一种限幅器芯片大信号指标的测试系统及方法技术方案

本发明专利技术涉及限幅器芯片测试领域，具体涉及一种限幅器芯片大信号指标的测试系统及方法，系统包括信号源，与信号源依次连接的功率放大器、隔离器和耦合器，与功率放大器依次连接的电源调制器和直流源，分别与耦合器连接的第一衰减器、第二衰减器和环形器，第一衰减器连接第一功率计，第二衰减器连接第一负载，环形器连接第二负载，还包括与环形器依次连接的限幅器芯片测试装置、第三衰减器和第二功率计。该系统安装方便，统一接口，易于使用，解决了限幅器芯片连线困难无法开展测试的问题，可以使限幅器芯片大信号指标的测试顺畅进行。幅器芯片大信号指标的测试顺畅进行。幅器芯片大信号指标的测试顺畅进行。

【技术实现步骤摘要】
一种限幅器芯片大信号指标的测试系统及方法


[0001]本专利技术属于限幅器芯片测试领域，特别涉及一种限幅器芯片大信号指标的测试系统及方法。

技术介绍

[0002]限幅器的指标包括小信号指标和大信号指标。小信号指标测试方法比较简单且准确，可以通过微波探针台和矢量网络分析仪对限幅器进行测试，而大信号指标的测试较为复杂，很容易造成测试结果的误差。
[0003]限幅器芯片大信号指标的测试的特点是：测试仪器多，转接头多，连线复杂等。传统的限幅器芯片大信号测试方案直接将限幅器芯片连接功率放大器进行测试，这种测试方法不仅步骤复杂，难以校准，还存在很多问题：功率放大器的信号会受到后级电路的影响，无法实时监控功放的实际输出功率，限幅器反射的功率对影响到前级电路的信号传输，这些问题极大的影响了限幅器芯片大信号指标测试的准确性。同时限幅器芯片面积小，连线困难，造成了限幅器芯片大信号指标的测试十分困难。

技术实现思路

[0004]针对
技术介绍
存在的问题，本专利技术提供一种限幅器芯片大信号指标的测试系统及方法。
[0005]为解决上述技术问题，本专利技术采用如下技术方案：一种限幅器芯片大信号指标的测试系统，包括信号源，与信号源依次连接的功率放大器、隔离器和耦合器，与功率放大器依次连接的电源调制器和直流源，分别与耦合器连接的第一衰减器、第二衰减器和环形器，第一衰减器连接第一功率计，第二衰减器连接第一负载，环形器连接第二负载，还包括与环形器依次连接的限幅器芯片测试装置、第三衰减器和第二功率计。
[0006]在上述限幅器芯片大信号指标的测试系统中，限幅器芯片测试装置包括信号输入接头、信号输出接头、测试盒、载体片和待测限幅器芯片；测试盒两端分别引出信号输入接头和信号输出接头，载体片设置于测试盒内，待测限幅器芯片置于载体片上；信号输入接头与环形器相连，信号输出接头与第三衰减器相连。
[0007]在上述限幅器芯片大信号指标的测试系统中，载体片的材料为钼铜、黄铜或钨铜；测试盒的材料为铝、铜或铁；信号输入接头和信号输出接头采用SMA、BNC或N型。
[0008]一种限幅器芯片大信号指标的测试系统的测试方法，该方法包括：信号源输出信号至功率放大器，功率放大器输出射频信号至隔离器，经耦合器耦合出小功率值的信号，通过第一功率计进行监测，根据耦合度推算出功率放大器的输出功率，实现实时监控；耦合器从另一路输出射频信号至环形器，环形器输出射频信号至限幅器测试装置，限幅器测试装置的反射信号则被第二负载吸收；限幅器测试装置输出信号经过第三衰减器输入至第二功率计。
[0009]与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：
[0010]一、本专利技术通过加入隔离器，保证射频信号的单向通过，不会有信号反射回来，可以保护功率放大器电路的输出功率不会受到后面电路的影响；
[0011]二、本专利技术通过加入耦合器，将功率放大器的输出信号耦合出一个很小功率值的信号，通过功率计进行监测，可以通过耦合度准确推算出功率放大器的输出功率，以实现实时监控；
[0012]三、本专利技术通过加入环形器，射频信号可以正常进入限幅器，而限幅器反射的信号会被负载所吸收，不会影响到限幅器的输入功率，这种设计可以提高测试的准确性；
[0013]四、本专利技术安装方便，统一接口，易于使用，可以使限幅器芯片大信号指标的测试得以顺畅进行。
附图说明
[0014]图1为本专利技术一个实施例测试系统工作流程示意图；
[0015]图2为本专利技术一个实施例限幅器芯片测试装置结构示意图；
[0016]图3为本专利技术一个实施例限幅器芯片大信号指标测试结果—限幅电平。
[0017]其中，1
‑
信号输入接头、2
‑
信号输出接头、3
‑
测试盒、4
‑
载体片、5
‑
待测限幅器芯片。
具体实施方式
[0018]下面将结合本专利技术实施例对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0019]需要说明的是，在不冲突的情况下，本专利技术中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。
[0020]下面结合具体实施例对本专利技术作进一步说明，但不作为本专利技术的限定。
[0021]本实施例提供了一种限幅器芯片大信号指标的测试系统和方法，能避免测试误差，并且可以实时监控功率放大器的输出功率，保证测试结果的准确性。还提供了限幅器芯片测试装置，这种装置可以广泛应用于限幅器芯片大信号指标的测试，这种装置解决了限幅器芯片连线困难无法开展测试的问题，能够使测试得以顺畅进行。
[0022]本实施例限幅器芯片大信号指标的测试方法如下：
[0023]功率放大器可以发射大功率射频信号，但是传统的测试方案中功率放大器的输出功率很容易受到后级电路的影响，本实施例在功率放大器后接入了隔离器，隔离器的作用是保证射频信号的单向通过，不会有信号反射回来，可以保护功率放大器电路的输出功率不会受到后面电路的影响。
[0024]传统测试方案无法实时监测功率放大器的输出功率，本实施例通过使用耦合器将功率放大器的输出信号耦合出一个很小功率值的信号，通过功率计进行监测，可以通过耦合度准确推算出功率放大器的输出功率，以实现实时监控。
[0025]由于限幅器芯片会将大部分输入功率反射回去，使用传统的测试方法会影响到限幅器芯片大信号指标的准确性。本实施例加入了环形器，射频信号可以正常进入限幅器，但
是限幅器反射的信号会被负载所吸收，不会影响到限幅器的输入功率，这种设计可以提高测试的准确性。
[0026]因为限幅器芯片面积小，连线困难，严重影响了限幅器芯片大信号指标的测试。本实施例采用限幅器芯片测试装置，解决了限幅器芯片连线困难无法开展测试的问题，能够使测试得以顺畅进行。
[0027]具体实施时，如图1所示，一种限幅器芯片大信号指标的测试系统，包括依次连接的信号源、功率放大器、隔离器和耦合器，与功率放大器依次连接的电源调制器和直流源，分别与耦合器连接的第一衰减器、第二衰减器和环形器，与第一衰减器连接的第一功率计，与第二衰减器连接的第一负载，与环形器依次连接的限幅器芯片测试装置、第三衰减器和第二功率计。需严格按照设备的连接顺序，不可调换。
[0028]如图2所示，限幅器芯片测试装置包括信号输入接头1、信号输出接头2、测试盒3、载体片4和待测限幅器芯片5。测试盒3两端分别引出信号输入接头1和信号输出接头2，载体片4设置于测试盒3内，待测限幅器芯片5置于载体片4上；信号输入接头1与环形器相连，信号输出接头2与第三衰减器相连。
[0029]而且，载体片的材料为钼铜、黄铜或钨铜等；测试盒的材料为铝、铜、铁等；信号输入接头和信号输出接头采用SMA、BNC、N型等。
[0030]如图本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种限幅器芯片大信号指标的测试系统，其特征是，包括信号源，与信号源依次连接的功率放大器、隔离器和耦合器，与功率放大器依次连接的电源调制器和直流源，分别与耦合器连接的第一衰减器、第二衰减器和环形器，第一衰减器连接第一功率计，第二衰减器连接第一负载，环形器连接第二负载，还包括与环形器依次连接的限幅器芯片测试装置、第三衰减器和第二功率计。2.如权利要求1所述限幅器芯片大信号指标的测试系统，其特征是，限幅器芯片测试装置包括信号输入接头、信号输出接头、测试盒、载体片和待测限幅器芯片；测试盒两端分别引出信号输入接头和信号输出接头，载体片设置于测试盒内，待测限幅器芯片置于载体片上；信号输入接头与环形器相连，信号输出接头与第三衰减器相连。3.如...

【专利技术属性】
技术研发人员：李世峰，马丽筠，雷骁，王雷阳，邬邦，
申请(专利权)人：武汉大学，
类型：发明
国别省市：