一种基于十字形基准器的校对方法及校对装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种基于十字形基准器的校对方法及校对装置，属于测量技术领域，解决了现有技术中测量点为内凹陷点时，不易被测量的问题。本发明专利技术提供一种基于十字形基准器的校对方法，步骤包括：步骤1：分别制作测量件A、测量件B；步骤2：设计十字形基准器；步骤3：测量件A和测量件B分别安装十字形基准器；步骤4：部件A与部件B对接；步骤5：计算测量点A与测量点B的相对距离；步骤6：部件A与部件B校对。本发明专利技术实现了内凹陷点的引出与再测量，测量过程简便，测量精度高。

【技术实现步骤摘要】
一种基于十字形基准器的校对方法及校对装置
本专利技术涉及测量
，尤其涉及一种基于十字形基准器的校对方法及校对装置。
技术介绍
飞行器大尺寸精确对接是保证飞行器外形结构尺寸的重要工艺环节，也是开展后续分系统总装工作的前提，在大部件对接过程中必须保证相关特征尺寸。大部件对接往往涉及到多组交联点尺寸精度，且各组交联点特征分别分布于不同部件之上，导致每个交联点与位于不同部件的多个交联点存在空间特征关系。通过采用激光跟踪仪测量布设在测量现场中的固定参考点信息位置，与其在全局坐标系中的理论位置信息进行数据的最佳拟合，进而实现部件对接特征尺寸、姿态信息与理论数模一致。然而，在实际应用过程中，测量点特征往往存在不易被测量的盲点现象，如分布于两个部件之上且有尺寸位置要求的凹陷内螺纹、分布于两个部件之上且有尺寸要求的凹陷定位销孔，或者由于部件尺寸大、测量点范围分布广，激光跟踪仪无法覆盖测量面等。
技术实现思路
鉴于上述的分析，本专利技术实施例旨在提供一种基于十字形基准器的校对方法及校对装置，用以解决了现有技术中测量点为内凹陷点时，不易被测量的问题。本专利技术提供一种基于十字形基准器的校对方法，步骤包括：步骤1：分别制作测量件A、测量件B；步骤2：设计十字形基准器；步骤3：测量件A和测量件B分别安装十字形基准器；步骤4：部件A与部件B对接；步骤5：计算测量点A与测量点B的相对距离；步骤6：部件A与部件B校对。进一步地，所述步骤1包括引出测量件A、测量件B的测量点A、测量点B。进一步地，所述步骤2中，所述十字形基准器包括两个互相垂直的第一平板和第二平板，其中，所述第一平板的长度大于所述第二平板的长度。进一步地，所述第一平板上左右两端测量对接口的中心点为引出点A1、A2或B1、B2。进一步地，所述步骤2还包括所述十字形基准器上设计至少两个定位点。进一步地，所述定位点包括C1、C2、C3和C4；所述定位点C1、C3设置在所述第一平板上，A1与C1以及A2与C3的直线距离都为185mm；所述定位点C2、C4设置在第二平板上，C4与C2的直线距离为270mm，C1与C2的直线距离为190mm。进一步地，所述步骤3包括所述十字形基准器与测量件A、测量件B采用螺纹连接。进一步地，所述步骤4包括所述部件A与所述部件B采用螺栓固定连接。进一步地，所述步骤5包括计算引出点A1与B1、A2与B2之间的相对距离。进一步地，所述步骤6包括引出点A1与B1、A2与B2之间的相对距离与部件A与部件B的固定距离进行比较，满足精度要求±1mm，其中部件A与部件B的固定距离为5389mm。进一步地，本专利技术提供了一种基于十字形基准器的校对装置，该校对装置包括至少两个十字形基准器。进一步地，十字形基准器包括第一平板和第二平板，第一平板和第二平板相互垂直，且第一平板的长度大于第二平板的长度。进一步地，十字形基准器还包括多个测量件，所述测量件与第一平板为可拆卸连接。进一步地，测量件具有第一端部和第二端部，其中第一端部与第一平板为可拆卸连接，第二端部与飞行器上的待测量点为可拆卸连接，进一步地，测量件为多段结构(3段圆柱状结构)，各段结构之间为可拆卸连接。与现有技术相比，本专利技术至少可实现如下有益效果之一：1、本专利技术通过十字形基准器将内部测量点A、B无差别地引出到部件表面，无需采用正式实物与部件A或部件B进行对接，减少了试装的复杂过程，即可实现关键特征测量点与理论数模的精确拟合，操作效率高，有效保证了测量精度，测量过程简单易行。2、本专利技术设置十字形基准器的定位点，通过定位点测量计算引出点，通过测量十字形基准器上随意两个定位点就可以得到测量点的相对距离，此测量方法简单、易操作。本专利技术中，上述各技术方案之间还可以相互组合，以实现更多的优选组合方案。本专利技术的其他特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分优点可从说明书中变得显而易见，或者通过实施本专利技术而了解。本专利技术的目的和其他优点可通过说明书以及附图中所特别指出的内容中来实现和获得。附图说明附图仅用于示出具体实施例的目的，而并不认为是对本专利技术的限制，在整个附图中，相同的参考符号表示相同的部件。图1为部件A和部件B对接结构示意图；图2为图1中十字形基准器测量结构示意图；图3为图2中十字形基准器使用示意图；图4为图3中十字形基准器设计示意图。附图标记：1-测量件A；11-测量点A；2-测量件B；21-测量点B。具体实施方式下面结合附图来具体描述本专利技术的优选实施例，其中，附图构成本申请一部分，并与本专利技术的实施例一起用于阐释本专利技术的原理，并非用于限定本专利技术的范围。本专利技术的一个具体实施例，公开了一种基于十字形基准器的测量方法，如图1至图4所示，步骤包括：步骤1：分别制作测量件A、测量件B。本实施例中，以飞行器为背景，根据飞行器上的部件A、部件B需要分别制作测量件A、测量件B，测量件A、测量件B结构相同，测量件A具有第一端部和第二端部，其中，第一端部的横截面积大于第二端部的横截面积，第二端部与部件A上的待测量点螺纹连接。具体的，如图2所示，测量件A上引出左右两个相同的测量点A，测量件B上引出左右两个相同的测量点B。步骤2：设计十字形基准器。十字形基准器设计为板型结构，由两个互相垂直的第一平板和第二平板构成，其中，第一平板的长度大于第二平板的长度，在第一平板左右两端设置测量点对接口，测量点对接口具有内螺纹结构，测量件A的第一端部与测量点对接口螺纹连接，测量点对接口的中心轴线与第一平板垂直。因为待测量点为内凹陷点，不易测量，需要将待测量点引出到十字形基准器表面上，设置测量点对接口的中心点为引出点，具体可对应为测量点A的引出点A1、A2或对应为测量点B的引出点B1、B2。进一步地，在十字形基准器上设计至少2个定位点，具体地，如图4所示，设置4个定位点，具体为：C1、C2、C3和C4，以测量点A为例，C1、C3设置在第一平板上，C2、C4设置在第二平板上；A1与C1的直线距离为185mm，C3与A2的直线距离为185mm，C1与C2的直线距离为190mm，C4与C2的直线距离为270mm。十字形基准器表面平面度控制在0.02mm，以保证定位点和引出点在同一水平面上。步骤3：测量件A和测量件B分别安装十字形基准器。如图1至图3所示，测量件A与测量件B分别安装在十字形基准器上(安装方式可以为螺纹连接)，同一测量件上的两个测量点对接口设计在同一基准器上，十字形基准器与测量件A、测量件B的测量点对接口采用螺纹连接。步骤4：部件A与部件B对接。测量件A、测量件B安装完十字形基准器之后，将部件A、部件B放置在固定位置，部件A和部件B采用螺栓连接固定。步骤5：测量测量点A与测量点B的相对距离。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于十字形基准器的校对方法，其特征在于，步骤包括：/n步骤1：分别制作测量件A、测量件B；/n步骤2：设计十字形基准器；/n步骤3：测量件A和测量件B分别安装十字形基准器；/n步骤4：部件A与部件B对接；/n步骤5：计算测量点A与测量点B的相对距离；/n步骤6：部件A与部件B校对。/n

【技术特征摘要】
1.一种基于十字形基准器的校对方法，其特征在于，步骤包括：
步骤1：分别制作测量件A、测量件B；
步骤2：设计十字形基准器；
步骤3：测量件A和测量件B分别安装十字形基准器；
步骤4：部件A与部件B对接；
步骤5：计算测量点A与测量点B的相对距离；
步骤6：部件A与部件B校对。


2.根据权利要求1所述的一种基于十字形基准器的校对方法，其特征在于，所述步骤1包括引出测量件A、测量件B的测量点A、测量点B。


3.根据权利要求1所述的一种基于十字形基准器的校对方法，其特征在于，所述步骤2中，所述十字形基准器包括两个互相垂直的第一平板和第二平板。


4.根据权利要求3所述的一种基于十字形基准器的校对方法，其特征在于，所述第一平板上左右两端测量对接口的中心点为引出点A1、A2或B1、B2。


5.根据权利要求4所述的一种基于十字形基准器的校对方法，其特征在于，所述步骤2还包括所述十字形基准器...

【专利技术属性】
技术研发人员：白雪涛，贺龙，刘连喜，徐子淇，
申请(专利权)人：北京星航机电装备有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11