本发明专利技术公开了一种多板联合测试行动组链路无缝连接方法及装置,用以解决现有技术中存在手动操作较多、不易的问题。本发明专利技术中多个串联单板,各单板包括多个串联器件,各器件至少包括测试数据输出线TDO端和测试数据输入线TDI端;测试控制器与所述多个串联单板串联,用于输出和接收测试信号;第一控制开关连接一个单板与所述测试控制器,并在接收到第一信号时控制该单板与所述测试控制器连通,或者在接收到第二信号时控制该单板与所述测试控制器断开;第二控制开关连接相邻的两级单板,用于在接收到第一信号时控制相邻的两级单板之间的TDI端与TDO端连通,或者在接收到第二信号时控制相邻的两级单板之间的TDI端与TDO端断开。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电子计算机及通信设备领域,特别是多板联合测试行动组(Joint Test Action Group,JTAG)链路无缝连接方法及装置。
技术介绍
随着通信设备硬件成本和复杂度不断增加,通信设备及其单板的可测试性和可维修性显得尤为重要,边界扫描技术(也就是JTAG技术)是一种比较成熟并且被广泛使用的可测性技术,利用边界扫描技术进行测试、加载、故障定位,可以有效地降低单板成本,提高测试质量,缩短产品研发周期。边界扫描的基本思想是在器件内部靠近内核电路的部分输入/输出(I/O)管脚处增加移位寄存器单元和锁存器单元。在测试期间,这些寄存器单元用于控制输入管脚的状态,施加测试激励,并读出输出管脚的状态,取回测试响应。寄存器单元实现类似“虚拟探针”的功能,利用这种思想进行测试。在正常工作期间,这些附加的移位寄存器单元不影响电路的工作。IEEE 1149.1标准将边界扫描测试的硬件单元分成四类测试存取通道(TAP)、TAP控制器、指令寄存器(IR)、测试数据寄存器(TDR)。其中测试存取通道TAP即是能完成边界扫描测试的五个专用引出管脚(也可能只有四个),即测试时钟输入线(TCK),测试模式选择输入线(TMS),测试数据输入线(TDI端口),测试数据输出线(TDO端口),测试复位输入线(TRST#),其中TRST#是可选的。利用这五个管脚就能完成边界扫描测试和编程等功能。为保证单板上所有器件的可测试性,提高边界扫描测试的覆盖率,需要把所有器件的JTAG相关信号连接成一条链路,业界常用的JTAG连接方式为串行连接,就是将所有TRST#、TMS和TCK分别连接在一起,前一级的TDO端口连接到后一级的TDI端口,最后一级的TDO端口连接到JTAG连接器或芯片的TDO端口,如图1所示。目前,高端通信产品采用分布式体系结构,经常把规模较大的单板中某些功能独立出来做成一个规模较小的单板,其中一个单板(如母板)用于实现主要功能,其它单板(如扣板、子卡或子板)必须连接在此单板上才能实现相应的功能,不可独立存在。为支持测试,使母板可以自成一条JTAG链路,以及使母板与扣板或子板构成一条JTAG链路。多个单板JTAG链路连接的方式如图2所示,常用方法有两种电阻选焊和跳线。采用电阻选焊的方式实现多个单板JTAG链路连接,如图3所示,两个单板都有一条单独的JTAG链路,两条JTAG链路采用串行连接,单板1的TDO端口与TDI端口之间串联一个电阻R1,单板1的TDO端口与单板2的TDI端口之间串联一个电阻R2,并且两个单板的TRST#、TMS、TCK信号分别连接在一起。当需要单独测试单板1时,选焊特定的电阻(删除R2,保留R1),保证单板1单独形成一条JTAG链路;当需要同时调试两个单板时,调整选焊电阻(删除R1,保留R2),两个单板组合在一起成为一条JTAG链路。在成品中,保留单板1与单板2之间的R2,删除R1。多个单板JTAG链路连接的电阻选焊与两个单板JTAG链路连接电阻选焊方法相同,假设有m个单板的JTAG链路需要连接,采用串行连接方式,单板1的TDO端口与单板2的TDI端口之间串联电阻R2,单板2的TDO端口与单板3的TDI端口串联电阻R4,......,所有单板的其它三个JTAG信号分别连接在一起,当单板3的JTAG链路与前两个单板的JTAG链路连接时,调整选焊电阻(删除R1、R3,保留R4),以此类推,直到把所有单板的JTAG链路连接在一起,如图4所示。采用跳线的方式实现多个单板JTAG链路连接,如图5所示,两个单板都有一条单独的JTAG链路,两条JTAG链路采用串行链接,单板1的TDO端口与TDI端口之间串联一个跳线帽K1,单板1的TDO端口与单板2的TDI端口之间串联一个跳线帽K2,并且两个单板的TRST#、TMS、TCK信号分别连接在一起。当单板1没有连接单板2时,通过跳线帽K1使单板1的TDO端口和TDI端口短接,保证单板1的JTAG链路完整;单板1与单板2组合时,拿走跳线帽K1,加上跳线帽K2,实现单板1和单板2的JTAG链路的连接。然而,专利技术人在实践过程中发现,上述两种方法需要手工调整单板JTAG链路的连接,如选焊电阻或插拔跳线帽,无法实现根据各个单板的连接情况自动调整JTAG链路的连接,即无缝连接。无法在生产出成品后对单板1进行单独测试。每次调整JTAG链路都需要链路上的所有单板断电,造成单板某段时间内无法正常工作,可能造成通信设备的业务处理能力下降,导致某种业务中断,甚至造成通信设备整体瘫痪,也给单板调试和测试带来很大不便。
技术实现思路
本专利技术提供一种多板联合测试行动组链路无缝连接方法及装置,可以自动调整JTAG链路的连接。本专利技术提供以下技术方案一种单板,包括多个串联器件,各器件至少包括测试数据输出线TDO端口和测试数据输入线TDI端口;第一控制开关,连接所述多个串联器件中的最后一级器件的TDO端口与用于测试的控制器,用于在接收到第一信号时控制所述最后一级器件的TDO端口与所述测试控制器连通,或者,在接收到第二信号时控制所述最后一级器件的TDO端口与所述测试控制器断开。一种单板,包括多个串联器件,各器件至少包括测试数据输出线TDO端口和测试数据输入线TDI端口;第一控制开关,连接所述多个串联器件中的最后一级器件的TDO端口与用于测试的控制器,用于在接收到第一信号时控制所述最后一级器件的TDO端口与所述测试控制器连通,或者,在接收到第二信号时控制所述最后一级器件的TDO端口与所述测试控制器断开; 至少一个连接器,具有TDO端口和TDI端口,用于连接该单板与其它单板;第二控制开关,连接第一级连接器的TDI端口与所述多个串联器件中最后一级器件的TDO端口,用于在接收到第一信号时控制第一级连接器的TDI端口与最后一级器件的TDO端口连通,或者,在接收到第二信号时控制第一级连接器的TDI端口与最后一级器件的TDO端口断开;至少一个第三控制开关,连接所述连接器的TDO端口与所述测试控制器,用于在接收到第一信号时控制所述连接器的TDO端口与所述测试控制器的连通,或者,在接收到第二信号时控制所述连接器的TDO端口与所述测试控制器的断开。一种联合测试行动组链路,包括多个串联的单板,各单板包括多个串联器件,各器件至少包括测试数据输出线TDO端口和测试数据输入线TDI端口;测试控制器,与所述多个串联单板串联,用于输出和接收测试信号;第一控制开关,连接一个单板与所述测试控制器,并在接收到第一信号时控制该单板与所述测试控制器连通,或者,在接收到第二信号时控制该单板与所述测试控制器断开;第二控制开关,连接相邻的两级单板,用于在接收到第一信号时控制相邻的两级单板之间的TDI端口与TDO端口连通,或者,在接收到第二信号时控制相邻的两级单板之间的TDI端口与TDO端口断开。一种多板联合测试行动组链路测试方法,包括步骤产生控制信号并输出到单板上的控制开关,使需要测试的一个或多个单板与用于测试的控制器构成一条串联链路;由所述测试控制器产生测试数据并输出到第一级单板,以及从所述串联链路中的最后一级单板接收数据。本专利技术在JTAG链路中增加三态输出门,通过使能信号控制三态输出门的开关状态来进一步自动调整JTAG链路的连接情况。本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种单板,其特征在于,包括:多个串联器件,各器件至少包括测试数据输出线TDO端口和测试数据输入线TDI端口;第一控制开关,连接所述多个串联器件中的最后一级器件的TDO端口与用于测试的控制器,用于在接收到第一信号时控制所述最后 一级器件的TDO端口与所述测试控制器连通,或者,在接收到第二信号时控制所述最后一级器件的TDO端口与所述测试控制器断开。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:陈松海,廖有清,
申请(专利权)人:华为技术有限公司,
类型:发明
国别省市:94[中国|深圳]
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