一种自动化ADC芯片测试设备制造技术

本实用新型专利技术公开了一种自动化ADC芯片测试设备，包括芯片本体和放置板，所述芯片本体的底部设置有引脚，本实用新型专利技术涉及ADC芯片测试技术领域。该自动化ADC芯片测试设备，通过工作人员用两个手指同时推动把手，通过把手的作用可间接通过第一连接板带动第二连接板移动，通过第二连接板的移动可推动滑动板，即可使得两个推动板进行相同方向的移动，通过两个推动板的同向移动可间接通过夹紧装置带动两个L形夹具进行同向移动，从而可对芯片本体的两侧进行夹紧，并且本装置的L形夹具内壁的顶部通过辅助弹簧固定连接有柔性垫板，通过柔性垫板的设置，可起到保护芯片本体的作用，进而可避免在取用芯片时，手指上的油脂会对ADC芯片造成污染。

【技术实现步骤摘要】
一种自动化ADC芯片测试设备
本技术涉及ADC芯片测试
，具体为一种自动化ADC芯片测试设备。
技术介绍
ADC芯片测试是指通过对ADC芯片的静态和动态参数的测试，来反映出被测芯片的性能的测试技术,当前的ADC测试方式为通过外部信号源给ADC芯片一个信号，然后通过对ADC芯片转换完成的数字信号进行分析和处理，计算出ADC的各项参数，通过各项参数来反映被测ADC的性能。在对ADC芯片进行测试的过程中需要用手多次拿取ADC芯片，手指上的油脂容易污染ADC芯片，并且在搬运过程中容易损伤引脚，造成引脚变形甚至损坏，从而降低了装置整体的实用性，给工作人员的使用带来许多不便。
技术实现思路
针对现有技术的不足，本技术提供了一种自动化ADC芯片测试设备，解决了在对ADC芯片进行测试的过程中需要用手多次拿取ADC芯片，手指上的油脂容易污染ADC芯片的问题。为实现以上目的，本技术通过以下技术方案予以实现：一种自动化ADC芯片测试设备一种自动化ADC芯片测试设备包括芯片本体和放置板，所述芯片本体的底部设置有引脚，所述放置板的内部开设有与引脚配合使用的放置槽，所述放置槽内壁的底部固定连接有缓冲弹簧，所述缓冲弹簧的另一端固定连接有缓冲球，所述放置板顶部的两侧均固定连接有固定板，所述放置板顶部的两侧且位于固定板的一侧均固定连接有支板，所述固定板的顶部固定连接有滑套，所述滑套的内部滑动连接有滑动板，所述固定板的顶部且位于滑套的一侧固定连接有隔板，所述隔板的顶部固定连接有辅助板，并且辅助板的正面通过销钉活动连接有第一连接板，所述第一连接板的正面通过销钉活动连接有第二连接板，所述第二连接板的背面通过销钉与滑动板的正面活动连接，所述滑动板的一侧贯穿支板并延伸至支板的外部，所述滑动板延伸至支板外部的一侧固定连接有夹紧装置。本技术通过工作人员用两个手指同时推动把手，可实现两个L形夹具的同向移动，可便于对芯片本体的两侧进行固定，从而可避免手指直接接触ADC芯片，进而可对ADC芯片起到保护的作用。进一步地，所述第一连接板的顶部固定连接有把手。通过把手的设置，可使得第一连接板更换的移动。进一步地，所述夹紧装置包括夹紧块，所述夹紧块的内部开设有夹紧槽，所述夹紧槽内壁的一侧固定连接有伸缩杆，所述伸缩杆的另一端固定连接有缓冲板。通过夹紧装置的设置，可便于对芯片本体的两侧进行夹持。进一步地，所述夹紧槽内壁的一侧且位于伸缩杆的顶部和底部均固定连接有连接弹簧。连接弹簧的数量为两个，两个连接弹簧对称设置。进一步地，所述夹紧槽内壁的顶部和底部均滑动连接有滑动块，所述滑动块的一侧通过销钉活动连接有缓冲杆，所述缓冲杆的另一端通过销钉与缓冲板的一侧活动连接。夹紧槽内壁的顶部和底部设置有配合滑动块滑动的滑轨。进一步地，所述连接弹簧的另一端与滑动块的另一侧固定连接，所述缓冲板的另一侧固定连接有顶块，所述顶块的另一侧贯穿夹紧块并延伸至夹紧块的外部。进一步地，所述顶块延伸至夹紧块外部的一端固定连接有L形夹具，所述L形夹具内壁的顶部通过辅助弹簧固定连接有柔性垫板。L形夹具的数量为两个，两个L形夹具对称设置。与现有技术相比，本技术的有益效果是：(1)、该自动化ADC芯片测试设备，通过工作人员用两个手指同时推动把手，通过把手的作用可间接通过第一连接板带动第二连接板移动，通过第二连接板的移动可推动滑动板，即可使得两个推动板进行相同方向的移动，通过两个推动板的同向移动可间接通过夹紧装置带动两个L形夹具进行同向移动，从而可对芯片本体的两侧进行夹紧，并且本装置的L形夹具内壁的顶部通过辅助弹簧固定连接有柔性垫板，通过柔性垫板的设置，可起到保护芯片本体的作用，进而可避免在取用芯片时，手指上的油脂会对ADC芯片造成污染。(2)、该自动化ADC芯片测试设备，通过放置板的内部开设有与引脚配合使用的放置槽，放置槽内壁的底部固定连接有缓冲弹簧，缓冲弹簧的另一端固定连接有缓冲球，通过放置槽、缓冲弹簧和缓冲球的配合设置，可对引脚起到很好的保护作用，可避免引脚变形、损坏，从而使得装置整体更具实用性，进而为工作人员的使用提供了极大的便捷。附图说明图1为本技术的结构示意图；图2为本技术的A处局部放大图；图3为本技术的B处局部放大图；图4为本技术的夹紧装置的内部结构示意图；图5为本技术的芯片本体的框图。图中：1-芯片本体、2-放置板、3-引脚、4-放置槽、5-缓冲弹簧、6-缓冲球、7-支板、8-固定板、9-隔板、10-滑套、11-滑动板、12-第一连接板、13-第二连接板、14-把手、15-夹紧装置、16-L形夹具、17-柔性垫板、151-夹紧块、152-夹紧槽、153-伸缩杆、154-缓冲板、155-连接弹簧、156-滑动块、157-缓冲杆、158-顶块。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。请参阅图1-5，本技术提供一种技术方案：一种自动化ADC芯片测试设备包括芯片本体1和放置板2，所述芯片本体1的底部设置有引脚3，所述放置板2的内部开设有与引脚3配合使用的放置槽4，所述放置槽4内壁的底部固定连接有缓冲弹簧5，所述缓冲弹簧5的另一端固定连接有缓冲球6，所述放置板2顶部的两侧均固定连接有固定板8，所述放置板2顶部的两侧且位于固定板8的一侧均固定连接有支板7，所述固定板8的顶部固定连接有滑套10，所述滑套10的内部滑动连接有滑动板11，所述固定板8的顶部且位于滑套10的一侧固定连接有隔板9，所述隔板9的顶部固定连接有辅助板，并且辅助板的正面通过销钉活动连接有第一连接板12，所述第一连接板12的正面通过销钉活动连接有第二连接板13，所述第二连接板13的背面通过销钉与滑动板11的正面活动连接，所述滑动板11的一侧贯穿支板7并延伸至支板7的外部，所述滑动板11延伸至支板7外部的一侧固定连接有夹紧装置15。本技术通过通过两个L形夹具16的移动可对芯片本体1的两侧进行夹紧，从而可对芯片本体1起到很好的保护作用，通过两个L形夹具16的同向移动可以稳定的夹持芯片本体1，在拿取芯片本体1时，可以避免手指直接接触芯片本体1，并且本装置的芯片本体1采用LabVIEW作为开发工具，LabVIEW是一种图形化的编程语言，LabVIEW作为一种广泛应用于测试测量方面编程语言，十分适合于测试软件的开发，采用PXI/PXIe、PCI/PCIe总线，PXI/PXIe、PCI/PCIe是目前应用于计算机的高速总线形式，最高带宽可达250MB/s，本装置采用自动化测试流程，用户一键式操作，自动进行供电，信号的输入，信号的采集和对应测试本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种自动化ADC芯片测试设备，包括芯片本体(1)和放置板(2)，其特征在于：所述芯片本体(1)的底部设置有引脚(3)，所述放置板(2)的内部开设有与引脚(3)配合使用的放置槽(4)，所述放置槽(4)内壁的底部固定连接有缓冲弹簧(5)，所述缓冲弹簧(5)的另一端固定连接有缓冲球(6)，所述放置板(2)顶部的两侧均固定连接有固定板(8)，所述放置板(2)顶部的两侧且位于固定板(8)的一侧均固定连接有支板(7)，所述固定板(8)的顶部固定连接有滑套(10)，所述滑套(10)的内部滑动连接有滑动板(11)，所述固定板(8)的顶部且位于滑套(10)的一侧固定连接有隔板(9)，所述隔板(9)的顶部固定连接有辅助板，并且辅助板的正面通过销钉活动连接有第一连接板(12)，所述第一连接板(12)的正面通过销钉活动连接有第二连接板(13)，所述第二连接板(13)的背面通过销钉与滑动板(11)的正面活动连接，所述滑动板(11)的一侧贯穿支板(7)并延伸至支板(7)的外部，所述滑动板(11)延伸至支板(7)外部的一侧固定连接有夹紧装置(15)。/n

【技术特征摘要】
1.一种自动化ADC芯片测试设备，包括芯片本体(1)和放置板(2)，其特征在于：所述芯片本体(1)的底部设置有引脚(3)，所述放置板(2)的内部开设有与引脚(3)配合使用的放置槽(4)，所述放置槽(4)内壁的底部固定连接有缓冲弹簧(5)，所述缓冲弹簧(5)的另一端固定连接有缓冲球(6)，所述放置板(2)顶部的两侧均固定连接有固定板(8)，所述放置板(2)顶部的两侧且位于固定板(8)的一侧均固定连接有支板(7)，所述固定板(8)的顶部固定连接有滑套(10)，所述滑套(10)的内部滑动连接有滑动板(11)，所述固定板(8)的顶部且位于滑套(10)的一侧固定连接有隔板(9)，所述隔板(9)的顶部固定连接有辅助板，并且辅助板的正面通过销钉活动连接有第一连接板(12)，所述第一连接板(12)的正面通过销钉活动连接有第二连接板(13)，所述第二连接板(13)的背面通过销钉与滑动板(11)的正面活动连接，所述滑动板(11)的一侧贯穿支板(7)并延伸至支板(7)的外部，所述滑动板(11)延伸至支板(7)外部的一侧固定连接有夹紧装置(15)。


2.根据权利要求1所述的一种自动化ADC芯片测试设备，其特征在于：所述第一连接板(12)的顶部固定连接有把手(14)。


3.根据权利要求1所述的一种自动化ADC芯片测试设备，其特征在于：所述夹紧装置(15...

【专利技术属性】
技术研发人员：谢堂尧，
申请(专利权)人：北京凡潮科技有限公司，
类型：新型
国别省市：北京;11