机构的作用下,在所述滑动组件的带动下,所述定位台及定位柱向远离或靠近所述测量机构的方向移动。3.根据权利要求2所述的测量结合齿圈锁齿面对称度的新型检具,其特征在于,所述的滑动组件包括:滑动座;以及固定座;其中,所述固定座固定于所述机架上,顶面上设有滑轨,所述滑动座位于所述定位台的下方,并滑动连接在所述固定座上,其底面上设有与所述滑轨适配的滑块,所述滑轨和所述滑块形成滑动副。4.根据权利要求2所述的测量结合齿圈锁齿面对称度的新型检具,其特征在于,所述的定位台为圆盘状,该定位台的至少一侧面为平面,进行测量工作时,所述平面位于靠近所述测量机构的一侧。5.根据权利要求1所述的测量结合齿圈锁齿面对称度的新型检具,其特征在于,所述的...

【专利技术属性】
技术研发人员:庞五江王新川何胜利
申请(专利权)人:三门峡中测量仪有限公司
类型:新型
国别省市:

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