本发明专利技术披露了用于从集成电路中的设计缺陷恢复的装置、系统和方法。所述装置包括错误检查模块、控制设置模块、重试模块和恢复模块。所述错误检查模块发现在操作期间发生了错误。所述控制设置模块根据更改一个或多个系统信号的逻辑路径的一组系统控制设置来更改一个或多个系统控制寄存器的内容。所述重试模块执行所述操作。所述恢复模块发现成功执行了所述操作。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及错误恢复，并且更具体地说，涉及从集成电路中的设计缺陷进行动态错误恢复。
技术介绍
当公司设计和生产集成电路时，会执行大量模拟和测试来发现和纠正集成电路设计中的缺陷。由于时间和技术的制约，公司将模拟和测试最频繁发生的系统状态置于较高的优先级。在除了最简单的集成电路以外的所有集成电路中，很难模拟和测试每个可能的系统状态和逻辑路径。解决一个设计缺陷还可能导致其他错误，这使模拟和测试过程进一步复杂化。集成电路不断增加的尺寸和复杂性使在大量生产集成电路之前发现和纠正设计缺陷变得更加困难。一旦集成电路投入生产，更改电路设计成本高昂并会延迟与此集成电路有关的任何产品的发布。当在现场发现设计缺陷时，成本将更加高昂。现场越来越需要可在系统级别上从设计缺陷恢复的集成电路。更高的模拟和仿真能力帮助提高了早期设计缺陷检测和排除的效率，特别是在简单的集成电路中。但是，每个集成电路中的逻辑路径数的增长如此迅速，以致在合理的时间内以合理的成本模拟每个逻辑路径已经变得很困难。由于具有这种困难，在生产和发布集成电路之前，数量越来越多的边界情况和不常使用的逻辑路径得不到模拟和测试。通常，从未被模拟或测试的边界条件中仍存在设计缺陷，这些缺陷只有在现场生产后才能发现。通过上面的介绍，应显而易见的是，需要用于从集成电路中的设计缺陷恢复的装置、系统和方法。有益地，此类装置、系统和方法使得集成电路能够在现场在系统级别处从设计缺陷恢复。
技术实现思路
开发本专利技术以响应本领域的现状，具体地说，响应本领域中尚未完全通过当前可用的动态设计缺陷恢复方法解决的问题和需要。因此，开发了本专利技术以提供用于从集成电路中的设计缺陷动态恢复和还原的装置、系统和方法，并克服本领域中上面介绍的许多或全部缺点。帮助系统从集成电路中的设计缺陷恢复的装置具备多个模块，所述模块配置为功能性地执行以下必要的步骤发现错误发生，根据一组系统控制设置来更改一个或多个系统控制寄存器的内容，执行操作，以及判定是否成功执行所述操作。所描述的实施例中的这些模块包括错误检查模块、控制设置模块、重试模块和恢复模块。在一个实施例中，所述错误检查模块发现发生了错误。在进一步的实施例中，所述错误检查模块发现所述错误在操作期间发生。在一个实施例中，所述控制设置模块根据一组系统控制设置来更改一个或多个系统控制寄存器的内容。在进一步的实施例中，该组系统控制设置更改一个或多个系统信号的逻辑路径。在一个实施例中，所述恢复模块发现所述操作成功执行。在另一个实施例中，所述恢复模块发现系统已从所述错误恢复。还提供了从集成电路中的设计缺陷恢复的本专利技术的系统。所述系统可以包括电路板、集成电路和外部接口。具体地说，在一个实施例中，所述电路板为一个或多个电子设备提供了绝缘基座。在进一步的实施例中，两个所述设备包括所述集成电路和所述外部接口。在一个实施例中，所述集成电路主要执行实现上述与所述装置的操作有关的功能所需的步骤。在另一个实施例中，所述集成电路还具有知识数据库，所述知识数据库具有一个或多个错误的列表以及与每个错误对应的一个或多个系统控制设置。在进一步的实施例中，所述外部接口连接到所述电路板并且与所述集成电路通信。所述外部接口从单独的设备接收对所述知识数据库的更新。还提供了用于从集成电路中的设计缺陷恢复的本专利技术的计算机程序产品。在一个实施例中，所述计算机程序产品发现在操作期间发生了错误。所述计算机程序产品从知识数据库检索一组与所述错误关联的系统控制设置。所述知识数据库是一个或多个错误的列表以及与每个错误对应的一个或多个系统控制设置。所述计算机程序产品根据该组系统控制设置来更改一个或多个系统控制寄存器的内容。所述计算机程序产品发现所述操作成功执行。还提供了用于向客户提供知识数据库以便从集成电路中的设计缺陷恢复的本专利技术的方法。所披露的实施例中的方法主要包括执行上述与所述装置和系统的操作有关的功能所需的步骤。在一个实施例中，所述方法包括向客户提供知识数据库。所述方法还可以包括为所述客户更新所述知识数据库。本说明书中对功能、优点的参考或类似语言并非暗示可以与本专利技术一起实现的所有功能和优点应在本专利技术的任何单个实施例中。相反，应当理解，引用所述功能和优点的语言指与实施例一起描述的特定功能、优点或特性包括在本专利技术的至少一个实施例中。因此，本说明书中对功能、优点的讨论和类似语言可以(但并不一定)指相同的实施例。此外，本专利技术的所述功能、优点和特性可以以任何适当的方式组合在一个或多个实施例中。相关领域的技术人员将认识到，可以在没有特定实施例的一个或多个特定功能或优点的情况下实现本专利技术。在其他情况下，可以在特定实施例中认识到可能不存在于本专利技术的所有实施例中的其他功能和优点。从以下说明，本专利技术的这些功能和优点将变得更加显而易见，或者通过实现如下文所述的本专利技术，可以了解本专利技术的这些功能和优点。附图说明为了容易地理解本专利技术的优点，将通过参考附图中示出的特定实施例说明上面简要介绍的本专利技术的更具体的说明。应当理解，这些附图仅示出了本专利技术的典型实施例，并且因此不应被视为限制其范围，将通过使用附图以其他特性和详细信息来介绍和说明本专利技术，这些附图是图1是示出根据本专利技术的用于从集成电路中的设计缺陷恢复的系统的一个实施例的示意性方块图；图2是示出根据本专利技术的知识数据库的一个实施例的示意性方块图；图3是示出根据本专利技术的集成电路的一个实施例的示意性方块图；图4是示出根据本专利技术的设计缺陷恢复方法的一个实施例的示意性流程图；以及图5是示出根据本专利技术的设计缺陷恢复方法的进一步实施例的示意性流程图。具体实施例方式将本说明书中描述的多个功能单元标记为模块，以便更具体地强调它们的实现无关性。例如，模块可以被实现为包括定制VLSI电路或门阵列、诸如逻辑芯片、晶体管或其他分离组件之类的现用半导体的硬件电路。模块还可以在诸如现场可编程门阵列、可编程阵列逻辑、可编程逻辑设备之类的可编程硬件设备中实现。模块还可以在软件中实现，以便由各种类型的处理器执行。例如，标识的可执行代码的模块可以包括一个或多个物理或逻辑的计算机指令块，所述块可以例如组织为对象、过程或功能。然而，标识的模块的可执行代码不需要在物理上位于一起，但是可以包括存储在不同位置的不同指令，当所述指令被逻辑地结合时，将包括所述模块并实现模块的所述目的。实际上，可执行代码的模块可以是单个指令或多个指令，并且甚至可以分布在数个不同的代码段上、多个不同的程序中，以及跨多个存储器设备。同样，操作数据可以在模块中被标识和在此示出，并且可以包括在任何适当的形式中并组织在任何适当类型的数据结构中。操作数据可以被收集为单个数据集，或可以分布在包括不同存储设备的不同位置上，并且可以至少部分地仅作为电子信号存在于系统或网络中。本说明书中对“一个实施例”、“实施例”或类似语言的引用指结合该实施例描述的特定功能、结构或特性被包括在本专利技术的至少一个实施例中。因此，本说明书中出现的短语“在一个实施例中”、“在实施例中”和类似语言可以(但是并非一定)都指相同的实施例。引用计算机可读介质可以采取任何能够生成信号、导致信号生成、或导致在数字处理装置上执行机器可读指令的程序的形式。计算机可读介质可以通过传输线、光盘、数字视盘、磁带、贝努利驱动器、本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种帮助从集成电路中的设计缺陷恢复的装置，所述装置包括：错误检查模块，配置为发现在操作期间发生了错误；控制设置模块，配置为根据一组系统控制设置来更改一个或多个系统控制寄存器的内容，所述系统控制设置组更改一个或多个系统信号的逻 辑路径；重试模块，配置为执行所述操作；以及恢复模块，配置为判定是否成功执行所述操作。
【技术特征摘要】
US 2006-5-19 11/419,2711.一种帮助从集成电路中的设计缺陷恢复的装置，所述装置包括错误检查模块，配置为发现在操作期间发生了错误；控制设置模块，配置为根据一组系统控制设置来更改一个或多个系统控制寄存器的内容，所述系统控制设置组更改一个或多个系统信号的逻辑路径；重试模块，配置为执行所述操作；以及恢复模块，配置为判定是否成功执行所述操作。2.根据权利要求1的装置，还包括设置重置模块，该模块配置为将所述一个或多个系统控制寄存器返回到先前状态以响应所述操作的成功执行。3.根据权利要求1的装置，还包括继续模块，该模块配置为保存一个或多个并发执行的操作的状态以响应所述错误，以及继续执行该操作以响应成功执行所述操作。4.根据权利要求1的装置，还包括重新启动模块，该模块配置为保存一个或多个并发执行的操作的列表以响应所述错误，以及重新启动执行该操作以响应成功执行所述操作。5.根据权利要求1的装置，还包括随机数发生器模块，该模块配置为从有效系统控制设置的列表中选择一组随机的系统控制设置。6.根据权利要求1的装置，还包括知识数据库，该知识数据库包含一个或多个错误的列表以及与每个错误对应的一个或多个系统控制设置。7.根据权利要求6的装置，其中所述知识数据库进一步包括一个或多个与每个错误对应的统计表。8.根据权利要求6的装置，其中所述知识数据库进一步包括与每个错误对应的恢复策略。9.根据权利要求6的装置，还包括更新模块，该模块配置为使用一个或多...
【专利技术属性】
技术研发人员：郭立中，
申请(专利权)人：国际商业机器公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。