一种用于ZIF测试转接线的提手以及ZIF测试转接线制造技术

本实用新型专利技术公开一种用于ZIF测试转接线的提手以及ZIF测试转接线，其中用于ZIF测试转接线的提手包括用于与ZIF转接测试线固定的固定部以及用于握持的提拉部，所述提拉部设置在所述固定部上并与所述固定部呈一定角度，所述一定角度为45度‑135度。本实用新型专利技术可提升ZIF测试转接线的插拔的准确率以及效率，降低了作业的难度，有助于减少损坏LCM模组上插件以及ZIF测试转接线情况。

【技术实现步骤摘要】
一种用于ZIF测试转接线的提手以及ZIF测试转接线
本技术涉及显示模组
，尤其涉及一种ZIF转接线的提手以及ZIF转接线。
技术介绍
在LCM模组产品组装完成后，需要通过测试转接线将LCM模组与测试主板连接，以对LCM模组进行检验和测试。常规的ZIF测试转接线一般采用为双层FPC板，其两端设有金手指，在使用时一端连接测试主板上的插件，一端连接LCM模组上的插件。但是由于LCM模组的插件属于精密元件，要求插接的精度很高，而FPC的材质较软，在插接过程中容易变形，影响插接效果以及测试效率，另外由于LCM模组的元件结构紧凑，插接过程中取放转接线时不易操作，影响工作效率并且容易损坏插接件。因此，现有技术存在缺陷，需要改进。
技术实现思路
本技术的目的是克服现有技术的不足，提供一种用于ZIF转接线的提手以及ZIF转接线。本技术的技术方案如下：本技术提供一种用于ZIF转接线的提手，包括：用于与ZIF转接测试线固定的固定部以及用于握持的提拉部，所述提拉部设置在所述固定部上并与所述固定部呈一定角度，所述一定角度为45度-135度。进一步地，所述固定部与所述提拉部均呈片状。进一步地，所述提拉部设置在所述固定部的一端端部。进一步地，所述固定部在距离所述提拉部一定距离处形成凸起。进一步地，所述凸起设于所述固定部远离所述提拉部这一端的端部。进一步地，所述固定部的宽度小于固定位置处的ZIF转接测试线的宽度0毫米-3毫米。进一步地，所述一定角度为90度；所述提手的材质为塑胶。本技术还提供一种ZIF转接线，包括：测试转接线本体和上述的提手，所述测试转接线本体包括设于所述测试转接线正面一端的金手指部，所述金手指部用于插接LCM模组，所述提手固定在靠近所述金手指部的所述测试转接线本体上。进一步地，所述测试转接线本体的背面上还设有补强结构，所述补强结构的区域覆盖所述金手指部的区域以及与所述提手的对应区域。进一步地，所述提手与所述测试转接线本体通过胶带相固定。采用上述方案，本技术可以提升ZIF测试转接线的插拔的准确率以及效率，降低了作业的难度，有助于减少损坏LCM模组上插件以及ZIF测试转接线情况。附图说明图1为本技术一实施例的提手的侧视图。图2为本技术一实施例的提手的正视图。图3为本技术另一实施例的提手的侧视图。图4为本技术的一实施例的ZIF测试转接线的侧视图。图5为图4中A处的放大图。图6为本技术的一实施例的ZIF测试转接线的主视图。图7为本技术的一实施例的ZIF测试转接线的后视图。图8为本技术的一实施例的ZIF测试转接线与LCM模组插接的示意图。具体实施方式以下结合附图和具体实施例，对本技术进行详细说明。请结合参阅图1至图2，在本实施例中，本技术提供一种用于ZIF测试转接线的提手，包括用于与ZIF转接测试线固定的固定部11以及用于握持的提拉部12，所述提拉部12设置在所述固定部11上并与所述固定部11呈一定角度，所述一定角度可以为45度-135度，在本实施例中为90度，方便后续取拿ZIF测试转接线。所述提手1的材质为塑胶。所述固定部11与所述提拉部12均呈片状，所述提拉部12设于所述固定部11一端的端部，并且连接处为圆角，所述固定部11的宽度可以为小于固定位置处的ZIF转接测试线的宽度0毫米-3毫米，方便与ZIF测试转接线相固定，所述提拉部12的长度可以约为1厘米，可以方便用手抓取。请继续结合参阅图1和图2，本技术的提手1在使用时，需要将所述提手1的固定部与ZIF测试转接线相固定，固定位置可以是ZIF测试转接线上靠近与LCM显示模组插接的金手指处位置，在使用时就可以用手或者工具夹持住提拉部12，从而方便对接口进行插拔，有助于提升工作效率以及避免损坏器件。请参阅图3，本技术还提供另一实施例的用于ZIF测试转接线的提手，在本实施例中，与上一实施例相比，不同点在于，所述固定部11A在距离所述提拉部12A一定距离处形成凸起13A，可以选择为所述凸起13A设于所述固定部11A远离所述提拉部12A这一端的端部，采用这种结构，可以使得在通过单面胶带缠绕固定所述提手与ZIF测试转接线时，可以将胶带缠在所述凸起13A与所述提拉部12A之间的固定部上，所述提拉部12A与所述凸起13A可以起到定位和限位的作用，防止使用一端时间后胶带容易松动使得提手滑出从而与ZIF测试转接线分离。请结合参阅图4至图8，本技术还提供一种ZIF测试转接线，所述ZIF转接线包括测试转接线本体100以及上述的提手200。所述测试转接线本体包括设于所述测试转接线100正面一端的金手指部102，所述金手指部102用于插接LCM模组400，所述提手200固定在靠近所述金手指部102的所述测试转接线本体100上。在本实施中，所述提手200和测试转接线本体100通过单面胶带300缠绕的方式固定，所述提手200固定在所述测试转接线本体100的背面，并且所述测试转接线本体100的背面上还设有补强结构101，所述补强结构101的区域覆盖所述金手指部102的区域以及与所述提手200的对应区域，可以提升这部分区域的强度，方便插拔。本方案的ZIF测试转接线在使用时，可以通过握持所述提手200来控制所述金手指部102的位置和方向，可以方便插拔等操作，有助于提升工作效率以及减少损坏LCM模组400上的元器件情况。综上所述，本技术可以提升ZIF测试转接线的插拔的准确率以及效率，降低了作业的难度，有助于减少损坏LCM模组上插件以及ZIF测试转接线情况。以上仅为本技术的较佳实施例而已，并不用于限制本技术，凡在本技术的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于ZIF测试转接线的提手，其特征在于，包括：用于与ZIF转接测试线固定的固定部以及用于握持的提拉部，所述提拉部设置在所述固定部上并与所述固定部呈一定角度，所述一定角度为45度-135度。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于ZIF测试转接线的提手，其特征在于，包括：用于与ZIF转接测试线固定的固定部以及用于握持的提拉部，所述提拉部设置在所述固定部上并与所述固定部呈一定角度，所述一定角度为45度-135度。


2.根据权利要求1所述的用于ZIF测试转接线的提手，其特征在于，所述固定部与所述提拉部均呈片状。


3.根据权利要求1所述的用于ZIF测试转接线的提手，其特征在于，所述提拉部设置在所述固定部的一端端部。


4.根据权利要求1所述的用于ZIF测试转接线的提手，其特征在于，所述固定部在距离所述提拉部一定距离处形成凸起。


5.根据权利要求4所述的用于ZIF测试转接线的提手，其特征在于，所述凸起设于所述固定部远离所述提拉部这一端的端部。


6.根据权利要求1至5任一项所述的用于ZIF测试转接线的提手，...

【专利技术属性】
技术研发人员：马明亮，
申请(专利权)人：深圳同兴达科技股份有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44