提高电子零件测试涵盖率的方法技术

本发明专利技术公开了一种提高电子零件测试涵盖率的方法，其包括进行电路设计作业、提供电路设计的电子零件数据、取出一电子零件测试数据、提供一电路板及制作－测试位置表、提供一电子零件测试工具及一测试程序、判断测试程序是否适用、进行除错作业以及取得一测试报告，以提高电子零件测试涵盖率，同时可改进现有测试方法只提供缺少的测试点而无法提供更多信息的缺点。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种，特别是涉及一种能提供测试点放置位置信息，以提高IC测试涵盖率的方法。
技术介绍
目前设计电路板的厂商，大都在出图前完成放置测试点的工作，出图后其图面再交给后续工艺继续后面的工作，但是由于在目前电路板的设计流程中，设计工程师是凭借厂内可制造设计(design for manufacturability，DFM)之中的内电路测试设备测试焊盘(ICT Test PAD list)与电路测试回馈的测试涵盖率报告(Testability report)为依据来布线测试点，在测试点的放置上并无主要的放置优先级，而是以电路板面积、布线因素以及出图排列为整体考虑，尽可能放置容纳的测试焊盘(Test pad)。 又根据目前的流程，测试涵盖率(Testability rate)虽然可以尽可能的提高，但往往容易造成测试焊盘与测试需求不一致。因此测试涵盖率并不一定会成正比提高，以目前电路板板面积有限的情况下，测试点放置的价值应设法提高，这是目前流程无法实现的缺陷。 因此，公知的电子零件测试方法有着无法提高涵盖率的劣势，所以如何重新设计一种电子零件测试方法，其能够提高电子零件的测试涵盖率，即为业者研发的目标。
技术实现思路
鉴于上述公知技术的问题，本专利技术提供了一种，以解决公知电子零件测试方法无法提高涵盖率的缺点，同时也克服公知电子零件测试方法只提供缺少测试点而无法提供更多信息的缺点。 为实现上述目的，本专利技术公开了一种，其包括进行电路设计作业、提供电路设计的电子零件数据、取出一电子零件测试数据、提供一电路板以及制作-测试位置表、提供一电子零件测试工具以及一测试程序、判断测试程序是否适用、进行除错作业以及取得一测试报告。 通过实施本专利技术，至少可实现下列功效1、本专利技术为一种，通过此方法能在电路设计的早期由测试数据库提供测试的需求数据，给设计工程师以布线参考，可在设计的初期考虑放置测试点时，多一些考虑的信息。即使在需要变更设计时也能减少测试点被无意间的修改，或得知测试涵盖率的损失，因此不仅容易补救也能有效的提供测试的需求以提高测试涵盖率。 2、本专利技术为一种，通过测试数据库的建立，以及不断储存和累积的测试知识及经验数据，能有助于提供更完整的信息并提高测试程序的撰写质量。 3、本专利技术为一种，通过此方法的运用，其中的测试数据库储存所有的测试知识及经验数据，当在设计的初期测试数据库介入时，电路设计的电子零件数据与测试需求进行连接，以在未正式出图前，事先给设计工程师反馈数据在布线时作为参考，以进行修正或追加测试点。 为了对本专利技术的目的、构造特征及其功能有进一步的了解，下面将结合附图和相关的实施方式作详细说明。附图说明图1为本专利技术测试数据库示意图；以及图2为本专利技术一种的流程图。 其中，附图标记10 测试数据库11 电子零件测试规格数据(DS)12 电子零件测试程序数据(TP)13 电子零件测试信号连接数据(PD)S1 步骤S10进行电路设计作业步骤S20提供电路设计的电子零件数据步骤S30取出一电子零件测试数据步骤S40提供一电路板以及制作-测试位置表步骤S50提供一电子零件测试工具以及一测试程序步骤S60测试程序是否适用步骤S70进行除错作业步骤S80取得一测试报告具体实施方式首先，请参阅图2，本专利技术为一种S1，包括进行电路设计作业(步骤S10)、提供电路设计的电子零件数据(步骤S20)、取出一电子零件测试数据(步骤S30)、提供一电路板以及制作-测试位置表(步骤S40)、提供一电子零件测试工具以及一测试程序(步骤S50)、判断测试程序是否适用(步骤S60)、进行除错作业(步骤S70)以及取得一测试报告(步骤S80)。 请参阅图1及图2所示，本专利技术为一种S1，先进行电路设计作业(步骤S10)，然后，提供电路设计的电子零件数据(步骤S20)，提供电路设计所需的电子零件的相关数据，进而，取出一电子零件测试数据(步骤S30)，此电子零件测试数据储存在一测试数据库10，此测试数据库储存有电子零件测试规格数据(DS，Data Sheet)11、电子零件测试程序数据(TP，Test Program)12以及电子零件测试信号连接数据(PD，Pin Define)13，又，提供一电路板以及制作-测试位置表(步骤S40)，此电路板根据上述电路设计作业配置有多个电子零件和多个电子零件测试点，且制作出这些电子零件测试点的测试位置表，以作为后续制作测试工具所需的信息，接下来，提供一电子零件测试工具以及一测试程序(步骤S50)，通过测试位置表制作电子零件测试工具并选择所述测试程序测试电路板的测试点，最后，判断测试程序是否适用(步骤S60)，若测试程序不适用，则进行除错作业(步骤S70)再返回所述判断测试程序是否适用的步骤，所述测试程序不适用包括测试程序是否更新或无法进行测试的问题，若测试程序适用，则取得一测试报告(步骤S80)，此测试报告能获取测试的高涵盖率。 本专利技术为一种S1，其中在上述取得一测试报告(步骤S80)的步骤之后，此测试报告所获得的结果再储存到测试数据库10。 本专利技术为一种S1，上述测试数据库10为关系型数据库，另外，上述电路板为柔性电路板或硬式电路板。 虽然如上所述公开了本专利技术的优选实施方式，然而其并非用于限定本专利技术，对于本领域的普通技术人员，在不脱离本专利技术的精神和范围的前提下，可以对于本专利技术做出各种变形和改进，因此本专利技术的保护范围必须通过本专利技术所附的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种提高电子零件测试涵盖率的方法，其特征在于，包括下列步骤：进行电路设计作业；提供电路设计的电子零件数据；取出一电子零件测试数据，所述电子零件测试数据储存在一测试数据库中，所述测试数据库储存有电子零件测试规格数据、电 子零件测试程序数据以及电子零件测试信号连接数据；提供一电路板以及制作－测试位置表，所述电路板根据所述电路设计作业配置多个电子零件和多个电子零件测试点，并且制作出所述这些电子零件测试点的测试位置表；提供一电子零件测试工具以及一 测试程序，通过所述测试位置表制作所述电子零件测试工具并选择所述测试程序测试所述电路板的所述这些测试点；判断测试程序是否适用，若测试程序不适用，进行除错作业再返回所述判断测试程序是否适用；以及若测试程序适用，取得一测试报告。

【技术特征摘要】
及其等同物所限定。权利要求1.一种提高电子零件测试涵盖率的方法，其特征在于，包括下列步骤进行电路设计作业；提供电路设计的电子零件数据；取出一电子零件测试数据，所述电子零件测试数据储存在一测试数据库中，所述测试数据库储存有电子零件测试规格数据、电子零件测试程序数据以及电子零件测试信号连接数据；提供一电路板以及制作-测试位置表，所述电路板根据所述电路设计作业配置多个电子零件和多个电子零件测试点，并且制作出所述这些电子零件测试点的测试位置表；提供一电子零件测试工具以及一测试程序，通过所述测试位置表制作所述电子零件测试工具并选择所述测试程序测试所述电路板的所述这些测试点；判断测试程序是否适用，若测试程序不...

【专利技术属性】
技术研发人员：王宏圣，何其烨，马定国，游棋辉，曹惠国，
申请(专利权)人：英业达股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]