一种电芯线序检测系统技术方案

本发明专利技术公开了一种电芯线序检测系统，所述系统通过MCU分别与PC，光耦检测电路的使能信号接收端和电平检测端相连；光耦检测电路的检测端与电池模组中一电芯相连，光耦检测电路的供电端与电源VCC相连，光耦检测电路的接地端接地；光耦检测电路通过使能信号接收端接收MCU发送的使能信号，基于使能信号执行相应操作；MCU基于电平检测端检测光耦检测电路的电平信息，并基于电平信息确定检测结果，将所述检测结果发送给所述PC。通过基于MCU控制光耦检测电路对电池模组中电芯的连接线序进行检测，基于检测得到的电平信息判断电池模组中电芯线序是否连接正确，避免出现因电芯线序连接错误导致安全事故发生的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种电芯线序检测系统
本专利技术涉及电池检测
，具体为一种电芯线序检测系统。
技术介绍
随着社会的发展，新能源电池是一种将化学能转化成电能的装置，新能源电池为设备提供清洁能源，降低环境污染，使得电池得到广泛的推广和应用。在电池包装配过程中，对于电池模组内各节电芯极性、电池采样线束的线序有单独的检测环节。但是，在电池包装配过程中，电池模组和连接线束在连接电池管理系统模拟前端时，如果电池包中电芯线序错误会损坏电池管理系统模拟前端、线束和电池，严重时将会引发火灾甚至爆炸，因此，在电池模组和连接线束在连接电池管理系统模拟前端之前，急需一种能够有效的检测装置检测电池模组中电芯线序连接是否正确，防止因电芯线序连接错误导致安全事故发生。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术实施例提供了一种电芯线序检测系统，通过向电池模组中电芯对应的光耦检测电路发送使能信号，并检测所述光耦检测电路的电平信息，确定电池模组中电芯的线序是否连接正确，从而确保因电芯线序连接错误导致安全事故发生的目的。为实现上述目的，本专利技术实施例提供如下技术方案：一种电芯线序检测系统，包括：光耦检测电路、单片机MCU和上位机PC；所述MCU分别与所述PC，所述光耦检测电路的使能信号接收端和电平检测端相连；所述光耦检测电路的检测端与所述电池模组中一电芯相连，所述光耦检测电路的供电端与电源VCC相连，所述光耦检测电路的接地端接地；所述光耦检测电路通过所述使能信号接收端接收所述MCU发送的使能信号，基于所述使能信号执行相应操作；所述MCU基于所述电平检测端检测所述光耦检测电路的电平信息，并基于所述电平信息确定检测结果，将所述检测结果发送给所述PC。优选的，若电池模组中存在1个电芯，所述电芯线序检测系统中包括一个光耦检测电路；若所述光耦检测电路通过所述使能信号接收端接收所述MCU发送的使能信号为低电平，基于所述低电平使所述电平检测端输出低电平；所述MCU基于所述电平检测端的所述低电平确定电芯线序正确，将电芯线序正确的检测结果发送给所述PC；若所述光耦检测电路通过所述使能信号接收端接收所述MCU发送的使能信号为高电平，基于所述高电平使所述电平检测端输出高电平；所述MCU基于所述电平检测端的所述高电平确定电芯线序错误，将电芯线序错误的检测结果发送给所述PC。优选的，若电池模组中存在N个电芯，所述电芯线序检测系统中包括N个光耦检测电路，所述N大于1；若所述N个光耦检测电路通过所述使能信号接收端接收所述MCU发送的使能信号均为低电平，基于所述低电平使所述电平检测端输出低电平；所述MCU检测到所述N个光耦检测电路的检测端电平均为低电平时，确定所述N个电芯线序正确，将所述N个电芯线序正确的检测结果发送给所述PC；若所述N个光耦检测电路中存在通过所述使能信号接收端接收所述MCU发送的使能信号为高电平的光耦检测电路，所述光耦检测电路基于所述高电平使所述电平检测端输出高电平；所述MCU检测到所述N个光耦检测电路中任一所述光耦检测电路的检测端电平为高电平时，确定输出所述高电平的光耦检测电路所处位置的电芯线序错误，将所述电芯线序错误的检测结果发送给所述PC。优选的，所述光耦检测电路，包括：第一光耦U1、第二光耦U2、防反电路、第一电阻R1、第二电阻R2、第三电阻R3和第四电阻R4；所述第一电阻R1的一端与所述第一光耦U1的第四端相连，所述第一电阻R1的另一端作为所述使能信号接收端；所述第一光耦U1的第三端与所述电源VCC相连，所述第一光耦U1的第一端作为检测端与所述电芯的一端相连，所述第一光耦U1的第二端通过所述第四电阻R4与所述第二光耦U2的第三端相连；所述第二光耦U2的第四端与所述防反电路的正极相连，所述防反电路的负极作为检测端与所述电芯的另一端相连，所述第二光耦U2的第二端作为接地端并接地，所述第二光耦U2的第一端与所述第三电阻R3的一端相连；所述第三电阻R3的另一端与所述第二电阻R2的一端相连构成一公共端，将所述公共端作为电平检测端与所述MCU相连；所述第二电阻R2的另一端与所述电源VCC相连。优选的，所述第一光耦U1，包括：第一发光器和第一受光器；所述第一发光器的正极作为供电端与所述VCC电源相连，负极与所述第一电阻R1的一端相连；所述第一受光器的一端作为所述检测端的一端与所述电池包中一电芯相连，另一端与所述第四电阻R4的一端相连。优选的，所述第二光耦U2，包括：第二发光器和第二受光器；所述第二发光器的正极与所述第四电阻R4的另一端相连，负极与所述防反电路的一端相连；所述第二受光器的一端与所述第三电阻R3的一端相连，另一端作为接地端并接地。优选的，所述第一发光器和所述第二发光器为发光二极管，所述第一受光器和所述第二受光器为光敏电阻；所述第一发光器向所述第一受光器发送光信号，使所述第一受光器产生电信号；所述第二发光器向所述第二受光器发送光信号，使所述第二受光器产生电信号。优选的，所述防反电路为二极管，所述二极管的正极与所述第二光耦U2的第四端相连，负极作为所述检测端与所述电芯的另一端相连。由上述内容可知，本专利技术公开了一种电芯线序检测系统，所述系统通过所述MCU分别与所述PC，所述光耦检测电路的使能信号接收端和电平检测端相连；所述光耦检测电路的检测端与所述电池模组中一电芯相连，所述光耦检测电路的供电端与电源VCC相连，所述光耦检测电路的接地端接地；所述光耦检测电路通过所述使能信号接收端接收所述MCU发送的使能信号，基于所述使能信号执行相应操作；所述MCU基于所述电平检测端检测所述光耦检测电路的电平信息，并基于所述电平信息确定检测结果，将所述检测结果发送给所述PC。通过基于MCU控制光耦检测电路对电池模组中电芯的连接线序进行检测，基于检测得到的电平信息判断电池模组中电芯线序是否连接正确，避免出现因电芯线序连接错误导致安全事故发生的问题。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图获得其他的附图。图1为本专利技术实施例提供的一种电芯线序检测系统结构示意图；图2为本专利技术实施例提供的另一种电芯线序检测系统结构示意图；图3为本专利技术实施例提供的另一种电芯线序检测系统结构示意图；图4为本专利技术实施例提供的另一种电芯线序检测系统结构示意图；图5为本专利技术实施例提供的另一种电芯线序检测系统结构示意图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种电芯线序检测系统，其特征在，包括：光耦检测电路、单片机MCU和上位机PC；/n所述MCU分别与所述PC，所述光耦检测电路的使能信号接收端和电平检测端相连；/n所述光耦检测电路的检测端与所述电池模组中一电芯相连，所述光耦检测电路的供电端与电源VCC相连，所述光耦检测电路的接地端接地；/n所述光耦检测电路通过所述使能信号接收端接收所述MCU发送的使能信号，基于所述使能信号执行相应操作；/n所述MCU基于所述电平检测端检测所述光耦检测电路的电平信息，并基于所述电平信息确定检测结果，将所述检测结果发送给所述PC。/n

【技术特征摘要】
1.一种电芯线序检测系统，其特征在，包括：光耦检测电路、单片机MCU和上位机PC；
所述MCU分别与所述PC，所述光耦检测电路的使能信号接收端和电平检测端相连；
所述光耦检测电路的检测端与所述电池模组中一电芯相连，所述光耦检测电路的供电端与电源VCC相连，所述光耦检测电路的接地端接地；
所述光耦检测电路通过所述使能信号接收端接收所述MCU发送的使能信号，基于所述使能信号执行相应操作；
所述MCU基于所述电平检测端检测所述光耦检测电路的电平信息，并基于所述电平信息确定检测结果，将所述检测结果发送给所述PC。


2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，若电池模组中存在1个电芯，所述电芯线序检测系统中包括一个光耦检测电路；
若所述光耦检测电路通过所述使能信号接收端接收所述MCU发送的使能信号为低电平，基于所述低电平使所述电平检测端输出低电平；
所述MCU基于所述电平检测端的所述低电平确定电芯线序正确，将电芯线序正确的检测结果发送给所述PC；
若所述光耦检测电路通过所述使能信号接收端接收所述MCU发送的使能信号为高电平，基于所述高电平使所述电平检测端输出高电平；
所述MCU基于所述电平检测端的所述高电平确定电芯线序错误，将电芯线序错误的检测结果发送给所述PC。


3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，若电池模组中存在N个电芯，所述电芯线序检测系统中包括N个光耦检测电路，所述N大于1；
若所述N个光耦检测电路通过所述使能信号接收端接收所述MCU发送的使能信号均为低电平，基于所述低电平使所述电平检测端输出低电平；
所述MCU检测到所述N个光耦检测电路的检测端电平均为低电平时，确定所述N个电芯线序正确，将所述N个电芯线序正确的检测结果发送给所述PC；
若所述N个光耦检测电路中存在通过所述使能信号接收端接收所述MCU发送的使能信号为高电平的光耦检测电路，所述光耦检测电路基于所述高电平使所述电平检测端输出高电平；
所述MCU检测到所述N个光耦检测电路中任一所述光耦检测电路的检测端电平为高电平时，确定输出所述高电平的光耦检测电路所处位置的电芯线序错误，将所述电芯线序错误的检测结果发送给所述PC。

【专利技术属性】
技术研发人员：刘鑫，高戟，文青武，
申请(专利权)人：上海度普新能源科技有限公司，江苏度普新能源科技有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31