绑定异常的测试及修复方法、装置、电子设备、存储介质制造方法及图纸

本公开涉及显示技术领域，具体是关于一种绑定异常的测试及修复方法、装置、电子设备、存储介质，所述覆晶薄膜连接显示面板和电路板，所述方法包括：获取覆晶薄膜绑定区的群阻抗，所述绑定区的群阻抗为所述绑定区内的绑定点串联和/或并联的阻值；当所述绑定区的群阻抗位于第一预设阈值范围之外时，确定所述覆晶薄膜绑定异常；获取绑定子区的群阻抗，并且根据所述绑定子区的群阻抗确定所述异常绑定子区，所述绑定子区为对所述绑定区分区所得到的区域，所述绑定子区的群阻抗为所述绑定子区内的绑定点串联和/或并联的阻值。能够检测确定覆晶薄膜绑定异常区域。

【技术实现步骤摘要】
绑定异常的测试及修复方法、装置、电子设备、存储介质
本公开涉及显示
，具体而言，涉及一种绑定异常的测试及修复方法、装置、电子设备、存储介质。
技术介绍
显示面板可以通过覆晶薄膜(COF，ChipOnFilm)和显示面板绑定。覆晶薄膜和显示面板连接的区域以及和电路板连接的区域被称为绑定区。目前，由于显示面板的形态越来越多，比如用于屏下摄像的显示面板，用于屏下摄像的显示面板其驱动电路层的布线方式和常规显示面板不同，因此在覆晶薄膜绑定和封装时容易产生绑定缺陷，从而影响显示面板的显示效果。因此亟需一种绑定异常的测试方法，对覆晶薄膜绑定缺陷进行测试。
技术实现思路
本公开的目的在于提供一种绑定异常的测试及修复方法、装置、电子设备、存储介质，进而能够对覆晶薄膜的绑定异常进行测试。根据本公开的第一方面，提供一种绑定异常的测试方法，用于覆晶薄膜，所述覆晶薄膜连接显示面板和电路板，所述方法包括：获取覆晶薄膜绑定区的群阻抗，所述绑定区的群阻抗为所述绑定区内的绑定点串联和/或并联的阻值；当所述绑定区的群阻抗位于第一预设阈值范围之外时，确定所述覆晶薄膜绑定异常；获取绑定子区的群阻抗，并且根据所述绑定子区的群阻抗确定所述异常绑定子区，所述绑定子区为对所述绑定区分区所得到的区域，所述绑定子区的群阻抗为所述绑定子区内的绑定点串联和/或并联的阻值。根据本公开的第二方面，提供一种绑定异常的测试装置，其特征在于，用于覆晶薄膜，所述覆晶薄膜连接显示面板和电路板，所述绑定异常的测试装置包括：第一获取模块，用于获取覆晶薄膜绑定区的群阻抗，所述绑定区的群阻抗为所述绑定区内的绑定点串联和/或并联的阻值；第一确定模块，用于当所述绑定区的群阻抗位于第一预设阈值范围之外时，确定所述覆晶薄膜绑定异常；第二确定模块，用于获取绑定子区的群阻抗，并且根据所述绑定子区的群阻抗确定所述异常绑定子区，所述绑定区包括多个绑定子区，所述绑定子区的群阻抗为所述绑定子区内的绑定点串联和/或并联的阻值。根据本公开的第三方面，提供一种绑定异常的修复方法，其特征在于，用于覆晶薄膜，所述覆晶薄膜连接显示面板和电路板，所述方法包括：获取覆晶薄膜绑定区的群阻抗，所述绑定区的群阻抗为所述绑定区内的绑定点串联和/或并联的阻值；当所述绑定区的群阻抗位于第一预设阈值范围之外时，确定所述覆晶薄膜绑定异常；获取绑定子区的群阻抗，并且根据所述绑定子区的群阻抗确定所述异常绑定子区，所述绑定区包括多个绑定子区，所述绑定子区的群阻抗为所述绑定子区内的绑定点串联和/或并联的阻值；对所述异常绑定子区进行绑定修复。根据本公开的第四方面，提供一种绑定异常的修复装置，用于覆晶薄膜，所述覆晶薄膜连接显示面板和电路板，所述绑定异常的修复装置包括：第一获取模块，用于获取覆晶薄膜绑定区的群阻抗，所述绑定区的群阻抗为所述绑定区内的绑定点串联和/或并联的阻值；第一确定模块，用于当所述绑定区的群阻抗位于第一预设阈值范围之外时，确定所述覆晶薄膜绑定异常；第二确定模块，用于获取绑定子区的群阻抗，并且根据所述绑定子区的群阻抗确定所述异常绑定子区，所述绑定区包括多个绑定子区，所述绑定子区的群阻抗为所述绑定子区内的绑定点串联和/或并联的阻值；修复模块，用于对所述异常绑定子区进行绑定修复。根据本公开的第五方面，提供一种电子设备，包括处理器；以及存储器，所述存储器上存储有计算机可读指令，所述计算机可读指令被所述处理器执行时实现根据上述任意一项所述的方法。根据本公开的第六方面，提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现根据上述任意一项所述的方法。本公开实施例提供的绑定异常的测试方法，当绑定区的群阻抗位于第一预设阈值范围之外时，确定覆晶薄膜绑定异常，然后通过分区确定绑定异常的绑定子区，实现了对覆晶薄膜异常的检测，并能够确定具体的异常区域，从而能够为绑定异常修复提供指导，有利于绑定异常的修复。应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本公开。附图说明通过参照附图来详细描述其示例实施例，本公开的上述和其它特征及优点将变得更加明显。图1为本公开示例性实施例提供的一种屏下摄像显示屏的示意图；图2为本公开示例性实施例提供的一种屏下摄像显示屏的剖视图；图3为本公开示例性实施例提供的一种绑定异常的测试方法的流程图；图4为本公开示例性实施例提供的另一种绑定异常的测试方法的流程图；图5为本公开示例性实施例提供的一种数据信号充电示意图；图6为本公开示例性实施例提供的一种绑定异常的测试装置的框图；图7为本公开示例性实施例提供的一种绑定异常的修复方法的流程图；图8为本公开示例性实施例提供的一种绑定异常的修复装置的框图；图9为本公开示例性实施例提供的一种电子设备的示意图；图10为本公开示例性实施例提供的一种计算机可读存储介质的示意图。具体实施方式现在将参考附图更全面地描述示例实施例。然而，示例实施例能够以多种形式实施，且不应被理解为限于在此阐述的实施例；相反，提供这些实施例使得本公开将全面和完整，并将示例实施例的构思全面地传达给本领域的技术人员。在图中相同的附图标记表示相同或类似的部分，因而将省略对它们的重复描述。此外，所描述的特征、结构或特性可以以任何合适的方式结合在一个或更多实施例中。在下面的描述中，提供许多具体细节从而给出对本公开的实施例的充分理解。然而，本领域技术人员将意识到，可以实践本公开的技术方案而没有所述特定细节中的一个或更多，或者可以采用其它的方法、组元、材料、装置、步骤等。在其它情况下，不详细示出或描述公知结构、方法、装置、实现、材料或者操作以避免模糊本公开的各方面。附图中所示的方框图仅仅是功能实体，不一定必须与物理上独立的实体相对应。即，可以采用软件形式来实现这些功能实体，或在一个或多个软件硬化的模块中实现这些功能实体或功能实体的一部分，或在不同网络和/或处理器装置和/或微控制器装置中实现这些功能实体。屏下摄像技术通过在显示面板上设置透光区实现光线通过透光区进入设置在显示面板下的摄像头，如此避免了在显示面板上开孔，能够提高电子设备的屏占比。如图1所示，用于屏下摄像的显示面板包括常规显示区11、过渡区12和透光区13，过渡区12设置于透光区13和常规显示区11之间。比如，过渡区12可以环绕透光区13，常规显示区11环绕过渡区12。其中，透光区13的像素密度小于常规显示区11的像素密度，过渡区12的像素密度可以和常规显示区11相同，或者过渡区12的像素密度可以沿从透光区到常规显示区11的方向渐变。比如，常规显示区11中像素单元的排布方式可以是标准RGB、Delta排列、Pentile排列等方式，像素密度可以是403ppi。过渡区12和透光区13本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种绑定异常的测试方法，其特征在于，用于覆晶薄膜，所述覆晶薄膜连接显示面板和电路板，所述方法包括：/n获取覆晶薄膜绑定区的群阻抗，所述绑定区的群阻抗为所述绑定区内的绑定点串联和/或并联的阻值；/n当所述绑定区的群阻抗位于第一预设阈值范围之外时，确定所述覆晶薄膜绑定异常；/n获取绑定子区的群阻抗，并且根据所述绑定子区的群阻抗确定所述异常绑定子区，所述绑定子区为对所述绑定区分区所得到的区域，所述绑定子区的群阻抗为所述绑定子区内的绑定点串联和/或并联的阻值。/n

【技术特征摘要】
1.一种绑定异常的测试方法，其特征在于，用于覆晶薄膜，所述覆晶薄膜连接显示面板和电路板，所述方法包括：
获取覆晶薄膜绑定区的群阻抗，所述绑定区的群阻抗为所述绑定区内的绑定点串联和/或并联的阻值；
当所述绑定区的群阻抗位于第一预设阈值范围之外时，确定所述覆晶薄膜绑定异常；
获取绑定子区的群阻抗，并且根据所述绑定子区的群阻抗确定所述异常绑定子区，所述绑定子区为对所述绑定区分区所得到的区域，所述绑定子区的群阻抗为所述绑定子区内的绑定点串联和/或并联的阻值。


2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取覆晶薄膜绑定区的群阻抗，包括：
获取第一绑定区的群阻抗，所述第一绑定区为所述覆晶薄膜和显示面板绑定的区域；
获取第二绑定区的群阻抗，所述第二绑定区为所述覆晶薄膜和电路板绑定的区域。


3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取绑定子区的群阻抗，并且根据所述绑定子区的群阻抗确定所述异常绑定子区，包括：
获取绑定子区的群阻抗，并根据绑定子区的群阻抗确定异常绑定子区，所述绑定子区为对所述绑定区进行分区得到的区域；
获取下一级绑定子区的群阻抗，并根据下一级绑定子区的群阻抗确定下一级异常绑定子区，直至绑定子区不能分区，所述下一级绑定子区为对所述异常绑定子区分区得到的区域。


4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述获取绑定子区的群阻抗，并根据绑定子区的群阻抗确定异常绑定子区，包括：
对所述绑定区进行均匀分区得到多个一致的绑定子区，并获取每个绑定子区的群阻抗；
当所述绑定子区的群阻抗位于第二预设阈值范围之外时，确定所述绑定子区为异常绑定子区。


5.如权利要求4所述的方法，其特征在于，当所述绑定子区的群阻抗位于第二预设阈值范围之外时，确定所述绑定子区为异常绑定子区，包括：
当任一绑定子区的群阻抗和多个绑定子区的群阻抗的众数不一致，确定所述绑定子区为异常绑定子区。


6.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述获取下一级绑定子区的群阻抗，并根据下一级绑定子区的群阻抗确定下一级异常绑定子区，直至绑定子区不能分区，包括：
分区步骤：对上一级绑定子区进行分区得到多个下一级绑定子区，并获取下一级绑定子区的群阻抗；
确定步骤，当所述下一级绑定子区的群阻抗位于对应的预设阈值之外时，确定所述下一级绑定子区为异常下一级绑定子区；
重复分区步骤和确定步骤，直至绑定子区包括一条导线。


7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，所述当所述下一级绑定子区的群阻抗位于对应的预设阈值之外时，确定所述下一级绑定子区为异常下一级绑定子区，包括：
当任一所述下一级绑定子区的群阻抗和多个所述下一级绑定子区的...

【专利技术属性】
技术研发人员：李志林，
申请(专利权)人：OPPO广东移动通信有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44