NAND测试方法、装置、可读存储介质及电子设备制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种NAND测试方法、装置、可读存储介质及电子设备，先对待测试的NAND中的数据块执行RDT测试，再对执行完RDT测试的数据块执行copyback操作，最后对执行完copyback操作的数据块执行读操作，并且在测试过程的每一阶段都进行坏块的筛选，通过在NAND的RDT测试中增加copyback命令操作的测试模式，使NAND中经过常规测试的数据块再以copyback命令操作的测试模式进行数据块的擦写读操作，从而能够将常规筛选无法识别的坏块和弱块识别出来，使得主控可以支持质量等级差的NAND，同时提升SSD的稳定性。的稳定性。的稳定性。

【技术实现步骤摘要】
NAND测试方法、装置、可读存储介质及电子设备


[0001]本领域涉及存储器测试领域，特别涉及一种NAND测试方法、装置、可读存储介质及电子设备。

技术介绍

[0002]运行数据测试(run data test，RDT)是用于下载固件(fireware)到固态硬盘(solid state drive，SSD)进行IO(输入/输出、input/out)之前，对SSD上的每个block做擦写读的一种测试，能够提前筛选出坏块(bad block)或弱块(weak block)。NAND(计算机闪存设备)中具有两种擦写命令，一种为常规的擦写命令：数据从NAND内部的NAND array(数组)到NAND内部的cache register(高速缓存存储器)，再从NAND内部的cache register到主控端静态随机存取存储器(StaticRandom
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AccessMemory，SRAM)；另一种为copyback(内部拷贝)命令：将一个page内的数据拷贝到NAND内部的cache register里面，然后再从cache register写到NAND的另外一个page上，整个过程均是基于NAND内部的操作，期间不需要主控干预，两种命令的区别如图1所示。因此，IO过程中为了提高NAND的性能，通常采用copyback的方式将数据从block A
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page M上的数据搬移到block B
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page N上。
[0003]而在使用copyback过程中，难免会遇到坏块，所以需要在RDT阶段将这部分坏块识别出来，标记成坏块，避免后续IO过程使用。然而，在目前的RDT测试中，通常认为无论使用哪种擦写读方式，若出现坏块或弱块，都会出现测试异常的结果；但一些特殊的NAND如：downgrade(质量等级差)的NAND，在IO过程中容易出现深度读取重试错误(deep read retry fail，DDR fail)，部分也会出现copyback写入指令(copyback program fail)，而常规的擦写读中并不会出现问题。

技术实现思路

[0004]本专利技术所要解决的技术问题是：提供一种NAND测试方法、装置、可读存储介质及电子设备，在对NAND进行RDT测试时能够提高故障覆盖率。
[0005]为了解决上述技术问题，本专利技术采用的一种技术方案为：
[0006]一种NAND测试方法，包括步骤：
[0007]对待测试的NAND中的数据块执行RDT测试，并筛选出其中的坏块；
[0008]对执行完RDT测试的数据块执行copyback操作，并筛选出其中的坏块；
[0009]对执行完copyback操作的数据块执行读操作，并筛选出其中的坏块。
[0010]为了解决上述技术问题，本专利技术采用的另一种技术方案为：
[0011]一种NAND测试装置，包括：
[0012]RDT测试模块，用于对待测试的NAND中的数据块执行RDT测试，并筛选出其中的坏块；
[0013]copyback操作模块，用于对执行完RDT测试的数据块执行copyback操作，并筛选出其中的坏块；
[0014]读操作模块，用于对执行完copyback操作的数据块执行读操作，并筛选出其中的坏块。
[0015]为了解决上述技术问题，本专利技术采用的另一种技术方案为：
[0016]一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述NAND测试方法中的各个步骤。
[0017]为了解决上述技术问题，本专利技术采用的另一种技术方案为：
[0018]一种电子设备，包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述NAND测试方法中的各个步骤。
[0019]本专利技术的有益效果在于：通过在NAND的RDT测试中增加copyback命令操作的测试模式，使NAND中经过常规测试的数据块再以copyback命令操作的测试模式进行数据块的擦写读操作，从而能够将常规筛选无法识别的坏块和弱块识别出来，使得主控可以支持质量等级差的NAND，在对NAND进行RDT测试时能够提高故障覆盖率，提升SSD的稳定性。
附图说明
[0020]图1为NAND内部两种数据读写入命令模式示意图；
[0021]图2为本专利技术实施例的一种NAND测试方法的步骤流程图；
[0022]图3为本专利技术实施例的一种NAND测试方法的另一步骤流程图；
[0023]图4为本专利技术实施例的一种NAND测试方法的另一步骤流程图；
[0024]图5为本专利技术实施例的一种NAND测试方法的另一步骤流程图；
[0025]图6为本专利技术实施例的一种NAND测试方法的另一步骤流程图；
[0026]图7为本专利技术实施例的一种NAND测试方法的另一步骤流程图；
[0027]图8为本专利技术实施例的一种NAND测试装置的一种结构示意图；
[0028]图9为本专利技术实施例的一种电子设备的结构示意图。
具体实施方式
[0029]为详细说明本专利技术的
技术实现思路
、所实现目的及效果，以下结合实施方式并配合附图予以说明。
[0030]请参照图2，本专利技术实施例提供了一种NAND的测试方法，包括步骤：
[0031]对待测试的NAND中的数据块执行RDT测试，并筛选出其中的坏块；
[0032]对执行完RDT测试的数据块执行copyback操作，并筛选出其中的坏块；
[0033]对执行完copyback操作的数据块执行读操作，并筛选出其中的坏块。
[0034]从上述描述可知，本专利技术的有益效果在于：通过在NAND的RDT测试中增加copyback命令操作的测试模式，使NAND中经过常规测试的数据块再以copyback命令操作的测试模式进行数据块的擦写读操作，从而能够将常规筛选无法识别的坏块和弱块识别出来，使得主控可以支持质量等级差的NAND，同时提升SSD的稳定性。
[0035]进一步的，所述对待测试的NAND中的数据块执行RDT测试，并筛选出其中的坏块包括：
[0036]遍历所述待测试的NAND中的数据块；
[0037]对于遍历到的第一目标数据块，对所述第一目标数据块进行擦写读，并判断所述
擦写读是否成功，若否，则将所述第一目标数据块添加至坏块表。
[0038]由上述描述可知，通过对待测试的NAND数据块进行读写擦测试，并将擦写读失败的数据块添加至坏块表，避免后续再次将坏块数据进行测试，导致测试时间增加，进行不必要的测试浪费设备资源。
[0039]进一步的，所述对执行完RDT测试的数据块执行copyback操作，并筛选出其中的坏块包括：
[0040]从所述执行完RDT测试的数据块中确定第一数据块集合和第二数据块集合；
[0041]向所述第一数据块集合中写入测试数据；<本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种NAND测试方法，其特征在于，包括步骤：对待测试的NAND中的数据块执行RDT测试，并筛选出其中的坏块；对执行完RDT测试的数据块执行copyback操作，并筛选出其中的坏块；对执行完copyback操作的数据块执行读操作，并筛选出其中的坏块。2.根据权利要求1所述的一种NAND测试方法，其特征在于，所述对待测试的NAND中的数据块执行RDT测试，并筛选出其中的坏块包括：遍历所述待测试的NAND中的数据块；对于遍历到的第一目标数据块，对所述第一目标数据块进行擦写读，并判断所述擦写读是否成功，若否，则将所述第一目标数据块添加至坏块表。3.根据权利要求1所述的一种NAND测试方法，其特征在于，所述对执行完RDT测试的数据块执行copyback操作，并筛选出其中的坏块包括：从所述执行完RDT测试的数据块中确定第一数据块集合和第二数据块集合；向所述第一数据块集合中写入测试数据；遍历所述第二数据块集合中的第二数据块；对于遍历到的第二目标数据块，将所述第一数据块集合中写入的所述测试数据通过copyback指令写到所述第二目标数据块；判断所述第二目标数据块的数据写入是否成功，若否，将所述第二目标数据块添加到坏块表。4.根据权利要求3所述的一种NAND测试方法，其特征在于，设置所述第一数据块集合中的数据块的工作模式为第一模式；设置所述第二数据块集合中的数据块的工作模式为第二模式；所述第一数据块集合中包含预设数量的数据块；所述预设数量根据所述第一模式和第二模式确定。5.根据权利要求4所述的一种NAND测试方法，其特征在于，所述从所述执行完RDT测试的数据块中确定第一数据块集合包括：从执行完RDT测试的数据块中选择一数据块进行擦写读，判断所述擦写读是否成功，若是，则将所述数据块添加到所述第一数据块集...

【专利技术属性】
技术研发人员：孙成思，孙日欣，童海涛，
申请(专利权)人：成都佰维存储科技有限公司，
类型：发明
国别省市：