输入装置制造方法及图纸

技术编号:2841067 阅读:129 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术的目的是为了提供一种输入装置,可使在被划分为多个检测区域中设置的X电极和Y电极由共通的X、Y驱动器驱动,通过简单的电路构成,可检测各检测区域操作部的坐标。通过共通的X驱动器同时选择第1检测区域的X电极(X1)至(X6)、第2检测区域X的电极(X11)至(X16),并赋予电位,通过共通的Y驱动器同时选择第1检测区域的Y电极(Y1)至(Y8)和第2检测区域的Y电极(Y11)至(Y18)并赋予电位。在第1检测区域设置第1检测电极(S1),在第2检测区域设置第2检测电极(S2)。其结果,可识别手指接触了第1检测区域还是第2检测区域,并可得到每个区域的手指接触位置的坐标信息。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种输入装置,可以根据电极之间静电场的变化检测操作体接近的位置,特别涉及被区分为多个检测区域的输入装置。
技术介绍
在下述的专利文献1中,公开了一种多根X电极和Y电极排列成矩阵状的静电电容方式的坐标输入装置。在该坐标输入装置中,在玻璃基板的一面上排列有多根X电极,并在另一面排列有多根Y电极,X电极和Y电极通过玻璃基板被配设排列成矩阵状,并且在各个X电极与其下方的各个Y电极之间形成设定的静电电容。通过控制部,使各个X电极成为与发送电路可以连接的状态,使各个Y电极成为导通状态,并对各个X电极和Y电极施加设定的电位。在该状态下,当手指等按压坐标输入装置时,X电极与Y电极之间的静电场发生变化,对应于该静电场的变化的电压变化被从各个Y电极输出。从各个Y电极输出的电压变化,通过A/D变换单元等被读入控制部。控制部中设置的电压检测单元,可以根据从A/D变换单元输出的数据,能够特定接近的X电极与Y电极的静电场变化处,并可检测到被手指等按压处的位置信息。专利文献1日本特开平8-137607号公报在上述静电电容方式的输入装置中,由于需要将被手指等按压的位置作为X-Y坐标上的位置进行高精度的检测,因此不可以使相邻的X电极的间隔、和相邻的Y电极的间隔太大。例如,当使相邻的X电极的间隔比手指接触操作面时的接触面积大很多时,在便手指接触相邻的X电极的中间位置时等,不能高精度地检测X电极与Y电极之间的静电场的变化,特定手指接触的位置变得困难。因此,为了使输入装置的检测区域的面积变大,需要对应于该面积的增加来增加X电极的数量和Y电极的数量,并且由于需要对增加的X电极按顺序地赋予电位,并对增加的Y电极按顺序地赋予电位,因此,使用于对各个电极赋予电位的驱动电路的构成变得复杂。并且,例如在便携式电话机等的信息终端机器的多个区域,当要设置可以检测手指等的接触的检测区域时,在每个区域中,不仅会产生需要将具有X电极和Y电极的基板单个地进行设置,而且对每个基板,还单个地需要对X电极和Y电极分别赋予电位用的驱动电路。在具备与多个检测区域的每个对应的驱动电路的情况下,在小型机器内搭载的电路的数量增加,并且用于对每个驱动电路进行单个控制的控制电路的构成也变得复杂。
技术实现思路
本专利技术是解决上述现有问题的,其目的在于提供一种输入装置,可以简单地构成对多个检测区域的X电极和Y电极赋予电位的驱动电路,并且可以在多个检测区域对操作体接触的位置进行高精度检测,或者可以使用简单构成的驱动电路,在较大面积上可对操作体的接近位置进行检测。本专利技术的第1方式的特征在于具有多个检测区域,并在每个检测区域中设置相互绝缘并正交的X电极和Y电极,还设有选择多个检测区域的X电极并赋予电位的X驱动器;选择多个检测区域的Y电极并赋予电位的Y驱动器;在每个检测区域中相互独立的检测电极,被赋予电位的X电极与检测电极之间的静电场的变化、以及被赋予电位的Y电极与检测电极之间的静电场的变化,通过上述检测电极,对每个检测区域单个地进行检测。在本专利技术的第1方式中,例如在至少1个检测区域分别设置多根X电极和Y电极。本专利技术的第2方式的特征在于至少具有第1检测区域和第2检测区域,并且在第1检测区域设置相互绝缘并正交的多个X电极和Y电极,在第2检测区域设置X电极和Y电极任意一方,还具有X驱动器和Y驱动器,所述X驱动器选择上述第1检测区域的X电极并赋予电位,所述Y驱动器选择上述第1检测区域的Y电极并赋予电位,设置在上述第2检测区域的X电极由上述X驱动器被赋予电位,或者设置在上述第2检测区域的Y电极由上述Y驱动器被赋予电位,在上述第1检测区域和上述第2检测区域设置相互独立的检测电极,在上述第1检测区域,检测被赋予电位的X电极与检测电极之间的静电场的变化、以及被赋予电位的Y电极与检测电极之间的静电场的变化,在上述第2检测区域,检测被赋予电位的X电极与检测电极之间的静电场的变化、或者被赋予电位的Y电极与检测电极之间的静电场的变化。在本专利技术的第2方式中,例如在上述第1检测区域分别设置多根X电极和Y电极。在上述本专利技术的输入装置中,设置在不同检测区域的X电极或Y电极,通过共通的X驱动器或共通的Y驱动器被选择并被赋予电位。通过共通的驱动电路,即共通的X驱动器或共通的Y驱动器,可以对不同的检测区域的X电极和Y电极选择性地赋予电位,另一方面,由于在每个检测区域中单个地设置检测电极,因此通过对该检测电极、与所选择的X电极或Y电极之间的电压变化进行检测,而接近作为导电体的手指等的操作体接近哪个检测区域(接触哪个检测区域),进而能够检测接近该检测区域内的哪个坐标位置。本专利技术通过上述X驱动器,同时选择不同检测区域的任意X电极并赋予电位。或者,通过上述Y驱动器,同时选择不同检测区域的任意Y电极并赋予电位。这样,通过共通的X驱动器,同时选择不同检测区域的X电极(一个检测区域的任意X电极,及其他检测区域的任意X电极),或者通过共通的Y驱动器,同时选择不同检测区域的Y电极(一个检测区域的任意Y电极,和其他检测区域的任意Y电极),当为上述构成时,可以使X驱动器的电极选择极数、和Y驱动器的电极选择极数比电极的总数少,并可以使电路构成简单。上述本专利技术可以构成为,具有在每个检测区域独立的基板或者在检测区域之间连续的基板,并且X电极设置在上述基板的一个面上、Y电极设置在上述基板的另一个面上,每个检测电极设置在上述一个面或另一个面上。在多个检测区域形成相互独立的基板时,可以将检测区域分开设置在相同机器的不同处。在多个检测区域使用共通的基板时,可以将多个检测区域设置在相互接近的位置,或者可以将多个检测区域作为相互连续的操作区域来使用,结果可以将使用手指等进行操作的检测区域实质地扩大。并且,本专利技术设置有数据处理部,其是由被赋予电位的X电极与检测电极之间的静电场的变化、和被赋予电位的Y电极与检测电极之间的静电场的变化,生成作为导电体的操作体接近的检测区域、以及在所述检测区域内的上述操作体接近的位置信息。此时,优选设置切换部,其是按顺序选择分别独立设置于每个检测区域的检测电极,并使其与上述数据处理部连接。当按顺序切换单个设置于每个检测区域的检测电极、并使其与数据处理部连接时,使用共通的数据处理部,可以对在多个检测区域的手指等的接触位置进行检测。此时,由于在数据处理部检测出1个检测电极的电位变化即可,因此可以简单地构成数据处理部。但是,在本专利技术中也可以将分别设置在多个检测区域单个上的检测电极与共通的数据处理部连接,并在该数据处理部检测所有检测电极的电压变化,其结果,可以对手指等接触了哪个检测区域进行检测。本专利技术可以构成为,不同检测区域的X电极彼此相连,或者不同检测区域的Y电极彼此相连。在不同检测区域之间,通过X电极彼此连接、或Y电极彼此连接,使对X电极的电位的施加、对Y电极的电位的施加,只对一侧检测区域进行即可,不需要将X驱动器和Y驱动器的电压施加动作对各个检测区域分配用的连接构造。另外,本专利技术不限定于上述方式,例如,也可以是,所有多个检测区域只具有Y电极、或所有多个检测区域只具有X电极,并且在每个检测区域设置单个的检测电极,通过共通的X驱动器,对所有检测区域的X电极赋予电位,或通过共通的Y驱动器,对所有检测区域的Y电极赋予电位。或者也可本文档来自技高网
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【技术保护点】
一种输入装置,其特征在于:具有多个检测区域,并在每个检测区域中设置相互绝缘并正交的X电极和Y电极,还设有:选择多个检测区域的X电极并赋予电位的X驱动器;选择多个检测区域的Y电极并赋予电位的Y驱动器;在每个检测区域中相互独立的 检测电极,被赋予电位的X电极与检测电极之间的静电场的变化、以及被赋予电位的Y电极与检测电极之间的静电场的变化,通过上述检测电极,对每个检测区域单个地进行检测。

【技术特征摘要】
JP 2005-12-19 364670/20051.一种输入装置,其特征在于具有多个检测区域,并在每个检测区域中设置相互绝缘并正交的X电极和Y电极,还设有选择多个检测区域的X电极并赋予电位的X驱动器;选择多个检测区域的Y电极并赋予电位的Y驱动器;在每个检测区域中相互独立的检测电极,被赋予电位的X电极与检测电极之间的静电场的变化、以及被赋予电位的Y电极与检测电极之间的静电场的变化,通过上述检测电极,对每个检测区域单个地进行检测。2.如权利要求1所述的输入装置,其特征在于至少在1个检测区域分别设置多根X电极和Y电极。3.一种输入装置,其特征在于至少具有第1检测区域和第2检测区域,并且在第1检测区域设置相互绝缘并正交的多个X电极和Y电极,在第2检测区域设置X电极和Y电极任意一方,还具有X驱动器和Y驱动器,所述X驱动器选择上述第1检测区域的X电极并赋予电位,所述Y驱动器选择上述第1检测区域的Y电极并赋予电位,设置在上述第2检测区域的X电极由上述X驱动器被赋予电位,或者设置在上述第2检测区域的Y电极由上述Y驱动器被赋予电位,在上述第1检测区域和上述第2检测区域设置相互独立的检测电极,在上述第1检测区域,检测被赋予电位的X电极与检测电极之间的静电场的变化、以及被赋予电位的Y电极与检测电极之间的静电场的变化...

【专利技术属性】
技术研发人员:佐藤忠满小野秀三
申请(专利权)人:阿尔卑斯电气株式会社
类型:发明
国别省市:JP[日本]

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