测试卡制造技术

本发明专利技术公开一种用以对系统进行负载测试的测试卡，其主要包括一印刷电路板、设置于其上用于与插槽进行电性连接的金手指、与金手指连接的开关以及若干个并联电阻组；其中，所述并联电阻组的一端是与开关相连，另一端连接于地。通过切换所述开关的开与关，来达到对所需负载进行自行切换，而对系统进行功耗测试。该种测试方式中，是将功率消耗分布在较多的电阻上，既可将热平均分散，也可避免组件过热。本发明专利技术所述测试卡结构简单，易实现，具有较佳的实用价值。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种测试卡，特别涉及一种对系统进行负载测试的测试卡。
技术介绍
目前，随着计算机功能的愈加强大，人们开始对计算机有了更多的要求，除了计算机的基本功能以外，对其它扩充的能力也愈加兴趣，随之而来一些外接的扩展卡也开始出现在一些玩家的手中，诸如，声卡、网卡以及显卡等的介入。同时，系统的稳定性也随之愈加重要，且对于众多玩家而言具有相当大的重要性。对系统稳定性及其可靠性的考察，通常均是通过对其负载能力来进行测试，在进行测试操作或者资源降至极低的情况下，系统能够保持稳定工作。现有对于系统的测试，在测试过程中对于PCI_E(Pedpherd ComponentInterconnect Express)插槽，通常是通过外插一张监测卡或者扩展卡来对其进行测试，及配合系统测试的。综上两种方式，虽然所述监测卡能够达到检测插槽的目的，但冲其量其只是检测该PCI_E插槽的回路是否畅通，对系统的稳定性而言，并没有达到测试的目的，而扩展卡虽然其实测能力比较强，但存在测试成本过高的问题。
技术实现思路
鉴于上述问题，本专利技术的主要目的在于提供了一种可以对系统进行负载测试，进而考察系统稳定性及其可靠性的测试卡。为了达到上述的目的，本专利技术采用了下述技术方案该测试卡包括一印刷电路板，其上具有一接口、至少一个开关以及若干个并联电阻组。上述开关一端与接口连接，另一端则是与并联电阻组相连；而并联电阻组的一端则是连接至地。本专利技术所述测试卡为根据负载测试需求的负载功率，而来设计其电路接入的并联电阻组数、电阻数以及电阻值。且其可通过切换开关的开或者关，来控制负载的接入。通过上述技术方案，采用本专利技术所述测试卡，用户可以针对系统的不同要求，而来控制切换开关，以达到不同负载测试的目的，而得以从多方面考察系统的稳定性及其可靠性。并且该种测试方式，是将功率消耗分布在较多的电阻上，其既可将热平均分散，也避免了组件过热。附图说明图1为本专利技术测试卡最小系统的架构图；图2为测试卡的形态结构示意图；图3为实施例一之针对PCI_E X8 10W的测试卡电路图；图4为实施例二之针对PCI_E X8 75W的测试卡电路图；图5为实施例三之针对PCI_E X16 150W的测试卡电路图。具体实施例方式下面结合附图和具体实施例对本专利技术作进一步详细描述参照图1所示之本专利技术测试卡最小系统的架构图。该测试卡100为一印刷电路板101，在其上具有一接口104，且该接口104通过开关103与电阻组102连接。上述接口104对应于测试卡100所插的插槽(图中未示)，为一金手指，通过其而与所述插槽进行电性连接。另外，结合图2所示，上述测试卡100可根据负载测试需求而设计其电路接入的并联电阻组数、电阻数以及电阻值，上述并联电阻组数、电阻数以及电阻值的设定与负载功率相关。且该专利技术也通过切换开关的开或者关，来控制负载的接入。系统测试时，将该测试卡100插入上述插槽中，并根据负载测试需求切换开关103处于开或者关的状态，接入负载；或者将根据负载测试每一需求而设计的负载测试卡100直接插入上述插槽中，而不用切换开关103，即可接入负载。然后开启系统负载测试软件开始负载测试，通过上述负载测试软件上显示的数据，来判断系统在该负载下的性能；或者也可通过对系统进行一般的开机动作，让该系统长时间的处于开的状态，当系统一旦在没有人为关机或断电的情况下而关机，则判断系统在该负载情况下稳定性差；反之，则不然。针对本专利技术所述的对系统进行负载测试的测试卡100，下面分别以PCI_E X8，功耗数为10W；PCI_E X8，功耗数为75W以及PCI_E X16，功耗数为150W的情况之电路，来对本专利技术所述的测试卡100进行详细说明。参照图3所示之PCI_E X8，功耗数为10W的测试卡100的具体电路图。其中，第一开关300为一拨动式开关，其一端与接口104的12伏电压引脚(304、305、306、307和308)连接，另一端则是分别与第一电阻组301、第二电阻组302和第三电阻组303的一端连接，且该三组电阻组中电阻均是以并联方式连接；并且上述每组并联电阻组的另一端还分别与地相接。上述第一开关300为具有7引脚的开关，其引脚1和4连接，并连接至接口12伏电压引脚上；而其引脚5和6连接，以及引脚2和3连接，并都分别与上述三组并联电阻组连接。此外，在本实施例中，上述三组并联电阻组共同提供系统一10W的负载功率，且每组电阻组均可为由10个电阻并联连接构成；且第一电阻组301为10个阻值为470欧姆的电阻并联构成，第二电阻组302和第三电阻组303则是分别可由9个阻值为470欧姆以及1个阻值为180欧姆的电阻并联构成。此外，上述接口104为对应于PCI_E之8通道数的插槽，并且该上述电阻组组数以及电阻值则是通过系统提供的12伏电压以及负载能力来计算而排布的，三组电阻组之提供的总功率为10W。系统测试时，将上述测试卡100插入PCI_E插槽中；同时将上述第一开关300拨向到开的状态，第一开关300的引脚1和2连通以及引脚4和5连通。此时，测试卡与PCI_E插槽形成一个电气回路，12伏电源通过第一开关300分别流经上述第一电阻组301、第二电阻组302和第三电阻组303，且共同提供10W的负载功率，通过测试该负载功率下，系统的稳定性。参照图4所示，为PCI_E X8，功耗数为75W的测试卡100的具体电路图。其与图3的实施例不同，该电路中包括5组均可分别由一开关和10个电阻组成的负载电路400。其中，在上述负载电路400中每一开关的引脚1和4连接，并且连接至接口104之12伏电压引脚(401、402、403、404和405)；且每一开关的引脚5和6连接，以及引脚2和3连接，并都分别连接一电阻组。另外，上述每组负载电路400中之电阻组的另一端均与地连接，且上述5组负载电路400中每一组电阻组之电阻均是以并联方式连接，并在被提供12电压的情况，每组电阻均提供12.5W的负载功率以负载测试，即该测试卡总的负载功率在预设定的75W。且每组电阻组均可由8个电阻值为120欧姆和2个电阻值为100欧姆的电阻并联连接而成。此外，在上述测试卡电路中还包括有一第二开关406。该第二开关406的引脚1与接口104的12伏电压引脚(401、402、403、404和405)连接；且该第二开关的引脚4则是与接口104的3.3伏电压引脚(407、408和409)连接，且该第二开关406的引脚2和3则与由3个电阻值为130欧姆的电阻并联连接构成的第四电阻组410的一端相连，该第四电阻组410的另一端与地相接，且该第四电阻组410中的电阻为并联连接方式相连。当该第二开关406处于开的状态时，引脚1则会与2接通，第四电阻410组与接口104的12伏电压引脚(401、402、403、404和405)的电路接通；上述12伏电压加在上述第四电阻组410，使上述第四电阻组410上形成2.5W左右的功率。以及上述第二开关406的引脚5和4为连接至由7个电阻值为8.2欧姆的电阻并联连接构成的第五电阻组411，且该第五电阻组411的另一端连接至地。当上述第二开关406处于开的状态时，其引脚4会与5接通，第五电阻组411与接口104的3.3伏电压引脚(407、40本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用以对系统进行负载测试的测试卡，其特征在于：该所述测试卡包括一单个接口；至少一开关，其与上述接口连接；若干个电阻组，其中，所述电阻组一端与上述开关连接，另一端则接地；以及一印刷电路板，上述单个接口、开关以及若干个 电阻组均位于其上。

【技术特征摘要】
1.一种用以对系统进行负载测试的测试卡，其特征在于该所述测试卡包括一单个接口；至少一开关，其与上述接口连接；若干个电阻组，其中，所述电阻组一端与上述开关连接，另一端则接地；以及一印刷电路板，上述单个接口、开关以及若干个电阻组均位于其上。2.根...

【专利技术属性】
技术研发人员：林诗窈，陈文宾，
申请(专利权)人：佛山市顺德区顺达电脑厂有限公司，神达电脑股份有限公司，
类型：发明
国别省市：44[中国|广东]