【技术实现步骤摘要】
用于确定至少一个用于补偿对传感器系统的测量值的温度影响的温度补偿参数的方法
本专利技术涉及一种用于确定至少一个用于补偿对传感器系统的测量值的温度影响的温度补偿参数的方法。此外,本专利技术还涉及一种MEMS传感器系统,其构成为实施该方法。
技术介绍
已知传感器系统、特别是MEMS传感器系统的传感器面的连续微型化导致如下技术挑战:例如微控制器集成到传感器系统中用于覆盖不同的应用情景,或者传感器测量结果的温度限定的偏移和敏感度不准确性的构件个体的校正。传感器单元的温度影响可以导致传感器单元的测量结果的温度限定的不准确性。当前,这样的不准确性可以通过利用适合的参考传感器系统的测量结果——其用作参考值——对于个别的温度支撑点对相应的传感器系统的测量结果进行调整来校正。这样的利用参考传感器系统的调整但是忽视了个体因素的影响,例如各个传感器系统的制造限定的个体的特征,其可以导致附加的测量不准确性。成本限定地,在工厂中制造期间仅仅可以对于个别的温度支撑点进行当前用于校正温度限定的测量不准确性的测量。对于仅仅个别的温度支撑点的这样的测量然而不足以实现全面校正。因此存在温度限定的测量不准确性的、个体的和可匹配于各个系统的校正的必要性,其基于个体的因素和大量温度支撑点的考虑符合对当前传感器系统的要求。
技术实现思路
本专利技术基于的目的可以视为在于,提供一种用于适应地补偿对传感器系统的测量值的温度影响的有效的方法和相应的传感器系统,该传感器系统构成为实施这样的方法。该目的借助根据 ...
【技术保护点】
1.一种用于确定至少一个温度补偿参数的方法(100),所述至少一个温度补偿参数用于补偿对传感器系统(800)的测量值的温度影响,其中,所述传感器系统(800)至少包括:/na.传感器单元(803),所述传感器单元用于检测传感器测量参量(X)的测量值(XV);/nb.温度传感器单元(805),所述温度传感器单元用于检测所述传感器单元(803)的温度(TV);/nc.信号处理单元(807),所述信号处理单元用于确定至少一个温度补偿参数和用于补偿对所述传感器单元(803)的测量值(XV)的温度影响;/n其中,所述方法包括:/no对所述传感器单元(803)的测量情况进行监测(101),且确定当前的测量情况是否相应于如下的参考测量情况:对于所述参考测量情况,所述传感器测量参量(X)的至少一个参考测量值是已知的;/no对所述传感器单元(803)的温度(TV)进行监测(103),且确定当前的温度是否处在预先确定的温度范围(TR2)内;/no在所述预先确定的温度范围(TR2)内检测(105)至少两个不同的温度值(TV1,TV2),且如果所述当前的测量情况相应于参考测量情况,那么检测所述传感器测量参量( ...
【技术特征摘要】
20191111 DE 102019217333.01.一种用于确定至少一个温度补偿参数的方法(100),所述至少一个温度补偿参数用于补偿对传感器系统(800)的测量值的温度影响,其中,所述传感器系统(800)至少包括:
a.传感器单元(803),所述传感器单元用于检测传感器测量参量(X)的测量值(XV);
b.温度传感器单元(805),所述温度传感器单元用于检测所述传感器单元(803)的温度(TV);
c.信号处理单元(807),所述信号处理单元用于确定至少一个温度补偿参数和用于补偿对所述传感器单元(803)的测量值(XV)的温度影响;
其中,所述方法包括:
o对所述传感器单元(803)的测量情况进行监测(101),且确定当前的测量情况是否相应于如下的参考测量情况:对于所述参考测量情况,所述传感器测量参量(X)的至少一个参考测量值是已知的;
o对所述传感器单元(803)的温度(TV)进行监测(103),且确定当前的温度是否处在预先确定的温度范围(TR2)内;
o在所述预先确定的温度范围(TR2)内检测(105)至少两个不同的温度值(TV1,TV2),且如果所述当前的测量情况相应于参考测量情况,那么检测所述传感器测量参量(X)的所属的相应的测量值(XV1,XV2);
o基于所述传感器测量参量(X)的至少一个参考测量值、所述至少两个不同的温度值(TV1,TV2)和所述传感器测量参量(X)的所属的测量值(XV1,XV2)确定(107)至少一个温度补偿参数(TC)。
2.根据权利要求1所述的方法,其中,借助如下的至少一个另外的传感器构件和/或借助如下的电路装置对测量情况进行监测:所述至少一个另外的传感器构件和/或所述电路装置是所述传感器系统的组成部分或是与所述传感器系统安装在一起的设备的组成部分。
3.根据权利要求1或2所述的方法,其中,在所述至少两个不同的温度值(TV1,TV2)之间的差大于预给定的阈值ΔT。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的方法,其中,所述至少一个温度补偿参数(TC)确定为如下的模型的模型参数:所述模型用于描述对所述传感器测量参量(X)的温度影响,从而基于所述模型对于任意的温度值(TV)能够确定用于在所述温度值(TV1)下检测的测量值(MV)的温度补偿参量。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的方法,其中,所述至少一个温度补偿参数(TC)确定为如下的函数的系数和/或常数:所述函数描述在所述预先确定的温度范围(TR2)内在参考测量情况下在温度与所述传感器测量参量(X)之间的函数关系,从而基于所述函数对于任意的温度值(TV)能够确定用于在所述温度值(TV)下检测的测量值(MV)的温度补偿参量。
6.根据上述权利要求中任一项所述的方法(100),其中,对所述信号处理单元和/或对所述传感器系统的至少一个另外的构件进行有针对性地操控,以便将所述传感器单元(803)加热和/或冷却到在所述预先确定的温度范围(TR2)内的至少一个第一温度值和/或至少一个第二温度值(TV1,TV2)且对所述传感器测量参量(X)的所属的相应的测量值(XV1,XV2)进行检测。
7.根据上述权利...
【专利技术属性】
技术研发人员:HP·布吕克纳,
申请(专利权)人:罗伯特·博世有限公司,
类型:发明
国别省市:德国;DE
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