键盘自动测试系统及其方法技术方案

一种键盘自动测试系统及其方法，此系统包括键盘单元与微处理器。其中，键盘单元具有多个按键以矩阵的方式排列。微处理器内建一段键盘测试程序，并且依据一编码信号而于此段键盘测试程序中执行其相应的程序，以测试键盘单元内全部按键的单键功能或全部按键的复合键功能的状态。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种键盘测试系统及其方法，特别是涉及一种可以达到自动 测试的键盘测试系统及其方法。
技术介绍
键盘(keyboard)这个电子装置在现今的计算机外设设备中有着不可或 缺的地位存在。由于各家厂商在设计键盘时，其因为依据计算机系统与使用 者的使用需求，所以各家厂商所设计出的键盘型式就不尽相同，以至于市面 上就贩售着各种形式的键盘。一般而言，各家厂商在生产线测试键盘时，大部分还是采用人工的方式 逐个按下键盘内的每一个按键(大致需要二十几秒左右)，以确认每一个按键 无瑕疯后才推其上市贩售。然而，因为采用人工的方式进行按4建测试，所以 很有可能会导致键盘的损耗过大，以造成制作成本会增加且生产线产能会下 降。另外，当计算机系统与使用者的使用需求增加时，各家厂商所设计出的 键盘按键数量就会越多，故而可推知的一件事就是，在键盘测试的过程中， 其测试时间必定会增加，且因为是采用人工的方式来进行键盘的测试，所以 测试效率并不彰显。除此之外，以现今笔记型计算机为例，其同时按下键盘的Fn按键与 Home/End按键时，即可以达到控制笔记型计算机屏幕的明亮度。或者，同时 按下键盘的Alt按键与F4按键时，即可以达到关闭计算机系统窗口。甚至， 同时按下Ctrl按键、Alt按键及Delete按键时，即可呼唤出系统管理窗口。 而如此以复合^f定型式所代表的功能，也只能采用人工的方式来进行测试，如 此键盘的测试时间就更须拉长，且在生产线测试键盘时，其所需人力亦相当 可观，所以光支付在人力的测试成本上也就相当可观。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术的目的是提供了一种，其 藉由利用微处理器，以使得使用者通过输入单元(例如按下一个按键)与编码 单元后，即可达到生产线测试键盘单键/复合键的功能，如此不但可以降低 生产线测试键盘的时间与其损耗量，且更可以增加生产线测试键盘的测试效率。本专利技术所提供的键盘自动测试系统，其包括键盘单元与微处理器。其中， 键盘单元具有多个按键。微处理器耦接键盘单元且内建一段键盘测试程序， 此微处理器依据一编码信号而于此段键盘测试程序中执行其相应的程序，以 测试键盘单元内全部按键的单键功能或全部按键的复合键功能的状态。在本专利技术的一较佳实施例中，键盘自动测试系统还包括输入单元与编码 单元。其中，输入单元用以提供多个输入信号，而编码单元则依据这些输入 信号而对应的产生提供至微处理器的编码信号。从另一观点来看，本专利技术所提供的键盘自动测试方法包括下列步骤首 先，将一段键盘测试程序写入至微处理器中。接着，产生一编码信号至微处 理器，以致使微处理器依据此编码信号而于键盘测试程序中执行其相应的程 序。最后，依据上述执行的结果，以测试键盘单元内多个按键的单键功能或 其复合键功能的状态。本专利技术所提供的，因为通过使用者将一段键 盘测试程序写入微处理器中，藉此当使用者通过输入单元提供一个输入信号 至编码单元时，编码单元会据以产生一个编码信号至微处理器，如此当微处 理器接收到此编码信号时，其会执行其相应于键盘测试程序中的程序。藉此， 使用者可预先设定此编码信号的测试功效(例如测试键盘单元的单键功能， 或者测试键盘单元的复合键功能)，如此本专利技术的键盘自动测试系统可以达 到降低产线测试键盘的时间与其损耗量，以进而降低其制作成本并增加生产 线产能。而为使本专利技术的上述和其它目的、特征和优点能更明显易懂，下文特举 本专利技术的较佳实施例，并结合附图详细说明如下。附图说明图1示出了依照本专利技术较佳实施例的键盘自动测试系统的方块图。 图2示出了依照本专利技术较佳实施例的键盘自动测试方法的流程图。图3为本专利技术的输入单元所输出的16个输入信号IS至编码单元后所对 应编码成的16组4位2进制码示意图。附图符号说明10:键盘自动测试系统100:键盘单元101:微处理器102:输入单元103:编码单元104:緩冲单元105:音量控制单元106:键盘接口单元107:指向装置108:指向装置控制单元109:方向键单元110:转接接口单元111:电源单元ECS:编码信号IS:输入信号S201 S205:本专利技术较佳实施例的键盘自动测试方法流程图的各步骤具体实施方式本专利技术所欲达到的技术功效为解决现有的在生产线键盘测试时，其采用 人工方式测试所衍生出的多项缺点，而以下的内容将针对本专利技术的技术特征 与所欲实现的功效做一详加描述，以提供给该本领域的技术人员参考。图1为依照本专利技术较佳实施例的键盘自动测试系统10的方块图。请参 照图1，本实施例的^l定盘自动测试系统10包括《建盘单元100与^f鼓处理器101。 其中，键盘单元100中具有多个按键(未示出)，其是以矩阵的方式排列，且 此矩阵大小例如为行列8xl6或9x16，但并不限制于此，也就是说，使用 者可依视实际需求而自行调整矩阵的排列方式及其大小。微处理器101耦接至编码单元103，并内建一段由使用者所写入的键盘测试程序，且此微处理器101是依据编码单元103所输出的编码信号ECS， 而于其内建的键盘测试程序中执行相应的程序，以测试键盘单元100内按键 的单键功能或是按键的复合键功能(复合键功能例如为按下键盘的Fn按键与 Home/End按键、按下键盘的Alt按键与F4按键或是同时按下Ctrl按键、AU 按键及Delete按键…等)的状态。其中，微处理器101可以利用89S51的单 芯片(single chip)来实行，但本实施例并不限制于此，也就是说，使用者 可依实际需求而更替具有微处理功能的组件来实行，且此微处理器101内的 键盘测试程序可由使用者依实际测试功能的需求而加以撰写并烧录至微处 理器101。于本实施例中，上述编码单元103耦接至输入单元102，此编码单元103 所输出的编码信号ECS依据输入单元102所提供的多个输入信号IS而对应 的产生，其中输入单元102例如可以利用16键模具(jig)来实现，且此16 键各别代表着其对应的输入信号IS，然并不限制于此，也就是说，使用者可 依实际需求而增/删模具的键量数。依据上述可知，假使输入单元102利用16键模具来实现时，可知的是， 输入单元102将会提供16个输入信号IS至编码单元103，而编码单元103 接收到输入单元102所提供的输入信号IS后会对应的产生编码信号BCS至 ;徵处理器101。其中，因为输入单元102会提供16个输入信号IS至编码单 元103,故编码单元103可以利用16x4的编码器(encoder)来实现，而此 16 x 4的编码器的16个输入端会各别地接收输入单元102所提供的16个输code),亦即从0000 - 1111,而此16组4位的2进制码会各别对应到上述 16键模具的16键。图3为输入单元102所输出的16个输入信号IS至编码单元103后所对 应编码成的16组4位2进制码示意图。请参照图3并举例来说在此先将上述16键模具的16键各别编为键1、键2.....键16，且假设使用者按下键1,故输入单元102此时会提供例如为0000000000000001的输入信号IS 至16 x 4的编码器的16个输入端，而16 x 4的编码器接收到此输入信号IS后，会将其编码成0000的4位2进制码输出至微处理器101。另外，假设使用者按下键2,故输入本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种键盘自动测试系统，包括：一键盘单元，具有多个按键；以及一微处理器，耦接该键盘单元且内建一键盘测试程序，该微处理器依据一编码信号而于该键盘测试程序中执行其相应的程序，以测试该键盘单元内所述按键的单键功能或所述按键的复合键功 能的状态。

【技术特征摘要】
1. 一种键盘自动测试系统，包括一键盘单元，具有多个按键；以及一微处理器，耦接该键盘单元且内建一键盘测试程序，该微处理器依据一编码信号而于该键盘测试程序中执行其相应的程序，以测试该键盘单元内所述按键的单键功能或所述按键的复合键功能的状态。2. 如权利要求1所述的键盘自动测试系统，还包括 一输入单元，用以提供多个输入信号；以及一编码单元，耦接于该输入单元与该微处理器之间，用以依据所述输入 信号而对应的产生该编码信号至该微处理器。3. 如权利要求2所述的键盘自动测试系统，还包括一緩沖单元，耦接于 该微处理器与该键盘单元之间，用以增强该微处理器的输出信号的驱动能 力。4. 如权利要求3所述的键盘自动测试系统，其中该緩冲单元包括多个三 态緩冲器。5. 如权利要求3所述的键盘自动测试系统，还包括一音量控制单元，耦 接该键盘单元，且具有多个机构键。6. 如权利要求5所述的键盘自动测试系统，还包括 一指向装置；以及一指向装置控制单元，该指向装置通过该指向装置控制单元而与该一睫盘 接口单元耦接，以实现指向装置的功能。7. 如权利要求3所述的键盘自动测试系统，还包括一电源单元，耦接该 微处理器...

【专利技术属性】
技术研发人员：王昌浩，李海荣，张传国，
申请(专利权)人：纬创资通股份有限公司，纬创资通昆山有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]