一种基于电容原理检测材料杂质的装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种基于电容原理检测材料杂质的装置，包括用于根据材料不同检测的电容变化量不同的电容式传感单元和用于采集和处理电容数据的触摸控制单元，所述电容式传感单元和所述触摸控制单元相连接，所述电容式传感单元包括电容式传感器和用于保护所述电容式传感器不受损坏并设置于所述电容式传感器一侧的盖板，所述触摸控制单元包括触摸控制器，所述触摸控制器经接口与主机相连接。本实用新型专利技术采用上述结构的一种基于电容原理检测材料杂质的装置，结构简单，适应性强，能够检测微小的电容信号变化量，随时通过主机反应电容信号，极大地方便了使用者的使用。

【技术实现步骤摘要】
一种基于电容原理检测材料杂质的装置
本技术涉及触摸控制
，特别是涉及一种基于电容原理检测材料杂质的装置。
技术介绍
近年来，随着计算机技术、网络技术、通讯技术和控制技术的发展，一些智能化的控制系统应运而生，其中电容式触摸技术已经兴起，并且已经应用于不同的领域。但是目前电容式触摸技术受外界影响较大，特别是组装在触摸屏上的外壳，如果含有金属杂质，会使电容式触摸屏的感应数据出现偏差，严重时可能造成整个触摸控制系统无法触摸，对生产者和使用者造成困扰，随着触摸屏的广泛使用，这些问题已经越来越严重。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种基于电容原理检测材料杂质的装置，以解决上述电容式触摸屏由于金属杂质的存在，出现的感应数据出错和无法触摸的情况。为实现上述目的，本技术提供了一种基于电容原理检测材料杂质的装置，包括用于根据材料不同检测的电容变化量不同的电容式传感单元和用于采集和处理电容数据的触摸控制单元，所述电容式传感单元和所述触摸控制单元相连接，所述电容式传感单元包括电容式传感器和用于保护所述电容式传感器不受损坏并设置于所述电容式传感器一侧的盖板，所述触摸控制单元包括触摸控制器，所述触摸控制器经接口与主机相连接。优化的，所述接口为烧录接口或I2C通讯接口。优化的，所述I2C通讯引脚上设置有用于保证上拉能力的上拉电阻。优化的，所述上拉电阻的阻值为3.3千欧。优化的，所述触摸控制器外部连接有电源。优化的，所述电源为一组3.3V的电源。因此，本技术采用上述结构的一种基于电容原理检测材料杂质的装置，具有以下有益效果：1、结构简单，适应性强，能够检测微小的电容信号变化量。2、与外部连接只需一组3.3V电源，方便客户后续的安装维护；3、本技术测试烧录接口为同一个，极大的方便了客户的使用。下面通过附图和实施例，对本技术的技术方案做进一步的详细描述。附图说明图1为本技术一种基于电容原理检测材料杂质的装置实施例的原理框图；图2为本技术一种基于电容原理检测材料杂质的装置实施例的结构示意图；图3为本技术一种基于电容原理检测材料杂质的装置实施例的电路图。图中：1、电容式传感单元；2、触摸控制单元；3、电容式传感器；4、触摸控制器。具体实施方式下面详细描述本专利技术的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本专利技术，而不能理解为对本专利技术的限制。下面结合附图对本技术的实施方式做进一步的说明。图1为本技术一种基于电容原理检测材料杂质的装置实施例的原理框图；图2为本技术一种基于电容原理检测材料杂质的装置实施例的结构示意图；图3为本技术一种基于电容原理检测材料杂质的装置实施例的电路图。如图所示，本技术一种基于电容原理检测材料杂质的装置，包括用于根据材料不同检测的电容变化量不同的电容式传感单元1和用于采集和处理电容数据的触摸控制单元2，电容式传感单元1和触摸控制单元2相连接，电容式传感单元1包括电容式传感器3和用于保护电容式传感器不受损坏并设置于电容式传感器一侧的盖板，触摸控制单元2包括触摸控制器4，触摸控制器4经接口与主机相连接。接口为烧录接口或I2C通讯接口。I2C通讯引脚上设置有用于保证上拉能力的上拉电阻。上拉电阻的阻值为3.3千欧。触摸控制器4外部连接有电源。电源为一组3.3V的电源。电源在与触摸控制器4连接之前还进行了二次滤波去耦处理，使触摸控制器4接受的信号更加稳定。本技术的具体实施过程为：将触摸控制器的I2C通讯接口或烧录接口与主机连接，电容式传感器开始工作，将所测试的材料与电容式传感器极板接触，由电容式传感器感应材料的电容信息，触摸控制器接收电容式传感器的电容信息并计算电容变化量，将计算结果直接呈现在主机设备上，通过电容量的变化值分析材料中是否含有金属杂质，进而判断该材料是否可以应用于触摸屏的外壳。本技术中电容式感应器和触摸控制器的结构以及工作原理均为本领域常规技术手段，因此在此不做结构以及型号的具体限制。因此，本技术采用上述结构的一种基于电容原理检测材料杂质的装置，结构简单，适应性强，能够检测微小的电容信号变化量；与外部连接只需一组3.3V电源，方便客户后续的安装维护；测试烧录接口为同一个，极大的方便了客户的使用。以上所述仅是本专利技术的优选实施方式，应当指出，对于本
的普通技术人员来说，在不脱离本专利技术原理的前提下，还可以做出若干改进，这些改进也应视为本专利技术的保护范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于电容原理检测材料杂质的装置，其特征在于：包括用于根据材料不同检测的电容变化量不同的电容式传感单元和用于采集和处理电容数据的触摸控制单元，所述电容式传感单元和所述触摸控制单元相连接，所述电容式传感单元包括电容式传感器和用于保护所述电容式传感器不受损坏并设置于所述电容式传感器一侧的盖板，所述触摸控制单元包括触摸控制器，所述触摸控制器经接口与主机相连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种基于电容原理检测材料杂质的装置，其特征在于：包括用于根据材料不同检测的电容变化量不同的电容式传感单元和用于采集和处理电容数据的触摸控制单元，所述电容式传感单元和所述触摸控制单元相连接，所述电容式传感单元包括电容式传感器和用于保护所述电容式传感器不受损坏并设置于所述电容式传感器一侧的盖板，所述触摸控制单元包括触摸控制器，所述触摸控制器经接口与主机相连接。


2.根据权利要求1所述的一种基于电容原理检测材料杂质的装置，其特征在于：所述接口为烧录接口或I2C通讯接口。

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【专利技术属性】
技术研发人员：殷勤，
申请(专利权)人：苏州芯沃科电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32