一种基于USB HUB集群的USB DOM电子盘测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开了一种基于USB HUB集群的USB DOM电子盘测试装置，其包括有2个接口单元，所述接口单元用于连接上位机，每个接口单元连接有2个USB HUB芯片，每个USB HUB芯片连接有4个USB接口，所述USB接口为9PIN公针USB接口，2个所述接口单元、4个所述USB HUB芯片和16个所述USB接口集成于同一线路板上，所述上位机通过所述接口单元和所述USB HUB芯片与插接于所述USB接口的USB DOM电子盘建立通信，进而对所述USB DOM电子盘进行测试。本实用新型专利技术能够对16个USB DOM电子盘进行批量测试、能够匹配USB DOM电子盘的9PIN接头，进而提高测试性能以及测试效率。

【技术实现步骤摘要】
一种基于USBHUB集群的USBDOM电子盘测试装置
本技术涉及USBDOM电子盘测试装置，尤其涉及一种基于USBHUB集群的USBDOM电子盘测试装置。
技术介绍
现有的USB集群设计原理请参见图1和图2，常见的USBHUB一般是一拖七USBHUB架构，一拖七USBHUB包括USB数据线和USBHUB本体，USB数据线的一端设置有1个USB公头接口，所述USB数据线的另一端连接USBHUB本体。此类集群设计主要存在如下缺陷：首先，市场上常见的USBHUB一般是4个接口或者8个接口的，接口数量太少，无法进行统一的集群测试；其次，市场上的USBHUB，其在测试过程中，因缺少明确指示，导致某一接口出现问题时，无法及时做出提醒；此外，市场上的USBHUB基本是MicroUSB2.0连接器和USB3.0连接器，因缺少USBDOM盘的9pin接口，导致现有USB集群无法应用于批量测试USBDOM电子盘的工作中，难以满足用户需要和市场需求。
技术实现思路
本技术要解决的技术问题在于，针对现有技术的不足，提供一种能够对16个USBDOM电子盘进行批量测试、能够匹配USBDOM电子盘的9PIN接头，进而提高测试性能以及测试效率的基于USBHUB集群的USBDOM电子盘测试装置。为解决上述技术问题，本技术采用如下技术方案。一种基于USBHUB集群的USBDOM电子盘测试装置，其包括有2个接口单元，所述接口单元用于连接上位机，每个接口单元连接有2个USBHUB芯片，每个USBHUB芯片连接有4个USB接口，所述USB接口为9PIN公针USB接口，2个所述接口单元、4个所述USBHUB芯片和16个所述USB接口集成于同一线路板上，所述上位机通过所述接口单元和所述USBHUB芯片与插接于所述USB接口的USBDOM电子盘建立通信，进而对所述USBDOM电子盘进行测试。优选地，每个USB接口的相邻处设有指示灯组件，所述指示灯组件通过所述接口单元连接于上位机。优选地，所述指示灯组件包括有绿灯和红灯。优选地，相邻2个USB接口之间的横向间距不小于27mm。优选地，所述USBHUB芯片的型号为MA8601，4个USB接口的数据引脚D+分别连接于所述USBHUB芯片的DP1引脚、DP2引脚、DP3引脚和DP4引脚，4个USB接口的数据引脚D-分别连接于所述USBHUB芯片的DM1引脚、DM2引脚、DM3引脚和DM4引脚。本技术公开的基于USBHUB集群的USBDOM电子盘测试装置中，每个接口单元可以扩展连接2个USBHUB芯片，每个USBHUB芯片可以扩展连接4个USB接口，使得上位机可以对16个USBDOM电子盘进行批量测试，大大提升了测试效率，同时，本技术将2个所述接口单元、4个所述USBHUB芯片和16个所述USB接口集成于同一线路板上，使得整个测试装置的集成度更高，整体性能更好，此外，本技术将所述USB接口设置为9PIN公针USB接口，这种接口类型可以满足与9PIN母头USBDOM电子盘的匹配需要，无需另外配置转接头或者插座等，使得USBDOM电子盘的测试工作更加方便、快捷，较好地满足了应用需求。附图说明图1为现有技术中一拖七集群结构图；图2为现有技术中集群的组成框图；图3为本技术USBDOM电子盘测试装置的电路框图；图4为USBHUB芯片与4个USB接口的电路原理图；图5为USBDOM电子盘的俯视图；图6为USBDOM电子盘的侧视图。具体实施方式下面结合附图和实施例对本技术作更加详细的描述。本技术公开了一种基于USBHUB集群的USBDOM电子盘测试装置，结合图3至图6所示，其包括有2个接口单元1，所述接口单元1用于连接上位机，每个接口单元1连接有2个USBHUB芯片2，每个USBHUB芯片2连接有4个USB接口3，所述USB接口3为9PIN公针USB接口，2个所述接口单元1、4个所述USBHUB芯片2和16个所述USB接口3集成于同一线路板上，所述上位机通过所述接口单元1和所述USBHUB芯片2与插接于所述USB接口3的USBDOM电子盘建立通信，进而对所述USBDOM电子盘进行测试。上述装置中，每个接口单元1可以扩展连接2个USBHUB芯片2，每个USBHUB芯片2可以扩展连接4个USB接口3，使得上位机可以对16个USBDOM电子盘进行批量测试，大大提升了测试效率，同时，本技术将2个所述接口单元1、4个所述USBHUB芯片2和16个所述USB接口3集成于同一线路板上，使得整个测试装置的集成度更高，整体性能更好，此外，本技术将所述USB接口3设置为9PIN公针USB接口，这种接口类型可以满足与9PIN母头USBDOM电子盘的匹配需要，无需另外配置转接头或者插座等，使得USBDOM电子盘的测试工作更加方便、快捷，较好地满足了应用需求。作为一种优选方式，每个USB接口3的相邻处设有指示灯组件4，所述指示灯组件4通过所述接口单元1连接于上位机。进一步地，所述指示灯组件4包括有绿灯40和红灯41。通过设置LED指示灯，有助于操作人员及时掌握USBDOM电子盘的测试状态，例如：如果显示绿灯，说明USBDOM电子盘在正常测试，如果显示红灯，说明该USBDOM盘出现问题，应及时拔出接口并进行问题分析。现有技术中，每个USBDOM电子盘的宽度大约为27mm，为了能够满足插接要求，同时实现线路板的紧凑布局，本实施例中，相邻2个USB接口3之间的横向间距不小于27mm。为了进一步提高集群性能，本实施例中，所述USBHUB芯片2的型号为MA8601，4个USB接口3的数据引脚D+分别连接于所述USBHUB芯片2的DP1引脚、DP2引脚、DP3引脚和DP4引脚，4个USB接口3的数据引脚D-分别连接于所述USBHUB芯片2的DM1引脚、DM2引脚、DM3引脚和DM4引脚。本技术公开的基于USBHUB集群的USBDOM电子盘测试装置，其实际测试过程中可以参考如下实施例：实施例一本实施例中，结合图3至图6所示，每个USBHUB芯片可实现一拖四个USB9PIN公针接口，然后把USBHUB芯片通过USB接口连接USB数据线即可实现统一集群测试。其具体测试过程例如：步骤1、将9pin的USBDOM插入集群测试板卡进行找盘；步骤2、然后通过X86平台的H2软件对多个USBDOM电子盘进行测试；步骤3、跑H2软件测试过程查看哪些USBDOM电子盘工作状态；步骤4、如果显示绿灯，说明USBDOM电子盘在正常工作跑测试，如果显示红灯，说明该USBDOM盘出现问题，及时拔出接口并进行问题分析。本技术公开的基于USBHUB集群的USBDOM电子盘测试装置，其相比现有技术而言的有益效果在于：在接口数量上，本技术通过USBHUB芯片，把16个USB接口集合在一个板子上，方便生产测试，提高生产效率。在接口类型上，本实用新本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于USB HUB集群的USB DOM电子盘测试装置，其特征在于，包括有2个接口单元(1)，所述接口单元(1)用于连接上位机，每个接口单元(1)连接有2个USB HUB芯片(2)，每个USB HUB芯片(2)连接有4个USB接口(3)，所述USB接口(3)为9PIN公针USB接口，2个所述接口单元(1)、4个所述USB HUB芯片(2)和16个所述USB接口(3)集成于同一线路板上，所述上位机通过所述接口单元(1)和所述USB HUB芯片(2)与插接于所述USB接口(3)的USB DOM电子盘建立通信，进而对所述USB DOM电子盘进行测试。/n

【技术特征摘要】
1.一种基于USBHUB集群的USBDOM电子盘测试装置，其特征在于，包括有2个接口单元(1)，所述接口单元(1)用于连接上位机，每个接口单元(1)连接有2个USBHUB芯片(2)，每个USBHUB芯片(2)连接有4个USB接口(3)，所述USB接口(3)为9PIN公针USB接口，2个所述接口单元(1)、4个所述USBHUB芯片(2)和16个所述USB接口(3)集成于同一线路板上，所述上位机通过所述接口单元(1)和所述USBHUB芯片(2)与插接于所述USB接口(3)的USBDOM电子盘建立通信，进而对所述USBDOM电子盘进行测试。


2.如权利要求1所述的基于USBHUB集群的USBDOM电子盘测试装置，其特征在于，每个USB接口(3)的相邻处设有指示灯组件(4)，所述指示灯组件(4)通过所述接口单元(...

【专利技术属性】
技术研发人员：李修录，朱小聪，尹善腾，吴健全，
申请(专利权)人：深圳市安信达存储技术有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44