测距系统、校准方法、程序和电子设备技术方案

本公开涉及测距系统、校准方法、程序和电子设备，由此可以以较低成本执行校准。提供测距系统，其具有：用于发光的光源单元；传感器单元，用于检测从光源单元发射并被目标对象反射的光的反射光；确定单元，用于基于预定的确定条件来确定是否可以将周围对象用作反射对象；以及生成单元，用于在确定可以将周围对象用作反射对象时，基于检测结果来生成用于校正真实测距值和测量值之间的偏移值的校正表，该检测结果作为从光源单元发射到可用作反射对象的目标对象的光的结果而获得，并且其反射光由传感器单元检测。涉及本公开的技术可以被应用于例如包括使用TOF方法的距离图像传感器的测距系统。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】测距系统、校准方法、程序和电子设备
本公开涉及测距系统、校准方法、程序和电子设备，并且具体地涉及各自能够以较低的成本实现校准的测距系统、校准方法、程序和电子设备。
技术介绍
诸如TOF(飞行时间)传感器的测距设备会在距离值的真值(地面实况)与测得的距离(计算得出)之间产生各种偏移。因此，测距设备通常执行校准(例如，参见专利文献1)。引用列表专利文献[PTL1]美国专利申请公开号2009/0020687
技术实现思路
[技术问题]但是，校准需要准备专用于校准的设备以及足够的测量时间。因此，需要以较低的成本实现校准的技术。考虑到上述情况而开发了本公开，并且可以以较低的成本实现校准。[问题的解决方案]根据本公开的一个方面是一种测距系统，测距系统包括：发光的光源单元；传感器单元，检测从光源单元发射并在目标对象上反射的光的反射光；确定单元，基于预定的确定条件，确定周围对象是否可用作反射对象；以及生成单元，在周围对象确定可用作反射对象的情况下，基于由传感器单元对从光源单元施加到能够用作反射对象的目标对象的光的反射光进行检测而获得的检测结果，生成用于校正距离值的真值和测量值之间的偏移值的校正表。根据本公开的一个方面的校准方法是这样的校准方法，其中，控制设备基于预定条件，确定周围对象是否可用作反射对象，并在确定周围对象可用作反射对象的情况下，基于由传感器单元对从所述光源单元施加到能够用作所述反射对象的所述目标对象的所述光的反射光进行检测而获得的检测结果，生成用于校正距离值的真值和测量值之间的偏移值的校正表。根据本公开的一个方面的程序使计算用作：确定单元，基于预定的确定条件，确定周围对象是否可用作反射对象；以及生成单元，在确定周围对象可用作反射对象的情况下，基于由传感器单元对从所述光源单元施加到能够用作所述反射对象的所述目标对象的所述光的反射光进行检测而获得的检测结果，生成用于校正距离值的真值和测量值之间的偏移值的校正表。根据本公开的一个方面的电子设备是包括测距系统的电子设备，该测距系统包括：发光的光源单元；传感器单元，检测从光源单元发射并在目标对象上反射的光的反射光；确定单元，基于预定的确定条件，确定周围对象是否可用作反射对象；以及生成单元，在确定周围对象可用作反射对象的情况下，基于由传感器单元对从所述光源单元施加到能够用作所述反射对象的所述目标对象的所述光的反射光进行检测而获得的检测结果，生成用于校正距离值的真值和测量值之间的偏移值的校正表。根据本公开的一个方面的测距设备、校准方法、程序和电子设备基于预定的确定条件，确定周围对象是否可用作反射对象，以及在确定周围对象可用作反射对象的情况下，基于由传感器单元对从所述光源单元施加到能够用作所述反射对象的所述目标对象的所述光的反射光进行检测而获得的检测结果，生成用于校正距离值的真值和测量值之间的偏移值的校正表。注意，构成根据本公开的一个方面的测距系统的测距设备、控制设备和电子设备中的每一者可以是独立的设备，或者可以是构成一个设备的内部模块。附图说明图1是描绘应用根据本公开的技术的测距设备的配置实例的框图。图2是描绘包括应用根据本公开的技术的测距设备的电子设备的配置实例的框图。图3是描绘控制单元的配置实例的框图。图4是描绘用于校准的校正表的实例的示图。图5是描绘校准的第一实例的示图。图6是描绘校准的第二实例的示图。图7是描绘校准的第三实例的示图。图8是描绘由包括应用根据本公开的技术的测距设备的电子设备执行的校准的第一实例的示图。图9是说明由包括应用根据本公开的技术的测距设备的电子设备执行的校准处理的第一实例的流程的流程图。图10是描绘由包括应用根据本公开的技术的测距设备的电子设备执行的校准的第二实例的示图。图11是说明由包括应用根据本公开的技术的测距设备的电子设备执行的校准处理的第二实例的流程的流程图。图12是描绘由包括应用根据本公开的技术的测距设备的电子设备执行的校准的第三实例的示图。图13是说明由包括应用根据本公开的技术的测距设备的电子设备执行的校准处理的第三实例的流程的流程图。图14是描绘由包括应用根据本公开的技术的测距设备的电子设备执行的校准的第四实例的示图。图15是说明由包括应用根据本公开的技术的测距设备的电子设备执行的校准处理的第四实例的流程的流程图。图16是描绘由包括应用根据本公开的技术的测距设备的电子设备执行的校准的第五实例的示图。图17是说明由包括应用根据本公开的技术的测距设备的电子设备执行的校准处理的第五实例的流程的流程图。图18是描绘应用根据本公开的技术的测距系统的配置实例的框图。图19是示出车辆控制系统的示意性配置的实例的框图。图20是车外信息检测部和成像部的安装位置的实例的示图。具体实施方式在下文中，将参考附图描述根据本公开的技术(本技术)的实施方式。注意，将按照以下顺序进行描述。1.第一实施例2.第二实施例3.第三实施例4.第四实施例5.第五实施例6.第六实施例7.应用于移动体的实例<1.第一实施例>(测距设备的配置实例)图1是描绘应用根据本公开的技术的测距设备的配置实例的框图。例如，图1中的测距设备10被构造为使用TOF(飞行时间)系统的测距图像传感器等。图1中的测距设备10包括控制单元11、光源单元12、传感器单元13和输入/输出单元14。例如，控制单元11包括微型计算机、各种类型的电路单元等。控制单元11用作测距设备10的主处理设备，以用于执行各个单元的操作、各种类型的计算处理等的控制。光源单元12在控制单元11的控制下将光施加到目标对象20。例如，光源单元12能够发射通过矩形脉冲波等调制的光(激光)的调制光(矩形脉冲光)，并且使用能够实现高速调制的设备(例如LED(发光二极管))将调制光施加到目标对象20。当通过光源单元12将光施加到目标对象20时，施加到目标对象20的照射光L1以目标对象20的反射率在目标对象20上反射。如此产生的反射光L2经由透镜(未示出)进入传感器单元13。例如，传感器单元13包含诸如包括CMOS(互补金属氧化物半导体)的固态成像元件的元件。该固态成像元件包括多个像素，每个像素具有光电转换元件并且被二维地布置。控制单元11控制光源单元12和传感器单元13之间的同步。传感器单元13在控制单元11的控制下执行快门操作以对从目标对象20接收的反射光L2成像，并且将成像结果(曝光值)输出到控制单元11。控制单元11通过使用从传感器单元13接收的成像结果(曝光值)来计算与快门操作相对应的曝光值比，并且根据由此获得的计算结果来生成距离信息(距离图像)。例如，当将调制光施加到目标对象20上时，对于每个照射位本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种测距系统，包括：/n发光的光源单元；/n传感器单元，检测从所述光源单元发射并在目标对象上反射的光的反射光；/n确定单元，基于预定的确定条件，确定周围对象是否能用作反射对象；以及/n生成单元，在确定所述周围对象能用作所述反射对象的情况下，基于所述传感器单元对从所述光源单元施加到能够用作所述反射对象的所述目标对象的光的反射光进行检测而获得的检测结果，所述生成单元生成用于校正距离值的真值和测量值之间的偏移值的校正表。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20181010 JP 2018-1913771.一种测距系统，包括：
发光的光源单元；
传感器单元，检测从所述光源单元发射并在目标对象上反射的光的反射光；
确定单元，基于预定的确定条件，确定周围对象是否能用作反射对象；以及
生成单元，在确定所述周围对象能用作所述反射对象的情况下，基于所述传感器单元对从所述光源单元施加到能够用作所述反射对象的所述目标对象的光的反射光进行检测而获得的检测结果，所述生成单元生成用于校正距离值的真值和测量值之间的偏移值的校正表。


2.根据权利要求1所述的测距系统，其中，在设置有所述光源单元和所述传感器单元的一侧的第一表面与任意的所述目标对象所包含的反射率未知的第二表面接触的情况下，所述确定单元能够将所述第二表面用作所述反射对象。


3.根据权利要求2所述的测距系统，其中
所述测距系统安装在电子设备上，以及
当所述电子设备被放置在所述目标对象上并且处于所述电子设备的所述第一表面面向所述目标对象的所述第二表面的状态时，所述确定单元确定所述第二表面能用作所述反射对象。


4.根据权利要求1所述的测距系统，其中，在设置有所述光源单元和所述传感器单元的一侧的第一表面与给定的所述目标对象所包括的反射率已知的第二表面接触或相邻的情况下，所述确定单元确定能够将所述第二表面用作所述反射对象。


5.根据权利要求4所述的测距系统，其中
所述测距系统安装在电子设备上，
给定的所述目标对象包括具有对所述电子设备充电的功能的充电座，以及
当在充电期间将所述电子设备放置在所述充电座上并且处于所述电子设备的所述第一表面面向所述充电座的所述第二表面的状态时，所述确定单元确定所述第二表面能用作所述反射对象。


6.根据权利要求4所述的测距系统，其中
所述测距系统安装在电子设备上，
给定的所述目标对象包括固定至充电器的电缆的连接器的构件，所述充电器能连接至所述电子设备的连接单元，以及
当在充电期间将所述连接器连接到所述电子设备的所述连接单元并且处于所述电子设备的所述第一表面面向所述构件的所述第二表面的状态时，所述确定单元确定所述第二表面能用作所述反射对象。


7.根据权利要求1所述的测距系统，其中，在用户的身体的一部分与所述光源单元和所述传感器单元附近的位置接触或接近的情况下，所述确定单元确定所述用户的所述身体的一部分能用作所述反射对象。


8.根据权利要求7所述的测距系统，其中
所述测距系统安装在电子设备上，以及
当所述用户使所述身体的一部分与所述光源单元和所述传感器单元附近的位置接触以使用由所述电子设备执行的应用时，所述确定单元确定所述用户的所述身体的一部分能用作所述反射对象。


9.根据权利要求1所述的测距系统，其中，在设置有所述光源单元和所述传感器单元的一侧的第一表面面向任意的所述目标对象中包括的反射率未知的第二表面的情况下，所述确定单元确定能够将所述第二表面用作所述反射对象。


10.根据权利要求9所述的测距系统，其中
所述测距系统安装在电子设备上，以及
当所述电子设备被放置在任意的对象上，并且处于所述电子设备的与所述第一表面相对的一侧的第三表面面向所述对象的第四表面的状态，并且处于来自所述光源单元的光适用于所述目标对象的所述第二表面的状...

【专利技术属性】
技术研发人员：前田俊治，
申请(专利权)人：索尼半导体解决方案公司，
类型：发明
国别省市：日本;JP