布局图设计规则检查的方法与计算机可读取记录介质技术

一种布局图设计规则检查的方法与计算机可读取记录介质。其中此方法是将一包含了数个图层的布局图其各图层进行联集，以产生可用来检查此布局图的标志层。藉由标志层检查布局图可找出布局图本身特性的信息，并将其用于一通用命令文件以进行设计规则检查的审视，以达到节省时间与人力的目的。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种布局图设计规则检查的方法，特别是涉及一种依据布局 图内的图层特性以进行审视布局图设计规则的方法。
技术介绍
在半导体芯片的设计与开发中，设计规则检查(Design rule check, DRC) 是一可审;f见半导体整合电路是否有遵循拓朴布局规则(topological layout rules, TLR)的程序。其中拓朴布局规则将会依据各工艺技术以及晶片厂间 仪器限制的不同而有其独特的规则。请参阅图1,其为检查半导体整合电路是否符合设计规则的审视方法的 传统流程图。其步骤如下首先，如步骤110所示，提供一个包含了数个图层且为总体分布系统 (global distribution system,以下简称GDS)格式的布局图。再者如步骤 120所示，以人工的方式依据工艺技术、晶片厂条件、以及芯片特性的不同 决定相对应的拓朴布局规则。接着如步骤130,依据步骤120决定的拓朴布 局规则，从一事先准备好的命令文件(command file)数据库l40中取出相 对应的命令文件。步骤150则是依据此命令文件利用设计规则检查工具对布 局图进行审视与检查。其过程中发现的任何设计错误都将显示于检查结果 160中。就传统的设计规则检查流程而言，工程师必须针对各种工艺技术设计不 同的命令文件备用。且由于目前所有的设计规则检查工具都无法提供某一图 层是否存在于布局图中的信息，故必须使用人工的方式找寻最大图层数且须 以晶片大小的不同去选择相对应的命令文件。无论是设计命令文件数据库抑 或是根据芯片的特性从命令文件数据库中选择合适的程序来进行设计规则 检查，都将耗费相当大的时间进而影响整个IC设计的流程
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术的目的是提供一种布局图设计规则检查的方法，能找 出某一布局图的特性再依其特性进行设计规则检查。本专利技术的再一目的是提供一种计算机可读取记录介质，由此记录介质找 出欲检查的布局图特性，并依此特性进行设计规则检查。本专利技术的又一目的是提供一种布局图设计规则检查的方法，检查图层并 将的与标志层比较，及依照标志层图形的尺寸据以进行 一 鉴定规13 'J(ident ified rule )。基于上述及其它目的，本专利技术提出一种布局图设计规则检查的方法，用 以审视一布局图是否符合设计规则。本专利技术的布局图设计规则检查方法包括 了一个具有多数图层的布局图、将此布局图中的部分或全部图层进行联集所 得到的标志层、以及根据标志层来检查此布局图。依照本专利技术的较佳实施例所述布局图设计规则检查的方法，其中若某一 图层与标志层相比较的结果为空集合，则代表此图层不存在于布局图中。反 之若比较得到的结果为非空集合，则表示此图层存在于布局图内。这些存在 的图层中，位于最上方的图层即是该布局图的最上图层，其余的存在图层则 称作内部图层。设计规则检查分别将以不同的规则检查最上图层与内部图层 是否违反设计规则。依照本专利技术的较佳实施例所述布局图设计规则检查的方法，将布局图与 标志层相比较，来判别此布局图的最上图层其第一步骤是设定图形T0PMk等 于此布局图内最大图层数的图形。第二步骤是检查若标志层BULK和图形 TOPMn并无交集，则设定图形NO—MN—BULK为标志层BULK的图形，反之则设定 N0-M卜BULK为空集合。第三步骤是由上而下逐一检查此布局图各个图层，若 此布局图中第i层的图层MEi与图形NO—Mi+1—BULK有交集，则设定图形TOPM; 为此i层的图形MEi，否则设定TOPMi为空集合，于第三步骤中的i为大于O 且小于N的整数。若图形N0-Mi+1_BULK与图形TOPMi没有交集，则设定图形 N0-M卜BULK等于NO-Mi+1_BULK，反之则设定NO—Mi-BULK为空集合。最后一个 步骤是将图形TOPMN -TOPMj联集起来以取得此布局图中的最上图层的图形， 其中j表示此布局图内可能成为最上图层的图层数的最小值。依照本专利技术的较佳实施例所述布局图设计规则检查的方法，可依据标志 层与一参考尺寸的比较结果，来判定应施行大尺寸鉴定规则(identified ru 1 e)或小尺寸鉴定规则于此布局图设计规则检查的上。由标志层与布局图两相比4交所得到的结果，将#皮当作参凄t用于 一通用命 令文件中，以进行适当的设计规则检查。从另一观点来看，本专利技术提出一种计算机可读取记录介质，可藉由在计 算机系统上执行储存与此介质中的程序来检查一布局图。本记录介质内的程 序将包括读取包含数个图层的布局图的指令、将布局图内数个或全部图层进 行联集得到的标志层、及根据标志层来检查此布局图是否遵循设计规则。依照本专利技术的较佳实施例所述计算机可读取记录介质，上述介质中的程 序其指令包括了将布局图中的图层和标志层做比较，若比较结果为空集合， 则代表此图层不存在。若和标志层比较的结果为非空集合，则表示该图层存 在于布局图中。这些存在的图层之内最上层的图层将被视为此布局图的最上 图层，其余存在的图层则被视为内部图层。设计规则检查将会依照图层是否 为最上图层采用不同的检查规则。依照本专利技术的较佳实施例所述计算机可读取记录介质，上述介质中将布 局图与标志层相比较以判别此布局图的最上图层的第 一个指令是设定图形 T0PMN等于此布局图内最大可能图层数的图形。第二指令是检查若标志层BULK和图形TOPMn并无交集，则设定图形N0_MN—BULK为此标志层BULK的图 形，反之则设定N0—MiBULK为空集合。第三指令是由上而下逐一检查此布局 图各图层，若此布局图内的第i层图层MEi与图形NO—Mi+1—BULK有交集，则 设定图形TOPMi为此i层MEi的图形，否则设定TOPMi为空集合，于此步骤中 i为大于O且小于N的整数。若图形NO—Mi+1—BULK与图形TOPMi没有交集，则 设定图形NO—Mi-BULK等于NO-Mw—BULK,反之则设定NO—M卜BULK为空集合。 最后一个指令是将图形TOPMN TOPMj相联集以取得此布局图中最上图层的 图形，其中j表示布局图内可能成为最上图层的图层数的最小值。依照本专利技术的较佳实施例所述计算机可读取记录介质，上述的介质中的 程序指令也包括了将标志层的图形与一参考尺寸作比较。若标志层大于参考 尺寸则使用大尺寸鉴定规则，反之若标志层小于参考尺寸，小尺寸鉴定规则 将被用来检查此布局图是否符合设计规则。此可读取记录介质中的程序藉由比较布局图以及标志层得到所需的参 数，并将参数用于命令文件中以进行设计规则检查。再从另一观点来看，本专利技术提出一种布局图设计规则检查的方法，用以 审视一个布局图是否符合设计规则检查。本专利技术的布局图设计规则检查方法包括了具有多数图层的布局图、将此布局图中的部分或全部图层进行联集所 得到的标志层、将这些图层与标志层进行比较并检查这些图层、以及比较此 标志层的图形尺寸与一参考尺寸，以施行鉴定规则。依照本专利技术的较佳实施例所述布局图设计规则检查的方法，其中比较这 些图层与此标志层并且检查这些图层的步骤包括了分别将布局图内的图层 与标志层比较，若比较结果为空集合，则表示此图层不存在于布局图中。在 所有存在于布局图内的图层之中，最上层的被称为此布局图的最上图层，其 余图层则被称为内部图层。最本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种布局图设计规则检查的方法，用以检查一布局图，该方法包括：提供该布局图，其中该布局图包含多个图层；将该布局图的所述图层其中部分或全部图层进行联集，以获得一标志层；以及依据该标志层，检查该布局图。

【技术特征摘要】
1. 一种布局图设计规则检查的方法，用以检查一布局图，该方法包括提供该布局图，其中该布局图包含多个图层；将该布局图的所述图层其中部分或全部图层进行联集，以获得一标志层；以及依据该标志层，检查该布局图。2. 如权利要求1所述布局图设计规则检查的方法，其中该布局图为GDS 格式的档案。3. 如权利要求1所述布局图设计规则检查的方法，其中该标志层是该布 局图中全部图层的联集。4. 如权利要求1所述布局图设计规则检查的方法，其中依据该标志层检 查该布局图的步骤包括分别将该布局图的所述图层与该标志层进行比较 若所述图层中的某一图层与该标志层的比较结果为空集合，则表示该图 层为空层；以及若所述图层中的某一图层与该标志层的比较结果非为空集合，则比较结 果为非空集合的所述图层中，最上层的图层为该布局图中的最上图层，而其 下的其它图层为该布局图中的内部图层；以一最上层规则检查该布局图中的最上图层；以及以 一 内部层规则检查该布局图中的内部图层。5. 如权利要求4所述布局图设计规则检查的方法，其中分别将该布局图 的所述图层与该标志层进行比较的步骤包括设定图形TOPMw等于该布局图中的第N层图层MEH的图形，其中N为该布 局图的最大图层数；若该标志层BULK与图形T0PMn无交集，则设定图形N0-MN_BULK等于该 标志层BULK的图形，否则设定图形N0-MN_BULK为空集合；若该布局图中的第i层图层MEi与图形N0_Mi+I—BULK有交集，则设定图 形TOPMi等于该布局图中的第i层图层MEi的图形，否则设定图形TOPMi为空 集合，其中i为大于O且小于N的整数；若图形N0_Mi+1 —BULK与图形T0PMi无交集，则i殳定图形NO—M卜BULK等于 图形N0_Mi+1—BULK,否则设定图形NO—M卜BULK为空集合；以及将图形TOPMN TOPMj联集，以获得该布局图中最上图层，其中j表示于 该布局图中作为最上图层的可能范围的最小值。6. 如权利要求5所述布局图设计规则检查的方法，其中分别将该布局图 的所述图层与该标志层进行比较的步骤还包括若该布局图中的第i层图层MEi与图形NO—Mi+1_BULK无交集，则设定图 形CO画i等于图层MEi的图形，否则设定图形COMMi为空集合； 其中图形CO画i表示该布局图中非最上图层的图形。7. 如权利要求6所述布局图设计规则检查的方法，其中分别将该布局图 的所述图层与该标志层进行比较的步骤还包括设定图形LSMw等于该布局图中的第N-1层图层MEH的图形；以及 若图形C0MI4与图形NO-Mw-BULK有交集，则设定图形LSMk等于COMMk, 否则设定图形LSMk为空集合，其中k为大于O且小于N-1的整数； 其中图形LSMk表示该布局图中最上图层的下一层图层的图形。8. 如权利要求1所述布局图设计规则检查的方法，其中依据该标志层检 查该布局图的步骤包括比较该标志层的图形尺寸与 一参考尺寸；若该标志层的尺寸大于该参考尺寸，则进行一大尺寸鉴定规则；以及 若该标志层的尺寸小于该参考尺寸，则进行一小尺寸鉴定规则。9. 如权利要求8所述布局图设计规则检查的方法，其中该大尺寸鉴定规 则包括设定图形B-BCOR等于该标志层的角落图形；将该布局图中的第h层图层MEh的图形与图形B_BCOR交集，并将交集结 果设定为图形METhCA，其中h为大于0且小于N+1的整数，而N为该布局图 的最大图层数；以及检查图形METhCA中有无未以45度角配置的部分图形。10. 如权利要求1所述布局图设计规则检查的方法，其中依据该标志层 检查该布局图的步骤包括若该标志层与该布局图中的一指定层有交集，则以第一程序处理该布局 图，否则以第二程序处理该布局图。11. 一种计算才凡可读取记录介质，用以〗诸存可冲丸4亍于一计算才几系统的一 程序，其中该程序用以检查一布局图，该程序包括下列指令读取该布局图，其中该布局图包含多个图层；将该布局图的所述图层其中部分或全部图层进行联集，以获得一标志 层；以及依据该标志层，检查该布局图。12. 如权利要求11所述计算机可读取记录介质，其中该布局图为GDS格 式的档案。13. 如权利要求11所述计算机可读取记录介质，其中该标志层是该布局 图中全部图层的联集。14. 如权利要求11所述计算机可读取记录介质，其中依据该标志层检查 该布局图的指令包括分别将该布局图的所述图层与该标志层进行比较 若所述图层中的某一图层与该标志层的比较结果为空集合，则表示该图 层为空层；以及若所述图层中的某一图层与该标志层的比较结果非为空集合，则比较结 果为非空集合的所述图层中，最上层的图层为该布局图中的最上图层，而其 下的其它图层为该布局图中的内部图层；以一最上层规则检查该布局图中的最上图层；以及以 一 内部层规则检查该布局图中的内部图层。15. 如权利要求14所述计算机可读取记录介质，其中分别将该布局图的 所述图层与该标志层进行比较的指令包括设定图形TOPMw等于该布局图中的第N层图层MEw的图形，其中N为该布 局图的最大图层数；若该标志层BULK与图形T0PMk无交集，则设定图形N0—MN—BULK等于该 标志层BULK的图形，否则设定图形N0_MN—BULK为空集合；若该布局图中的第i层图层MEi与图形NO—Mi+1_BULK有交集，则设定图 形TOPMi等于该布局图中的第i层图层MEi的图形，否则设定图形TOPMi为空 集合，其中i为大于O且小于N的整数；若图形NO—Mi+1-BULK与图形TOPMi无交集，则设定图形NO-M卜BULK等于 图形NO—Mi+1 —BULK,否则设定图形NO—M卜BULK为空集合；以及将图形T0PM~T0PMj联集...

【专利技术属性】
技术研发人员：张宗智，郭建志，
申请(专利权)人：联华电子股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]