本发明专利技术涉及一种用于控制用于板形或线形的物体的生产设备的方法，在所述方法中：沿输送方向输送所述物体通过测量区域；在测量区域中借助于千兆赫兹或太赫兹频率范围内的测量辐射照射所述物体，所述测量辐射至少部分地进入所述物体中；并且探测由所述物体反射的测量辐射并根据探测到的测量辐射确定所述物体的折射率和/或通过所述物体对测量辐射的吸收率，基于折射率确定和/或吸收确定来控制所述生产设备的至少一个生产参数，在输送所述物体通过测量区域期间在多个时刻确定折射率和/或吸收率并基于折射率和/或吸收率随时间的变化控制所述至少一个生产参数，和/或将测量辐射发射到所述物体的不同位置处，此时，在所述物体的所述不同位置处确定折射率和/或吸收率并基于折射率和/或吸收率随空间的变化控制所述至少一个生产参数。此外，本发明专利技术还涉及一种相应的装置。应的装置。应的装置。
【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于控制用于板形或线形的物体的生产设备的方法和装置
[0001]本专利技术涉及一种用于控制用于板形或线形的物体的生产设备的方法，在所述方法中：沿输送方向输送所述物体通过测量区域；在测量区域中借助于千兆赫兹或太赫兹频率范围内的测量辐射照射所述物体，所述测量辐射至少部分地进入所述物体中；并且探测由所述物体反射的测量辐射并根据探测到的测量辐射确定所述物体的折射率和/或通过物体对测量辐射的吸收率。
[0002]本专利技术还涉及一种用于控制用于板形或线形的物体的生产设备的装置，所述装置包括：用于沿输送方向输送所述物体通过装置的测量区域的输送装置；用于在测量区域中用千兆赫兹或太赫兹频率范围内的测量辐射来照射所述物体的发射装置，所述测量辐射至少部分地进入所述物体中；用于探测由所述物体反射的测量辐射的探测装置；评估装置，所述评估装置构造成用于，根据通过探测装置探测到的测量辐射来确定物体的折射率和/或通过物体对测量辐射的吸收率。
技术介绍
[0003]例如由DE 10 2016 103 298 A1中已知一种太赫兹测量装置和一种太赫兹测量方法，用于通过传播运行时间测量来获得测试对象的至少一个层厚。此外，由WO 2016/139155 A1中还已知一种装置和一种方法，用于即使在折射率未知的情况下也能测量线状件的直径和/或壁厚。由此，即使在折射率未知或未可靠知晓折射率的情况下也可以精确地确定例如管的直径和壁厚。
[0004]由DE 20 2018 006 144 U1已知一种用于测量从挤出装置中出来的管形线状件的装置，其中，可以利用尤其是太赫兹的辐射确定管状股线的直径和/或壁厚和/或形状偏差。基于所确定的直径和/或壁厚和/或形状偏差的值，可以对挤出装置进行控制和/或调节。为了确定所述直径或壁厚或形状偏差，也可以确定线状件材料的折射率。
[0005]此外，由DE 10 2015 110 600 B3已知一种方法和装置，用于通过用太赫兹辐射照射供应给挤出机的供应材料和测量所述供应材料的至少一个供应速率或供应量来确定在挤出过程中产生的挤出产品的层特性。DE 10 2015 110 600 B3处理的问题是，对挤出产品的发泡的层，与材料密度相关的折射率是未知的。相反，对于未发泡的层，根据DE10 2015 110 600 B3假设，折射率是已知的。为了获得发泡的层的折射率，DE 10 2015 110 600 B3提出，除了利用太赫兹辐射测量挤出产品以外，还使用关于供应给挤出过程的材料量的数据或测量信号。根据DE 10 2015 110 600 B3以重量测定或体积测定的方式获得所述材料量。发泡层这样所确定的折射率应给出关于发泡层的发泡程度的结论。基于所确定的折射率可以对挤出机进料速率进行调节，以实现希望的发泡程度。根据DE 10 2015 110 600 B3，借助于称重装置来测量作为颗粒供应给挤出机的材料的重量。但此时，只有当颗粒的比重已知且恒定时，才能确定体积。在实际上通常这两个条件都不存在。另外，根据DE 10 2015 110 600 B3，测量对挤出机材料输入量并且以此为基础对挤出产品由太赫兹辐射照射的部段的折射率做出预测。但由挤出机的输入得到关于通过挤出机制造的挤出产品的确
定部段的折射率的结论的前提条件是，在挤出中，挤出机的旋转速度和提取速度不变，并且由于温度变化导致的收缩度也不变。在实践中不能可靠地存在这些前提条件，因此这种已知方法存在相应的不精确性。
[0006]根据DE 10 2015 110 600 B3，可以确定泡沫层的折射率并可以将所述折射率用于控制供料速率以获得希望的发泡程度，而对于未发泡的层，DE 10 2015 110 600 B3假设了一个已知的折射率。但在实践中，由于不同的原因，未发泡的层的折射率也是变化的。根据DE 10 2015 110 600 B3没有识别这种变化。此外，由于根据DE 10 2015 110 600 B3是用体积测定或重量测定的方式根据供应给挤出机以进行挤出的材料间接地得到折射率，如所解释的那样，难以得到与由所述材料挤出的物体的确定部段的对应关系。相应地，根据DE 10 2015 110 600 B3设定的对挤出设备的控制或调节也是不精确的。
[0007]此外还存在这样的需求，即，获得更多关于生产过程的信息，以实现对生产设备的更有针对性的和更准确的控制。
技术实现思路
[0008]由所说明的现有技术出发，本专利技术的目的是，改善对用于板形或线形的物体的生产设备的控制。
[0009]本专利技术通过独立的权利要求1和12的特征来实现所述目的。有利的实施形式在从属权利要求、说明书和附图中给出。
[0010]对于前面所述类型的方法，这样来实现本专利技术的目的，即，通过基于折射率确定和/或吸收率确定来控制所述生产设备的至少一个生产参数，此时，在输送所述物体通过测量区域期间在多个时刻确定折射率和/或吸收率并且基于折射率和/或吸收率随时间的变化来控制所述至少一个生产参数，和/或将测量辐射发射到所述物体的不同位置处，此时，在所述物体的所述不同位置处确定折射率和/或吸收率并基于折射率和/或吸收率随空间的变化来控制所述至少一个生产参数。
[0011]对于前面所述类型的装置，本专利技术这样来实现所述目的，即，设有控制装置，所述控制装置构造成用于，基于折射率确定和/或吸收率确定来控制生成系统的至少一个生产参数，其中：所述评估装置构造成用于，在输送所述物体通过测量区域期间在多个时刻确定折射率和/或吸收率，所述控制装置构造成用于，基于折射率和/或吸收率随时间的变化来控制所述至少一个生产参数；和/或所述发射装置构造成用于，将测量辐射发射到所述物体的不同位置处，此时，所述评估装置构造成用于，在所述物体的所述不同位置处确定折射率和/或吸收率，并且所述控制装置构造成用于，基于折射率和/或吸收率随空间的变化来控制所述至少一个生产参数。
[0012]在所述生产设备中制造的线形或板形的物体例如可以是由塑料或玻璃制成的物体。所述物体特别可以是非发泡的物体，就是说，这种物体没有发泡的部分，例如发泡层。线形的物体例如可以是管状的物体，例如塑料或玻璃管。板形的物体情况例如可以是塑料或玻璃板。在所述生产设备中制造的物体可以在根据本专利技术的测量时刻就已经(基本上)完整地具有其最终成形。但也可能的是，在测量时刻成形尚未完成。所述物体在测量时刻还可能具有例如超过2000℃的很高的温度，尤其是当所述物体是玻璃体时。尤其是沿纵向方向输送所述物体通过测量区域，并在这里用千兆赫兹或太赫兹辐射照射所述物体。特别是在这
里所涉及类型的生产设备中存在着困难的测量条件。还在所述物体的最终成形期间或恰好在完成所述物体的成形时，尤其是对于早期的测量就存在这种情况。为了能够在提早对生产设备可能的不允许的偏差做出反应并为了避免不必要的次品，这在原则上是希望的。但在所述测量区域内存在来自生产过程的污物带来的高风险。此外，为了冷却所述物体或生产设备的组件，通常向所述物体或生产设备的组件上施加冷却液，如冷却水液。这会导致飞溅水和本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.用于控制用于板形或线形的物体(12)的生产设备(32)的方法，在所述方法中：沿输送方向输送所述物体(12)通过测量区域；在所述测量区域中借助于千兆赫兹或太赫兹频率范围内的测量辐射照射所述物体(12)，所述测量辐射至少部分地进入所述物体(12)中；并且探测由所述物体(12)反射的测量辐射并根据探测到的测量辐射确定所述物体(12)的折射率(n)和/或通过所述物体(12)对测量辐射的吸收率，其特征在于，基于所述折射率确定和/或所述吸收率确定来控制所述生产设备(32)的至少一个生产参数，在输送所述物体(12)通过测量区域期间在多个时刻确定所述折射率(n)和/或吸收率并且基于所述折射率(n)和/或吸收率的随时间的变化来控制所述至少一个生产参数，和/或将测量辐射发射到所述物体(12)的不同位置处，在物体(12)的所述不同位置处确定折射率(n)和/或吸收率并基于所述折射率(n)和/或吸收率随空间的变化来控制所述至少一个生产参数。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，由在所述物体设置在测量区域时由发射装置发出的测量辐射通过测量区域的传播时间与在测量区域没有设置物体时测量辐射通过测量区域的传播时间的比较来确定所述折射率。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述物体(12)是管状的物体(12)，并且为了确定折射率，此外还考虑由发射装置发出的测量辐射穿过朝向发射装置的第一壁部段的传播时间和穿过背向发射装置的第二壁部段的传播时间。4.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，根据在输送所述物体(12)通过测量区域期间在多个时刻确定的折射率和/或吸收率的值来建立数据趋势，并且基于识别到的所述数据趋势随时间的变化来控制所述生产设备。5.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，根据在所述物体(12)的不同位置处确定的折射率和/或吸收率的值来建立空间的值分布，并且基于识别到的所述值分布随空间的变化来控制所述生产设备。6.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，所述物体(12)由塑料材料组成，所述生产设备(32)包括用于挤出塑料材料的挤出装置，并且基于所述折射率确定和/或吸收率确定来控制挤出装置的至少一个生产参数。7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，作为生产参数控制所述挤出装置的产出能力。8.根据权利要求6或7中任一项所述的方法，其特征在于，作为生产参数控制所供应给所述挤出装置的要挤出的至少两种材料的混合比。9.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，根据折射率和/或吸收率的所确定的值来确定添加到用于生产所述物体(12)的材料中的添加剂的比例，并且基于所确定的添加剂比例来控制所述生产设备。10.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，基于所述折射率确定和/或吸收率确定在闭合的控制回路中调节所述生产设备(32)的所述至少一个生产参数。11.根据前述权利要求中任一项所述的方法，其特征在于，通过根据权利要求12至20中任一项所述的装置来实施所述方法。12.用于控制用于板形或线形的物体(12)的生产设备(32)的装置，所述装置包括：用于沿输送方向输送所述物体(12)通过该装置的测量区域的输送装置；用于用千兆赫兹或太赫兹频率范围内的测量辐射来照射测量区域中...
【专利技术属性】
技术研发人员：H，
申请(专利权)人：斯考拉股份公司，
类型：发明
国别省市：
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