开关机自动化测试装置和测试方法制造方法及图纸

一种开关机自动化测试装置和测试方法，所述开关机自动化测试装置包括一微型控制单元、一时钟电路、一侦测电路、一初始化装置及一开关装置。所述开关机自动化测试方法，是设置一可事先写入程序的微型控制单元来自动化测试开关机测试的次数，并通过一显示装置显示所述测试次数。通过应用所述测试装置和测试方法将开关机测试实现自动化操作，减少了人为因素对开关机测试结果的影响，提高了开关机的测试效率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术是关于一种自动化测试装置和测试方法，特别是一种可以对开关机次数进行自动化测试的装置和方法。
技术介绍
开关机正常是一切需要开关启动的装置稳定高效运行的基础，故在诸如系统电源、主板或伺服器等进行正式运行前，必须按照规范要求进行严格的开关机测试以保证运行性能的可靠性和稳定性。主板是个人计算机的主要组件之一，它提供了中央处理器、南桥、北桥芯片组、总线、外围装置数据传输接口等指挥数据传输的重要部件。因此，主板的可靠性以及其与操作系统、个人计算机其它装置间的兼容性为主板产品品质的重要决定因素。按照客户要求，主板的制造商在产品出厂前必须对主板进行兼容性与可靠性测试，在这些测试中，主板电源开关机测试是必不可少的。所谓主板电源开关机测试是指按照不同客户的要求，对主板的电源进行规定次数的开关操作，以测试被测主板在多次开关操作后的启动能力及启动过程中基本输出入程序的运行状况。现有技术对主板电源开关机测试主要通过人工手动测试来完成，即如果开关机测试需要进行1000次，则操作人员一直不停的按主板电源的开关按钮1000次。测试过程中由于多次重复操作，测试人员容易疲劳，易造成误操作；开关机测试时开机与关机之间需延时，待计算机显示器完全熄灭后方可再开机，测试人员每次的延时不可能完全相同，故测试误判率较高；再者，由于待测试机种多，测试时间紧迫，造成人力难以排配，不但耗费时间与人力，还必须配合测试人员的工作时间，影响工作效率。
技术实现思路
鉴于以上内容，有必要提供一种，以减少人为因素对开关机测试结果的影响，提高开关机测试效率。一种开关机自动化测试装置，其包括一微型控制单元、一时钟电路、一侦测电路、一初始化装置及一开关装置；所述微型控制单元设有预定程序；所述时钟电路用来提供所述微型控制单元程序运行所需的时钟信号；所述侦测电路用以侦测一待测设备的开关机状态并将侦测结果输入所述微型控制单元；所述初始化装置用于设定所述开关机自动化测试装置的初始值；所述开关装置由所述微型控制单元的相关程序来控制其状态，以使所述待测设备开机。一种开关机自动化测试方法，其包括对一微型控制单元上电，使所述微型控制单元及与其连接的一时钟电路开始工作；所述微型控制单元通过一侦测电路探知一被测设备关机后，一初始化装置即进行初始化设置；所述微型控制单元运行测试程序，经过一延时时间后，该微型控制单元使一开关装置处于工作状态，则所述被测设备开机；当所述微型控制单元探知所述被测设备开机时，一显示装置自动加一并显示已测试次数；所述被测设备运行自侦测程序并进入操作系统完成一次测试后自行关机；所述微型控制单元比较所述显示装置上的测试次数与设置的测试次数是否相等；及当所述微型控制单元判断显示次数等于设定的测试次数时，一复位装置使所述显示装置复位。上述开关机自动化测试装置及测试方法通过对所述微型控制单元程序化控制来自动完成整个开关机测试，简化了测试过程，提高了工作效率。附图说明下面参照附图结合具体实施方式对本专利技术作进一步的说明。图1是本专利技术开关机自动化测试装置的较佳实施方式的电路框图。图2是本专利技术开关机自动化测试装置的较佳实施方式的具体电路图。图3是本专利技术开关机自动化测试方法的较佳实施方式的流程图。具体实施方式本专利技术的较佳实施方式以一被测主板10的开关机测试为例来说明，请参阅图1，该开关机自动化测试装置100的较佳实施方式包括一微型控制单元20、一时钟电路30、一侦测电路40、一初始化装置50、一显示装置60、一开关装置70及一复位装置80。所述微型控制单元20设有预定程序，用以负责整个测试的顺利进行；所述时钟电路30用来提供所述微型控制单元20程序运行所需的时钟信号；所述侦测电路40用以侦测所述待测主板10的系统电源42的开关状态并将侦测结果输入所述微型控制单元20；所述初始化装置50用于设定该开关机自动化测试装置100的初始值；所述显示装置60由所述微型控制单元20控制以显示开关机的测试次数；所述开关装置70由所述微型控制单元20的相关程序来控制其状态，以使所述待测主板10可循环开机；所述复位装置80与所述微型控制单元20相连，并通过所述微型控制单元20使所述显示装置60复位。请继续参阅图2，所述微型控制单元20包括一小型微机芯片22，所述微机芯片22中事先已写入预定程序，以运行所述自动化开关机测试装置100的预定功能。在本较佳实施方式中，所述微机芯片22的电源引脚VCC直接接至通用串行总线(USB)接口的5V电源接口；其P0.0、P0.1、P0.2......P0.7及VPP引脚分别通过上拉电阻R1、R2、R3......R8及R9接至所述USB 5V电源接口，其接地引脚GND直接接地。所述时钟电路30包括一晶振器32、一第一电容C1及一第二电容C2。所述晶振器32两端分别接至所述微机芯片22的两时钟引脚XTAL1和XTAL2；所述晶振器32与所述微机芯片22的XTAL1时钟引脚相连的一端经所述第一电容C1后接地；所述晶振器32与所述微机芯片22的XTAL2时钟引脚相连的一端经所述第二电容C2后接地。所述侦测电路40包括一第一开关晶体管Q1及一电阻R10，所述第一开关晶体管Q1为NPN型晶体管，其基极经所述电阻R10接至所述待测主板10的系统电源42，其发射极接至所述微机芯片22的P1.1引脚，其集电极接至所述USB 5V电源接口。所述侦测电路40通过侦测所述系统电源42的上电与下电来判定所述被测主板10的开关机状态并把对应信号输入至所述微机芯片22；在该系统电源42上电的情况下，所述微型控制单元20方开始进行开关机自动化测试。所述初始化装置50与所述微机芯片22连接，用于在所述系统电源42上电前设定所述开关机自动化测试的测试次数和开关机之间的延时时间。所述初始化装置50包括一位开关52、一计数开关54。所述位开关52及计数开关54的输入端均接至所述USB 5V电源接口；其输出端分别接至所述微机芯片22的P1.0和P1.1引脚。所述显示装置60与所述微机芯片22连接，在测试过程中及测试结束时，由所述微机芯片22的相关程序控制所述显示装置60来直观显示开关机的测试次数。所述显示装置60包括若干数码管62及若干第二开关晶体管Q2，所述第二开关晶体管Q2为NPN型晶体管。在本较佳实施方式中，有4个所述数码管62及与其分别对应的4个第二开关晶体管Q2来完成显示。所述4个第二开关晶体管Q2的基极分别对应接至所述微机芯片22的引脚P2.0、P2.1、P2.2及P2.3；其发射极分别接至每一对应数码管62的电源引脚VCC；其集电极均直接接至所述USB 5V电源接口。所述每一数码管62的A、B、C......H引脚均分别对应接至所述微机芯片22的P0.0、P0.1、P0.2......P0.7引脚。所述开关装置70与所述微机芯片22连接，由所述微机芯片22的相关程序来控制所述开关装置70循环工作直至完成所述初始化装置50设定的测试次数。所述开关装置70包括一第三开关晶体管Q3及一电阻R11，所述第三开关晶体管Q3为NPN型晶体管。所述第三晶体管Q3的基极经所述电阻R11接至所述微机控制芯片22的P1.3引脚；其发射极直接接地；其集电极与所述被测主板10复位开关的电源跳线相连，当所本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种开关机自动化测试装置，其特征在于：所述开关机自动化测试装置包括一微型控制单元、一时钟电路、一侦测电路、一初始化装置及一开关装置；所述微型控制单元设有预定程序；所述时钟电路用来提供所述微型控制单元程序运行所需的时钟信号；所述侦测电路用以侦测一待测设备的开关机状态并将侦测结果输入所述微型控制单元；所述初始化装置用于设定所述开关机自动化测试装置的初始值；所述开关装置由所述微型控制单元的相关程序来控制其状态，以使所述待测设备开机。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：黄永兆，江武，王辉，
申请(专利权)人：鸿富锦精密工业深圳有限公司，鸿海精密工业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]