一种浅层断层侧向封闭性评价方法技术

本发明专利技术提出一种浅层断层侧向封闭性评价方法，属于油气勘探技术领域，能够充分考虑断层上盘、下盘中各泥岩对研究点的泥岩涂抹，以及各泥岩内不同深度的点对研究点涂抹的差异性，提出高等断层泥比率(Advanced Shale Gouge Ratio，简称为ASGR)方法表征断层侧向封闭性。该评价方法包括如下步骤：收集断层上盘、下盘岩性数据、油气层深度数据D和断距数据T。将断层中深度D的点作为研究点，计算深度段[D,D+T]内断层上盘泥岩对研究点涂抹效果ASGR

【技术实现步骤摘要】
一种浅层断层侧向封闭性评价方法


[0001]本专利技术属于油气勘探
，尤其涉及一种浅层断层侧向封闭性评价方法。

技术介绍

[0002]对于浅层而言(一般1600m以上)，由于泥岩多呈塑性，泥岩涂抹对断层侧向封闭性具有明显控制作用，因此评价浅层断层侧向封闭性具有重要意义。泥岩涂抹是断层侧向封闭性形成的重要机制，泥岩涂抹指的是地层在错断过程中，泥岩对断层的涂抹作用。对于特定研究点而言，其泥岩涂抹效果取决于特定深度范围内一个或多个泥岩对研究点的涂抹效果之和。
[0003]关于泥岩涂抹效果的评价，前人常采用断层泥比率(Shale Gouge Ratio，简称为SGR)方法进行计算，作为本申请最相关的现有技术，其计算公式为：
[0004][0005]其中T为断层断距，H为以研究点为起点，往下(即往深部方向)断距T长度内断层上盘中所有泥岩厚度之和。
[0006]然而，专利技术人发现，现有技术SGR方法没有考虑断层下盘中的泥岩对研究点的泥岩涂抹，并且没有考虑各个泥岩内不同深度的点对研究点涂抹效果的差异。实际上，断层下盘对研究点具有泥岩涂抹，并且泥岩内部各点对研究点的涂抹作用也不尽相同。因此，有必要将断层上盘、断层下盘中各泥岩对研究点的泥岩涂抹以及各泥岩内不同深度的点对研究点涂抹的差异性考虑进来，作为评价断层侧向封闭性的关键参数。

技术实现思路

[0007]本专利技术针对上述断层侧向封闭性现有方法的缺点或不足，提出一种浅层断层侧向封闭性评价方法，能够综合考虑断层上盘、断层下盘中各泥岩对研究点的泥岩涂抹，同时考虑各泥岩内不同深度的点对研究点涂抹的差异性，定量表征断层侧向封闭性，该方法也可称为高等断层泥比率(Advanced Shale Gouge Ratio，简称为ASGR)方法。
[0008]为了达到上述目的，本专利技术采用的技术方案为：
[0009]一种浅层断层侧向封闭性评价方法，包括如下步骤：
[0010](一)收集研究区断层上盘与下盘的岩性数据、油气层深度数据D以及断距数据T；
[0011](二)将断层中深度为D的点作为研究点，以深度段[D,D+T]为研究范围，统计断层上盘中泥岩的总个数n，将第i个泥岩记为Hih，其中i∈[1，n]，统计各泥岩的厚度ΔHih；
[0012]将泥岩Hih内不同深度的点都当成是独立的计算点，则每个计算点与研究点具有不同的距离r；将研究点到泥岩Hih顶部的距离记为rih，则r的取值范围为[rih，rih+ΔHih]；
[0013]利用公式(1)计算断层上盘中单个泥岩Hih所有计算点对研究点的泥岩涂抹ASGR
Hih
，公式(1)的表达式为：
[0014][0015]利用公式(2)将深度段[D,D+T]断层上盘中所有泥岩对研究点的泥岩涂抹进行叠加，可得断层上盘泥岩对研究点的涂抹ASGR
h
：
[0016][0017](三)将断层中深度为D的点作为研究点，以深度段[D
‑
T,D]为研究范围，统计断层下盘中泥岩的总个数m，将第i个泥岩记为Hif，其中i∈[1,m]，统计各泥岩的厚度ΔHif；
[0018]将泥岩Hif内不同深度的点都当成是独立的计算点，则每个计算点与研究点具有不同的距离r；将研究点到泥岩Hif底部的距离记为rif，则r的取值范围为[rif，rif+ΔHif]；
[0019]利用公式(3)计算断层下盘中单个泥岩Hif所有计算点对研究点的泥岩涂抹ASGR
Hif
，公式(3)的表达式为：
[0020][0021]利用公式(4)将深度段[D
‑
T,D]断层下盘中所有泥岩对研究点的泥岩涂抹进行叠加，可得断层下盘泥岩对研究点的涂抹ASGR
f
：
[0022][0023](四)利用公式(5)得到研究点的断层侧向封闭性评价结果ASGR,公式(5)表达式为:
[0024][0025](五)将断层中深度为D对应的ASGR结果最小值记为阈值Q；以断层中非深度D的其他点为研究点,计算其对应的ASGR值；根据Q值与非深度D研究点ASGR值的关系即可对非深度D研究点的断层侧向封闭性进行评价：如果非深度D研究点的ASGR值大于等于Q，则该研究点具有断层侧向封闭性；反之，则认为该研究点不具有断层侧向封闭性。
[0026]作为优选，步骤(一)中，断层上盘与下盘的岩性数据由岩心和岩屑资料获取。所有油气层深度数据D为各油气层的顶点深度。
[0027]作为优先，步骤(三)至(五)计算过程中，如果单个泥岩与研究点距离存在r＝0的情况时，则认为该泥岩必有侧向封闭油气的作用，该研究点的ASGR值也不参与Q值的制定。
[0028]与现有技术相比，本专利技术的优点和积极效果在于：
[0029]本专利技术提供的一种浅层断层侧向封闭性评价方法，能够充分考虑断层上盘、断层下盘中各泥岩对研究点的泥岩涂抹，同时考虑各个泥岩内不同深度的点对研究点涂抹的差异性，全面地评价断层侧向封闭性。
附图说明
[0030]图1为本专利技术实施例所提供的断层侧向封闭性评价方法的流程图；
[0031]图2为本专利技术实施例所提供的断层上盘中的泥岩、断层下盘中的泥岩对断层泥岩涂抹示意图；
[0032]图3为本专利技术实施例所提供的断层上盘、断层下盘中各个泥岩对研究点D泥岩涂抹的计算过程示意图；
[0033]图4为本专利技术实施例1所提供的垦东X1井、垦东X2井、断层F5相对位置示意图；
[0034]图5为本专利技术实施例1所提供的计算范围内垦东X1井、垦东X2井中各个泥岩对断层F5中油气层深度D＝1231m研究点泥岩涂抹的计算过程图；
[0035]图6为本专利技术实施例1所提供的计算范围内垦东X1井、垦东X2井中各个泥岩对断层F5中非油气层深度1306.5m研究点泥岩涂抹的计算过程图。
具体实施方式
[0036]下面将对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0037]如图1所示，本专利技术实施例提供了一种浅层断层侧向封闭性评价方法，包括如下步骤：
[0038](一)收集研究区断层上盘与下盘的岩性数据、油气层深度数据D以及断距数据T；
[0039](二)将断层中深度为D的点作为研究点，以深度段[D,D+T]为研究范围，统计断层上盘中泥岩的总个数n，将第i个泥岩记为Hih，其中i∈[1，n]，统计各泥岩的厚度ΔHih；
[0040]将泥岩Hih内不同深度的点都当成是独立的计算点，则每个计算点与研究点具有不同的距离r；将研究点到泥岩Hih顶部的距离记为rih，则r的取值范围为[rih，rih+ΔHih]；
[0041]利用公式(1)计算断层上盘中单个泥岩Hih所有计算点对研究点本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种浅层断层侧向封闭性评价方法，其特征在于，包括如下步骤：(一)收集研究区断层上盘与下盘的岩性数据、油气层深度数据D以及断距数据T；(二)将断层中深度为D的点作为研究点，以深度段[D，D+T]为研究范围，统计断层上盘中泥岩的总个数n，将第i个泥岩记为Hih，其中i∈[1，n]，统计各泥岩的厚度ΔHih；将泥岩Hih内不同深度的点都当成是独立的计算点，则每个计算点与研究点具有不同的距离r；将研究点到泥岩Hih顶部的距离记为rih，则r的取值范围为[rih，rih+ΔHih]；利用公式(1)计算断层上盘中单个泥岩Hih所有计算点对研究点的泥岩涂抹ASGR
Hih
，公式(1)的表达式为：利用公式(2)将深度段[D，D+T]断层上盘中所有泥岩对研究点的泥岩涂抹进行叠加，可得断层上盘泥岩对研究点的涂抹ASGR
h
：(三)将断层中深度为D的点作为研究点，以深度段[D
‑
T，D]为研究范围，统计断层下盘中泥岩的总个数m，将第i个泥岩记为Hif，其中i∈[1，m]，统计各泥岩的厚度ΔHif；将泥岩Hif内不同深度的点都当成是独立的计算点，则每个计算点与研究点具有不同的距离r；将研究点到泥岩Hif底部的距离记为rif，则r的取值范围为[rif，...

【专利技术属性】
技术研发人员：王宇，蒋有录，赵凯，苏圣民，
申请(专利权)人：中国石油大学华东，
类型：发明
国别省市：