显示面板的线路缺陷的检测方法技术

本揭示实施例提供一种显示面板的线路缺陷的检测方法，先采集显示面板对应的线路布线区，并将采集到的信息转化成对应的图像，然后对得到的图像进行解析，分别对同一区域内的像素进行标记，然后根据所有的标记结果对显示面板的线路布线结构进行分析。本揭示实施例中通过将线路转化为像素单元，并根据像素单元对应的标记结果进行判断，检测方法简单高效且精度高，检测效果好。

【技术实现步骤摘要】
显示面板的线路缺陷的检测方法
本揭示涉及显示面板
，尤其涉及一种显示面板的线路缺陷的检测方法。
技术介绍
随着显示技术的不断发展，各显示器件的性能和质量不断提高，以满足使用者的各类使用需求。因此，显示面板的使用质量的好坏将直接影响到用户的使用体验。为了保证出厂的显示面板为合格产品，需要对其进行检测。其中自动光学检查机(autoopticalinspection，AOI)是显示面板及半导体行业检测缺陷的主要设备。现有的检测技术中，首先通过成像单元将检测对象成像并灰阶数字化处理，然后利用图像比对来检测缺陷问题。但是，上述检测的对象主要为具有周期分布规律的线路布置结构。而对于其他结构的产品检测，主要采用面-面(PaneltoPanel，P2P)比对或基板之间的比对方式进行检测，但是这两者检测方式由于比对的距离远远超过像素周期，以及显示面板成膜本身色差的问题，导致检测的精度较低，并会检测出很多假性缺陷，检测效果不理想。综上所述，现有技术中，在对显示面板的生产质量好坏进行检测时，往往存在着检测的精度以及检测的效率较低，甚至会检测出假性缺陷的问题，不能很好的将问题产品对应的找出，检测效果不理想。
技术实现思路
本揭示实施例提供一种显示面板的线路缺陷的检测方法，以解决现有检测技术中，在对产品进行检测时，检测精度较低、检测效果不理想等问题。为解决上述技术问题，本揭示实施例提供的技术方案如下：根据本揭示实施例的第一方面，提供了一种显示面板的线路缺陷的检测方法，包括如下步骤：r>S100：采集所述显示面板的待检测区域，并将采集到的所述待检测区域转换成图像；S101：将所述图像对应的布置线路的一边界划分为扫描起始端和扫描终止端，并对所述图像进行扫描；S102：从扫描开始至扫描结束，将扫描的每一个像素进行标记，得到标记数据；S103：根据所述标记数据对所述像素进行比对，在同一区域内，若标记的所述像素的所述标记数据相同且相邻两个区域内标记的所述像素的所述标记数据不相同，则所述线路无缺陷。根据本揭示一实施例，在采集所述显示面板的待检测区域时，将所述待检测区域分为多个子检测区域进行采集。根据本揭示一实施例，所述步骤S101中，沿着所述扫描起始端向所述扫描终止端进行扫描。根据本揭示一实施例，所述步骤S102中所述同一区域包括亮区或暗区，所述亮区为所述显示面板的布线区，所述暗区为所述显示面板的非布线区。根据本揭示一实施例，依次对所述亮区或所述暗区进行标号。根据本揭示一实施例，在扫描过程中，若同一个像素至少被两个区域标记，并存在两个不同的所述标记数据，则所述像素对应的线路短路。根据本揭示一实施例，两相邻的所述亮区对应的所述线路互相不相交。根据本揭示一实施例，扫描完成后，同一行像素中，若第i列亮区对应的所述像素的标记数据与第i列亮区之前对应的所述像素的标记数据不同，则所述线路在第i列对应的所述像素处断路，i为大于1的整数。根据本揭示一实施例，所述步骤S102中，在标记时，将所述亮区内对应的所述像素标记为第一标记，所述暗区内对应的所述数据标记为第二标记，所述第一标记和所述第二标记不同。根据本揭示一实施例，若同一亮区或同一暗区内，同时存在所述第一标记和所述第二标记，则所述线路存在缺陷。综上所述，本揭示实施例的有益效果为：本揭示实施例提供的一种显示面板的线路缺陷的检测方法，首先采集显示面板对应的线路布线区，并将采集到的信息转化成对应的图像，然后对得到的图像进行解析，分别对同一区域内的像素进行标记，然后根据所有的标记结果对显示面板的线路布线结构进行分析。本揭示实施例中通过将线路转化为像素单元，并根据像素单元对应的标记结果进行判断，检测方法简单高效并且检测的精度高，能将线路布线存在的缺陷直观的呈现出来，检测效果好。附图说明为了更清楚地说明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是揭示的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为现有技术中显示面板的检测方法示意图；图2为本揭示实施例提供的显示面板的线路缺陷的方法；图3为本揭示实施例提供的显示面板对应的线路区的成像结构示意图；图4为本揭示实施例提供的显示面板的扫描图像示意图；图5-图6为本揭示实施例提供的金属线路缺陷成像示意图。具体实施方式下面将结合本揭示实施例中的附图，对本揭示实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅仅是本揭示一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本揭示中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本揭示保护的范围。显示面板内部的线路布局较复杂，因此，显示面板各工艺制备完成后一般都需要对设置的线路好坏进行检测，传统的检测手段中往往存在着检测的精度低，并且检测工艺复杂，不能直观的反映出线路区域存在的缺陷。本揭示实施例中，提供一种显示面板的线路缺陷的检测方法，以提高检测的精度和检测的效果。如图1所示，图1为现有技术中显示面板的检测方法示意图。显示面板包括第一线路区100、第二线路区101以及第三线路区102，其中第一线路区100、第二线路区101和第三线路区102依次设置。当线路排布无缺陷时，第一线路区100、第二线路区101和第三线路区102各自对应像素的亮度均相同，但是当线路出现缺陷时，缺陷区域处的像素的亮度就会发生变化。因此正常情况下，第一线路区100和第三线路区102内的第一子像素区104和第三子像素区105均完全相同，但由于第二线路区101内的线路存在缺陷，因此第二线路区101内对应的第二子像素区103与其他线路区之间存在差别。但是，当显示面板的布线结构不为周期分布时，上述各个线路区内的结构就不完全相同，而使得上述检测方法失效。如图2所示，图2为本揭示实施例提供的显示面板的线路缺陷的方法，检测方法包括如下步骤：S100：采集所述显示面板的待检测区域，并将采集到的所述待检测区域转换成图像；本揭示实施例中，首先选取需要进行检测的显示面板，同时选取所述显示面板的待检测的线路设置区域，待检测区域确定后，对该检测区域进行信息采集。具体的，在采集所述显示面板的待检测区时，可直接通过设备将其拍摄成图像，在拍摄成像时，可利用自动光学检查机等辅助设备，在成像过程中，利用光线的作用，使采集形成的图像形成亮暗间隔分布的图像。优选的，如图3所示，图3为本揭示实施例提供的显示面板对应的线路区的成像结构示意图。本揭示实施例中，以显示面板的扇形区为例进行说明，扇形区的线路排布较复杂，较容易出现断裂等缺陷。扇形区31包括金属走线30，金属走线30包括平直区和与所述平直区相连的扇形区31两部分。本揭示实施例中，直接对所述扇形本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种显示面板的线路缺陷的检测方法，其特征在于，包括如下步骤：/nS100：采集所述显示面板的待检测区域，并将采集到的所述待检测区域转换成图像；/nS101：将所述图像对应的布置线路的一边界划分为扫描起始端和扫描终止端，并对所述图像进行扫描；/nS102：从扫描开始至扫描结束，将扫描的每一个像素进行标记，得到标记数据；/nS103：根据所述标记数据对所述像素进行比对，在同一区域内，若标记的所述像素的所述标记数据相同且相邻两个区域内标记的所述像素的所述标记数据不相同，则所述线路无缺陷。/n

【技术特征摘要】
1.一种显示面板的线路缺陷的检测方法，其特征在于，包括如下步骤：
S100：采集所述显示面板的待检测区域，并将采集到的所述待检测区域转换成图像；
S101：将所述图像对应的布置线路的一边界划分为扫描起始端和扫描终止端，并对所述图像进行扫描；
S102：从扫描开始至扫描结束，将扫描的每一个像素进行标记，得到标记数据；
S103：根据所述标记数据对所述像素进行比对，在同一区域内，若标记的所述像素的所述标记数据相同且相邻两个区域内标记的所述像素的所述标记数据不相同，则所述线路无缺陷。


2.根据权利要求1所述的显示面板的线路缺陷的检测方法，其特征在于，在采集所述显示面板的待检测区域时，将所述待检测区域分为多个子检测区域进行采集。


3.根据权利要求1所述的显示面板的线路缺陷的检测方法，其特征在于，所述步骤S101中，沿着所述扫描起始端向所述扫描终止端进行扫描。


4.根据权利要求1所述的显示面板的线路缺陷的检测方法，其特征在于，所述步骤S102中所述同一区域包括亮区或暗区，所述亮区为所述显示面板的布线区，所述暗区为所述显示面板的非布线区。


5.根据权利要求...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈少甫，
申请(专利权)人：深圳市华星光电半导体显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44