投影机装置以及其控制方法、以及记录介质制造方法及图纸

提供即便从投影机装置的投影部到投影面的距离增大，也能够抑制投影图像的亮度的降低，并且确保对于用户的安全性的投影机装置。投影机装置包括：投影部，将图像投影到被投影物体；测距部，测量从所述投影部的射出端到所述被投影物体的距离；以及控制部(24)，通过所述测距部测量的距离为既定距离以下的情况，在将投影光的亮度设定为一定的既定值，通过所述测距部测量的距离为比既定距离大的情况，以不超过与所述测量的距离对应的投影光的设定亮度的方式，使所述投影光的亮度增大。

【技术实现步骤摘要】
投影机装置以及其控制方法、以及记录介质
本专利技术是关于投影机装置、投影机装置的控制方法、程序、以及、记录介质。
技术介绍
以往，在投影装置领域中，已知下述的技术。在投影机的投影部的投射口附近，投影光的每单位面积的光强度强。因此，要求对用户的安全性的进一步的强化。因此，在投影机设置测距部，测量从投影部的投射口到被测量物的距离，其在安全距离以下判断为非安全区域。在被测量物位于非安全区域的情况，调暗或关闭投影光(专利文献1)。另外，近年来，开发了将投影机使用在投影映射(projectionmapping)的技术。若来自投影机的投影光的光轴与投射面不成为垂直，则由于在投射面的影像扭曲，因此进行扭曲补正。具体而言，计算到投射面的距离，进行影像的扭曲补正(专利文献2)。现有技术文献专利文献专利文献1：日本公开特许公报“特开2014-174194号”(2014年9月22日公开)专利文献2：日本公开特许公报“特开2019-20439号”(2019年2月7日公开)
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题然而，在专利文献1，若从投影机的投影部到被测量物的距离增大，则虽然投影图像扩大，但此时，有所谓投影图像的每单位面积的亮度降低的问题。另外，在专利文献2中，在投影映射中，由于到投射面的距离小的部分与到投射面的距离大的部分每单位面积的投影图像的亮度不同，有所谓投影图像的亮度不平均的问题。对于这些问题，若增大投影机的投影部的亮度，则有投影光对用户的安全性造成影响的可能性。本专利技术的一方案的目的是：提供即便从投影机装置的投影部到投影面的距离增大，也能够抑制投影图像的亮度的降低，并且确保对于用户的安全性的投影机装置。解决问题的方案为了解决上述的课题，本专利技术的一方案的投影机装置包括：投影部，将图像投影到被投影物体；测距部，测量从所述投影部的射出端到所述被投影物体的距离；以及控制部，在通过所述测距部测量的距离为既定距离以下的情况，将投影光的亮度设定为一定的既定值，在通过所述测距部测量的距离比既定距离大的情况，以不超过与所述测量的距离对应的投影光的设定亮度的方式，使所述投影光的亮度增大。为了解决上述的课题，在本专利技术的一方案的投影机装置的控制方法中，包含：投影工序，将图像投影到被投影物体；测距工序，测量从被使用在所述投影工序的投影部的射出端到所述被投影物体的距离；以及控制工序，以在所述测距工序中测量的距离为既定距离以下的情况，将投影光的亮度设定为一定的既定值，在所述测距工序中测量的距离比既定距离大的情况，不超过与所述测量的距离对应的投影光的设定亮度的方式，使所述投影光的亮度增大。专利技术效果根据本专利技术的一方案，即便从投影机装置的投影部到投影面的距离增大，也能够抑制投影图像的亮度的降低，并且确保对于用户的安全性。附图说明图1是表示本专利技术的实施方式1的投影机装置的向被投影物体的投影的图。图2是表示图1的投影机装置的要部的模块图。图3是表示投影部的亮度相对于从图1的投影机装置的投影部到被投影物体的距离的关系的图。图4是表示本专利技术的实施方式2的投影机装置的向被投影物体的投影的图。图5是表示本专利技术的实施方式3的投影机装置的向被投影物体的投影的图。图6是表示本专利技术的实施方式4的投影机装置的向被投影物体的投影的图。图7是表示本专利技术的实施方式5的投影机装置的向被投影物体的投影的图。图8是表示本专利技术的实施方式6的投影机装置的向被投影物体的投影的图。具体实施方式(参考技术以及初步的构成例)在针对本案专利技术的一方式进行具体的说明前，作为上述的
技术介绍
的补充，针对参考技术以及初步的构成进行说明。在通过投影部将图像投影到被投影物体的投影机装置中，需要从投影机的投影光中确保用户的安全性。为此，在国际电气标准会议(IEC：InternationalElectrotechnicalCommission)中已制定安全等级的标准。以此标准为基础，在离投影部的射出端一定的距离设置评价用的检测器。以其光输出成为在各等级制定的最大被辐射发射基准以下的方式设定投影部的光输出，据此而设定投影机的投影部的亮度。通常的情况，此投影机的投影部的亮度不会相对于从投影部到被投影物体的距离而变化，被设定成固定。[实施方式1]针对本专利技术的一实施方式，基于图1～图3详细地进行说明。另外，本实施方式是表示用以具体化本专利技术的概念的实施方式，本专利技术不限定为本实施方式以及下述的各实施方式。图1是表示本实施方式的投影机装置的向被投影物体3的投影的图。如图1所示，来自投影机装置的投影部1的射出端的投影光2被投影在被投影物体3。测量从投影部1的射出端到被投影物体3的距离L1的测距部4(测距传感器20)被内置在投影部1。此外，被投影物体3的投影面几乎垂直地被配置在投影光2的光轴。另外，被投影物体3的投影面为平坦的面。图2是表示图1的投影机装置的要部(投影部1)的模块图。如图2所示，投影机装置主要包括收纳各种的光学模块以及测距传感器的箱体10、激光驱动器25、控制投影机装置整体的控制部24。具体来说，在投影部1内置有测距部4(测距传感器20)。在本实施方式中，投影部1构成通过激光的扫描而投影图像的激光光束扫描方式的投影机装置的一部分。被收纳在箱体10内的光学模块包括：红色激光射出器11、第一准直透镜(collimatorlens)12、绿色激光射出器13、第二准直透镜14、蓝色激光射出器15、第三准直透镜16、第一分束器(beamsplitter)17、第二分束器18、在水平方向以及/或垂直方向的两轴方向可移动的MEMS(MicroElectroMechanicalSystem)镜19。激光驱动器25包括：红色激光控制部21、绿色激光控制部22、蓝色激光控制部23，通过被红色激光控制部21控制的功率，红色激光射出器11射出红色激光，通过被绿色激光控制部22控制的功率，绿色激光射出器13射出绿色激光，通过被蓝色激光控制部23控制的功率，蓝色激光射出器15射出蓝色激光。从红色激光射出器11射出的红色激光通过第一准直透镜12而成为平行光，通过第一分束器17、第二分束器18而入射到MEMS镜19。从绿色激光射出器13射出的绿色激光通过第二准直透镜14而成为平行光，被第一分束器17反射，通过第二分束器18而入射到MEMS镜19。从蓝色激光射出器15射出的蓝色激光通过第三准直透镜16而成为平行光，被第二分束器18反射而入射到MEMS镜19。入射到MEMS镜19的红色激光、绿色激光、蓝色激光的光轴是以一致的方式被光学地对准，通过控制部24使MEMS镜19扫描，由此能够将图像投影到被投影物体。在此，虽然不特别图示，但投影机装置所包括的图像处理部将从外部输入的图像数据转换处理成红色(R)、绿色(G)、以及蓝色(B)的三色的数据本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种投影机装置，其特征在于，包括：/n投影部，将图像投影到被投影物体；/n测距部，测量从所述投影部的射出端到所述被投影物体的距离；以及/n控制部，在通过所述测距部测量的距离为既定距离以下的情况下，将投影光的亮度设定为一定的既定值，在通过所述测距部测量的距离为比既定距离大的情况，以不超过与所述测量的距离对应的投影光的设定亮度的方式，使所述投影光的亮度增大。/n

【技术特征摘要】
20191108 JP 2019-2034491.一种投影机装置，其特征在于，包括：
投影部，将图像投影到被投影物体；
测距部，测量从所述投影部的射出端到所述被投影物体的距离；以及
控制部，在通过所述测距部测量的距离为既定距离以下的情况下，将投影光的亮度设定为一定的既定值，在通过所述测距部测量的距离为比既定距离大的情况，以不超过与所述测量的距离对应的投影光的设定亮度的方式，使所述投影光的亮度增大。


2.根据权利要求1所述的投影机装置，其特征在于，
所述测距部测量到所述被投影物体的各部分的距离；
所述控制部以使比所述测距部所测量的所述既定距离大的部分的所述投影光的亮度不超过所述投影光的设定亮度的方式增大。


3.根据权利要求1或2所述的投影机装置，其特征在于，
所述既定距离为300mm以上并且400mm以下。


4.根据权利要求1至3中任一项所述的投影机装置，其特征在于，
由所述控制部所致的，使与比所述既定距离大的距离对应的所述投影光的亮度增大的增大率为0.02流明/mm以上并且0.03流明/mm以下。


5.根据权利要求1至4中任一项所述的投影机装置，其特征在于，
所述控制部将比通过所述测距部测量的所述既定距离大的距离所对应的每段距离的投影光的设定亮度设定为比该距离处的所述设定亮度大的最大容许亮度的90％。


6.根据权利要求1至5中...

【专利技术属性】
技术研发人员：松本晃广，藤井宪晃，森田隆敏，山泽贤悟，
申请(专利权)人：夏普福山半导体株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP